一种光敏二极管检测装置和检测方法

技术领域

本发明涉及电子元器件检测设备技术领域，具体的，涉及一种光敏二极管检测装置和检测方法。

背景技术

光敏二极管广泛应用在家电产品及仪器设备中，用于检测环境光线亮度的变化情况。当光敏二极管所在环境光线亮度发生变化时，通过光敏二极管的电流也会发生变化。

光敏二极管要在特定且多个亮度环境下检测其对应的电流方可判定是否合格，但普通室内环境亮度变化不受控，且易受外界光源干扰测试环境，导致检测结果不准确。

针对现有技术中的问题，本发明设计了一种能够在无外界自然光照射的条件下，通过可调亮度的光源面板模拟亮度变化，实现在不同亮度情况下对光敏二极管性能的检测，大大提升检测结果的准确性的光敏二极管检测装置和检测方法。

发明内容

针对上述现有技术中的问题，本发明提出了一种光敏二极管检测装置和检测方法，能够在无外界自然光照射的条件下，通过可调亮度的光源面板模拟亮度变化，实现在不同亮度情况下对光敏二极管性能的检测，大大提升了检测结果的准确性。

第一方面，本发明提供了一种光敏二极管检测装置，包括箱体、光源面板、光敏二极管插座和控制显示电路，所述光源面板设置在所述箱体内，用于提供不同亮度的光源，所述光敏二极管插座设置在所述箱体内，用于插接待检测的光敏二极管以及传输电信号和供电，所述控制显示电路分别与所述光源面板和所述光敏二极管插座电性连接，用于控制所述光源面板的亮度以及显示所检测的光敏二极管的检测数据。

在一个实施方式中，所述控制显示电路包括控制器和万用表，所述控制器与所述光源面板电性连接，用于控制所述光源面板的亮度，所述万用表与所述光敏二极管插座电性连接，用于显示所检测的光敏二极管的电流数据。

采用上述实施方式的有益效果是：控制器的设置，用于控制光源面板的亮度，万用表的设置，用于使电流数值直接可读，通过检测光敏二极管两端的电流数值来对其性能进行判定。

在一个实施方式中，还包括推拉机构，所述光敏二极管插座设置在所述推拉机构上，所述推拉机构可推拉的设置在所述箱体内。

采用上述实施方式的有益效果是：推拉机构的设置，方便光敏二极管的插放，提高了检测效率。

在一个实施方式中，推拉机构包括载物台和推拉面板，所述载物台上设置有光敏二极管插座，所述推拉面板与所述载物台连接。

采用上述实施方式的有益效果是：方便光敏二极管的插放，提高了检测效率。

在一个实施方式中，所述载物台和所述推拉面板相连后形成纵截面为L形的结构。

采用上述实施方式的有益效果是：结构简单，使用方便。

在一个实施方式中，所述箱体一侧开口设置，所述载物台穿过所述箱体上的开口伸入所述箱体内，所述推拉面板能够完全覆盖所述箱体上的开口，以实现所述箱体的密闭。

采用上述实施方式的有益效果是：箱体上开口的设置，便于光敏二极管的取放，推拉面板能够完全覆盖箱体上的开口，以实现箱体的密闭，防止外界光源干扰测试环境。

在一个实施方式中，所述箱体上的开口周边设置有密封条，用于保证箱体的密闭性，以防止外界光源干扰测试环境。

采用上述实施方式的有益效果是：通过密封条与推拉面板接触，提高了箱体的密闭性，以防止外界光源干扰测试环境。

在一个实施方式中，所述箱体上的开口边沿和所述推拉面板上均设置有磁铁，用于所述推拉面板的锁紧。

采用上述实施方式的有益效果是：当推拉面板合上时，箱体和推拉面板上的磁铁相互吸引能够产生一定的吸力，从而使推拉面板紧贴并完全覆盖箱体上的开口，推拉面板和箱体之间锁紧，提高了箱体的密闭性，以防止外界光源干扰测试环境。

