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显示装置和驱动方法

文献发布时间：2024-07-23 01:35:12

技术领域

本公开的实施方式涉及显示装置和驱动方法。

背景技术

随着信息社会的发展，对用于显示图像的显示装置的需求以各种方式不断增加。近来，已经使用了诸如液晶显示装置和有机发光显示装置的各种显示装置。

显示装置可以包括：显示面板，该显示面板中设置有多条数据线、多条选通线和多个子像素；数据驱动电路，该数据驱动电路向多条数据线输出数据信号；以及选通驱动电路，该选通驱动电路向多条选通线输出扫描信号。

数据驱动电路和控制器可能受到噪声的影响。

具体地，当使用当前嵌入式点对点接口(EPI)标准在显示装置上施加了噪声的影响时，可能因为没有用于检测噪声的方法或没有针对噪声的解决方而出现问题。

发明内容

本公开的各种实施方式旨在提供能够自动检测噪声的显示装置和驱动方法。

本公开的各种实施方式旨在提供能够实时检测噪声的显示装置和驱动方法。

本公开的各种实施方式旨在提供能够通过实时检测噪声来进行低功耗驱动的显示装置和驱动方法。

本公开的实施方式可以提供一种显示装置，该显示装置包括：显示面板，显示面板包括电连接至多条数据线和多条选通线的多个子像素；数据驱动电路，数据驱动电路用于向多个子像素提供数据电压；以及控制器，控制器被配置为向数据驱动电路发送输入数据，其中，数据驱动电路将基于输入数据生成的反馈数据发送至控制器，并且其中，控制器通过对输入数据和反馈数据进行比较来生成校正数据。

本公开的实施方式可以提供一种驱动显示装置的方法，该方法包括以下步骤：所选数据发送步骤，其中，用于控制数据驱动电路的控制器向数据驱动电路发送输入数据；反馈数据生成步骤，其中，数据驱动电路基于输入数据生成反馈数据；反馈数据发送步骤，其中，数据驱动电路将反馈数据发送至控制器；数据错误检查步骤，其中，控制器对输入数据和反馈数据进行比较；以及数据校正步骤，其中，当确定在反馈数据中已经出现错误时，控制器通过校正输入数据来生成校正数据。

根据本公开的实施方式，可以提供能够自动检测噪声的显示装置和驱动方法。

根据本公开的实施方式，可以提供能够实时检测噪声的显示装置和驱动方法。

根据本公开的实施方式，可以提供能够通过实时检测噪声来进行低功耗驱动的显示装置和驱动方法。

附图说明

根据结合附图的以下详细描述，将更清楚地理解本公开的上述和其它目的、特征和优点，在附图中：

图1是例示了根据本公开的实施方式的显示装置的示意性配置的图；

图2是根据本公开的实施方式的显示装置的系统图；

图3是例示了根据本公开的实施方式的显示装置中的点对点接口的结构的图；

图4是例示了在点对点接口中传送的信号的波形的示例的图；

图5是例示了根据本公开的实施方式的数据驱动电路和控制器的图；

图6是示意性地例示了根据本公开的实施方式的数据驱动电路和控制器的图；

图7是根据本公开的实施方式的数据驱动电路和控制器的电路框图；

图8是驱动根据本公开的实施方式的测试模式的流程图；

图9至图11是用于说明根据本公开的实施方式的在测试模式执行的数据错误检查步骤和数据校正步骤的图；

图12是驱动根据本公开的实施方式的实时模式的流程图；以及

图13和图14是用于说明根据本公开的实施方式的实时模式的驱动的图。

具体实施方式

在本公开的示例或实施方式的以下描述中，将参照附图，在附图中，通过例示的方式示出了可以实现的特定示例或实施方式，并且在附图中，即使在彼此不同的附图中示出，相同的附图标记和符号可以用于指定相同或相似的组件。此外，在本公开的示例或实施方式的以下描述中，当确定描述可能使本公开的一些实施方式中的主题相当不清楚时，将省略本文中并入的公知功能和组件的详细描述。除非与用语“仅”一起使用，否则本文使用的诸如“包括”、“具有”、“包含”、“构成”、“组成”和“形成”的用语通常旨在允许添加其它组件。如本文所使用的，除非上下文另有明确指示，否则单数形式旨在包括复数形式。

诸如“第一”、“第二”、“A”、“B”、“(A)”或“(B)”的用语在本文中可以用于描述本公开的元件。这些用语中的每一者不用于限定实质、次序、顺序或元件的数量等，而是仅用于将对应元件与其它元件区分开。

当提及第一元件与第二元件“连接或联接”、“接触或交叠”等时，应理解，第一元件不仅可以与第二元件“直接连接或联接”或“直接接触或交叠”，而且第三元件也可以“插置”在第一元件与第二元件之间，或者第一元件和第二元件可以经由第四元件彼此“连接或联接”、“接触或交叠”等。这里，第二元件可以被包括在彼此“连接或联接”、“接触或交叠”等的两个或更多个元件中的至少一个元件中。

当诸如“在……之后”、“在……后”、“下一个”、“在……之前”等的时间相对用语用于描述操作、处理、制造方法中的元件或配置或流程或步骤的过程或操作时，除非用语“直接”或“立即”一起被使用，否则这些用语可以用于描述非连续或非顺序过程或操作。

另外，当提及任何尺寸、相对大小等时，即使未指定相关描述，也应考虑元件或特征的数值或对应信息(例如，水平、范围等)包括可能由各种因素(例如，工艺因素、内部或外部影响、噪声等)引起的公差或误差范围。此外，用语“可以”完全包含了用语“可能”的所有含义。

在下文中，将参照附图详细描述本公开的各种实施方式。

图1是例示了根据本公开的实施方式的显示装置100的示意性配置的图。

参照图1，根据本公开的实施方式的显示装置100可以包括：显示面板110，在该显示面板中，多条选通线GL和多条数据线DL连接，并且多个子像素SP以矩阵形式布置；选通驱动电路120，该选通驱动电路驱动多条选通线GL；数据驱动电路130，该数据驱动电路通过多条数据线DL提供数据电压；以及控制器140，该控制器控制选通驱动电路120和数据驱动电路130。

显示面板110可以基于从选通驱动电路120通过多条选通线GL传送的扫描信号和从数据驱动电路130通过多条数据线DL传送的数据电压来显示图像。

在液晶显示器的情况下，显示面板110可以包括形成在两个基板之间的液晶层，并且可以以诸如扭曲向列(TN)模式、垂直对准(VA)模式、平面内切换(IPS)模式和边缘场切换(FFS)模式的任何已知模式操作。另一方面，在有机发光显示器的情况下，显示面板110可以以顶发光型、底发光型或双发光型实现。

在显示面板110中，多个像素可以布置为矩阵形式，每个像素可以由不同颜色的子像素SP(例如，白色子像素、红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素)组成，并且相应子像素SP可以通过多条数据线DL和多条选通线GL限定。

