显示装置和用于检测显示装置中的数据链路线缺陷的方法

相关申请的交叉引用

本申请要求于2019年11月7日提交的韩国专利申请第10-2019-0141734号的权益，其通过引用并入于此，如同在本文中完全阐述一样。

技术领域

本发明涉及显示装置，并且更具体地涉及能够检测数据链路线的缺陷的显示装置和链路线缺陷检测方法。

背景技术

随着依赖信息的社会的最新进展，已经增加了对于被配置成显示图像的平板显示装置的各种需求。近年来，已经使用了诸如液晶显示(LCD)装置和有机发光显示(OLED)装置的平板显示装置。

LCD装置的制造过程包括基板清洁过程、基板图案化过程、取向膜形成/摩擦过程、基板组装过程、液晶滴下(liquid crystal dropping)过程、驱动电路安装过程、测试过程、修复过程和液晶模块组装过程。

在基板清洁过程中，使用清洁溶液去除污染显示面板中的上玻璃基板和下玻璃基板的表面的异物。

在基板图案化过程中，在下玻璃基板上形成包括数据线和栅极线的信号线、薄膜晶体管(TFT)、像素电极、公共电极等。另外，在上玻璃基板上形成黑矩阵、滤色器等。

在取向膜形成/摩擦过程中，将取向膜分别涂覆在玻璃基板上，并且使用摩擦布摩擦取向膜或者对取向膜进行光取向处理。

通过上述连续的过程，在下玻璃基板上形成TFT阵列。TFT阵列包括：数据线，向其供应视频数据电压；栅极线，其与数据线交叉并且顺序地向其供应扫描信号即栅极脉冲；TFT，其形成在数据线和栅极线的交叉点处；分别连接至TFT的像素电极；存储电容器等。在以扭曲向列(TN)模式或垂直取向(VA)模式驱动液晶的垂直电场驱动系统中，公共电极形成在上玻璃基板上。在另一方面，在以面内切换(IPS)模式或边缘场切换(FFS)模式驱动液晶的水平电场驱动系统中，公共电极与像素电极一起形成在下玻璃基板上。偏振板分别被接合至上玻璃基板和下玻璃基板。

在基板组装过程和液晶滴下过程中，在上玻璃基板和下玻璃基板之一上绘制(draw)密封剂，并且然后滴下液晶。之后，通过密封剂将上玻璃基板和下玻璃基板接合。所得到的液晶层被定义为由密封剂限定的液晶区域。

在驱动电路安装过程中，使用玻璃上芯片(COG)工艺或带载自动封装(TAB)工艺通过各向异性导电膜(ACF)将集成有数据驱动电路的集成电路(IC)接合至显示面板的数据焊盘。可以使用面板内栅极(GIP)工艺将栅极驱动电路直接形成在下玻璃基板上，或者可以在驱动电路安装过程中使用TAB工艺将栅极驱动电路接合至显示面板的栅极焊盘。在驱动电路安装过程中，IC和印刷电路板(PCB)连接至柔性电路板例如柔性印刷电路板(FPCB)或柔性扁平线缆(FFC)。

该过程包括对驱动电路的测试、对形成在TFT阵列基板上的数据线、栅极线等的线测试、在形成像素电极之后进行的测试、在基板组装和液晶滴下之后进行的电气测试、接通测试等。在修复过程中，将修复在测试过程中发现的缺陷。

在通过执行上述连续的过程完成显示面板之后，执行液晶模块组装过程。在液晶模块组装过程中，将背光单元在显示面板下方对准，并且使用工具例如引导件/套管构件来组装显示面板和背光单元。

可以执行自动探针测试。在自动探针测试中，在执行驱动电路安装过程之前，对显示面板的基板执行接通测试，以便检查基板上的信号线缺陷或薄膜图案缺陷。

为了能够执行自动探针测试，在下玻璃基板上布置：接触自动探针测试装置的针的自动探针测试焊盘(以下被称为“AP焊盘”)和要连接至AP焊盘的信号线(以下被称为“AP线”)，以及各自连接在AP线与数据线中的相应一条数据线之间的AP开关。

