检测电路、方法、装置及设备

技术领域

本发明涉及检测技术领域，尤其涉及一种检测电路、方法、装置及设备。

背景技术

目前，对继电器的正常通断进行检测往往需要多个步骤依次执行，操作复杂，影响检测效率，因此，如何对继电器的正常通断进行快速检测，从而提高检测效率，成为了亟待解决的问题。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种检测电路，能够对继电器的正常通断进行快速检测，操作简单，提高了检测效率。

本发明还提出一种具有上述检测电路的检测方法。

本发明还提出一种具有上述检测电路的检测装置。

本发明还提出一种具有上述检测方法的电子设备。

根据本发明的第一方面实施例的检测电路，包括：

主控模块，所述主控模块用于输出控制指令；

通信模块，所述通信模块分别连接所述主控模块和待测设备，所述通信模块用于根据所述控制指令控制待测设备的继电器的开闭状态；

检测模块，所述检测模块分别连接所述主控模块和所述待测设备，所述检测模块用于检测所述继电器的开闭状态。

根据本发明实施例的检测电路，至少具有如下有益效果：这种检测电路通过主控模块输出控制指令，使得通信模块根据控制指令控制继电器进行打开或者关闭，从而检测模块对继电器能否正常通断进行检测，操作简单，能够实现对继电器的快速检测，提高了检测效率。

根据本发明的一些实施例，所述通信模块包括：

第一芯片，所述第一芯片分别连接所述主控模块和所述待测设备，所述第一芯片用于根据所述控制指令控制所述继电器的开闭状态。

根据本发明的一些实施例，所述主控模块包括：

MCU芯片，所述MCU芯片分别连接所述检测模块和所述通信模块，所述MCU芯片用于输出控制指令到所述通信模块，所述MCU芯片还用于识别检测结果。

根据本发明的一些实施例，所述检测模块包括：

第一电阻，所述第一电阻的第一端连接电源的正极端，所述第一电阻的第二端连接所述MCU芯片；

电容，所述电容的第一端分别连接所述第一电阻的第二端、所述MCU芯片，所述电容的第二端接地；

光电耦合器，所述光电耦合器的集电极分别连接所述第一电阻的第二端，所述MCU芯片，所述电容的第一端，所述光电耦合器的发射极分别连接所述电容的第二端和接地，所述光电耦合器的正极连接所述待测设备的正极输出端，所述光电耦合器的负极连接所述待测设备的负极输出端；

二极管，所述二极管的阳极分别连接所述光电耦合器的正极和所述待测设备的正极输出端，所述二极管的阴极分别连接所述光电耦合器的负极和所述待测设备的负极输出端；

第二电阻，所述第二电阻的第一端连接所述待测设备的负极输出端，所述第二电阻的第二端分别连接所述二极管的阴极和所述光电耦合器的负极。

根据本发明的一些实施例，所述光电耦合器的型号为LTV816。

根据本发明的一些实施例，所述二极管的型号为1N4007。

根据本发明的第二方面实施例的检测方法，包括：

获取第一信息，所述第一信息包括待测设备的继电器的初始状态；

根据所述继电器的初始状态，输出第一控制指令和第二控制指令以检测所述继电器的开闭状态，所述第一控制指令用于控制输入检测信号，所述第二控制指令用于控制所述继电器打开或者关闭；

根据所述继电器的开闭状态，得到所述检测信号的电平状态。

根据本发明实施例的检测方法，至少具有如下有益效果：这种检测方法通过获取的第一信息的继电器的初始状态，输出第一控制指令和第二控制指令对继电器的开闭状态进行控制，并且检测输入的检测信号的电平状态，根据检测信号的电平状态确认继电器是否可以正常开断，操作简单，检测速度较快，能够实现对继电器的正常通断的快速检测，提高了检测效率。

