一种用于环件微观检测的辅助装置及方法

技术领域

本发明涉及检测辅助设备技术领域，具体涉及一种用于环件微观检测的辅助装置及方法。

背景技术

半导体环件是一类对金属坯料施加外力，通过塑性变形塑造的、具有合适压缩力的环形物件。对于环件的性能检测通常为机械性能与微观组织的检测，机械性能检测包括屈服强度、抗拉强度、冲击韧性等检测，此类检测可以将环件整体直接进行测试。对于微观组织的检测，由于环件存在不平整问题，需要将环件进行切割，得到局部待测样品进行检测。而在生产现场的环境下，亟需在无损的基础上对环件产品整体直接进行快速检测来判断产品的优劣。

CN 113406784A公开了一种具备平整观测功能的显微镜系统，涉及显微镜技术领域，具体为目镜和底座，所述目镜的外部设置有视度调节环，所述目镜外部的一端安装有镜体连接座，且镜体连接座外部的一端设置有调焦手轮，所述镜体连接座的底部安装有显微镜镜体，所述显微镜镜体外部的一端设置有辅助块。该一种具备平整观测功能的显微镜系统，通过限位槽与限位套板的相互配合可对与连接杆相连接的载物盘进行旋转，通过旋转可使得载物盘放置在内置板内部的观测区域。

CN 205404947U公开了一种用于光学显微镜载物台的可倾斜式辅助装置，包括操作平台、固定座、支撑螺栓、微调螺栓、拉簧和弹簧片，其中操作平台与固定座之间通过拉簧固定连接，支撑螺栓和微调螺栓分别固定于固定座上，微调螺栓的顶部分别固定有顶杆，支撑螺栓的顶端与顶杆的顶端共同构成三角支撑面用于支撑操作平台，弹簧片固定于操作平台的上部。。

上述装置中均为对显微镜本体进行辅助装置的改进或增设，通过调节辅助部件，使得不平整的待测样品能够达到平整要求，便于显微观测。但对于环件这种异形构件，利用显微镜上的辅助装置进行调整，仍然无法获得良好的平整面进行观测，同时对于显微镜改进的精度要求与成本较高，不适于现场使用。

因此，针对现有技术的不足，亟需提供一种成本低、操作简单且可实现环件无损微观检测的辅助装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于环件微观检测的辅助装置及方法，通过设计可以相互套设的第一辅助件与第二辅助件，使得待测环件可以保持平整，无需破坏产品即可直接进行微观检测。

为达到此发明目的，本发明采用以下技术方案：

第一方面，本发明提供了一种用于环件微观检测的辅助装置，所述辅助装置包括第一辅助件与第二辅助件，所述第一辅助件与第二辅助件分别独立地包括第一固定框架与第二固定框架；

沿垂直于所述第一固定框架与第二固定框架所在平面的方向，所述第一固定框架的底端焊接有中空管，第二固定框架的底端焊接有内置管，所述中空管套设于内置管的管体外部。

本发明提供的辅助装置，通过设计可以相互套设的第一辅助件与第二辅助件，可以将待测环件卡固处理并使待测面平整，无需破坏产品即可直接进行微观检测，操作简单、成本低廉，可以用于现场批量产品的微观组织检测。

优选地，所述第一固定框架的底端两侧平行焊接有第一中空管与第二中空管。

需要说明的是，本发明对第一中空管与第二中空管之间的距离的结构特征不作具体限定，第一中空管与第二中空管在本发明中的作用是套设内置管并调整第一固定框架与第二固定框架的距离，因此可以理解的是，其他能实现此类功能的第一中空管与第二中空管均可用于本发明中，本领域技术人员可以根据使用场景和应用条件对第一中空管与第二中空管之间的距离进行适应性调整。

优选地，所述第二固定框架的底端两侧平行焊接有第一内置管与第二内置管。

需要说明的是，本发明对第一内置管与第二内置管之间的距离的结构特征不作具体限定，第一内置管与第二内置管在本发明中的作用是套设于中空管内部并调整第一固定框架与第二固定框架的距离，因此可以理解的是，其他能实现此类功能的第一内置管与第二内置管均可用于本发明中，本领域技术人员可以根据使用场景和应用条件对第一内置管与第二内置管之间的距离进行适应性调整。

