硬盘检测方法和计算设备

技术领域

本申请涉及硬件检测技术领域，尤其涉及一种硬盘检测方法和计算设备。

背景技术

机械硬盘(Hard Disk Drive，HDD)是计算设备的重要组成部分。通常，机械硬盘将磁头(Magnetic Recording Head)定位到盘片上相应的磁记录轨道，以实现对数据的读写。然而，由于磁头与磁记录轨道的夹角会发生改变，且磁头的写头边缘磁场无法被完全屏蔽。因此，在机械硬盘的工作过程中，容易产生磁记录轨道间的信号干扰现象(Adjacent orFar Track Interference，xTI)。例如，邻轨干扰(Adjacent Track Interference，ATI)和远轨干扰(Far Track Interference，FTI)。一方面，该信号干扰现象会影响磁记录面的数据存储密度，另一方面，也可能导致用户在机械硬盘中写入的数据丢失。

因此，如何精准地对机械硬盘的磁记录轨道间的信号干扰现象进行检测，成为亟待解决的技术问题。

发明内容

本申请实施例提供一种硬盘检测方法和计算设备，用于检测机械硬盘的磁记录轨道间的信号干扰现象，以使得用户对检测出信号干扰现象的硬盘进行更换，进而避免用户使用的硬盘的磁记录面的数据存储密度较低，同时避免用户在机械硬盘中写入的数据丢失。

为达到上述目的，本申请的实施例采用如下技术方案：

第一方面，提供了一种硬盘检测方法，上述方法包括：

在待测试硬盘的第一区域中的第一写入位置写入第一样本数据，第一区域预先写入有第二样本数据；第一样本数据的大小小于第二样本数据的大小，第一样本数据与第二样本数据不同；读取第一区域的数据，作为第一检测数据；在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后，读取第一区域的数据，作为第二检测数据；在第一检测数据和第二检测数据不一致的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。本申请提供的方法通过比较在第一样本数据重复写入前后，第一样本数据的邻轨和远轨已写入的第二样本数据的变化，进而能够实现对硬盘的信号干扰现象进行检测，以使得用户对检测出信号干扰现象的硬盘进行更换，一方面，避免用户使用的硬盘的磁记录面的数据存储密度较低。另一方面，能够避免硬盘中写入的数据丢失。

在第一方面的一种可能的实现方式中，第一写入位置为第一区域的中心位置。由于当该硬盘存在磁记录轨道间的信号干扰现象时，在第一写入位置写入数据，能够造成第一写入位置对应的磁记录轨道的邻轨和远轨中写入的数据发生改变。因此，本申请提供的方法通过将第一区域的中心位置设置为第一写入位置，当在第一写入位置重复写入第一样本数据时，能够使得第一写入位置对应的磁记录轨道的邻轨和远轨中写入的数据，在该硬盘存在磁记录轨道间的信号干扰现象时变化的更加明显，增加第一检测数据和第二检测数据的差异性，进而有效提升检测结果的准确性。

在第一方面的一种可能的实现方式中，在待测试硬盘的第一区域中的第一写入位置写入第一样本数据之前，上述方法还包括：均衡的在待测试硬盘上确定第一区域。在第一区域写入第二样本数据，第一区域的容量大小等于第二样本数据的大小。本申请提供的方法通过在待测试硬盘中确定存储有第二样本数据的第一区域，然后在第一区域中的第一写入位置多次写入小于第二样本数据的第一样本数据，通过验证写入第一样本数据对已写入的第二样本数据的影响，进而实现对硬盘的磁记录轨道间的信号干扰现象进行检测。

在第一方面的一种可能的实现方式中，均衡的在待测试硬盘上确定第一区域，包括：根据待测试硬盘的存储容量确定多个等分的容量点；根据多个等分的容量点在待测试硬盘上确定第一区域。本申请提供的方法通过在待测试硬盘中确定存储有第二样本数据的第一区域，然后在第一区域中的第一写入位置多次写入小于第二样本数据的第一样本数据，通过验证写入第一样本数据对已写入的第二样本数据的影响，进而实现对硬盘的磁记录轨道间的信号干扰现象进行检测。

在第一方面的一种可能的实现方式中，上述方法还包括：在第一检测数据和第二检测数据一致的情况下，确定待测试硬盘不存在信号干扰现象。本申请提供的方法能够根据第一检测数据和第二检测数据能够准确检测硬盘是否出现信号干扰现象。

