制造管理系统以及制造管理方法

技术领域

本发明涉及关于薄膜卷的制造管理系统以及制造管理方法。

背景技术

液晶显示装置逐渐被用于大画面电视、大型监视器，随之，液晶显示装置的显示面所使用的薄膜(film)也被要求宽幅化。例如，期望2000mm宽度以上的宽幅的薄膜。另外，为了预先观察基材损耗(薄膜损耗)、以及实现输送成本的降低，要求制造卷长也在1000m以上、进而3000m以上的长尺寸的薄膜卷。

在制造薄膜卷时，在将长尺寸的树脂薄膜呈卷状卷绕时，由于薄膜的状态(膜厚偏差、残余应力、制造工序的温度、湿度)、卷绕的条件(张力、速度、伴随空气)，产生各种缺陷。作为薄膜中的缺陷，例如有由薄膜彼此的粘连而导致的卷的周向上的较暗的条纹状的不良(卡带(gauge band))、周向上的条纹状的变形(纵向褶皱)、倾斜方向的变形(斜向褶皱)等。

作为检测制造工序中的薄膜卷的缺陷的方法，在专利文献1中公开了基于反射光来检测偏振膜的缺陷的检查装置。

先行技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2003-344301号公报

发明内容

发明要解决的课题

但是，这样的薄膜卷的缺陷不仅在制造时发生，在其后也会发生。即，由于制造之后到出厂被长期保管，或者直到在对顾客交货之后被使用为止被长期保管，从而存在由于薄膜基材的自重而在薄膜卷整体中产生由挠曲等导致的各种缺陷的情况。此外，缺陷的产生状况有时也受到从制造到使用为止的薄膜卷的保管环境、输送时环境(温湿度、振动、冲击等)的影响。

本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于防止使用薄膜卷的薄膜进行制造的产品产生不良。

用于解决课题的手段

本发明的上述目的通过下述的手段来实现。

(1)一种制造管理系统，具备：

一个以上的检查部，对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查，生成检查数据；

第一信息获取部，获取第一缺陷信息，该第一缺陷信息是在刚制造后的产品检查时对所述薄膜卷的、基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的；

第二信息获取部，获取在从所述薄膜卷抽出薄膜并制造具备所述薄膜的产品时对基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息；以及

卷绕条件设定部，根据所述第一缺陷信息和所述第二缺陷信息，判断所述薄膜卷的状态变化，并基于判断出的状态变化来设定所述薄膜卷的制造时的卷绕条件。

(2)根据上述(1)所述的制造管理系统，所述卷绕条件是卷绕张力、通过滚花处理而形成的滚花高度、以及按压卷绕到所述薄膜卷之前的薄膜的接触辊的接触压力中的至少一个。

(3)根据上述(1)或(2)所述的制造管理系统，其中，

还具备第三信息获取部，该第三信息获取部获取温湿度数据和/或加速度数据，作为从制造所述薄膜卷后直至制造具备该薄膜卷的所述薄膜的产品为止的期间的输送时的环境信息，

所述卷绕条件设定部基于所述环境信息和所述状态变化，设定所述卷绕条件。

(4)一种制造管理系统，具备：

一个以上的检查部，对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查，生成检查数据；

第一信息获取部，获取第一缺陷信息，该第一缺陷信息是在刚制造后的产品检查时对所述薄膜卷的、基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的；

第二信息获取部，获取在从所述薄膜卷抽出薄膜并制造具备所述薄膜的产品时对基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息；以及

包装条件设定部，根据所述第一缺陷信息和所述第二缺陷信息，判断所述薄膜卷的状态变化，并基于判断出的状态变化，设定包装制造后的所述薄膜卷时的包装条件。

(5)根据上述(4)所述的制造管理系统，其中，

所述包装条件是包装所述薄膜卷的包装素材的材质、包装度、以及有无与被包装的薄膜卷同封的除湿剂或除湿剂的量的至少任一个。

(6)根据上述(4)或上述(5)所述的制造管理系统，其中，

还具备第三信息获取部，该第三信息获取部获取温湿度数据和/或加速度数据，作为从制造所述薄膜卷后直至制造具备该薄膜卷的所述薄膜的产品为止的期间的输送时的环境信息，

所述包装条件设定部基于所述环境信息和所述状态变化，设定所述包装条件。

(7)一种制造管理系统，具备：

一个以上的检查部，对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查，生成检查数据；

第一信息获取部，获取第一缺陷信息，该第一缺陷信息是在刚制造后的产品检查时对所述薄膜卷的、基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的；