同时，在TFT阵列基板上形成复用器(MUX)，以减少数据驱动电路的输出引脚的数目。复用器布置在数据驱动电路与数据线之间。

也就是说，数据驱动电路的输出通道通过复用器分别连接至数据线。数据驱动电路从时序控制器接收图像数据，在时序控制器的控制下将所接收到的图像数据转换成模拟电压，并且将经转换的模拟电压作为数据电压输出。在时序控制器的控制下，复用器对从数据驱动电路输出的数据电压进行分配。当复用器是1：3复用器时，复用器对通过数据驱动电路的一个输出通道输出的数据电压进行时分，并且因此将时分后的数据电压供应至三条数据线。因此，当使用这样的1：3复用器时，数据驱动电路中的输出引脚的数目可以减少到原来的1/3。

然而，在常规的自动探针测试方法中，不可能对连接数据焊盘和数据线的数据链路线进行开路/短路测试。

发明内容

因此，本公开内容涉及显示装置和用于检测显示装置中的数据链路线缺陷的方法，上述显示装置和方法基本上消除了由于相关技术的局限性和缺点引起的一个或更多个问题。

本发明的目的是提供显示装置和链路线缺陷检测方法，上述显示装置和链路线缺陷检测方法能够使用用于自动探针(AP)测试的AP开关和被配置成减少数据驱动电路中的输出引脚的数目的复用器来检测数据链路线的缺陷。

本发明的其他优点、目的和特征将在随后进行的描述中部分地阐述，并且对于本领域普通技术人员而言在查阅以下内容时将部分地变得明显，或者可以从对本发明的实践中获知。本发明的目的和其他优点可以通过在撰写的说明书及其权利要求书以及附图中具体指出的结构来实现和获得。

为了实现这些目的和其他优点，并且根据本发明的目的，如在本文中具体实施和广泛描述的，显示装置包括：显示面板，其被分为显示区域和非显示区域，使得数据线和栅极线以交叉的方式布置在显示区域中，从而以矩阵的形式限定像素；复用器，其在显示面板的非显示区域中布置在数据线的一侧；自动探针(AP)测试电路，其在显示面板的非显示区域中布置在数据线的另一侧；以及数据驱动器，用于通过复用器向显示面板的数据线供应数据电压，其中，复用器和AP测试电路检测分别连接至数据线的链路线的缺陷。

AP测试电路可以包括多个AP焊盘以及连接在数据线与多个AP焊盘之间的多个AP开关元件。在进行AP测试和链路线的缺陷检查时，可以接通多个AP开关元件。

当进行链路线的缺陷检查时，可以将正(+)数据电压施加至多个AP焊盘中的奇数编号的AP焊盘，并且可以将负(-)数据电压施加至多个AP焊盘中的偶数编号的AP焊盘。

复用器可以包括：多个第一复用器开关元件，所述多个第一复用器开关元件连接在数据驱动器的每个通道与第(3n-2)条数据线之间，并且由第一复用器(MUX)控制信号控制，其中n是自然数；多个第二复用器开关元件，所述多个第二复用器开关元件连接在数据驱动器的每个通道与第(3n-1)条数据线之间，并且由第二MUX控制信号控制；以及多个第三复用器开关元件，所述多个第三复用器开关元件连接在数据驱动器的每个通道与第(3n)条数据线之间，并且由第三MUX控制信号控制。在进行链路线的缺陷检查时，复用器可以接通第一复用器开关元件以驱动显示面板，并且检测以暗线的形式暗显示在显示面板上的图像，复用器可以接通第二复用器开关元件以驱动显示面板，并且检测以暗线的形式暗显示在显示面板上的图像，以及复用器可以接通第三复用器开关元件以驱动显示面板，并且可以检测以暗线的形式暗显示在显示面板上的图像。

复用器可以包括：多个第一复用器开关元件，所述多个第一复用器开关元件连接在数据驱动器的每个通道与第(3n-2)条数据线之间，并且由第一复用器(MUX)控制信号控制，其中n是自然数；多个第二复用器开关元件，所述多个第二复用器开关元件连接在数据驱动器的每个通道与第(3n-1)条数据线之间，并且由第二MUX控制信号控制；以及多个第三复用器开关元件，所述多个第三复用器开关元件连接在数据驱动器的每个通道与第(3n)条数据线之间，并且由第三MUX控制信号控制。当进行链路线的缺陷检查时，复用器可以接通第一复用器开关元件至第三复用器开关元件中的全部以驱动显示面板，并且可以检测以黑块的形式显示在显示面板上的图像。