在第一方面的一种可能的实现方式中，第一区域的数量为多个；在第一检测数据和第二检测数据不一致的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象，包括：在任意一个或多个第一区域对应的第一检测数据和第二检测数据不一致的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。本申请提供的方法通过对待测试硬盘的多个第一区域进行检测，能够提升检测结果的准确性。

在第一方面的一种可能的实现方式中，上述方法还包括：在第一检测数据和第二检测数据不一致的情况下，确定第一检测数据和第二检测数据中不一致的字符数量；在字符数量超过预设阈值的情况下，确定待测试硬盘的工作状态为异常。本申请提供的方法根据第一检测数据和第二检测数据中不一致的字符数量确定待测试硬盘的工作状态，一方面，将信号干扰现象较为严重的待测试硬盘的工作状态确定为异常，并提示用户进行更换，避免影响用户的使用体验，另一方面，对信号干扰现象不严重的待测试硬盘的工作状态确定为正常，避免用户由于频繁更换硬盘导致成本过高，影响用户的使用体验。

在第一方面的一种可能的实现方式中，上述方法还包括：在字符数量未超过预设阈值的情况下，确定待测试硬盘的工作状态为正常。本申请提供的方法根据第一检测数据和第二检测数据中不一致的字符数量确定待测试硬盘的工作状态，一方面，将信号干扰现象较为严重的待测试硬盘的工作状态确定为异常，并提示用户进行更换，避免影响用户的使用体验，另一方面，对信号干扰现象不严重的待测试硬盘的工作状态确定为正常，避免用户由于频繁更换硬盘导致成本过高，影响用户的使用体验。

在第一方面的一种可能的实现方式中，在待测试硬盘中写入数据的操作基于输入输出IO存储测试软件中的数据写入工具实现。本申请提供的方法通过存储测试软件中的数据写入工具实现在第一区域的第一写入位置写入第一样本数据，还实现在第一区域写入第二样本数据。例如，该数据写入工具为fio工具。进而能够实现对硬盘的磁记录轨道间是否存在信号干扰现象进行检测。

在第一方面的一种可能的实现方式中，在待测试硬盘中读取数据的操作基于数据读取工具实现。本申请提供的方法通过数据读取工具实现读取第一区域写入的数据。例如，该数据读取工具可以为hexdump工具。从而得到第一检测数据和第二检测数据，进而根据第一检测数据对第二检测数据进行验证，从而实现对硬盘的磁记录轨道间是否存在信号干扰现象的检测。

第二方面，提供了一种计算设备，包括：处理器和通信接口，处理器通过通信接口与待测试硬盘连接；处理器用于：在待测试硬盘的第一区域中的第一写入位置写入第一样本数据，第一区域预先写入有第二样本数据；第一样本数据的大小小于第二样本数据的大小，第一样本数据与第二样本数据不同；读取第一区域的数据，作为第一检测数据；处理器，还用于在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后，读取第一区域的数据，作为第二检测数据；在第一检测数据和第二检测数据不一致的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。

在第二方面的一种可能的实现方式中，处理器还用于在第一检测数据和第二检测数据一致的情况下，确定待测试硬盘不存在信号干扰现象。

第三方面，提供了一种硬盘检测装置，该装置包括：用于执行第一方面提供的任意一种方法的功能单元，各个功能单元所执行的动作通过硬件实现或通过硬件执行相应的软件实现。例如，该控制设备可以包括写入单元、读取单元和处理单元。写入单元，用于在待测试硬盘的第一区域中的第一写入位置写入第一样本数据，第一区域预先写入有第二样本数据；第一样本数据的大小小于第二样本数据的大小；读取单元，用于读取第一区域的数据，作为第一检测数据；读取单元，还用于在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后，读取第一区域的数据，作为第二检测数据；处理单元，用于在第一检测数据和第二检测数据不一致的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。

第四方面，提供了一种计算设备，包括：处理器和存储器，处理器分别与存储器和待测试硬盘连接；存储器用于存储计算机执行指令，处理器用于执行存储器存储的计算机执行指令，以在待测试硬盘中写入和读取数据，从而实现第一方面提供的任意一种方法。

第五方面，提供了一种芯片，该芯片包括：处理器和接口电路；接口电路，用于接收代码指令并传输至处理器；处理器，用于运行代码指令以执行上述第一方面提供的任意一种方法。

第六方面，提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机执行指令，当计算机执行指令在计算机上运行时，使得计算机执行上述第一方面提供的任意一种方法。

第七方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机执行指令，当计算机执行指令在计算机上运行时，使得计算机执行上述第一方面提供的任意一种方法。

