一种利用一对多逐步降次算法测试绝缘性的方法

技术领域

本发明属于电缆测试技术领域，具体涉及一种利用一对多逐步降次算法测试绝缘性的方法。

背景技术

电缆广泛应用于军工、电力、通信、交通等诸多行业。尤其在军工行业，电缆的可靠性是保障武器装备稳定工作的最基本要求，一旦由于武器装备中电缆的绝缘性出现问题，可能造成重大损失。由于电缆有接口多样化、接线关系复杂的特点，尤其武器装备用电缆芯线数量越多越复杂，在进行芯与芯绝缘性测试时，传统人工测试效率低且失误率高，目前通常采用自动化智能电缆测试设备进行电缆绝缘性测试。

当前，自动化智能电缆测试设备中所采用的快速绝缘性测试方法较为成熟，一般采取“一芯对多芯”的方法，“一芯”为当前被测芯，“多芯”为与被测芯无关联的芯线集合，已有相关搜索算法如非关联搜索算法等。在目标芯线与非连接关系的芯线集合之间进行绝缘测试，可快速得到该芯线绝缘性指标。该方法加快了绝缘性测试速度，但在工程应用上存在一定的弊端：连接“多芯”端的继电器动作次数过多。

舌簧继电器或电磁继电器因无漏电流，具有不会影响绝缘性测试精度的特点，通常被用作自动化智能电缆测试设备的通路切换的元件。该类继电器机械寿命有限，即动作次数，一般为10

发明内容

为了解决上述现有技术存在的问题，本申请提出一种利用一对多逐步降次算法测试绝缘性的方法，包括以下步骤：

确定被测电缆两个端口之间的连接关系；

依次测量被测电缆其中一个端口的每一根被测芯与另一个端口的绝缘性。

进一步的，被测电缆两个端口之间的连接关系依据该电缆的电路图或连线图建立。

进一步的，被测电缆两个端口之间的连接关系具体包括：

在被测电缆正确连通关系已经确定，选择被测电缆第一端任意一个芯线作为被测芯；

按照连通关系，可获知被测电缆第二端与被测芯应当不导通的所有芯线。

进一步的，依次测量被测电缆其中一个端口的每一根被测芯与另一个端口的绝缘性具体包括：

选定被测电缆A端的其中一根被测芯记为A-1，确定被测电缆B端与A-1理论上不导通的所有芯线记为B-[X]，然后测量A-1与B-[X]的绝缘性；

继续选定被测电缆A端的另一根被测芯记为A-2，确定被测电缆B端与A-2理论上导通的所有芯线记为B-[Y]；从B-[X]中剔除B-[Y]，余者记为B-[X’]，然后测量A-2与B-[X’]的绝缘性；

继续选定被测电缆A端的另一根被测芯记为A-3，确定被测电缆B端与A-3理论上导通的所有芯线记为B-[Z]；从B-[X’]中剔除B-[Z]，余者记为B-[X”]，然后测量A-3与B-[X”]的绝缘性；

持续上述步骤，直至达到预设条件停止。

进一步的，预设条件具体包括：

被测电缆B端的待测集合B-[X’

与现有技术相比，本发明的有益效果在于：

本发明逻辑性强，易于计算机程序实现、通用性较好，可在自动测试设备中应用；采用一对多逐步降次的绝缘测试方法，能够有效减少继电器的动作次数、极大提高设备寿命及测试效率，并且在测试时实现全面覆盖，可广泛应用于电缆快速绝缘性检验；另外，本发明亦可实现电缆绝缘性故障的快速定位，在电缆维修中发挥作用。

附图说明

图1为本发明电缆绝缘性测试的原理框图；

图2为某典型电缆接线关系示意图。

具体实施方式

为使本领域技术人员能够更好的理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明做进一步的说明。

如图1所示，在已知所有与被测目标芯线具有非连接关系的芯线集合的前提下，确保较快的测试速率和完整的测试覆盖率的条件下，为大幅减少“多芯”端继电器的动作次数，本发明提出一种一对多逐步降次算法：从被测目标芯线非连接关系的芯线集合中，剔除无需重复遍历的集合，目标芯线与剩下的非连接关系的芯线之间进行绝缘测试，快速得到该芯线绝缘性指标。