复用器可以包括：多个第一复用器开关元件，所述多个第一复用器开关元件连接在数据驱动器的每个通道与第(2n-1)条数据线之间，并且由第一复用器(MUX)控制信号控制，其中n是自然数；以及多个第二复用器开关元件，所述多个第二复用器开关元件连接在数据驱动器的每个通道与第(2n)条数据线之间，并且由第二MUX控制信号控制。当进行链路线的缺陷检查时，复用器可以接通第一复用器开关元件和第二复用器开关元件中的全部以驱动显示面板，并且可以检测以黑块的形式暗显示在显示面板上的图像。

在进行链路线的缺陷检查时，将数据电压分别施加至多个AP焊盘，并且可以接通复用器的所有开关元件以驱动显示面板，使得进行以亮线的形式显示在显示面板上的图像的检测。

在本发明的另一方面中，提供了用于检测显示装置中的数据链路线缺陷的方法，在该显示装置中，复用器和自动探针(AP)测试电路在显示面板中的非显示区域中分别布置在数据线的相对侧，所述方法包括：接通AP测试电路中的多个AP开关元件中的全部，并且向AP测试电路中的多个AP焊盘中的奇数编号的AP焊盘施加正(+)数据电压，同时向多个AP焊盘中的偶数编号的AP焊盘施加负(-)数据电压；以及接通复用器的所有开关元件以驱动显示面板，并且检测以黑块的形式暗显示在显示面板上的图像。

当复用器包括连接在数据驱动器的每个通道与第(3n-2)条数据线之间并且由第一复用器(MUX)控制信号控制的多个第一复用器开关元件、连接在数据驱动器的每个通道与第(3n-1)条数据线之间并且由第二MUX控制信号控制的多个第二复用器开关元件以及连接在数据驱动器的每个通道与第(3n)条数据线之间并且由第三MUX控制信号控制的多个第三复用器开关元件时，复用器可以接通第一复用器开关元件以驱动显示面板，并且可以检测以暗线的形式暗显示在显示面板上的图像，其中n是自然数。在这种情况下，复用器可以接通第二复用器开关元件以驱动显示面板，并且可以检测以暗线的形式暗显示在显示面板上的图像。另外，复用器可以接通第三复用器开关元件以驱动显示面板，并且可以检测以暗线的形式暗显示在显示面板上的图像。

在本发明的另一方面中，一种用于检测显示装置中的数据链路线缺陷的方法，在该显示装置中，复用器和自动探针(AP)测试电路在显示面板中的非显示区域中分别布置在数据线的相对侧，所述方法包括：接通AP测试电路中的多个AP开关元件中的全部以将数据电压分别施加至AP测试电路的多个AP焊盘；以及接通复用器的所有开关元件以驱动显示面板，并且检测以亮线的形式显示在显示面板上的图像。

应理解的是，本发明的前面的概括描述和下面的详细描述两者都是示例性和说明性的，并且意在提供对如所要求保护的本发明的进一步说明。

附图说明

附图被包括以提供对本发明的进一步理解，并且被并入本申请并构成本申请的一部分，附图示出了本发明的(一个或多个)实施方式并且与说明书一起用于解释本发明的原理。在附图中：

图1是根据本发明的示例性实施方式的显示装置的框图；

图2是示出了根据本发明的第一实施方式的图1的显示面板和数据驱动电路的具体配置的框图；

图3是示出了根据本发明的第二实施方式的图1的显示面板和数据驱动电路的具体配置的框图；

图4是说明了在图2中所示的显示面板中的相邻的链路线之间发生短路缺陷的情况下执行的链路线缺陷检测方法的图；以及

图5是说明了在图3中所示的显示面板中的相邻的链路线之间发生短路缺陷的情况下执行的链路线缺陷检测方法的图。

具体实施方式

在整个说明书中描述的相同附图标记表示基本上相同的元件。在下面的描述中，可以不给出与本发明的实质无关并且对于本领域技术人员而言已知的配置和功能的详细描述。应当如下理解说明书中使用的术语的含义。

将通过参照附图所描述的以下实施方式阐明本发明的优点和特征以及本发明的实现方法。然而，可以以不同的形式实施本发明并且本发明不应当被理解为限于本文中所陈述的实施方式。而是，提供这些实施方式，使得本发明将是透彻且完整的，并且将向本领域技术人员充分地传达本发明的范围。此外，本发明仅由权利要求的类别来限定。

在用于描述本发明的实施方式的附图中公开的形状、尺寸、比例、角度和数目仅是示例，并且因此，本发明不限于所示出的细节。在整个说明书中，相同的附图标记表示基本上相同的元件。在下面的描述中，当确定相关已知功能或配置的详细描述不必要地使本发明的要点模糊时，将省略该详细描述。