根据本发明的一些实施例，所述第二控制指令包括：

第三控制指令，所述第三控制指令用于若所述继电器的初始状态为关闭，先打开所述继电器，经过预定时间之后再关闭所述继电器；

第四控制指令，所述第四控制指令用于若所述继电器的初始状态为打开，先关闭所述继电器，经过预定时间之后再打开所述继电器。

根据本发明的第三方面实施例的检测装置，包括：

如第一方面实施例所述的检测电路；

控制开关，用于控制所述检测装置的工作状态；

显示屏，所述显示屏用于显示检测结果。

根据本发明实施例的检测装置，至少具有如下有益效果：这种检测装置采用上述检测电路，在按下控制开关时就能够启动检测装置，通过主控模块输出控制指令到通信模块，使得通信模块根据控制指令控制继电器进行打开或者关闭，从而检测模块对继电器能否正常通断进行检测，通过显示屏显示检测结果，操作简单，能够实现对继电器的快速检测及测试结果的显示，提高了检测效率。

根据本发明的第四方面实施例的电子设备包括：

至少一个处理器，以及，

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；

其中，所述存储器存储有指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行所述指令时实现如第二方面实施例所述的检测方法。

根据本发明实施例的电子设备，至少具有如下有益效果：这种电子设备通过上述检测方法通过获取的第一信息的继电器的初始状态，输出第一控制指令和第二控制指令对继电器的开闭状态进行控制，并且检测输入的检测信号的电平状态，根据检测信号的电平状态确认继电器是否可以正常开断，操作简单，检测速度较快，能够实现对继电器的正常通断的快速检测，提高了检测效率。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明做进一步的说明，其中：

图1为本发明实施例的检测电路的结构示意图；

图2为本发明另一实施例的检测电路的电路结构示意图；

图3为本发明另一实施例的检测方法的流程图。

附图标记：110、通信模块；120、主控模块；130、检测模块；140、待测设备；150、继电器；210、光电耦合器；220、MCU芯片，230、第一芯片。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，若干的含义是一个以上，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。

本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。

本发明的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

第一方面，参照图1，本发明实施例的检测电路包括通信模块110、主控模块120和检测模块130，主控模块120用于输出控制指令；通信模块110分别连接主控模块120和待测设备140，通信模块110用于根据控制指令控制待测设备140的继电器150的开闭状态；检测模块130分别连接主控模块120和待测设备140，检测模块130用于检测继电器150的开闭状态。在对待测设备140的继电器150进行检测时，检测模块130首先输入检测信号到继电器150以获取到继电器150的初始状态，即继电器150是打开或者关闭，并将继电器150的初始状态信息输出给主控模块120，主控模块120接收到继电器150的初始状态信息之后，根据继电器150的初始状态输出控制指令到通信模块110，其中，控制指令包括控制继电器150的打开或者关闭，检测模块130对继电器150的打开或者关闭状态进行检测，并将检测信号的变化情况输入到主控模块120。需要理解的是，当获取到的继电器150的初始状态是打开时，主控模块120输出的控制指令会使得继电器150先进行关闭，在预定时间之后，继电器150再次打开，完成先拉闸后合闸的过程；当获取到的继电器150的初始状态是关闭时，主控模块120输出的控制指令会使得继电器150先进行打开，在预定时间之后，继电器150再次关闭。这样通过一次控制指令就可以实现对继电器150的打开和关闭测试，并且在测试过程中，主控模块120能够获取到检测信号的电平状态，根据继电器150低电平触发的特性，确认继电器150是否可以正常开断。这种检测电路通过主控模块120输出控制指令，使得通信模块110根据控制指令控制继电器150进行打开或者关闭，从而检测模块130对继电器150能否正常通断进行检测，操作简单，能够实现对继电器150的快速检测，提高了检测效率。

需要说明的是，主控模块120输出的控制指令使得继电器150先进行关闭，在预定时间之后，继电器150再次打开，完成先拉闸后合闸的过程中的预定时间可以根据实际情况进行设定，例如，主控模块120输出的控制指令使得继电器150先进行关闭，在50毫秒之后，继电器150再次打开以完成先拉闸后合闸的过程。同样地，主控模块120输出的控制指令使得继电器150完成先拉闸后合闸的过程的预定时间也可以根据实际情况进行设置。