在一个实施方式中，所述箱体和所述推拉面板均采用不透光材质制成。

采用上述实施方式的有益效果是：防止外界光源干扰测试环境。

第二方面，本发明还提供了一种光敏二极管检测方法，采用上述光敏二极管检测装置。

与现有技术相比，本发明的优点在于：

(1)能够在无外界自然光照射的条件下，通过可调亮度的光源面板模拟亮度变化，实现在不同亮度情况下对光敏二极管性能的检测，大大提升了检测结果的准确性。

(2)万用表的设置，用于使电流数值直接可读，通过检测光敏二极管两端的电流数值来对其性能进行判定。

(3)推拉面板、密封条和磁铁的设置，提高了箱体的密闭性，以防止外界光源干扰测试环境。

上述技术特征可以以各种适合的方式组合或由等效的技术特征来替代，只要能够达到本发明的目的。

附图说明

在下文中将基于实施例并参考附图来对本发明进行更详细的描述。其中：

图1显示了光敏二极管检测装置的结构示意图；

图2显示了控制显示电路的电路连接示意图；

在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例。

10-光敏二极管检测装置；11-箱体；13-光源面板；15-光敏二极管插座；17-控制显示电路；171-万用表；173-按键；175-旋钮；19-载物台；21-推拉面板；23-密封条；25-磁铁；27-连接线；29-电源适配器，31-光敏二极管。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳的实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。

实施例1：

如图1和图2所示，一种光敏二极管检测装置10，包括箱体11、光源面板13、光敏二极管插座15和控制显示电路17，光源面板13设置在箱体11内，用于提供不同亮度的光源，光敏二极管插座15设置在箱体11内，用于插接待检测的光敏二极管31以及传输电信号和供电，控制显示电路17分别与光源面板13和光敏二极管插座15电性连接，用于控制光源面板13的亮度以及显示所检测的光敏二极管31的检测数据。

具体的，本实施例中，光源面板13采用可调亮度的LED光源面板，用于提供无自然光照射条件下测量光敏二极管31所需要的不同亮度的光源。

箱体11采用不透光材质制成，防止外界光源穿过箱体11干扰测试环境。

光源面板13设置在箱体11内的顶部，控制显示电路17可以设置在箱体11的外壁上，也可单独独立设置，控制显示电路17通过连接线27分别与光源面板13和光敏二极管插座15电性连接，控制显示电路17通过电源适配器29与电源连接。

检测时，只需将待检测的光敏二极管31插设在光敏二极管插座15上，通过控制显示电路17即可查看检测或测试结果，检测方便、快捷。

其中，控制显示电路17包括控制器和万用表171，控制器与光源面板13电性连接，用于控制光源面板13的亮度，万用表171与光敏二极管插座15电性连接，用于显示所检测的光敏二极管31的电流数据。

具体的，本实施例中，由于光敏二极管31所在环境光线亮度发生变化时通过光敏二极管31的电流也会发生变化，根据上述原理，通过采用万用表171或电流表直接读取不同亮度条件下光敏二极管31两端电流值，对光敏二极管31性能进行判定，实现了光敏二极管31的半自动化检验，操作简便。

控制器包括控制面板和设置在控制面板上的按键173和旋钮175。

本实施例中，按键173包括固定亮度按键及开关按键，旋钮175包括调节亮度旋钮，通过按键173和旋钮175可设定所需的不同光源环境。

其中，光敏二极管检测装置10还包括推拉机构，光敏二极管插座15设置在推拉机构上，推拉机构可推拉的设置在箱体11内。

具体的，本实施例中，推拉机构包括载物台19和推拉面板21，载物台19上设置有光敏二极管插座15，推拉面板21与载物台19连接，载物台19和推拉面板21相连后形成纵截面为L形的结构，推拉面板21采用不透光材质制成。