当使用本说明书中描述的“包括”、“具有”和“包含”时，除非使用“仅～”，否则可以添加其他部分。除非另有说明，否则单数形式的术语可以包括复数形式。

在解释元件时，元件被解释为包括公差范围，即使未明确描述也是如此。

在描述两个元件之间的位置关系时，例如，当使用“在～上”、“在～上方”、“在～下方”和“紧接～”描述位置关系时，除非使用“刚好”或“直接”，否则一个或更多个其他元件可以插入在两个元件之间。元件或层被称为在另一元件或层“上”的情况包括该元件直接布置在另一元件上的情况和存在插入元件的情况两者。

在描述时间关系时，例如，当时间顺序被描述为“在～之后”、“随后～”、“接下来～”和“在～之前”时，除非使用“刚好”或“直接”，否则还可以包括不连续的情况。

应当理解，尽管术语“第一”、“第二”等在本文中可以用于描述各种元件，但是这些元件不应受这些术语限制。这些术语仅用于将一个元件与另一个元件区分开。例如，在不脱离本公开内容的范围的情况下，在下面的描述中提及的第一元件可以表示第二元件。

“X轴方向”、“Y轴方向”和“Z轴方向”不应仅由相互垂直关系的几何关系来解释，而且可以在本发明的元件能够在功能上起作用的范围内具有更宽的方向性。

术语“至少一个”应当被理解为包括相关联的列举项中的一个或更多个中的任意一个和所有组合。例如，“第一项、第二项和第三项中的至少一个”的含义表示从第一项、第二项和第三项中的两个或更多个提出的所有项的组合以及第一项、第二项或第三项。

以下实施方式可以部分地或全部地耦接或组合，并且可以在技术上以各种方式链接和实现。实施方式可以独立地实现，或者可以以相互依赖的关系来实现。

在下文中，将详细描述根据本发明的能够检测链路线缺陷的显示装置和链路线缺陷检测方法。

根据本发明的显示装置可以被实现为诸如液晶显示(LCD)装置或有机发光显示(OLED)装置的平板显示装置。

尽管将主要结合作为平板显示装置的示例的LCD装置给出下面的描述，但是本发明的实施方式不限于此。例如，本发明的实施方式可以应用于包括用于AP测试的自动探针(AP)开关和被配置成减少数据驱动电路的输出引脚的数目的复用器(MUX)的任何显示装置。

图1是根据本发明的示例性实施方式的显示装置的框图。

如图1中所示，根据本发明的示例性实施方式的显示装置包括：形成有像素阵列的显示面板100；用于在显示面板100中写入输入图像的数据的驱动电路；以及用于将均匀的光照射到显示面板100上的背光单元(未示出)。

显示面板100包括上基板和下基板，上基板和下基板在液晶层插入在上基板与下基板之间的条件下彼此面对。像素阵列包括通过数据线S1至Sm以及栅极线G1至Gn的交叉结构以矩阵形式布置的像素。

显示面板100包括数据线S1至Sm、栅极线G1至Gn、薄膜晶体管(TFT)、分别连接至TFT的像素电极1以及分别连接至像素电极1的存储电容器Cst，这些全部形成在显示面板100的下基板上。每个像素可以被分为红色(R)子像素、绿色(G)子像素和蓝色(B)子像素。另外，每个像素还可以包括白色(W)子像素。

每个像素使用液晶分子来调节光的透射量，液晶分子由通过相应的TFT用数据电压来充电的相应像素电极1与施加有公共电压Vcom的公共电极2之间的电压差来驱动。

形成在显示面板100的下基板上的每个TFT可以使用非晶硅(a-Si)TFT、低温多晶硅(LTPS)TFT、氧化物TFT等来实现。TFT形成在数据线S1至Sm与栅极线G1至Gn之间的各个交叉点处。每个TFT响应于栅极脉冲将数据电压从相应的数据线供应至相应的像素电极1。

包括黑矩阵(BM)和滤色器的滤色器阵列形成在显示面板100的上基板上。在以扭曲向列(TN)模式或垂直取向(VA)模式驱动液晶的垂直电场驱动系统中，公共电极2可以形成在上基板上。在另一方面，在以面内切换(IPS)模式或边缘场切换(FFS)模式驱动液晶的水平电场驱动系统中，公共电极2可以与像素电极1一起形成在下玻璃基板上。偏振膜被分别附接至显示面板100的上基板和下基板。取向膜也分别形成在显示面板100的上基板和下基板上，以设置液晶的预倾角。