其中，第二方面至第七方面中任一种设计方式所带来的技术效果可以参见第一方面中不同实现方式所带来的技术效果，此处不再赘述。

附图说明

图1示出了本申请实施例提供的一种硬盘检测方法的应用场景图；

图2示出了本申请实施例提供的一种计算设备的结构示意图；

图3示出了本申请实施例提供的一种硬盘检测方法的流程示意图；

图4示出了本申请实施例提供的一种第一区域的示意图；

图5示出了本申请实施例提供的另一种第一区域的示意图；

图6示出了本申请实施例提供的另一种第一区域的示意图；

图7示出了本申请实施例提供的另一种第一区域的示意图；

图8示出了本申请实施例提供的一种硬盘检测装置的结构方框图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。其中，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”是指两个或多于两个。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指的这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b，或c中的至少一项(个)，可以表示：a，b，c，a-b，a-c，b-c，或a-b-c，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。

另外，为了便于清楚描述本申请实施例的技术方案，在本申请的实施例中，采用了“第一”、“第二”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分。本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”等字样并不对数量和执行次序进行限定，并且“第一”、“第二”等字样也并不限定一定不同。同时，在本申请实施例中，“示例性的”或者“例如”等词用于表示作例子、例证或说明。本申请实施例中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其他实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言，使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念，便于理解。

为实现对机械硬盘的磁记录轨道间的信号干扰现象进行检测，在相关技术中，可以通过硬盘制造商以硬盘中的器件为维度进行测试，进而得到磁记录轨道的邻轨及远轨的误码率(Symbol Error Rate，SER)变化。例如，对硬盘的磁头和头堆进行测试。然而，出于对硬盘制造技术的保密，硬盘制造商并不会对用户开放硬盘的轨道位置、误码率等相关参数接口。因此用户无法对硬盘的磁记录轨道的信号干扰现象进行检测。

鉴于此，本申请提供了一种硬盘检测方法，该方法通过在待测试硬盘中确定存储有第二样本数据的第一区域，然后在第一区域中的第一写入位置多次写入小于第二样本数据的第一样本数据，通过比较在第一样本数据重复写入前后第一区域中已写入的第二样本数据的变化，进而能够实现对硬盘的信号干扰现象进行检测，以使得用户对检测出信号干扰现象的硬盘进行更换，一方面，避免用户使用的硬盘的磁记录面的数据存储密度较低。另一方面，能够避免硬盘中写入的数据丢失。

以下对本申请实施例提供的硬盘检测方法的应用场景进行示例性说明：

图1为本申请实施例示出的一种硬盘检测方法的应用场景图，如图1所示，包括计算设备110和待测试硬盘120，其中，计算设备110连接待测试硬盘120，以实现在待测试硬盘120中进行数据写入和数据读取的操作。

作为示例，计算设备110可以是任意具有数据处理能力的设备，比如通用计算机、个人计算机或服务器等，此处对计算设备110的具体实现方式不作限定。

可选的，待测试硬盘120可以是任意具有磁记录轨道的、能够实现数据写入和数据读取功能的硬盘。例如，机械硬盘。此处对待测试硬盘120的具体实现方式不作限定。

还可以理解的是，图1所提供的应用场景，以及该应用场景中各个执行主体所实现的功能，只是本申请实施例中的一种示例性的实施方式，本申请实施例中的应用场景以及各个执行主体所实现的功能包括但不仅限于以上描述。

图2示出了本申请实施例提供的计算设备110的结构示意图。该计算设备110包括处理器210、存储器220以及至少一个通信接口230。

处理器210可以包括一个或者多个处理核心。处理器210利用各种接口和线路连接计算设备110内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器220内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器220内的数据，执行计算设备110的各种功能和处理数据。可选地，处理器210可以采用数字信号处理(digital signal processing，DSP)、现场可编程门阵列(field－programmable gate array，FPGA)、可编程逻辑阵列(programmablelogicarray，PLA)中的至少一种硬件形式来实现。处理器210可集成中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)、图像处理器(graphics processing unit，GPU)和调制解调器等中的一种或几种的组合。可以理解的是，上述调制解调器也可以不集成到处理器210中，单独通过一块通信芯片进行实现。

存储器220可以包括随机存储器(random access memory，RAM)，也可以包括只读存储器(read-only memory，ROM)。可选地，该存储器220包括非瞬时性计算机可读介质(non-transitory computer-readable storage medium)。存储器220可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器220可包括存储程序区。其中，存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于实现至少一个功能的指令(比如数据写入功能、数据读取功能等)，用于实现上述各个方法实施例的指令等。