一个子像素SP可以包括形成在一条数据线DL和一条选通线GL相交的区域中的薄膜晶体管(TFT)、对数据电压充电的发光元件(例如，有机发光二极管)以及电连接至发光元件以维持电压的存储电容器。

例如，当分辨率为2160×3840的显示装置100包括白色(W)、红色(R)、绿色(G)和蓝色(B)的四个子像素SP时，可以提供2160条选通线GL和总共3840×4＝15360条数据线DL(3840条数据线DL各自连接至四个子像素(WRGB))，并且子像素SP可以分别设置在选通线GL和数据线DL相交的点处。

选通驱动电路120可以由控制器140控制，并且可以通过依次向设置在显示面板110中的多条选通线GL输出扫描信号来控制多个子像素SP的驱动定时。

在分辨率为2160×3840的显示装置100中，向2160条选通线GL的第一选通线至第2160选通线依次输出扫描信号的情况可以称为2160相位驱动。另选地，在向第一选通线至第四选通线依次输出扫描信号，然后向第五选通线至第八选通线依次输出扫描信号的情况下，以四条选通线GL为单位依次输出扫描信号的情况称为4相驱动。也就是说，向每N条选通线GL依次输出扫描信号的情况可以称为N相驱动。

选通驱动电路120可以包括至少一个选通驱动集成电路(GDIC)，并且可以根据驱动方案位于显示面板110的仅一侧或两侧。另选地，选通驱动电路120可以内置在显示面板110的边框区域中，以实现为面板内栅极(GIP)类型。

数据驱动电路130可以从控制器140接收图像数据DATA，并且可以将接收到的图像数据DATA转换为模拟类型的数据电压。然后，通过与通过选通线GL施加扫描信号的定时一致地将数据电压输出至每条数据线DL，连接至数据线DL的子像素SP可以发出具有与数据电压相对应的亮度的光。

类似地，数据驱动电路130可以包括至少一个源极驱动集成电路(SDIC)，并且源极驱动集成电路(SDIC)可以连接至显示面板110的接合焊盘或者以带式自动接合(TAB)类型或玻璃上芯片(COG)类型直接设置在显示面板110上。

视情况而定，每个源极驱动集成电路(SDIC)可以通过集成到显示面板110中而设置在该显示面板110中。另选地，每个源极驱动集成电路(SDIC)可以以膜上芯片(COF)类型实现。在这种情况下，每个源极驱动集成电路(SDIC)可以安装在电路膜上，并且可以通过电路膜电连接至显示面板110的数据线DL。

控制器140可以向选通驱动电路120和数据驱动电路130提供各种控制信号，并且可以控制选通驱动电路120和数据驱动电路130的操作。换句话说，控制器140可以根据在每个帧中实现的定时控制选通驱动电路120输出扫描信号，并且另一方面，可以将从外部接收到的图像数据DATA传送至数据驱动电路130。

与图像数据DATA一起，控制器140可以从外部(例如，主机系统)接收包括垂直同步信号Vsync、水平同步信号Hsync、数据使能信号DE和主时钟信号MCLK的各种定时信号。因此，控制器140可以使用从外部接收到的各种定时信号来生成控制信号，并且可以将控制信号传送至选通驱动电路120和数据驱动电路130。

例如，为了控制选通驱动电路120，控制器140可以输出包括选通起始脉冲GSP、选通时钟GCLK和选通输出使能信号GOE的各种选通控制信号。选通起始脉冲GSP可以控制构成选通驱动电路120的至少一个选通驱动集成电路(GDIC)开始操作的定时。选通时钟GCLK(其作为公共输入到至少一个选通驱动集成电路(GDIC)的时钟信号)可以控制扫描信号的移位定时。选通输出使能信号GOE可以指定至少一个选通驱动集成电路(GDIC)的定时信息。

此外，为了控制数据驱动电路130，控制器140可以输出包括源极起始脉冲SSP、源极采样时钟SCLK和源极输出使能信号SOE的各种数据控制信号。源极起始脉冲SSP可以控制构成数据驱动电路130的至少一个源极驱动集成电路(SDIC)开始数据采样的定时。源极采样时钟SCLK是控制用于在源极驱动集成电路(SDIC)中对数据进行采样的定时的时钟信号。源极输出使能信号SOE可以控制数据驱动电路130的输出定时。

显示装置100还可以包括电力管理集成电路，该电力管理集成电路向显示面板110、选通驱动电路120和数据驱动电路130提供各种电压或电流，或者控制要提供的各种电压或电流。

每个子像素SP可以位于选通线GL和数据线DL相交的点处，并且每个子像素SP中可以设置发光元件。例如，有机发光显示装置可以在每个子像素SP中包括诸如有机发光二极管(OLED)的发光元件，并且可以通过根据数据电压控制流过发光元件的电流来显示图像。

显示装置100可以是诸如液晶显示器、有机发光显示器和等离子显示面板的各种类型的装置。

图2是根据本公开的实施方式的显示装置100的系统图。

参照图2，根据本公开的实施方式的显示装置100例示了包括在数据驱动电路130中的源极驱动集成电路SDIC以诸如TAB、COG和膜上芯片(COF)类型的各种类型当中的COF类型实现并且选通驱动电路120以诸如TAB、COG、COF和面板内栅极(GIP)类型的各种类型当中的GIP类型实现的情况。

包括在选通驱动电路120中的一个或更多个选通驱动集成电路GDIC中的每一者可以安装在选通膜GF上，并且选通膜GF的一端可以电连接至显示面板110。用于电连接选通驱动集成电路GDIC和显示面板110的线可以设置在选通膜GF上。

类似地，包括在数据驱动电路130中的一个或更多个源极驱动集成电路SDIC中的每一者可以安装在源极膜SF上，并且源极膜SF的一端可以电连接至显示面板110。用于电连接源极驱动集成电路SDIC和显示面板110的线可以设置在源极膜SF上。

针对多个源极驱动集成电路SDIC与其它器件之间的电路连接，显示装置100可以包括至少一个源极印刷电路板SPCB和用于安装控制部件和各种电子器件的控制印刷电路板CPCB。

安装有源极驱动集成电路SDIC的源极膜SF的另一端可以连接到至少一个源极印刷电路板SPCB。即，安装有源极驱动集成电路SDIC的源极膜SF的一端可以电连接至显示面板110，并且源极膜SF的另一端可以电连接至源极印刷电路板SPCB。

控制器140和电力管理集成电路(PMIC)150可以安装在控制印刷电路板CPCB上。控制器140可以控制数据驱动电路130和选通驱动电路120的操作。电力管理集成电路150可以向显示面板110、数据驱动电路130和选通驱动电路120提供驱动电压或电流，或者可以控制要提供的电压或电流。

至少一个源极印刷电路板SPCB和控制印刷电路板CPCB可以通过至少一个连接构件在电路方面连接。连接构件可以是例如柔性印刷电路(FPC)或柔性平坦线缆FFC。连接至少一个源极印刷电路板SPCB和控制印刷电路板CPCB的连接构件可以根据显示装置100的大小和类型而不同地改变。至少一个源极印刷电路板SPCB和控制印刷电路板CPCB可以通过集成到单个印刷电路板中来实现。