显示面板100的驱动电路包括数据驱动器102、栅极驱动器104和时序控制器106。另外，在显示面板100处形成有复用器(MUX)103。复用器103布置在数据驱动器102与数据线S1至Sm之间。

数据驱动器102的输出通道经由复用器103而连接至数据线S1至Sm。数据驱动器102从时序控制器106接收图像的数据，在时序控制器106的控制下将接收到的图像数据转换成模拟数据电压，并且将该模拟数据电压输出至复用器103。

复用器103在时序控制器106的控制下将从数据驱动器102接收的数据电压分配给数据线S1至Sm。当复用器103是1：3复用器时，复用器103对通过数据驱动器102的一个输出通道接收的数据电压进行时分，并且因此将时分后的数据电压供应至三条数据线。因此，当使用这样的1：3复用器时，驱动显示面板100所需的数据驱动器102中的IC(或输出引脚)的数目可以减少到原来的1/3。

自动探针测试电路(以下被称为“AP测试电路”)布置在显示面板100的与布置复用器103的位置相对的一侧。

在下文中，将更详细地描述布置在显示面板100处的复用器103和AP测试电路。

图2是示出了根据本发明的第一实施方式的图1的显示面板和数据驱动电路的具体配置的框图。

如图2中所示，构成显示面板100的下基板被分为显示区域A/A和非显示区域。在显示区域A/A中，如结合图1所描述的，数据线S1至Sm以及栅极线G1至Gn以交叉的方式来布置，并且因此以矩阵的形式限定像素。在图2中，仅示出了数据线。

复用器103布置在显示区域A/A的一侧。AP测试电路111布置在显示区域A/A的另一侧。

构成数据驱动器102的数据驱动IC经由复用器103连接至显示面板100。

图2示出了由1：3复用器构成复用器103的示例。

1：3复用器包括：多个第一复用器开关元件Tr1，所述多个第一复用器开关元件Tr1连接在数据驱动IC的每个通道与第(3n-2)条数据线之间并且由第一MUX控制信号MUX1控制；多个第二复用器开关元件Tr2，所述多个第二复用器开关元件Tr2连接在数据驱动IC的每个通道与第(3n-1)条数据线之间并且由第二MUX控制信号MUX2控制；以及多个第三复用器开关元件Tr3，所述多个第三复用器开关元件Tr3连接在数据驱动IC的每个通道与第(3n)条数据线之间并且由第三MUX控制信号MUX3控制。

在此，n是自然数。

同时，AP测试电路111包括连接在数据线与AP焊盘D1至D6之间并且由AP控制信号APC控制的多个AP开关元件Tr。

在这种情况下，AP焊盘D1至D6的数目为六个。第一AP焊盘D1经由AP开关元件Tr中相应之一连接至第(6k-5)条数据线。第二AP焊盘D2经由AP开关元件Tr中相应之一连接至第(6k-4)条数据线。第三AP焊盘D3经由AP开关元件Tr中相应之一连接至第(6k-3)条数据线。第四AP焊盘D4经由AP开关元件Tr中相应之一连接至第(6k-2)条数据线。第五AP焊盘D5经由AP开关元件Tr中相应之一连接至第(6k-1)条数据线。第六AP焊盘D6经由AP开关元件Tr中相应之一连接至第(6k)条数据线。

如结合图2所描述的，第(6k-5)条数据线经由第一复用器开关元件Tr1中相应之一连接至数据驱动IC的奇数编号的通道。第(6k-4)条数据线经由第二复用器开关元件Tr2中相应之一连接至数据驱动IC的偶数编号的通道。第(6k-3)条数据线经由第三复用器开关元件Tr3中相应之一连接至数据驱动IC的奇数编号的通道。第(6k-2)条数据线经由第一复用器开关元件Tr1中相应之一连接至数据驱动IC的偶数编号的通道。第(6k-1)条数据线经由第二复用器开关元件Tr2中相应之一连接至数据驱动IC的奇数编号的通道。第(6k)条数据线经由第三复用器开关元件Tr3中相应之一连接至数据驱动IC的偶数编号的通道。

在此，k是自然数。

同时，尽管已经参照图2结合1：3复用器描述了复用器103，但是复用器103可以被配置为1：2复用器。

图3是示出了根据本发明的第二实施方式的图1的显示面板和数据驱动电路的具体配置的框图。

如图3中所示，构成显示面板100的下基板被分为显示区域A/A和非显示区域。在显示区域A/A中，如结合图1所描述的，数据线S1至Sm以及栅极线G1至Gn以交叉的方式来布置，并且因此以矩阵的形式限定像素。在图3中，仅示出了数据线。