优选地，所述第一中空管与第二中空管的侧壁分别独立地设置有调节旋钮。

优选地，所述调节旋钮之间的连线垂直于所述第一中空管所在中轴线。

需要说明的是，本发明对调节旋钮的构造以及在第一中空管与第二中空管上的具体位置等结构特征不作具体限定，调节旋钮在本发明中的作用是固定中空管与内置管，进而保证环件待测面平整，因此可以理解的是，其他能实现此类功能的调节旋钮均可用于本发明中，本领域技术人员可以根据使用场景和应用条件对调节旋钮的构造以及在第一中空管与第二中空管上的具体位置进行适应性调整。

优选地，所述第一中空管的内径大于第一内置管的外径。

优选地，所述第二中空管的内径大于第二内置管的外径。

所述第一中空管与第二中空管的内径分别大于第一内置管与第二内置管的外径，可以将内置管套设于中空管内部，实现第一辅助件与第二辅助件对待测环件的初步固定。

需要说明的是，本发明对第一中空管与第二中空管的内径范围、第一内置管与第二内置管的外径范围等结构特征不作具体限定，本领域技术人员可以根据使用场景和应用条件对第一中空管与第二中空管的内径范围、第一内置管与第二内置管的外径范围进行适应性调整。

优选地，所述第一中空管与第二中空管的长度小于环件的外径。

需要说明的是，本发明对第一中空管与第二中空管的长度范围、环件的具体内径及外径范围等结构特征不作具体限定，本领域技术人员可以根据使用场景和应用条件对第一中空管与第二中空管的长度范围、环件的具体内径及外径范围进行适应性调整。

第二方面，本发明提供了一种通过第一方面所述的辅助装置进行环件微观检测的方法，所述方法包括：

(1)将环件进行表面处理，得到待测环件；

(2)将步骤(1)所得待测环件的待测面沿靠近中空管的方向放置，通过第一调节处理使第一固定框架与第二固定框架卡固所述待测环件；

(3)进行第二调节处理至步骤(2)所述待测面平行于第一固定框架与第二固定框架的底面，然后取下所述待测环件；

(4)将步骤(3)所述第二调节处理后的辅助装置安装在微观检测装置上，然后将待测环件置于所述辅助装置中，进行微观检测。

本发明提供的方法，首先将环件进行表面处理，得到适于微观检测的待测环件，通过两次调节处理，将环件在辅助装置上的位置确定，进而保证待测环件的待测面在微观检测时保持平整，实现环件产品的无损在线微观检测。

优选地，步骤(1)所述表面处理包括依次进行的打磨、抛光以及腐蚀处理。

优选地，步骤(2)所述第一调节处理为将内置管插入中空管。

优选地，步骤(3)所述第二调节处理为旋转并固定调节旋钮。

优选地，步骤(4)所述微观检测装置为倒置式显微镜物镜。

作为本发明所述的方法的优选技术方案，所述方法包括：

(1)将环件依次进行打磨、抛光以及腐蚀处理，得到待测环件；

(2)将步骤(1)所得待测环件的待测面沿靠近中空管的方向放置，将内置管插入中空管，使第一固定框架与第二固定框架卡固所述待测环件；

(3)旋转调节旋钮至步骤(2)所述待测面平行于第一固定框架与第二固定框架的底面并固定调节旋钮，然后取下所述待测环件；

(4)将步骤(3)所述第二调节处理后的辅助装置安装在倒置式显微镜物镜上，然后将待测环件置于所述辅助装置中，进行微观检测。

相对于现有技术，本发明具有以下有益效果：

本发明提供的辅助装置，通过设计可以相互套设的第一辅助件与第二辅助件，可以将待测环件卡固处理并使待测面平整，无需破坏产品即可直接进行微观检测，操作简单、成本低廉，可以用于现场批量产品的微观组织检测。