通信接口230，用于与其他器件、设备或通信网络通信，如数据存储器件、图像处理设备或以太网，无线接入网(RAN)，无线局域网(wireless local area networks，WLAN)等。例如，计算设备110的处理器210通过通信接口230与待测试硬盘120连接。

需要说明的是，该通信接口230的数量可以为多个。计算设备110可以通过多个通信接口230与图1所示的多个待测试硬盘120连接，以实现在多个待测试硬盘中完成数据写入和数据读取操作，进而实现对多个待测试硬盘120的磁记录轨道间的信号干扰现象进行检测。此处对通信接口230的数量，以及计算设备110连接的待测试硬盘120的数量不作特别限制。

具体实现时，在物理实现上，上述各器件(如处理器210和存储器220和通信接口230)可以分别是同一个计算设备(如服务器)中的器件；或者，其中的至少两个器件可以设置在同一个计算设备中，即作为一个计算设备中的不同器件，如类似于分布式系统中的设备或器件的部署方式。

可以理解的是，本实施例示意的结构并不构成对计算设备110的具体限定。在本申请另一些实施例中，计算设备110可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者拆分某些部件，或者不同的部件布置。图示的部件可以以硬件，软件或软件和硬件的组合实现。

以下结合说明书附图，对本申请实施例提供的硬盘检测方法进行说明。

图3为本申请实施例提供的一种硬盘检测方法的流程图。可选的，该方法可以应用于图1所示应用场景，并由具有图2所示硬件结构的计算设备110执行。该方法可以包括以下步骤：

S301、在待测试硬盘的第一区域中的第一写入位置写入第一样本数据。

具体的，计算设备的处理器向待测试硬盘发送第一样本数据的存储指令，该存储指令中包括第一写入位置的位置信息和第一样本数据，待测试硬盘的控制器响应于该存储指令，根据第一写入位置的位置信息将第一样本数据写入在第一写入位置。

具体的，该第一区域预先写入有第二样本数据，第二样本数据为预设大小和预设内容的数据，第一区域的容量与第二样本数据的大小相同。

在一种可能的实现方式中，第一区域为计算设备在待测试硬盘中随机或根据均衡原则确定的，对此不作限定。可选的，计算设备在待测试硬盘中确定的第一区域的数量可以是一个，也可以是多个，对此不作限定。

以根据均衡原则确定第一区域为例进行说明，首先，计算设备根据待测试硬盘的最大容量，确定多个等分的容量点，多个容量点可以理解为多个第一区域的起始写入位置。起始写入位置即为一个数据点，用于写入第二样本数据的首个字符。然后从起始写入位置开始写入第二样本数据，在第二样本数据写入完成后，写入了第二样本数据的区域即为一个第一区域。

在一个示例中，待测试硬盘的最大容量为2TB，根据待测试硬盘的最大容量，基于均衡原则以50G的存储容量为间隔，确定多个容量点，每两个容量点之间间隔50G的存储容量，然后将每个容量点作为第一区域的起始写入位置，从起始位置开始写入第二样本数据，在第二样本数据的大小可以为100MB的情况下，当第二样本数据写入完成后，写入了第二样本数据的区域即为一个第一区域，一个第一区域的大小为100MB。

具体的，计算设备的处理器向待测试硬盘发送第二样本数据的存储指令，该存储指令中包括第一区域的起始写入位置的位置信息和第二样本数据，待测试硬盘的控制器响应于该存储指令，根据第一区域的起始写入位置的位置信息，将第二样本数据写入第一区域。需要说明的是，以上只是对第一区域的示例性说明，本申请实施例对第一区域的具体确定方式不做特别限制。

在另一示例中，参见图4，图4为本申请实施例示出的一种第一区域的示意图。该第一区域可以为该待测试硬盘上的多个第一区域中的任意一个，该第一区域对应待测试硬盘的盘片上的5条磁记录轨道，分别为轨道A、B、C、D和E，该第一区域写入有与第一区域容量大小相同的第二样本数据，如图所示，该第二样本数据的数据内容包括多个连续的1。

需要说明的是，第一样本数据和第二样本数据可以为任意内容的数据，且第一样本数据和第二样本数据不同，本申请实施例对第一样本数据和第二样本数据的内容不做特别限制。

具体的，第一写入位置为第一区域中的任一位置，用于作为第一样本数据的写入位置，该第一写入位置也可以理解为第一样本数据在第一区域中的一个区域。例如，结合图4，第一写入位置可以位于轨道A、B、C、D和E中的任一条轨道对应的区域。