显示装置100还可以包括电连接至控制印刷电路板CPCB的设置板170。设置板170也可以称为电力板。管理显示装置100的总电力的主电力管理电路(M-PMC)160可以存在于设置板170上。主电力管理电路160可以与电力管理集成电路150互操作。

在如上所述配置的显示装置100的情况下，可以在设置板170中生成驱动电压，并将该驱动电压传送至控制印刷电路板CPCB上的电力管理集成电路150。电力管理集成电路150可以通过柔性印刷电路(FPC)或柔性平坦线缆(FFC)将显示驱动或特征值感测所需的驱动电压传送至源极印刷电路板SPCB。传送至源极印刷电路板SPCB的驱动电压可以通过源极驱动集成电路SDIC提供，以引起显示面板110中的特定子像素SP的发光或感测显示面板110中的特定子像素SP。

布置在显示装置100的显示面板110中的每个子像素SP可以由诸如作为发光元件的有机发光二极管(OLED)的电路元件和用于驱动有机发光二极管(OLED)的驱动晶体管构成。

构成每个子像素SP的电路元件的类型和数量可以根据要提供的功能和设计方案以各种方式确定。

为了使连接安装在控制印刷电路板CPCB上的控制器140和安装在源极印刷电路板SPCB上的数据驱动电路130的信号线的数量最小化并稳定信号传输，本公开的显示装置100可以使用将图像数据DATA串行化、通过插入时钟信息将图像数据DATA转换成分组单元并发送分组的点对点接口。

图3是例示了根据本公开的实施方式的显示装置100中的点对点接口的结构的图，并且图4是例示了在点对点接口中传送的信号的波形的示例的图。

参照图3和图4，根据本公开的实施方式的显示装置100可以包括控制器140和数据驱动电路130，控制器140发送多个数据分组DP，并且数据驱动电路130接收从控制器140发送的多个数据分组DP。

本文例示的接口标准可以是嵌入式点对点接口(EPI)，其为了减少控制器140与数据驱动电路130之间的数据传输线的数量并实现高速传输，将数据控制信号DCS和图像数据DATA串行化、通过插入时钟信息将经串行化的数据控制信号DCS和图像数据DATA转换成分组单元并以点对点类型发送数据分组DP。

此外，在本文中，作为示例描述了控制器140发送数据分组DP并且包括两个源极驱动集成电路SDIC1和SDIC2的数据驱动电路130接收数据分组DP并将数据分组DP提供至显示面板110的结构。

控制器140可以根据时钟信号CLK将多个数据分组DP依次发送至数据驱动电路130。

控制器140发送的数据分组DP可以分为第一传输时间Phase 1(阶段1)、第二传输时间Phase 2(阶段2)和第三传输时间Phase 3(阶段3)。

在第一传输时间Phase 1，可以使用时钟训练模式CT来执行用于同步时钟信号CLK的时钟训练。

在第二传输时间Phase 2，可以发送用于控制数据驱动电路130的数据控制信号DCS。

在第三传输时间Phase 3，可以发送图像数据DATA。

可以以各种方式改变发送数据分组DP的时间和要发送的数据类型。

在水平消隐(blank)时间或垂直消隐时间，控制器140可以通过在时钟训练时间Tct期间利用数据驱动电路130执行时钟训练来同步时钟信号CLK。

在控制器140通过时钟训练与数据驱动电路130同步的状态下，控制器140可以向数据驱动电路130发送锁定输入信号Lock(IN)。控制器140可以从数据驱动电路130反馈有锁定输出信号Lock(OUT)。

当内部时钟信号的相位是固定的时，第一源极驱动集成电路SDIC1可以生成指示稳定输出状态的高逻辑电平的锁定信号Lock，并且可以将锁定信号Lock传送至相邻的第二源极驱动集成电路SDIC2。数据驱动电路130的最后一个源极驱动集成电路(本文中，SDIC2)生成的锁定信号Lock变为数据驱动电路130的锁定输出信号Lock(OUT)，并且锁定输出信号Lock(OUT)通过连接在控制器140与最后一个源极驱动集成电路SDIC2之间的信号线发送至控制器140。高电平的DC电源电压VCC可以输入至被输入有锁定信号Lock(IN)和Lock的源极驱动集成电路SDIC1和SDIC2的输入端子。

当从数据驱动电路130接收到正常的锁定输出信号Lock(OUT)时，控制器140可以将对应数据分组DP发送至构成数据驱动电路130的多个源极驱动集成电路SDIC1和SDIC2。

为了减少传输线的数量，嵌入式点对点接口(EPI)标准可以不使用用于在控制器140与数据驱动电路130之间发送时钟信号CLK的线。在这种情况下，当控制器140发送数据分组DP时，数据驱动电路130可以使用接收到的数据分组DP在时钟恢复电路131a和131b中生成内部时钟信号，并且可以与所生成的内部时钟信号相对应地传送图像数据DATA。

数据驱动电路130可以对由时钟恢复电路131a和131b生成的内部时钟信号与从控制器140发送的时钟训练模式进行比较，并且当作为比较的结果而没有异常时，可以将高电平的锁定输出信号Lock(OUT)发送至控制器140。

从数据驱动电路130发送至控制器140的锁定输出信号Lock(OUT)可以是通过将从控制器140发送的锁定输入信号Lock(IN)反馈至数据驱动电路130而获得的信号。

在锁定输出信号Lock(OUT)被发送至控制器140的状态下，由于数据驱动电路130可以固定通过时钟训练同步的数据分组DP的相位和频率，因此数据驱动电路130可以处于能够接收从控制器140发送的数据分组DP的状态。

在使用点对点接口的情况下，控制器140可以根据与数据驱动电路130的连接状态或信号传送特性来控制要发送的数据分组DP的输出特性。具体地，由于连接控制器140和数据驱动电路130的线缆(例如，FFC)的长度根据显示装置100的大小和类型而变化，因此可以在考虑由于线缆的长度的变化而在控制器140与数据驱动电路130之间出现的信号延迟的情况下控制数据分组DP的输出特性。

图5是例示了根据本公开的实施方式的数据驱动电路130和控制器140的图。

图5所示的数据驱动电路130和控制器140可以与图2所示的数据驱动电路130和控制器140相同。

参照图5，数据驱动电路130可以通过线缆FFC1和FFC2以及印刷电路板SPCB和CPCB电连接至控制器140。因此，数据驱动电路130可以从控制器140接收信号。

图4所示的数据分组DP可以从控制器140发送至数据驱动电路130。数据驱动电路130可以包括多个源极驱动集成电路SDIC。例如，参照图5，数据驱动电路130可以包括四个源极驱动集成电路SDIC。数据分组DP可以发送至四个源极驱动集成电路SDIC。

数据驱动电路130和控制器140可能受到噪声的影响。噪声可以包括通常在电子器件中出现的各种噪声。例如，噪声可以通过由显示装置100的周围环境引起的信号干扰、印刷电路板(PCB)的余量(margin)比、提供有信号的线之间的信号干扰等发生。也就是说，不存在出现噪声的原因的限制。

