一种半导体芯片测试座辅助清洁治具

技术领域

本发明涉及测试座清洁技术领域，尤其涉及一种半导体芯片测试座辅助清洁治具。

背景技术

随着现代电子产品的飞速发展，电子芯片作为其重要的组成核心，在生产与加工的过程中，对质量的检测管控越发的严格，在半导体芯片大规模研发及生产过程中均需要各类性能检测，芯片测试座在封测环节起到关键性作用，测试座功能是将芯片定位后通过线路板之间电子信号电流传输从而达到检验测试效果，因此对测试座进行辅助清洁尤为重要。

现有技术诸如公开号为CN102253511B的发明，该专利公开了一种面板测试治具，包括：底座、承载于底座上的背光模块、两导引构件、枢接至底座的上盖、两拉杆及清洁杆。导引构件分别平行地设置于底座上，且背光模块位于导引构件之间。每一拉杆具有第一端以及第二端。第一端枢接至上盖。第二端可滑动地连接至对应的导引构件。清洁杆连接于第二端之间，并接触背光模块的上表面。在上盖相对底座开启或闭合期间，每一拉杆受上盖带动而同时相对上盖与底座转动，致使第二端相对对应的导引构件滑动，并带动清洁杆往复地擦拭上表面。采用本发明，可在操作面板测试治具的同时清洁面板测试治具的背光模块，并有效地达到减少额外的人力浪费以及提高清洁效果的功效。

现有半导体芯片测试设备都会配备芯片测试座，芯片测试座使用到一定次数之后，PIN针因为长期接触芯片锡球而导致粘附锡渣，会影响测试结果，故需要对测试座进行清洁，HT3309为台湾鸿劲生产的一款Flash芯片测试机械臂，其配备的芯片测试座为IC成对放置，清洁时容易对另一个造成影响；测试座上的弹簧板用手指直接下压容易受力不均，PIN针不好全部露出，不好清洁，对此需进行改进。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中存在清洁时容易对另一个造成影响；测试座上的弹簧板用手指直接下压容易受力不均，PIN针不好全部露出，不好清洁的缺点，而提出的一种半导体芯片测试座辅助清洁治具。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：一种半导体芯片测试座辅助清洁治具，包括基板和下压块，所述下压块与基板的表面固定连接，所述基板的下表面固定连接有模块，简化测试座的清理难度，确保测试座的稳定使用，降低测试过程中出现故障的情况，便于清洁治具的普及使用，同时本方案成对清理，降低对另一个测试座的影响，确保测试座的正常使用。

优选的，所述下压块的数量为两个，两个所述下压块间呈镜像设置。

优选的，所述模块的数量为两个，两个所述模块间呈镜像设置。

优选的，所述模块的内壁开设有清洁孔，所述清洁孔的横截面呈矩形。

优选的，所述模块的内壁均开设有倒角开口，所述倒角开口与清洁孔相连通，清洁使用时，可准确稳固地将设备置于芯片测试座上，模块受力均匀地将弹簧板下压，将PIN针全部完好露出，清洁孔配合30°的倒角开口具有更大的操作空间和更好的视野，进而更高效的进行测试座的清洁。

优选的，所述基板的表面设置有圆角，提高治具美观度的同时可避免刮伤手指。

优选的，所述模块远离基板的一端固定连接有定位凸块，所述定位凸块的数量为四个，四个所述定位凸块间呈环形设置，便于对辅助设备进行使用。

与现有技术相比，本发明的优点和积极效果在于：

1、本发明中，清洁使用时，可准确稳固地将设备置于芯片测试座上，模块受力均匀地将弹簧板下压，将PIN针全部完好露出，清洁孔配合30°的倒角开口具有更大的操作空间和更好的视野，进而更高效的进行测试座的清洁，简化测试座的清理难度，确保测试座的稳定使用，降低测试过程中出现故障的情况，便于清洁治具的普及使用，同时本方案成对清理，降低对另一个测试座的影响，确保测试座的正常使用。

附图说明

图1为本发明提出一种半导体芯片测试座辅助清洁治具的立体结构示意图；

图2为本发明提出一种半导体芯片测试座辅助清洁治具的侧视结构示意图；

图3为本发明提出一种半导体芯片测试座辅助清洁治具的仰视结构示意图；

图4为本发明提出一种半导体芯片测试座辅助清洁治具中图3的A处结构示意图。

图例说明：

1、下压块；2、清洁孔；3、模块；4、定位凸块；5、倒角开口；6、圆角；7、基板。

具体实施方式

请参阅图1-4，本发明提供一种技术方案：一种半导体芯片测试座辅助清洁治具，包括基板7和下压块1，下压块1与基板7的表面固定连接，基板7的下表面固定连接有模块3，简化测试座的清理难度，确保测试座的稳定使用，降低测试过程中出现故障的情况，便于清洁治具的普及使用，同时本方案成对清理，降低对另一个测试座的影响，确保测试座的正常使用。

在本实施例中：下压块1的数量为两个，两个下压块1间呈镜像设置。

具体的，模块3的数量为两个，两个模块3间呈镜像设置。

具体的，模块3的内壁开设有清洁孔2，清洁孔2的横截面呈矩形。

在本实施例中：模块3的内壁均开设有倒角开口5，倒角开口5与清洁孔2相连通，清洁使用时，可准确稳固地将设备置于芯片测试座上，模块3受力均匀地将弹簧板下压，将PIN针全部完好露出，清洁孔2配合30°的倒角开口5具有更大的操作空间和更好的视野，进而更高效的进行测试座的清洁。

具体的，基板7的表面设置有圆角6，提高治具美观度的同时可避免刮伤手指。

具体的，模块3远离基板7的一端固定连接有定位凸块4，定位凸块4的数量为四个，四个定位凸块4间呈环形设置，便于对辅助设备进行使用。

工作原理：芯片测试座水平放置，将辅助清洁治具底部的定位凸块4对齐芯片测试座底部的凹槽，使两边的模块3与测试座的弹簧板表面贴合，辅助清洁治具水平放置于芯片测试座上方；将手指放置于治具两端的下压块1上，轻轻下压，测试座弹簧板在手指压力下轻轻下移，露出位于弹簧板下方的PIN针；将清洁毛刷伸入清洁用槽口，将刷毛与PIN针表面接触，刷洗干净PIN针表面的脏污，目视观察槽口内测试座表面清洁情况，确认清洁结束后使用气枪清除刷洗出来的碎屑；将辅助清洁治具拿起，弹簧板回弹，辅助清洁治具使用结束，本方案简化测试座的清理难度，确保测试座的稳定使用，降低测试过程中出现故障的情况，便于清洁治具的普及使用，同时本方案成对清理，降低对另一个测试座的影响，确保测试座的正常使用。