可选的，第一写入位置可以位于第一区域的中心位置。结合图4，第一写入位置位于轨道C上。

由于当该硬盘存在磁记录轨道间的信号干扰现象时，在第一写入位置写入数据，可能会造成第一写入位置对应的磁记录轨道的邻轨和远轨中写入的数据发生改变。因此，本申请提供的方法通过将第一写入位置设置于第一区域的中心位置，当在第一写入位置写入第一样本数据时，可能使得与第一写入位置所在磁记录轨道周围的邻轨和远轨中写入的数据发生变化，结合图5，当在轨道C写入第一样本数据时，可能会使得轨道A、B、D和E中写入的数据发生变化。当在轨道A写入第一样本数据时，可能只会使得第一区域中的轨道B和C中写入的数据发生变化，轨道D和E由于距离轨道A较远，可能写入的数据不会发生变化。因此，本申请提供的方法通过将第一写入位置设置于第一区域的中心位置，能够使得当该硬盘存在磁记录轨道间的信号干扰现象时，第一区域中各轨道发生的变化的更加明显，即增加第一检测数据和第二检测数据的差异性，进而有效提升检测结果的准确性。

具体的，第一样本数据为预设大小和内容的数据，第一样本数据的大小小于第二样本数据的大小，也就是说，第一样本数据的大小小于第一区域的容量。例如，在第二样本数据的大小为100MB的情况下，第一样本数据的大小可以为20MB。需要说明，第一样本数据的数据内容是不同于第二样本数据的。

示例性的，结合图4，参见图5，图5为本申请实施例示出的一种第一区域的示意图，该第一区域在图4的基础上，在轨道C作为第一写入位置写入第一样本数据。其中，该第一样本数据为的数据内容为多个连续的0。

在一种可能的实现方式中，上述第一样本数据和第二样本数据的写入操作基于输入输出IO存储测试软件中的数据写入工具实现。

可选的，该数据写入工具可以为fio工具、iometer工具或Oriongon工具中的一种。

本申请提供的方法通过存储测试软件中的数据写入工具实现在第一区域的第一写入位置写入第一样本数据，还实现在第一区域写入第二样本数据，进而能够实现对硬盘的磁记录轨道间是否存在信号干扰现象的检测。此外，在本申请方法中，在向待测试硬盘写入数据时有多种数据写入工具供用户选择，这样能够满足用户在不同使用场景下的使用需求，从而提升用户使用体验。

S302、读取第一区域的数据，作为第一检测数据；

具体的，计算设备读取第一区域的数据，并将读取到的数据作为第一检测数据。应理解的是，第一检测数据为本申请实施例提供的硬盘检测方法的基准数据，该基准数据用于对下述S303步骤得到的第二检测数据进行验证。

具体的，计算设备的处理器向待测试硬盘发送第一检测数据的读取指令，该读取指令中包括第一区域对应的位置信息，待测试硬盘响应于该读取指令，根据第一区域对应的位置信息读取第一区域中写入的数据，作为第一检测数据。

在一种示例中，结合图5，图5所示的第一区域对应的第一检测数据，即轨道A-轨道E的数据依次为“1111111111111111111111000000000001111111111111111111111”。

需要说明的是，以上第一检测数据仅为示例性说明，待测试硬盘中存储的第一样本数据和第二样本数据可以为2进制、8进制、10进制或16进制的数据，此处不做特别限制。

S303、在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后，读取第一区域的数据，作为第二检测数据。具体的，计算设备在第一写入位置多次写入第一样本数据，也可以理解为多次重复上述S301的操作。即在相同的第一写入位置，多次重复写入相同的第一样本数据。

需要说明的是，第一样本数据的重复写入次数可以为任意次数，可根据用户的检测需求自行设定。例如，可以为50次。此处对第一样本数据的重复写入次数不做特别限制。

具体的，首先，计算设备的处理器向待测试硬盘发送预设次数的第一样本数据的存储指令，该存储指令中包括第一写入位置的位置信息和第一样本数据，待测试硬盘的控制器响应于该存储指令，根据第一写入位置的位置信息将第一样本数据写入在第一写入位置。在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后，计算设备的处理器向待测试硬盘发送第二检测数据的读取指令，该读取指令中包括第一区域对应的位置信息，待测试硬盘响应于该读取指令，根据第一区域对应的位置信息读取第一区域中写入的数据，作为第二检测数据。