数据分组DP可以由多个比特组成。多个比特中的每一个是信息量的最小单位，并且可以二进制表示。换句话说，多个比特中的每一个可以具有0比特值或1比特值。当数据驱动电路130和控制器140受到噪声的影响时，包括在数据分组DP中的多个比特当中的一些比特在传输过程期间其比特值可能发生变化。包括在数据分组DP中的比特的值发生变化的情况可以称为数据分组DP中出现错误的情况。

例如，控制器140可以将包括比特值为1的第一比特的数据分组DP发送至数据驱动电路130。然而，由于噪声的影响，包括在数据分组DP中的第一比特在传输过程期间可能从比特值为1变化位比特值为0。即，尽管控制器140向数据驱动电路130发送包括比特值为1的第一比特的数据分组DP，但是数据驱动电路130可能接收其第一比特已经改变为比特值为0的数据分组DP。也就是说，当包括在数据分组DP中的比特值在传输过程期间变化时，显示装置100可能异常操作，或者可能无法适当地执行显示装置100的控制。

虽然在以上示例中描述了第一比特的值变化，但是不存在可能受到噪声影响的比特的顺序的限制。

作为另一示例，从控制器140发送至数据驱动电路130的数据分组DP可能由于噪声的影响而被延迟发送至数据驱动电路130。在这种情况下，由于构成数据分组DP的比特的顺序被延迟，因此构成数据分组DP的比特的轮次(turn)被延迟，显示装置100可能异常操作，或者可能无法适当地执行显示装置100的控制。

具体地，当使用当前嵌入式点对点接口(EPI)标准的显示装置100上施加了噪声的影响时，通过修改包括在显示装置100中的印刷电路板(PCB)的工艺图或者通过新制造印刷电路板(PCB)来去除噪声的影响。在这种情况下，尽管可以去除噪声，但是可能因为应当再次制造印刷电路板(PCB)而出现问题，并且可能因为无法去除噪声对设置有显示装置100的周围环境的影响而出现问题。

本公开的实施方式可以提供能够自动检测噪声的显示装置和驱动方法。本公开的实施方式可以提供能够实时检测噪声的显示装置和驱动方法。本公开的实施方式可以提供能够通过实时检测噪声来进行低功耗驱动的显示装置和驱动方法。这将在下面详细描述。

图6是示意性地例示了根据本公开的实施方式的数据驱动电路630和控制器640的图。

数据驱动电路630可以向多个子像素SP提供数据电压Vdata。

控制器640可以将输入数据Data_i发送至数据驱动电路630。

数据驱动电路630可以电连接至控制器640。由于数据驱动电路630包括多个源极驱动集成电路SDIC，所以源极驱动集成电路SDIC可以电连接至控制器640。

数据驱动电路630可以通过线缆FFC1和FFC2以及印刷电路板SPCB和CPCB电连接至控制器640。包括在数据驱动电路630中的多个源极驱动集成电路SDIC中的每一者可以以一对一的形式连接至控制器640。例如，第一源极驱动集成电路SDIC1可以通过第一线连接至控制器640，并且第四源极驱动集成电路SDIC4可以通过第四线连接至控制器640。

由于数据驱动电路630电连接至控制器640，数据驱动电路630和控制器640可以交换数据。

数据驱动电路630可以从控制器640接收通过第一线缆FFC1发送的输入数据Data_i。输入数据Data_i可以是用于在显示面板110上显示图像的图像数据DATA或与图像数据DATA不同的测试数据Data_t。

在从控制器640接收到输入数据Data_i之后，数据驱动电路630可以基于接收到的输入数据Data_i生成反馈数据Data_f。

数据驱动电路630可以通过第二线缆FFC2将反馈数据Data_f发送至控制器640。

控制器640可以对输入数据Data_i和反馈数据Data_f进行比较。控制器640可以通过对输入数据Data_i和反馈数据Data_f进行比较来生成校正数据Data_e。

当控制器640确定输入数据Data_i受到噪声的影响时，控制器640可以通过校正数据分组DP来生成校正数据Data_e，并且可以将校正数据Data_e发送至数据驱动电路630。

当输入数据Data_i是测试数据Data_t时，控制器640可以通过对输入数据Data_i中的特定比特进行消隐处理来生成校正数据Data_e。

当输入数据Data_i是测试数据Data_t时，控制器640可以通过校正输入数据Data_i中的特定比特的比特值来生成校正数据Data_e。

当输入数据Data_i是测试数据Data_t时，控制器640可以通过将与信号延迟相对应的比特插入到图像数据DATA中来生成校正数据Data_e。

当输入数据Data_i是图像数据DATA时，在输入数据Data_i从控制器640发送至数据驱动电路630之后，输入数据Data_i可以改变为校正数据Data_e。输入数据Data_i可以在用于在显示面板110上实现图像的图像数据输入时间Ti期间被提供至数据驱动电路630，并且校正数据Data_e可以在图像数据输入时间Ti之后进行的校正数据输入时间Te期间被提供至数据驱动电路630。

图7是根据本公开的实施方式的数据驱动电路730和控制器740的电路框图。

控制器740可以包括复用(MUX)电路741、第一发送电路742、第一接收电路743、数据错误检查电路744和数据校正电路745。

MUX电路741可以接收多个数据和数据选择信号Sel1。MUX电路741可以根据数据选择信号Sel1选择多个数据当中的任意一个数据，并且可以将所选的一个数据发送至第一发送电路742。MUX电路741可以接收输入数据Data_i、校正数据Data_e和测试数据Data_t。MUX电路741可以是复用器。

第一发送电路(TX_C)742可以从MUX电路741接收数据。第一发送电路742可以将接收到的数据发送至包括在数据驱动电路730中的第二接收电路731。换句话说，控制器740可以将数据发送至数据驱动电路730。

第一接收电路(RX_C)743可以从包括在数据驱动电路730中的第二发送电路733接收数据。第一接收电路743可以将接收到的数据发送至数据错误检查电路744。数据可以是反馈数据Data_f。

数据错误检查电路744可以从第一接收电路743接收数据，并且对应数据可以是反馈数据Data_f。

数据错误检查电路744可以将测试数据Data_t发送至MUX电路741。由数据驱动电路730基于测试数据Data_t生成的数据可以是由数据错误检查电路744接收到的反馈数据Data_f。

数据错误检查电路744可以对测试数据Data_t和反馈数据Data_f进行比较。数据错误检查电路744可以对输入数据Data_i和反馈数据Data_f进行比较，并且输入数据Data_i可以是图像数据DATA。

当输入数据Data_i和反馈数据Data_f彼此匹配时，数据错误检查电路744可以确定反馈数据Data_f中没有错误。当输入数据Data_i和反馈数据Data_f彼此不匹配时，数据错误检查电路744可以确定反馈数据Data_f中存在错误。