附图说明

图1是本发明实施例1提供的第一辅助件的正视图；

图2是本发明实施例1提供的第一辅助件的侧视图；

图3是本发明实施例1提供的第一辅助件的俯视图；

图4是本发明实施例1提供的第二辅助件的正视图；

图5是本发明实施例1提供的第二辅助件的侧视图；

图6是本发明实施例1提供的第二辅助件的俯视图；

其中：1，第一固定框架；2，第二固定框架；3，第一中空管；4，第二中空管；5，第一内置管；6，第二内置管；7，调节旋钮。

具体实施方式

下面通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。本领域技术人员应该明了，所述实施例仅仅是帮助理解本发明，不应视为对本发明的具体限制。

实施例1

本实施例提供了一种用于环件微观检测的辅助装置，所述辅助装置包括第一辅助件与第二辅助件，所述第一辅助件的正视图、侧视图、俯视图分别如图1、图2、图3所示，所述第二辅助件的正视图、侧视图、俯视图分别如图4、图5、图6所示；所述第一辅助件与第二辅助件分别独立地包括第一固定框架1与第二固定框架2；

沿垂直于所述第一固定框架1与第二固定框架2所在平面的方向，所述第一固定框架1的底端两侧平行焊接有第一中空管3与第二中空管4，第二固定框架2的底端两侧平行焊接有第一内置管5与第二内置管6，所述第一中空管3与第二中空管4分别套设于第一内置管5与第二内置管6的管体外部；

所述第一中空管3与第二中空管4的侧壁分别独立地设置有调节旋钮7，所述调节旋钮7的连线垂直于所述第一中空管3所在中轴线；

所述第一中空管3的内径大于第一内置管5的外径，所述第二中空管4的内径大于第二内置管6的外径；所述第一中空管3与第二中空管4的长度小于环件的外径。

通过所述辅助装置进行环件微观检测的方法包括：

(1)将环件依次进行打磨、抛光以及腐蚀处理，得到待测环件；

(2)将步骤(1)所得待测环件的待测面沿靠近中空管的方向放置，将内置管插入中空管，使第一固定框架1与第二固定框架2卡固所述待测环件；

(3)旋转调节旋钮7至步骤(2)所述待测面平行于第一固定框架1与第二固定框架2的底面并固定调节旋钮7，然后取下所述待测环件；

(4)将步骤(3)所述第二调节处理后的辅助装置安装在倒置式显微镜物镜上，然后将待测环件置于所述辅助装置中，进行微观检测。

采用本实施例提供的辅助装置，可以获得待测面平整的环件，进而实现对环件的直接微观检测，数据准确度高，检测时间短，检测位置可选取，且方便异常品的复查。

实施例2

本实施例提供了一种用于环件微观检测的辅助装置，与实施例1的区别在于，所述第一固定框架1的底端中部焊接有1根中空管，第二固定框架2的底端中部焊接有1根内置管，所述中空管套设于内置管的管体外部，其余均与实施例1相同。

采用本实施例提供的辅助装置，由于中空管与内置管设置在固定框架的中部，导致中空管套设于内置管的管体外部存在不稳定的情况，进而导致环件的待测面容易发生倾斜，对环件进行直接微观检测的数据准确度有所降低。

实施例3

本实施例提供了一种用于环件微观检测的辅助装置，与实施例1的区别在于，所述第一中空管3与第二中空管4的侧壁未设置调节旋钮7，所述辅助装置的应用方法中未设置步骤(3)，其余均与实施例1相同。

采用本实施例提供的辅助装置，由于第一中空管与第二中空管的侧壁未设置调节旋钮7，导致环件的待测面无法与第一固定框架及第二固定框架的底面保持平行，进而导致对环件进行直接微观检测的数据准确度下降。

对比例1

本对比例提供了一种用于环件微观检测的辅助装置，所述辅助装置采用CN205404947U公开的用于光学显微镜载物台的可倾斜式辅助装置。

采用本对比例提供的辅助装置，由于环件为异形结构，放置在所述辅助装置上难以得到平整的待测面，进而无法有效进行环件的微观检测。

综上所述，本发明提供的辅助装置，通过设计可以相互套设的第一辅助件与第二辅助件，可以将待测环件卡固处理并使待测面平整，无需破坏产品即可直接进行微观检测，操作简单、成本低廉，可以用于现场批量产品的微观组织检测。

以上所述仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，所属技术领域的技术人员应该明了，任何属于本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，均落在本发明的保护范围和公开范围之内。