在待测试硬盘存在信号干扰现象的情况下，在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后，第一样本数据对应的邻轨和远轨写入的数据会发生改变，进而导致第一检测数据和第二检测数据不一致。

示例性的，参见图6，图6为在图5的基础上，在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后的第一区域。图6所示的第一区域对应的第二检测数据，即轨道A-轨道E的数据依次为“1111111111111001111111000000000001111111111111111110000”。其中，轨道B第3-4个数据、轨道E的第7-11个数据由于磁记录轨道间的信号干扰现象，由原本写入的1变化为0。

在待测试硬盘不存在信号干扰现象的情况下，在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后，第一样本数据对应的邻轨和远轨写入的数据不会发生改变，进而第一检测数据和第二检测数据一致。

示例性的，参见图7，图7为在图5的基础上，在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后的第一区域。图7所示的第一区域对应的第二检测数据，即轨道A-轨道E的数据依次为“1111111111111111111111000000000001111111111111111111111”。可见，轨道A-轨道E中写入的数据未发生变化。

在一种可能的实现方式中，在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后，在读取第一区域的数据失败的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。

具体的，在待测试硬盘的磁记录轨道存在信号干扰现象的情况下，多次在第一写入位置写入第一样本数据，可能导致第一写入位置所在的磁记录轨道的邻轨和远轨中写入的数据产生较多的变化，进而导致第一区域中写入的数据损坏，从而导致计算设备读取第一区域中写入的数据失败。因此，读取第一区域的数据失败的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。

本申请提供的方法能够在数据读取失败的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。避免由于无法成功读取第二检测数据，导致对待测试硬盘的检测失败。

在一种可能的实现方式中，计算设备的处理器在待测试硬盘中读取第一检测数据和第二检测数据的操作基于数据读取工具实现。例如，hexdump工具。基于hexdump工具，从第一区域得到第一检测数据和第二检测数据，进而根据第一检测数据对第二检测数据进行验证，从而实现对硬盘的磁记录轨道间是否存在信号干扰现象的检测。

S304、在第一检测数据和第二检测数据不一致的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。

具体的，计算设备可以对第一检测数据和第二检测数据中的每个数据进行逐个对比，或者采用任意数据差异检测方法进行检测，在第一检测数据和第二检测数据存在任一不一致的情况下，确定第一检测数据和第二检测数据不一致，进而，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。

在待测试硬盘存在信号干扰现象的情况下，在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后，第一样本数据对应的邻轨和远轨写入的数据会发生改变，进而导致第一检测数据和第二检测数据不一致，因此，在第一检测数据和第二检测数据不一致的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。

示例性的，结合图5和图6所示的第一区域分别对应的第一检测数据和第二检测数据。可以看出，在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后，轨道B和轨道E中写入的数据发生改变，导致第一检测数据和第二检测数据不一致，因此，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。

在一种可能的实现方式中，第一区域的数量可以为多个。计算设备在待测试硬盘的多个第一区域同时写入第一样本数据，然后读取每个第一区域的数据作为第一检测数据。接着在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后，读取每个第一区域的数据作为第二检测数据。在任意一个第一区域对应的第一检测数据和第二检测数据不一致的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。

本申请提供的方法通过对待测试硬盘的多个第一区域进行检测，能够提升检测结果的准确性。

在一种可能的实现方式中，上述方法还包括以下步骤:

S305、在第一检测数据和第二检测数据一致的情况下，确定待测试硬盘不存在信号干扰现象。

具体的，一致，表示完全相同，在第一检测数据和第二检测数据完全相同的情况下，确定待测试硬盘不存在信号干扰现象。

在待测试硬盘不存在信号干扰现象的情况下，在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后，第一样本数据对应的邻轨和远轨写入的数据不会发生改变，进而第一检测数据和第二检测数据一致，因此，在第一检测数据和第二检测数据一致的情况下，确定待测试硬盘不存在信号干扰现象。

示例性的，结合图5和图7所示的第一区域分别对应的第一检测数据和第二检测数据。可以看出，在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后，轨道A、B、D和E中写入的数据均未发生改变，此时计算设备读取的第一检测数据和第二检测数据一致，因此，确定待测试硬盘不存在信号干扰现象。

需要说明的是，本申请实施例提供的方法可以同时对待测试硬盘中的多个第一区域进行检测，在任一第一区域对应的第一检测数据和第二检测数据不一致的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。本申请实施例也可以对待测试硬盘中的多个第一区域中的一个进行检测，在该第一区域对应的第一检测数据和第二检测数据不一致的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。应理解的是，同时检测的第一区域的数量越多，检测准确性越高，即更加全面的待测试硬盘。用户可根据检测需求选择检测待测试硬盘中第一区域的数量，本申请实施例对第一区域的数量不作特别限制。