在数据从控制器740发送至数据驱动电路730的数据传输过程期间，包括在数据中的多个比特当中的至少一个比特可能由于噪声而其比特值出现变化。比特值的这种变化可以称为数据中出现错误。数据错误检查电路744可以对测试数据Data_t和反馈数据Data_f进行比较，然后可以确定数据中是否出现错误。数据错误检查电路744可以对输入数据Data_i和反馈数据Data_f进行比较，然后可以确定数据中是否出现错误。

当数据错误检查电路744确定数据中出现错误时，数据错误检查电路744可以向数据校正电路745发送错误检查信号ECS。

数据校正电路745可以从数据错误检查电路744接收错误检查信号ECS。此后，数据校正电路745可以在考虑在数据传输过程期间出现噪声的情况下校正包括在数据中的多个比特当中的至少一个比特的比特值。也就是说，数据校正电路745可以生成包括在数据中的多个比特当中的至少一个比特的比特值被校正的校正数据Data_e。校正数据Data_e可以是在测试数据Data_t或输入数据Data_i的至少一个比特的比特值被校正时获得的数据。

在生成校正数据Data_e之后，数据校正电路745可以将校正数据Data_e发送至MUX电路741。

数据驱动电路730可以包括第二接收电路731、多输出电路单元732和第二发送电路733。

第二接收电路731可以从包括在控制器740中的第一发送电路742接收数据。第二接收电路731可以将接收到的数据发送至多输出电路单元732。

多输出电路单元732可以从第二接收电路731接收数据。数据可以是输入数据Data_i、测试数据Data_t和校正数据Data_e。

多输出电路单元732可以基于接收到的数据生成反馈数据Data_f。

多输出电路单元732可以接收功能选择信号Sel2。多输出电路单元732可以根据功能选择信号Sel2选择要输出的数据。换句话说，根据功能选择信号Sel2，多输出电路单元732可以输出多个数据的全部或一部分。

多输出电路单元732可以是解复用器，但不限于此。

从多输出电路单元732输出的数据可以被发送至包括在数据驱动电路730中的驱动电路单元(未例示)。驱动电路单元可以包括移位寄存器(SR)、锁存器、数模转换器(DAC)和输出缓存器。驱动电路单元可以由与数据驱动电路730分离的电路配置，但是可以设置在数据驱动电路730内部。因此，数据驱动电路730可以包括移位寄存器(SR)、锁存器、数模转换器(DAC)和输出缓存器。

从多输出电路单元732输出的数据可以被发送至第二发送电路733，并且数据可以是反馈数据Data_f。

第二发送电路733可以从多输出电路单元732接收反馈数据Data_f。第二发送电路733可以向包括在控制器740中的第一接收电路743发送数据，并且数据可以是反馈数据Data_f。

如上所述，反馈数据Data_f可以从数据驱动电路730发送至控制器740。显示装置100可以使用从数据驱动电路730发送至控制器740的反馈数据Data_f来确定数据中是否出现了错误，并且当数据中出现了错误时，可以生成校正数据Data_e，从而校正对应错误。

本公开的实施方式可以提供能够自动检测噪声的显示装置和驱动方法。

本公开的实施方式可以提供能够实时检测噪声的显示装置和驱动方法。

本公开的实施方式可以提供能够通过实时检测噪声来进行低功耗驱动的显示装置和驱动方法。在下文中，将更详细地描述实施方式。

图8是驱动根据本公开的实施方式的测试模式的流程图。

测试模式可以包括测试数据生成步骤S810、数据选择步骤S820、所选数据发送步骤S830、反馈数据生成步骤S840、功能选择步骤S850、反馈数据发送步骤S860、数据错误检查步骤S870、数据校正步骤S871和测试模式结束步骤S872。

测试数据生成步骤S810可以是数据错误检查电路744将测试数据Data_t发送至MUX电路741的步骤。

数据选择步骤S820可以是MUX电路741根据数据选择信号Sel1在多个数据当中选择任意一个数据的步骤。在数据选择步骤S820，MUX电路741可以选择测试数据Data_t。

所选数据发送步骤S830可以是将所选测试数据Data_t从MUX电路741发送至数据驱动电路730的步骤。测试数据Data_t可以被发送至包括在数据驱动电路730中的多输出电路单元732。

反馈数据生成步骤S840可以是多输出电路单元732基于接收到的测试数据Data_t生成反馈数据Data_f的步骤。

功能选择步骤S850可以是多输出电路单元732根据功能选择信号Sel2选择要输出的数据的步骤。多输出电路单元732可以在功能选择信号Sel2的控制下将反馈数据Data_f发送至第二发送电路733。

反馈数据发送步骤S860可以是包括在数据驱动电路730中的第二发送电路733将从多输出电路单元732接收到的反馈数据Data_f发送至控制器740的步骤。被发送至控制器740的反馈数据Data_f可以经由第一接收电路743发送至数据错误检查电路744。

数据错误检查步骤S870可以是数据错误检查电路744对测试数据Data_t和反馈数据Data_f进行比较的步骤。当数据错误检查电路744确定数据中出现错误时，数据错误检查电路744可以将错误检查信号ECS发送至数据校正电路745。当数据中包括错误时，可以在数据错误检查步骤S870之后进行数据校正步骤S871，并且当数据中不包括错误时，可以继续进行测试模式结束步骤S872。

数据校正步骤S871可以是数据校正电路745在考虑在数据传输过程期间生成噪声的情况下校正包括在数据中的多个比特当中的至少一个比特的比特值的步骤。数据校正电路745可以生成校正数据Data_e，在该校正数据Data_e中，校正了包括在数据中的多个比特当中的至少一个比特的比特值。之后，校正数据Data_e可以从控制器740发送至数据驱动电路730。

测试模式结束步骤S872可以是结束测试模式的步骤，并且从多输出电路单元732输出的数据被发送至包括在数据驱动电路730中的驱动电路单元(未例示)。

图9至图11是用于说明根据本公开的实施方式的在测试模式执行的数据错误检查步骤S870和数据校正步骤S871的图。

参照图9，可以看到数据错误检查步骤S870中的由数据错误检查电路744比较的测试数据Data_t和反馈数据Data_f。

参照图9，例如，测试数据Data_t和反馈数据Data_f中的每一者可以由21个比特组成。比特的数量是出于例示性目的，并且包括在数据中的比特的数量不限于21。测试数据Data_t可以按照从第一比特至第21比特的次序由‘0、1、0、1、0、1、0、1、0、1、0、1、0、1、0、1、0、1、0、1、0’的比特值组成。基于测试数据Data_t生成的反馈数据Data_f可以按照从第一比特至第21比特的次序由‘0、1、0、1、1、1、0、1、0、0、0、1、0、1、1、1、0、1、0、0、0’的比特值组成。

通过对测试数据Data_t和反馈数据Data_f进行比较，可以检查到第五比特、第十比特、第十五比特和第二十比特彼此不匹配。出现失配的原因是因为数据在数据传输过程期间受到噪声的影响。失配可以以特定模式出现，并且这可以称为“固定错误”。