由于继电器140在电能表中的负荷控制对继电器140的工作性能要求较高，尤其需要对继电器140能否正常打开或者关闭进行检测，因此本发明实施例中的待测设备140可以是电能表，需要理解的是，待测设备140也可以是其他的电子设备，不限于此。

参照图2，在一些实施例中，通信模块110包括第一芯片230，第一芯片230分别连接主控模块120和待测设备140，第一芯片230用于根据控制指令控制继电器150的开闭状态。通过第一芯片230能够根据接收到的控制指令实现对继电器150的开闭状态的快速控制，提高测试的准确性以及检测效率。

在一些具体实施例中，第一芯片230为RS485芯片，通过RS485芯片的通信接口可以方便地将RS485芯片与待测设备140进行连接，提高测试可靠性。需要说明的是，第一芯片230也可以是其他型号的芯片，不仅限于此。

参照图2，在一些实施例中，主控模块120包括MCU芯片220，MCU芯片220分别连接检测模块130和通信模块110，MCU芯片220用于输出控制指令到通信模块110，MCU芯片220还用于识别检测结果。MCU芯片220在接收到继电器150的初始状态信息时能够快速地做出判断，选择适合输出的控制指令，即当获取到的继电器150的初始状态是打开时，MCU芯片220输出的控制指令会使得继电器150先进行关闭，在预定时间之后，继电器150再次打开，完成先拉闸后合闸的过程；当获取到的继电器150的初始状态是关闭时，MCU芯片220输出的控制指令会使得继电器150先进行打开，在预定时间之后，继电器150再次关闭，完成先合闸后拉闸的过程。进一步地，MCU芯片220可以采用中继触发方式对继电器150的开闭状态进行检测，在控制检测模块130的检测信号输入时，对检测信号的电平状态进行实时识别，以便快速确认继电器150是否可以正常开断，提高检测效率。

参照图2，在一些实施例中，检测模块130包括第一电阻R1、电容C1、光电耦合器210、二极管D1和第二电阻R2，第一电阻R1的第一端连接电源的正极端，第一电阻R1的第二端连接MCU芯片220；电容C1的第一端分别连接第一电阻R1的第二端和MCU芯片220，电容C1的第二端接地；光电耦合器210的集电极分别连接第一电阻R1的第二端、MCU芯片220以及电容C1的第一端，光电耦合器210的发射极分别连接电容C1的第二端和接地，光电耦合器210的正极连接待测设备140的正极输出端，光电耦合器210的负极连接待测设备140的负极输出端；二极管D1的阳极分别连接光电耦合器210的正极和待测设备140的正极输出端，二极管D1的阴极分别连接光电耦合器210的负极和待测设备140的负极输出端；第二电阻R2的第一端连接待测设备140的负极输出端，第二电阻R2的第二端分别连接二极管D1的阴极和光电耦合器210的负极。这样通过检测模块130能够将输入的检测信号转换为低电压的检测信号，对检测信号的转换效率较高，方便MCU芯片220对检测信号的电平状态进行识别判断，节省时间，提高检测效率。

在一些具体实施例中，光电耦合器210的型号为LTV816。型号为LTV816的光电耦合器具备直流输入和高击穿电压输出的特性，能够保证检测电路的工作稳定性，在一些其他实施例中，也可以选择其他型号的光电耦合器，不限于此。

在一些具体实施例中，二极管D1的型号为1N4007。型号为1N4007的二极管具有较低的反向漏电流和较强的正向浪涌承受能力，在检测电路中选择型号为1N4007的二极管作为二极管D1能够进一步地提高检测稳定性以及可靠性。在一些其他实施例中，也可以选择其他型号的二极管，不限于此。