由S301-S305可知，本申请提供的方法通过在待测试硬盘中确定存储有第二样本数据的第一区域，然后在第一区域中的第一写入位置多次写入小于第二样本数据的第一样本数据，通过比较在第一样本数据重复写入前后，第一区域中已写入的第二样本数据的变化，进而能够实现对硬盘的信号干扰现象进行检测，一方面，能够消除信号干扰现象导致的磁记录面的数据存储密度降低，另一方面，能够避免硬盘中写入的数据丢失。

可以理解的是，在待测试硬盘出现信号干扰现象时，有些待测试硬盘的信号干扰现象不严重，此时对这些待测试硬盘进行更换，导致成本过高，因此，需要对待测试硬盘出现的信号干扰现象的程度进行确定，也可以理解为对待测试硬盘的工作状态进行确定。

在一种可能的实现方式中，上述方法还包括：在所述第一检测数据和所述第二检测数据不一致的情况下，确定所述第一检测数据和所述第二检测数据中不一致的字符数量；在所述字符数量超过预设阈值的情况下，确定所述待测试硬盘的工作状态为异常。在所述字符数量未超过预设阈值的情况下，确定所述待测试硬盘的工作状态为正常。

具体的，预设阈值可以根据第一检测数据的数据量确定，例如，预设阈值可以为第一检测数据的字符总量的一半。在第一检测数据的字符总量为100的情况下，预设阈值为50。

需要说明的是，以上对于预设阈值的解释仅为示例性说明，本申请实施例对预设阈值的具体设置方式不作特别限制。

在另一种可能的实现方式中，上述方法还包括：在所述第一检测数据和所述第二检测数据不一致的情况下，确定所述第一检测数据和所述第二检测数据中不一致的字符数量，在第一检测数据和第二检测数据中不一致的字符数量占第一检测数据中字符总量的比值超过预设阈值的情况下，确定待测试硬盘的工作状态为异常。在第一检测数据和第二检测数据中不一致的字符数量占第一检测数据中字符总量的比值未超过预设阈值的情况下，确定待测试硬盘的工作状态为正常。

本申请提供的方法根据第一检测数据和第二检测数据中不一致的字符数量确定待测试硬盘的工作状态，一方面，将信号干扰现象较为严重的待测试硬盘的工作状态确定为异常，并提示用户进行更换，避免影响用户的使用体验，另一方面，对信号干扰现象不严重的待测试硬盘的工作状态确定为正常，避免用户由于频繁更换硬盘导致成本过高，影响用户的使用体验。

在一种可能的实现方式中，上述方法还包括：对上述待测试硬盘进行多次检测，确定在第一检测数据和第二检测数据中不一致的字符数量超过预设阈值的次数，在该次数超过预设次数的情况下，确定待测试硬盘的工作状态为异常。示例性的，对待测试硬盘进行5次测试，在第一检测数据和第二检测数据中不一致的字符数量超过预设阈值的次数为4次，超过预设次数2次，确定待测试硬盘的工作状态为异常。

本申请提供的方法通过对待测试硬盘进行多次检测，能够避免单次检测的误差对检测结果造成的影响，能够提示检测的准确性，进而提升用户体验。

上述主要从方法的角度对本申请实施例的方案进行了介绍。可以理解的是，上述硬盘检测装置为了实现上述功能，其包含了执行各个功能相应的硬件结构和软件模块中的至少一个。本领域技术人员应该很容易意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，本申请能够以硬件或硬件和计算机软件的结合形式来实现。某个功能究竟以硬件还是计算机软件驱动硬件的方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

本申请实施例可以根据上述方法示例对硬盘检测装置进行功能单元的划分，例如，可以对应各个功能划分各个功能单元，也可以将两个或两个以上的功能集成在一个处理单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。需要说明的是，本申请实施例中对单元的划分是示意性的，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。

示例性的，图8示出了本申请实施例提供的一种硬盘检测装置的结构框图。该装置包括写入单元810、读取单元820和处理单元830。写入单元810，用于在待测试硬盘的第一区域中的第一写入位置写入第一样本数据，第一区域预先写入有第二样本数据；第一样本数据的大小小于第二样本数据的大小；读取单元820，用于读取第一区域的数据，作为第一检测数据；读取单元820，还用于在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后，读取第一区域的数据，作为第二检测数据；处理单元830，用于在第一检测数据和第二检测数据不一致的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。例如，结合图3，写入单元810可以用于执行如图3所示的步骤S301和S303，读取单元820可以用于执行如图3所示的步骤S302。处理单元830可以用于执行如图3所示的步骤S304。