参照图9，可以检查到在数据校正步骤S871，数据校正电路745可以在考虑在数据传输过程期间生成噪声的情况下校正包括在测试数据Data_t中的多个比特当中的一些比特。

参照图9，可以检查到，由于在测试数据Data_t的第五比特、第十比特、第十五比特和第二十比特中发生固定错误，所以通过消隐处理测试数据Data_t的第五比特、第十比特、第十五比特和第二十比特而生成测试数据Data_t’。消隐处理可以是不发送特定比特值的方法。可以通过延迟和有意地延迟发送数据来执行消隐处理。

因为即使在进行测试模式之后，也可能由于噪声的影响而在第五比特、第十比特、第十五比特和第二十比特中发生固定错误，所以在数据校正步骤S871，可以通过校正输入数据Data_i的第五比特、第十比特、第十五比特和第二十比特来生成校正数据Data_e。

参照图10，可以看到在数据错误检查步骤S870由数据错误检查电路744对测试数据Data_t和反馈数据Data_f进行比较。

参照图10，例如，测试数据Data_t和反馈数据Data_f中的每一者可以由21个比特组成。比特的数量是出于例示性目的，并且包括在数据中的比特的数量不限于21。测试数据Data_t可以按照从第一比特至第21比特的次序由‘0、1、0、1、0、1、0、1、0、1、0、1、0、1、0、1、0、1、0、1、0’的比特值组成。基于测试数据Data_t生成的反馈数据Data_f可以按照从第一比特至第21比特的次序由‘0、1、0、1、1、1、0、1、0、0、0、1、0、1、1、1、0、1、0、0、0’的比特值组成。

参照图10，可以检查到在数据校正步骤S871，数据校正电路745可以在考虑在数据传输过程期间生成噪声的情况下校正包括在测试数据Data_t中的多个比特当中的一些比特。

参照图10，可以检查到，由于在测试数据Data_t的第五比特、第十比特、第十五比特和第二十比特中出现固定错误，所以通过将测试数据Data_t的第五比特、第十比特、第十五比特和第二十比特的比特值校正成相反比特值来生成测试数据Data_t’。例如，可以将比特值为0的第五比特和第十五比特校正为比特值为1，并且可以将比特值为1的第十比特和第二十比特校正为比特值为0。

因为即使在进行测试模式之后，也可能由于噪声的影响而在第五比特、第十比特、第十五比特和第二十比特中发生出现错误，所以在数据校正步骤S871，可以通过校正输入数据Data_i的第五比特、第十比特、第十五比特和第二十比特来生成校正数据Data_e。

参照图11，可以看到在数据错误检查步骤S870由数据错误检查电路744对测试数据Data_t和反馈数据Data_f进行比较。

参照图11，例如，测试数据Data_t和反馈数据Data_f中的每一者可以由21个比特组成。比特的数量是出于例示性目的，并且包括在数据中的比特的数量不限于21。测试数据Data_t可以按照从第一比特至第21比特的次序由‘0、0、1、1、0、0、1、1、0、0、1、1、0、0、1、1、0、0、1、1、0’的比特值组成。基于测试数据Data_t生成的反馈数据Data_f可以按照从第一比特至第21比特的次序由‘1、1、0、0、1、1、0、0、1、1、0、0、1、1、0、0、1、1、0、x、x’的比特值组成。比特值为x可以表示比特值未被输入为特定比特。即，比特值可能未被输入至反馈数据Data_f的第二十比特和第二十一比特。

通过对测试数据Data_t和反馈数据Data_f进行比较，可以检查到所有比特值彼此不匹配并且比特值的次序连续地移位。发生失配的原因可能是因为在数据传输过程期间数据受到噪声的影响，并且在数据传输过程期间由于噪声而发生延迟。

参照图11，可以检查到在数据校正步骤S871，数据校正电路745可以在考虑在数据传输过程期间生成噪声的情况下校正包括在测试数据Data_t中的多个比特当中的一些比特。

参照图11，可以检查到，由于在数据传输过程期间出现延迟，所以为了改变根据延迟移位的比特的次序，通过不在测试数据Data_t中输入第一比特值和第二比特值来生成测试数据Data_t’。测试数据Data_t’可以按照从第一比特至第23比特的次序由‘x、x、0、0、1、1、0、0、1、1、0、0、1、1、0、0、1、1、0、0、1、1、0’的比特值组成。

因为即使在进行测试模式之后，也可能在数据传输过程期间发生特定延迟，因此在数据校正步骤S871，可以通过在输入数据Data_i中按照特定延迟校正比特值来生成校正数据Data_e。

图12是驱动根据本公开的实施方式的实时模式的流程图。

实时模式可以包括图像数据接收步骤S1210、数据选择步骤S1220、所选数据发送步骤S1230、反馈数据生成步骤S1240、图像数据和反馈数据发送步骤S1250、数据错误检查步骤S1260、图像数据校正步骤S1270和实时模式结束步骤S1265。

图像数据接收步骤S1210可以是MUX电路741接收输入数据Data_i的步骤。输入数据Data_i可以是图像数据DATA。在下文中，为了便于说明，假设输入数据Data_i是图像数据DATA。

数据选择步骤S1220可以是MUX电路741根据数据选择信号Sel1在多个数据当中选择任意一个数据的步骤。在数据选择步骤S1220，MUX电路741可以选择输入数据Data_i或校正数据Data_e。

所选数据发送步骤S1230可以是将所选数据从MUX电路741发送至数据驱动电路730的步骤。数据可以被发送至包括在数据驱动电路730中的多输出电路单元732。

反馈数据生成步骤S1240可以是多输出电路单元732基于接收到的数据生成反馈数据Data_f的步骤。多输出电路单元732可以接收输入数据Data_i并基于输入数据Data_i生成反馈数据Data_f。

图像数据和反馈数据发送步骤S1250可以是多输出电路单元732将图像数据DATA和反馈数据Data_f发送至外部的步骤。图像数据DATA可以发送至驱动电路单元(未例示)，并且反馈数据Data_f可以发送至控制器740。

数据错误检查步骤S1260可以是数据错误检查电路744对图像数据DATA和反馈数据Data_f进行比较的步骤。当数据错误检查电路744确定数据中出现错误时，数据错误检查电路744可以将错误检查信号ECS发送至数据校正电路745。当数据中包括错误时，可以在数据错误检查步骤S1260之后进行图像数据校正步骤S1270，并且当数据中不包括错误时，该方法可以前进至实时模式结束步骤S1265并且可以不校正基于其生成反馈数据Data_f的图像数据DATA。

图像数据校正步骤S1270可以是数据校正电路745在考虑在数据传输过程期间生成噪声的情况下校正包括在数据中的多个比特当中的至少一个比特的比特值的步骤。数据校正电路745可以生成校正数据Data_e，在该校正数据Data_e中，校正了包括在数据中的多个比特当中的至少一个比特的比特值。之后，校正数据Data_e可以从控制器740发送至数据驱动电路730。