电缆测试的硬件原理框图如图1所示。被测电缆通过转接电缆，经由继电器阵列接入测试电路，通过闭合A、B两端连接的不同继电器组合接入测试电路，可实现电缆各芯线的测试。

图2是某典型电缆接线关系示意图，连接器的A1芯与连接器的B1芯相连，A2与B3相连，A3与B2相连，A4与B4、B5相连，A5与B5相连，由于A4的缘故，A5与B4也相连。该典型电缆涵盖了被测电缆的1对1连互、交叉互连、1对多互连等主要接线关系类型。

假设连接器A通过转接电缆接入检查台A端继电器阵列，连接器B通过转接电缆接入检查台B端继电器阵列，A1～A5、B1～B5也分别表示A、B两端继电器的位号。

通过建立电缆连接关系描述表及制作转接电缆，即可实现不同被测电缆的测试。依照图2建立电缆连接关系描述表，如表1，在表中描述了两端芯线的连接关系。

表1、电缆连接关系描述表

目标芯线的非关联芯线集合如表2所示。

表2、目标芯线的非关联芯线集合描述表

常规的快速绝缘性测试方法：测量连接器A的目标芯线A1的绝缘性，将A1与B2、B3、B4、B5接入测量电路中，测量A2的绝缘性，将A2与B1、B2、B4、B5接入测量电路中，依次类推。

本发明中一对多逐步降次算法思路：由于A1与B1连通，A2与B3连通，在测试A1与B3之间的绝缘性的同时，也相当于测试了A2与B1的绝缘性。因此，在测试A2绝缘性的时候，不必再重复测试A2与B1的绝缘性。

以五根被测芯为例，本申请的测试方法具体步骤如下所示：

A端第一个被测芯A1，B端与A1芯不导通的所有芯{B2、B3、B4、B5},将A1与{B2、B3、B4、B5}接入测试电路；完成A1与{B2、B3、B4、B5}之间绝缘性测试后，断开A1与测试电路的连接，{B2、B3、B4、B5}保持接入测试电路；

取A端第二根被测芯A2，与A2导通的所有芯为{B3}，从{B2、B3、B4、B5}中剔除B3，即断开B3与测试电路的连接；完成A2与{B2、B4、B5}两者之间绝缘性测试后，断开A2与测试电路的连接，{B2、B4、B5}保持接入测试电路；

取A端第三根被测芯A3，与A3导通的所有芯为{B2}，{B2、B4、B5}中剔除B2，即断开B2与测试电路的连接；完成A3与{B4、B5}两者之间绝缘性测试后，断开A3与测试电路的连接，{B4、B5}保持接入测试电路；

取A端第四根被测芯A4，与A4导通的所有芯为{B4、B5}，从{B4、B5}中剔除B4、B5，即断开B4、B4与测试电路的连接；由于此时B端待测集合为空，无需测试；

取A端第五根被测芯A5，B端待测集合已为空，测试完结。

上述实施方式中的继电器动作时序见表3，B端每个继电器在整个测试过程中仅进行1次开断动作。

表3、使用一对多逐步降次算法测试中继电器动作时序表

常规的快速绝缘性测试继电器动作时序见表4，其中B1、B2、B3分别需要执行断开、闭合动作4次，B4、B5需要执行断开、闭合动作3次。

表4、常规的快速绝缘性测试继电器动作时序表

图2中电缆连接器关系较少，若连接关系较多时，动作次数差别将愈加明显，如若接线关系100个，动作次数差别接近百倍。

相比于常规的快速绝缘性测试方法，使用一对多逐步降次算法，从被测目标芯线非连接关系的芯线集合中，剔除无需重复遍历的集合后，在目标芯线与非连接关系的剩下的芯线集合之间进行绝缘测试，在保持较快的测试速率和完整的测试覆盖率的条件下，大幅减少了继电器的动作次数，延长测试设备的寿命。

综上，仅为本发明之较佳实施例，不以此限定本发明的保护范围，凡依本发明专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆为本发明专利涵盖的范围之内。