第二方面，参照图3，本发明实施例的检测方法包括：

S301，获取第一信息，第一信息包括待测设备的继电器的初始状态

S302，根据继电器的初始状态，输出第一控制指令和第二控制指令以检测继电器的开闭状态，第一控制指令用于控制输入检测信号，第二控制指令用于控制继电器打开或者关闭；

S303，根据继电器的开闭状态，得到检测信号的电平状态；

通过获取到继电器150的初始状态，即继电器150最初是打开或者关闭，并根据继电器150的初始状态信息输出第一控制指令和第二控制指令对继电器150的开闭状态进行检测，通过第一控制指令控制检测信号输入，通过第二控制指令控制继电器150的打开或者关闭。同时，第一控制指令控制检测信号输入之后，根据继电器150的开闭状态对检测信号的电平状态进行实时识别，从而根据检测信号的电平状态快速确认继电器150是否可以正常开断，操作简单，检测速度较快，能够实现对继电器150的正常通断的快速检测，提高了检测效率。

在一些具体实施例中，第二控制指令包括第三控制指令和第四控制指令，第三控制指令用于若继电器的初始状态为关闭，先打开继电器，经过预定时间之后再关闭继电器；第四控制指令用于若继电器的初始状态为打开，先关闭继电器，经过预定时间之后再打开继电器。需要理解的是，当获取到的继电器150的初始状态是关闭时，输出的第三控制指令会使得继电器150先进行打开，在预定时间之后，继电器150再次关闭，完成先合闸后拉闸的过程。当获取到的继电器150的初始状态是打开时，输出的第四控制指令会使得继电器150先进行关闭，在预定时间之后，继电器150再次打开，完成先拉闸后合闸的过程；这样通过一次控制指令就可以实现对继电器150的打开和关闭测试，并且在测试过程中能够实时获取到检测信号的电平状态，从而根据继电器150低电平触发的特性，确认继电器150是否可以正常开断，操作简单，检测速度较快，能够实现对继电器150的正常通断的快速检测，提高了检测效率。

根据本发明实施例的检测方法，至少具有如下有益效果：这种检测方法通过获取的第一信息的继电器的初始状态，输出第一控制指令和第二控制指令对继电器的开闭状态进行控制，并且检测输入的检测信号的电平状态，根据检测信号的电平状态确认继电器是否可以正常开断，操作简单，检测速度较快，能够实现对继电器的正常通断的快速检测，提高了检测效率。

第三方面，本发明实施例的检测装置包括如第一方面实施例的检测电路、控制开关和显示屏，控制开关用于控制检测装置的工作状态；显示屏用于显示检测结果。在对继电器150进行检测时，只需要打开控制开关就可以通过检测电路对继电器150进行检测，并且将检测结果显示在显示屏上。需要说明的是，控制开关可以是机械按钮也可以是电子开关，根据实际需求进行设置。这种检测装置采用第一方面实施例的检测电路，在按下控制开关时就能够启动检测装置，通过主控模块输出控制指令到通信模块，使得通信模块根据控制指令控制继电器进行打开或者关闭，从而检测模块对继电器能否正常通断进行检测，通过显示屏显示检测结果，操作简单，能够实现对继电器的快速检测及测试结果的显示，提高了检测效率。

第四方面，本发明实施例的电子设备包括：至少一个处理器，以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器执行指令时实现如第二方面实施例的检测方法。

根据本发明实施例的电子设备，至少具有如下有益效果：这种电子设备通过上述检测方法通过获取的第一信息的继电器的初始状态，输出第一控制指令和第二控制指令对继电器的开闭状态进行控制，并且检测输入的检测信号的电平状态，根据检测信号的电平状态确认继电器是否可以正常开断，操作简单，检测速度较快，能够实现对继电器的正常通断的快速检测，提高了检测效率。

上面结合附图对本发明实施例作了详细说明，但是本发明不限于上述实施例，在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。此外，在不冲突的情况下，本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合。