具体操作示例的描述如下。可以假设第一输入数据Data_i1中存在错误。在图像数据和反馈数据发送步骤S1250，第一输入数据Data_i1可以被发送至驱动电路(未例示)。第一输入数据Data_i1可以根据显示装置100的驱动定时被转换为模拟电压值，并且可以输出至数据线。由于基于第一输入数据Data_i1生成的第一反馈数据Data_f1将不与第一输入数据Data_i1相同，因此数据校正电路745可以通过校正第一输入数据Data_i1来生成第一校正数据Data_e1。之后，在第一校正数据Data_e1发送至数据驱动电路730之后，第一输入数据Data_i1可以替换为第一校正数据Data_e1。因此，显示装置100可以被正常控制，并且可以实现期望的亮度。

图13和图14是用于说明根据本公开的实施方式的实时模式的驱动的图。

实时模式可以是在显示装置100通过显示面板110实现图像的时间期间检测到包括在数据中的错误的模式。

实时模式可以与测试模式无关地进行。另选地，实时模式可以在测试模式继续之后进行。

参照图13，显示装置100的驱动可以分为图像数据输入时间Ti和校正数据输入时间Te。

图像数据输入时间Ti可以是用于实现图像的图像数据DATA从控制器740发送至数据驱动电路730的时间。图像数据DATA可以是输入数据Data_i。

输入数据Data_i可以包括多个行数据分组Line。多条选通线GL的数量可以是n，并且扫描信号SCAN可以分别依次提供至n条选通线GL。多个行数据分组Line可以根据扫描信号SCAN依次从控制器740发送至数据驱动电路730。

例如，当第一扫描信号SCAN_1是接通信号时，可以发送第一行数据分组Line 1(行1)，当第二扫描信号SCAN_2是接通信号时，可以发送第二行数据分组Line 2(行2)。随着该过程重复进行，当第n扫描信号SCAN_n是接通信号时，可以发送第n行数据分组Line n(行n)。

由于数据驱动电路730可以基于输入数据Data_i生成反馈数据Data_f，因此，在接收到行数据分组Line之后，数据驱动电路730可以基于行数据分组Line生成行反馈数据分组Line’。为了便于说明，行反馈数据分组Line’可以称为反馈数据Data_f。

在反馈数据Data_f从数据驱动电路730发送至控制器740之后，包括在控制器740中的数据错误检查电路744可以对输入数据Data_i和反馈数据Data_f进行比较。

在对输入数据Data_i和反馈数据Data_f进行比较之后，数据错误检查电路744可以确定输入数据Data_i中是否包括错误。当数据错误检查电路744确定输入数据Data_i中包括错误时，数据错误检查电路744可以将错误检查信号ECS发送至数据校正电路745。错误检查信号ECS可以是具有高电平的信号，但不限于此。

例如，当数据错误检查电路744对输入数据Data_i和反馈数据Data_f进行比较时，在第一扫描信号SCAN_1是接通信号时发送的第一行数据分组Line 1和在第(n-2)扫描信号SCAN_n-2是接通信号时发送的第(n-2)行数据分组Line n-2中可能包括错误。在这种情况下，数据错误检查电路744可以将针对第一行数据分组Line 1的错误检查信号ECS和针对第(n-2)行数据分组Line n-2的错误检查信号ECS发送至数据校正电路745。

之后，数据校正电路745可以再次接收输入数据Data_i、校正对应错误并生成校正数据Data_e。

当输入数据Data_i包括错误时，对应输入数据Data_i可以转换为模拟电压，而转换后的模拟电压可以提供至子像素SP。由于对应子像素SP被提供有从包括错误的输入数据Data_i转换的错误电压，因此对应子像素SP可以称为错误子像素SPe。由于错误电压已经被提供至错误子像素SPe，所以应当提供从校正数据Data_e转换的正常电压，在该校正数据Data_e中，已经校正了错误。

在图像数据输入时间Ti结束之后，可以继续校正数据输入时间Te。为了在校正数据输入时间Te期间，将从校正数据Data_e转换的正常电压提供至错误子像素SPe，可以向电连接至错误子像素SPe的特定选通线GLe提供接通选通信号。因为在校正数据输入时间Te期间应将接通选通信号提供至特定选通线GLe，所以关于特定选通线GLe的信息可以在图像数据输入时间Ti期间存储在存储器(未例示)中。存储器可以被包括在控制器740中。

校正数据输入时间Te可以是由数据校正电路745生成的校正数据Data_e从控制器740发送至数据驱动电路730的时间。

例如，第一行数据分组Line 1和第(n-2)行数据分组Line n-2中可以包括错误。

针对第一行数据分组Line 1的校正数据Data_e可以从控制器740发送至数据驱动电路730。在这种情况下，可以通过校正数据Data_e来改变现有的输入数据Data_i。当第一扫描信号SCAN_1是接通信号时，校正数据Data_e可以转换为模拟电压，并且经转换的模拟电压可以提供至显示面板110。关于在校正数据输入时间Te期间要提供作为接通信号的扫描信号SCAN的选通线的信息被存储在存储器(未例示)中。

参照图14，基于被存储在存储器中的信息，可以在校正数据输入时间Te期间向第一选通线GL1提供作为接通信号的第一扫描信号SCAN_1。电连接至第一选通线GL1的子像素SP处于子像素SP能够被提供有数据电压Vdata的状态。也就是说，通过将校正数据Data_e转换为模拟形式而获得的正常电压可以被提供至电连接至第一选通线GL1的子像素SP。

例如，可以再次向电连接至第一选通线GL1的所有子像素SP提供数据电压Vdata。虽然通过将校正数据Data_e转换为模拟形式而获得的正常电压被提供至了错误子像素SPe，但是同时，通过将不包括错误的输入数据Data_i转换为模拟形式而获得的电压可以再次提供至子像素SP。

作为另一示例，通过将校正数据Data_e转换为模拟形式而获得的正常电压可以仅提供至电连接至第一选通线GL1的子像素SP当中的错误子像素SPe。通过将校正数据Data_e转换为模拟形式而获得的正常电压可以仅提供至特定数据线DL。

针对第(n-2)行数据分组Line n-2的校正数据Data_e可以从控制器740发送至数据驱动电路730。在这种情况下，可以通过校正数据Data_e来改变现有的输入数据Data_i。当第n-2扫描信号SCAN_n-2是接通信号时，校正数据Data_e可以转换为模拟电压，并且经转换的模拟电压可以提供至显示面板110。关于在校正数据输入时间Te期间要提供扫描信号SCAN是接通信号的选通线的信息被存储在存储器(未例示)中。

参照图14，基于被存储在存储器中的信息，可以在校正数据输入时间Te期间向第(n-2)选通线GLn-2提供作为接通信号的第(n-2)扫描信号SCAN_n-2。电连接至第(n-2)选通线GLn-2的子像素SP处于子像素SP能够被提供数据电压Vdata的状态。也就是说，通过将校正数据Data_e转换为模拟形式而获得的正常电压可以被提供至电连接至第(n-2)选通线GLn-2的子像素SP。