可选的，第一写入位置位于第一区域的中心位置。

可选的，处理单元830，还用于均衡的在待测试硬盘上确定第一区域；在第一区域写入第二样本数据，第一区域的容量大小等于第二样本数据的大小。

可选的，处理单元830，具体用于根据待测试硬盘的存储容量确定多个等分的容量点；根据多个等分的容量点在待测试硬盘上确定第一区域。

可选的，处理单元830，还用于在第一检测数据和第二检测数据一致的情况下，确定待测试硬盘不存在信号干扰现象。

可选的，第一区域的数量为多个；可选的，处理单元830，具体用于在任意一个或多个第一区域对应的第一检测数据和第二检测数据不一致的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。

可选的，处理单元830，还用于在第一检测数据和第二检测数据不一致的情况下，确定第一检测数据和第二检测数据中不一致的字符数量；在字符数量超过预设阈值的情况下，确定待测试硬盘的工作状态为异常。

可选的，处理单元830，还用于在字符数量未超过预设阈值的情况下，确定待测试硬盘的工作状态为正常。

可选的，在待测试硬盘中写入数据的操作基于输入输出IO存储测试软件中的数据写入工具实现。

可选的，在待测试硬盘中读取数据的操作基于数据读取工具实现。

关于上述可选方式的具体描述可以参见前述的方法实施例，此处不再赘述。此外，上述提供的任一种硬盘检测装置的解释以及有益效果的描述均可参考上述对应的方法实施例，不再赘述。

本申请实施例还提供了一种计算设备，包括：处理器和通信接口，处理器通过通信接口与待测试硬盘连接；处理器用于：在待测试硬盘的第一区域中的第一写入位置写入第一样本数据，第一区域预先写入有第二样本数据；第一样本数据的大小小于第二样本数据的大小，第一样本数据与第二样本数据不同；读取第一区域的数据，作为第一检测数据；处理器，还用于在第一写入位置重复多次写入第一样本数据后，读取第一区域的数据，作为第二检测数据；在第一检测数据和第二检测数据不一致的情况下，确定待测试硬盘存在信号干扰现象。处理器还用于在第一检测数据和第二检测数据一致的情况下，确定待测试硬盘不存在信号干扰现象。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有至少一条计算机指令，该至少一条计算机指令由处理器加载并执行以实现如上各个实施例的资源配置方法。关于上述提供的任一种计算机可读存储介质中相关内容的解释及有益效果的描述，均可以参考上述对应的实施例，此处不再赘述。

本申请实施例还提供了一种芯片。该芯片中集成了用于实现上述硬盘检测装置的功能的控制电路和一个或者多个端口。可选的，该芯片支持的功能可以参考上文，此处不再赘述。本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可通过程序来指令相关的硬件完成。的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中。上述提到的存储介质可以是只读存储器，随机接入存储器等。上述处理单元或处理器可以是中央处理器，通用处理器、特定电路结构(application specific integrated circuit，ASIC)、微处理器(digital signal processor，DSP)，现场可编程门阵列(field programmable gatearray，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件、硬件部件或者其任意组合。

本申请实施例还提供了一种包含指令的计算机程序产品，当该指令在计算机上运行时，使得计算机执行上述实施例中的任意一种方法。该计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本申请实施例的流程或功能。计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络或者其他可编程装置。计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或者数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(digital subscriber line，DSL))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可以用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。可用介质可以是磁性介质(例如，软盘、硬盘、磁带)，光介质(例如，DVD)，或者半导体介质(例如SSD)等。

应注意，本申请实施例提供的上述用于存储计算机指令或者计算机程序的器件，例如但不限于，上述存储器、计算机可读存储介质和通信芯片等，均具有非易失性(non-transitory)。本领域技术人员应该可以意识到，在上述一个或多个示例中，本申请实施例所描述的功能可以用硬件、软件、固件或它们的任意组合来实现。当使用软件实现时，可以将这些功能存储在计算机可读存储介质中或者作为计算机可读存储介质上的一个或多个指令或代码进行传输。计算机可读存储介质包括计算机存储介质和通信介质，其中通信介质包括便于从一个地方向另一个地方传送计算机程序的任何介质。存储介质可以是通用或专用计算机能够存取的任何可用介质。

以上所述仅为本申请的可选实施例，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。