复用器103布置在显示区域A/A的一侧。AP测试电路111布置在显示区域A/A的另一侧。

构成数据驱动器102的数据驱动IC经由复用器103连接至显示面板100。

图3示出了由1：2复用器构成复用器103的示例。

1：2复用器包括：多个第一复用器开关元件Tr1，所述多个第一复用器开关元件Tr1连接在数据驱动IC的每个通道与第(2n-1)条数据线之间并且由第一MUX控制信号MUX1控制；以及多个第二复用器开关元件Tr2，所述多个第二复用器开关元件Tr2连接在数据驱动IC的每个通道与第(2n)条数据线之间并且由第二MUX控制信号MUX2控制。

同时，如结合图2所描述的，AP测试电路111包括连接在数据线与AP焊盘D1至D6之间并且由AP控制信号APC控制的多个AP开关元件Tr。

类似于图2的情况，AP焊盘D1至D6的数目为六个。第一AP焊盘D1经由AP开关元件Tr中相应之一连接至第(6k-5)条数据线。第二AP焊盘D2经由AP开关元件Tr中相应之一连接至第(6k-4)条数据线。第三AP焊盘D3经由AP开关元件Tr中相应之一连接至第(6k-3)条数据线。第四AP焊盘D4经由AP开关元件Tr中相应之一连接至第(6k-2)条数据线。第五AP焊盘D5经由AP开关元件Tr中相应之一连接至第(6k-1)条数据线。第六AP焊盘D6经由AP开关元件Tr中相应之一连接至第(6k)条数据线。

如结合图3所描述的，第(4k-3)条数据线经由第一复用器开关元件Tr1中相应之一连接至数据驱动IC的奇数编号的通道。第(4k-2)条数据线经由第二复用器开关元件Tr2中相应之一连接至数据驱动IC的偶数编号的通道。第(4k-1)条数据线经由第一复用器开关元件Tr1中相应之一连接至数据驱动IC的奇数编号的通道。第(4k)条数据线经由第二复用器开关元件Tr2中相应之一连接至数据驱动IC的偶数编号的通道。

在如上所述配置的显示面板100中，可以在执行驱动电路安装过程之前通过使用AP测试电路111对显示面板100的基板进行接通测试来检查数据线的缺陷或薄膜晶体管的缺陷。

也就是说，在复用器103中的开关元件Tr1至Tr3中的全部都关断的状态下，通过向AP测试电路111中的AP焊盘D1至D6中的全部供应数据电压来驱动显示面板100。

在第一AP焊盘D1被假定为奇数红色R-O，第二AP焊盘D2被假定为偶数绿色G-E，第三AP焊盘D3被假定为奇数蓝色B-O，第四焊盘D4被假定为偶数红色R-E，第五AP焊盘D5被假定为奇数绿色G-O，以及第六AP焊盘D6被假定为偶数蓝色B-E的条件下，通过根据时钟GCLK调节数据信号即R、G和B图像信号的时序来实现颜色渲染。另外，在执行数据电压的变化的同时，通过根据每个时钟GCLK同时施加R、G和B图像信号来实现白色、黑色和灰色的渲染。

可以通过如上所述地驱动显示面板并且然后进行接通测试(目视检查)来检查显示面板中的数据线缺陷或薄膜晶体管缺陷。

另外，在AP测试电路111的所有开关元件Tr都关断的条件下，以时分方式驱动复用器103，以将期望的数据电压分别施加至期望的数据线。

在下文中，将描述如上所述配置的显示装置中的根据本发明的链路线缺陷检测方法。

图4是说明了在图2中所示的显示面板中的相邻的链路线之间发生短路缺陷的情况下执行的链路线缺陷检测方法的图。图5是说明了在图3中所示的显示面板中的相邻的链路线之间发生短路缺陷的情况下执行的链路线缺陷检测方法的图。

在图2的配置中，将高电平电压(接通逻辑电压)的AP控制信号APC施加至多个AP开关元件Tr，从而接通所有AP开关元件Tr。

此后，通过将正(+)数据电压施加至AP焊盘D1至D6中的奇数编号的AP焊盘即奇数编号的AP焊盘D1、D3和D5同时将负(-)数据电压施加至AP焊盘D1至D6中的偶数编号的AP焊盘即偶数编号的AP焊盘D2、D4和D6来驱动显示面板100。