箱体11内设置有导向槽，载物台19可滑动设置在导向槽内，并能够沿导向槽的导向方向移动，通过对推拉面板21施力，能够驱动载物台19移动以及将推拉机构从箱体11内抽出，方便插装光敏二极管31，提高了光敏二极管的检测效率。

在其中一个实施例中，载物台19上设置或直接放置有若干光敏二极管插座15，每个光敏二极管插座15均单独连接一个万用表171或电流表，上述设置，可以同时对多个光敏二极管31进行检测，提高检测效率，同时也可以对比不同光敏二极管31个体之间的性能参数差异，提高测量准确性。

在其中一个实施例中，光敏二极管插座15上可以插接若干个光敏二极管31，每个光敏二极管31的插接位上均单独连接一个万用表171或电流表，上述设置，可以同时对多个光敏二极管31进行检测，提高检测效率，同时也可以对比不同光敏二极管31个体之间的性能参数差异，提高测量准确性。

其中，箱体11一侧开口设置，载物台19穿过箱体11上的开口伸入箱体11内，推拉面板21能够完全覆盖箱体11上的开口，以实现箱体11的密闭。

箱体11上的开口周边设置有密封条23，用于保证箱体的密闭性，以防止外界光源干扰测试环境。

箱体11上的开口边沿和推拉面板21上均设置有磁铁25，用于推拉面板21的锁紧。

具体的，本实施例中，推拉面板21的面积略大于箱体11上的开口的面积，载物台19能够穿过箱体11上的开口伸入箱体11内，推拉面板21在推拉过程中能够完全覆盖箱体11上的开口，实现箱体11的密闭。

箱体11上的开口外侧周边周向贴设有密封条23，推拉面板21闭合后，推拉面板21朝向箱体11上的开口的一侧表面能够与密封条23接触，密封条23的设置提高了箱体11的密闭性，可以防止外界光源干扰测试环境。

箱体11上的开口内侧和推拉面板21上均镶嵌有磁铁25，箱体11上的磁铁25和推拉面板21上的磁铁25的设置位置相对应，推拉面板21闭合后，箱体11上的磁铁25和推拉面板21上的磁铁25之间相互吸合，使推拉面板21紧贴箱体11上的密封条23。

上述设置采用特定磁吸结构，使推拉面板21和箱体11严密吸合，提高了箱体11的密闭性，可以防止外界光源进入箱体11内，实现了光敏二极管31测试时不受外界自然光影响的稳定状态。

推拉面板21背离箱体11上的开口的一侧表面上还设置有提手，方便手持和施力。

实施例2：

一种光敏二极管检测方法，采用上述实施例1中的光敏二极管检测装置10，包括以下步骤：

将载物台19从箱体11内抽出；

将光敏二极管31插设在光敏二极管插座15上；

将已放置好光敏二极管31的载物台19推进箱体11内，由于磁铁25之间的吸合，推拉面板21压紧箱体11上的密封条23，使外界环境的光线无法进入箱体11内部；

将电源适配器29插到220VAC插座上，为光敏二极管检测装置10供电；

根据需求旋转调节亮度旋钮，以调节光源面板13的亮度，当达到所需亮度，按下固定亮度按键，使箱体11内保持稳定的光源亮度；

光源调好后，万用表171或电流表测量光敏二极管31对应亮度的电流值，并将测量的电流信息显示出来；

读取万用表171或电流表上的电流信息，并根据相关标准对检测的光敏二极管31性能进行判定。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“底”、“顶”、“前”、“后”、“内”、“外”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

虽然在本文中参照了特定的实施方式来描述本发明，但是应该理解的是，这些实施例仅仅是本发明的原理和应用的示例。因此应该理解的是，可以对示例性的实施例进行许多修改，并且可以设计出其他的布置，只要不偏离所附权利要求所限定的本发明的精神和范围。应该理解的是，可以通过不同于原始权利要求所描述的方式来结合不同的从属权利要求和本文中所述的特征。还可以理解的是，结合单独实施例所描述的特征可以使用在其他所述实施例中。