例如，可以再次向电连接至第(n-2)选通线GLn-2的所有子像素SP提供数据电压Vdata。虽然通过将校正数据Data_e转换为模拟形式而获得的正常电压被提供至了错误子像素SPe，但是同时，通过将不包括错误的输入数据Data_i转换为模拟形式而获得的电压可以再次提供至子像素SP。

作为另一示例，通过将校正数据Data_e转换为模拟形式而获得的正常电压可以仅提供至电连接至第(n-2)选通线GLn-2的子像素SP当中的错误子像素SPe。通过将校正数据Data_e转换为模拟形式而获得的正常电压可以仅提供至特定数据线DL。

参照图14，可以在图像数据输入时间Ti和校正数据输入时间Te期间提供数据使能信号DE。

参考图14，在图像数据输入时间Ti期间，数据使能信号DE可以与时钟信号同步地提供至数据驱动电路730，并且作为接通信号的扫描信号SCAN可以与数据使能信号DE一致地提供至选通线GL。

参照图14，在校正数据输入时间Te期间，数据使能信号DE可以按照由数据错误检查电路744生成的错误检查信号ECS的数量提供至数据驱动电路730。关于错误检查信号ECS的数量和接通信号将提供至的选通线GL的信息被存储在存储器(未例示)中。

参照图14，例如，当错误检查信号ECS被生成两次时，数据使能信号DE可以被提供两次。当第一扫描信号SCAN_1是接通信号时，可以将针对第一行数据分组Line 1的校正数据Data_e转换为模拟电压，并且经转换的模拟电压可以提供至显示面板110。当第(n-2)扫描信号SCAN_n-2是接通信号时，可以将针对第(n-2)行数据分组Line n-2的校正数据Data_e转换为模拟电压，并且经转换的模拟电压可以提供至显示面板110。

换句话说，当现有的输入数据Data_i被改变为校正数据Data_e时，受噪声影响的数据可以被校正，因此，显示装置100可以被正常控制。

本公开的上述实施方式可以提供能够自动检测噪声的显示装置和驱动方法。

本公开的实施方式可以提供能够实时检测噪声的显示装置和驱动方法。

本公开的实施方式可以提供能够通过实时检测噪声来进行低功耗驱动的显示装置和驱动方法。

本公开的上述实施方式的简要描述如下。

本公开的实施方式可以提供一种显示装置，该显示装置包括：显示面板，该显示面板包括电连接至多条数据线和多条选通线的多个子像素；数据驱动电路，该数据驱动电路用于向多个子像素提供数据电压；以及控制器，该控制器被配置为向数据驱动电路发送输入数据，其中，数据驱动电路将基于输入数据生成的反馈数据发送至控制器；并且其中，控制器通过对输入数据和反馈数据进行比较来生成校正数据。

输入数据可以是用于在显示面板上显示图像的图像数据或不同于图像数据的测试数据。

输入数据可以是测试数据，并且校正数据可以是通过对输入数据中的特定比特进行消隐处理而生成的。

输入数据可以是测试数据，并且校正数据可以是通过对输入数据中的特定比特的比特值进行校正而生成的。

输入数据可以是测试数据，反馈数据可能由于信号延迟而与输入数据不匹配，并且校正数据是通过将与信号延迟相对应的比特插入图像数据中而生成的。

输入数据可以是图像数据，并且在输入数据从控制器发送至数据驱动电路之后，输入数据可以改变为校正数据。

在图像数据输入时间期间，输入数据可以提供至数据驱动电路，以在显示面板上实现图像，并且在图像数据输入时间之后进行的校正数据输入时间期间，校正数据可以提供至数据驱动电路。

控制器可以包括：MUX电路，该MUX电路被配置为接收输入数据；第一发送电路，该第一发送电路被配置为向数据驱动电路发送输入数据；第一接收电路，该第一接收电路被配置为从数据驱动电路接收反馈数据；数据错误检查电路单元，该数据错误检查电路单元被配置为对输入数据和反馈数据进行比较；以及数据校正电路，该数据校正电路被配置为当从数据错误检查电路单元接收到指示输入数据中存在错误的错误检查信号时，输出校正数据，在该校正数据中，输入数据中的错误被校正。

MUX电路可以接收数据选择信号，并且可以根据数据选择信号将输入数据或校正数据发送至第一发送电路。

当输入数据和反馈数据彼此匹配时，数据错误检查电路单元可以确定反馈数据中不存在错误，并且当输入数据和反馈数据彼此不匹配时，数据错误检查电路单元可以确定反馈数据中存在错误。

数据驱动电路可以包括：第二接收电路，该第二接收电路被配置为从第一发送电路接收输入数据；第二发送电路，该第二发送电路被配置为向第一接收电路发送反馈数据；以及多输出电路单元，该多输出电路单元被配置为从第二接收电路接收输入数据，并将反馈数据发送至第二发送电路。

多输出电路单元可以接收功能选择信号，并且可以根据该功能选择信号选择要输出的数据。

数据驱动电路可以包括数模转换器，该数模转换器接收校正数据并将校正数据转换为模拟电压。

本公开的实施方式可以提供一种驱动显示装置的方法，该方法包括以下步骤：所选数据发送步骤，其中，用于控制数据驱动电路的控制器向数据驱动电路发送输入数据；反馈数据生成步骤，其中，数据驱动电路基于输入数据生成反馈数据；反馈数据发送步骤，其中，数据驱动电路将反馈数据发送至控制器；数据错误检查步骤，其中，控制器比较输入数据和反馈数据；以及数据校正步骤，其中，当确定在反馈数据中已经发生错误时，控制器通过校正输入数据来生成校正数据。

输入数据可以是用于在显示面板上显示图像的图像数据或与图像数据不同的测试数据。

输入数据可以是测试数据，并且校正数据可以是通过对输入数据中的特定比特进行消隐处理而生成的。

输入数据可以是测试数据，并且校正数据可以是通过对输入数据中的特定比特的比特值进行校正而生成的。

输入数据可以是测试数据，反馈数据可以由于信号延迟而与输入数据不匹配，并且校正数据可以是通过将与信号延迟相对应的比特插入图像数据中而生成的。

输入数据可以是图像数据；并且在输入数据从控制器发送至数据驱动电路之后，输入数据可以改变为校正数据。

在用于在显示面板上实现图像的图像数据输入时间期间，输入数据可以提供至数据驱动电路，并且在图像数据输入时间之后进行的校正数据输入时间期间，校正数据可以提供至数据驱动电路。

以上描述已经被呈现以使得本领域技术人员能够制作和使用本公开的技术构思，并且已经在特定应用及其要求的上下文中提供。对所描述的实施方式的各种修改、添加和替换对于本领域的技术人员而言将是显而易见的，并且在不脱离本公开的精神和范围的情况下，本文限定的一般原理可以应用于其它实施方式和应用。以上描述和附图仅出于例示性目的提供了本公开的技术构思的示例。也就是说，所公开的实施方式旨在例示本公开的技术构思的范围。因此，本公开的范围不限于所示的实施方式，而是符合与权利要求一致的最宽范围。