另外，在第一MUX控制信号MUX1至第三MUX控制信号MUX3中，将为高电平电压(接通逻辑电压)的第一MUX控制信号MUX1施加至第一复用器开关元件Tr1，从而接通第一复用器开关元件Tr1。

另外，在第一MUX控制信号MUX1至第三MUX控制信号MUX3中，将为高电平电压(接通逻辑电压)的第二MUX控制信号MUX2施加至第二复用器开关元件Tr2，从而接通第二复用器开关元件Tr2。

另外，在第一MUX控制信号MUX1至第三MUX控制信号MUX3中，将为高电平电压(接通逻辑电压)的第三MUX控制信号MUX3施加至第三复用器开关元件Tr3，从而接通第三复用器开关元件Tr3。

在这种状态下，在相邻的链路线之间没有短路的正常情况下，通常在显示面板100上显示图像信号。

然而，在彼此相邻的第一输出通道C1的链路线和第二输出通道C2的链路线彼此短路的情况下，不能正常地驱动显示面板100。

这将被详细描述。当在将正(+)数据电压施加至奇数编号的AP焊盘D1、D3和D5并且将负(-)数据电压施加至偶数编号的AP焊盘D2、D4和D6的条件下，将为高电平电压(接通逻辑电压)的第一MUX控制信号MUX1施加至第一复用器开关元件Tr1，从而接通第一复用器开关元件Tr1时，在第一输出通道C1的链路线和第二输出通道C2的链路线彼此短路的状态下，施加至第一AP焊盘D1的正(+)数据电压和施加至第二AP焊盘D2的负(-)数据电压彼此抵消，如图4中所示。在这种状态下，数据电压变为0V，并且因此连接至第一数据线S1和第四数据线S4的像素被显示为黑色(暗显示)。因此，像素以暗线的形式显示图像。

另外，当在以上述方式施加上述数据电压的条件下，将作为高电平电压(接通逻辑电压)的第二MUX控制信号MUX2施加至第二复用器开关元件Tr2，从而接通第二复用器开关元件Tr2时，在第一输出通道C1的链路线和第二输出通道C2的链路线彼此短路的状态下，施加至第二AP焊盘D2的负(-)数据电压和施加至第五AP焊盘D5的正(+)数据电压彼此抵消。在这种状态下，数据电压变为0V，并且因此连接至第二数据线S2和第五数据线S5的像素被显示为黑色(暗显示)。因此，像素以暗线的形式显示图像。

另外，当在以上述方式施加上述数据电压的条件下将作为高电平电压(接通逻辑电压)的第三MUX控制信号MUX3施加至第三复用器开关元件Tr3，从而接通第三复用器开关元件Tr3时，在第一输出通道C1的链路线和第二输出通道C2的链路线彼此短路的状态下，施加至第三AP焊盘D3的正(+)数据电压和施加至第六AP焊盘D6的负(-)数据电压彼此抵消。在这种状态下，数据电压变为0V，并且因此连接至第三数据线S3和第六数据线S6的像素被显示为黑色(暗显示)。因此，像素以暗线的形式显示图像。

当在将正(+)数据电压施加至奇数编号的AP焊盘D1、D3和D5并且将负(-)数据电压施加至偶数编号的AP焊盘D2、D4和D6的条件下，显示面板100根据第一MUX控制信号MUX1至第三MUX控制信号MUX3以暗线的形式显示图像时，认为相邻的链路线彼此短路。

当在以上述方式施加上述数据电压的条件下，将每个为高电平电压(接通逻辑电压)的第一MUX控制信号至第三MUX控制信号MUX1、MUX2和MUX3分别同时施加至第一复用器开关元件至第三复用器开关元件Tr1、Tr2和Tr3，从而接通第一复用器开关元件至第三复用器开关元件Tr1、Tr2和Tr3中的全部时，在第一输出通道C1的链路线和第二输出通道C2的链路线彼此短路的状态下，施加至奇数编号的AP焊盘D1、D3和D5的正(+)数据电压以及施加至偶数编号的AP焊盘D2、D4和D6的负(-)数据电压彼此抵消。在这种状态下，连接至第一数据线S1至第六数据线S6的像素中的全部均显示为黑色。因此，像素以黑块的形式显示图像。

当如上所述显示面板100以黑块的形式显示图像时，认为相邻的链路线彼此短路。

在图3的配置中，将高电平电压(接通逻辑电压)的AP控制信号APC施加至多个AP开关元件Tr，从而接通所有AP开关元件Tr。

此后，通过将正(+)数据电压施加至AP焊盘D1至D6中的奇数编号的AP焊盘即AP焊盘D1、D3和D5同时将负(-)数据电压施加至AP焊盘D1至D6中的偶数编号的AP焊盘即AP焊盘D2、D4和D6来驱动显示面板100。

另外，将为高电平电压(接通逻辑电压)的第一MUX控制信号MUX1和第二MUX控制信号MUX2分别施加至第一复用器开关元件Tr1和第二复用器开关元件Tr2，从而接通第一复用器开关元件Tr1和第二复用器开关元件Tr2。

在彼此相邻的第一输出通道C1的链路线和第二输出通道C2的链路线彼此短路的情况下，在上述状态下不能正常地驱动显示面板100。

这将被详细描述。当在将正(+)数据电压施加至奇数编号的AP焊盘D1、D3和D5并且将负(-)数据电压施加至偶数编号的AP焊盘D2、D4和D6的条件下，将为高电平电压(接通逻辑电压)的第一MUX控制信号MUX1和第二MUX控制信号MUX2分别施加至第一复用器开关元件Tr1和第二复用器开关元件Tr2，从而接通第一复用器开关元件Tr1和第二复用器开关元件Tr2时，在第一输出通道C1的链路线和第二输出通道C2的链路线彼此短路的状态下，施加至第一AP焊盘D1和第三AP焊盘D3的正(+)数据电压以及施加至第二AP焊盘D2和第四AP焊盘D4的负(-)数据电压彼此抵消，如图5中所示。在这种状态下，数据电压变为0V，并且因此连接至第一数据线S1至第四数据线S4的像素显示为黑色。因此，像素以黑块的形式显示图像。

当如上所述，显示面板100以黑块的形式显示图像时，认为相邻的链路线彼此短路。

在下文中，将描述用于当在一条链路线处发生开路缺陷时检测开路缺陷的方法。

当在一条链路线处发生开路缺陷时，在相邻的数据线之间产生电阻差。因此，当在相邻的数据线之间产生电阻差时，认为在一条链路线处已经产生了开路缺陷。

这将被详细描述。

在图2或图3的配置中，将相同的数据电压施加至AP焊盘D1至D6中的全部，并且将高电平电压(接通逻辑电压)的AP控制信号APC施加至多个AP开关元件Tr，从而接通所有AP开关元件Tr。

此后，通过分别将为高电平电压(接通逻辑电压)的第一MUX控制信号MUX1至第三MUX控制信号MUX3施加至第一复用器开关元件Tr1至第三复用器开关元件Tr3从而接通第一复用器开关元件Tr1至第三复用器开关元件Tr3来驱动显示面板100。

当如上所述地驱动显示面板时，在连接至断开的链路线的数据线与连接至未断开的链路线的数据线之间产生电阻差。

当如上所述，在数据线之间产生电阻差时，在数据线之间产生亮度差。因此，检测到亮线的形式的可见链路线缺陷。

如上所述，复用器103和AP测试电路111分别在显示面板中的非显示区域中布置在数据线的相对侧。

在执行驱动电路安装过程之前，使用AP测试电路111对显示面板的基板进行接通测试，从而检查基板上的信号线缺陷或薄膜图案缺陷。

此外，使用复用器103将数据电压施加至显示面板中的多条数据线，并且因此可以减少数据驱动电路的输出引脚的数目。

此外，可以使用复用器103和AP测试电路111检测数据链路线的短路或开路。

根据本发明的每个实施方式的显示装置和根据本发明的每个实施方式的显示装置中的数据链路线缺陷检测方法具有以下效果。

复用器和AP测试电路在显示面板的非显示区域中布置在数据线的相对侧，并且数据驱动电路经由复用器连接至显示面板。

根据这些配置，在执行驱动电路安装过程之前，可以通过使用AP测试电路对显示面板的基板进行接通测试来检查显示面板中的数据线缺陷或薄膜晶体管缺陷。

另外，使用复用器将数据电压施加至显示面板的多条数据线，并且因此可以减少数据驱动电路的输出引脚的数目。

此外，可以使用复用器和AP测试电路检测数据链路线的短路或开路。

对于本领域技术人员而言将明显的是，在不脱离本发明的精神或范围的情况下，可以在本发明中进行各种修改和变化。因此，本发明旨在覆盖本发明的修改和变化，只要它们落入所附权利要求及其等同物的范围内即可。