第二信息获取部，获取在从所述薄膜卷抽出薄膜并制造具备所述薄膜的产品时对基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息；

计算结果信息生成部，根据所述第一缺陷信息和所述第二缺陷信息，计算所述薄膜卷的状态变化，并生成计算结果信息；以及

显示部，显示所述计算结果信息，

所述第一缺陷信息以及所述第二缺陷信息分别与相同薄膜卷的表面的对应的多个检查位置对应，并且所述第一缺陷信息以及所述第二缺陷信息是多个，

所述计算结果信息是在每个对应的检查位置上计算状态变化而得到的信息，

显示于所述显示部的所述计算结果信息是按状态变化的变化量多的检查位置顺序排列而被显示的计算结果信息、或者是根据变化量的大小以多段不同的显示方式被显示的计算结果信息。

(8)根据上述(7)所述的制造管理系统，其中，

还具备第三信息获取部，该第三信息获取部获取温湿度数据和/或加速度数据，作为从制造所述薄膜卷后直至制造具备该薄膜卷的所述薄膜的产品为止的期间的输送时的环境信息，

所述显示部将所述环境信息与所述计算结果信息一起显示。

(9)一种制造管理系统，具备：

检查部，对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查，生成检查数据；

第一信息获取部，获取第一缺陷信息，该第一缺陷信息是在刚制造后的产品检查时对所述薄膜卷的、基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的；

第二信息获取部，获取在从所述薄膜卷抽出薄膜并制造具备所述薄膜的产品时对基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息；以及

热处理条件设定部，根据所述第一缺陷信息和所述第二缺陷信息，判断所述薄膜卷的状态变化，并基于判断出的状态变化，设定制造具备所述薄膜的产品时的、从所述薄膜卷抽出后的对薄膜的热处理条件。

(10)根据上述(9)所述的制造管理系统，其中，

还具备第三信息获取部，该第三信息获取部获取温湿度数据和/或加速度数据，作为从制造所述薄膜卷后直至制造具备该薄膜卷的所述薄膜的产品为止的期间的输送时的环境信息，

所述热处理条件设定部基于所述环境信息和所述状态变化，设定所述热处理条件。

(11)一种制造管理方法，执行包括如下步骤的处理：

获取第一缺陷信息的步骤(a)，该第一缺陷信息是在通过对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查的检查部在刚制造后的产品检查时对所述薄膜卷的基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的；

获取在从所述薄膜卷抽出薄膜并制造具备所述薄膜的产品时对基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息的步骤(b)；

根据所述第一缺陷信息和所述第二缺陷信息，判断所述薄膜卷的状态变化，并根据判断出的状态变化，设定所述薄膜卷的制造时的卷绕条件的步骤(c)。

(12)一种制造管理方法，执行包括如下步骤的处理：

获取第一缺陷信息的步骤(a)，该第一缺陷信息是在通过对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查的检查部在刚制造后的产品检查时对所述薄膜卷的基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的；

获取在从所述薄膜卷抽出薄膜并制造具备所述薄膜的产品时对基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息的步骤(b)；以及

根据所述第一缺陷信息和所述第二缺陷信息，判断所述薄膜卷的状态变化，并根据判断出的状态变化，设定包装制造后的所述薄膜卷时的包装条件的步骤(c)。

(13)一种制造管理方法，执行包括如下步骤的处理：

获取第一缺陷信息的步骤(a)，该第一缺陷信息是在通过对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查的检查部在刚制造后的产品检查时对所述薄膜卷的基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的；

获取在从所述薄膜卷抽出薄膜并制造具备所述薄膜的产品时对基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息的步骤(b)；

根据所述第一缺陷信息和所述第二缺陷信息，计算所述薄膜卷的状态变化，生成计算结果信息的步骤(c)；

将所述计算结果信息显示于显示部的步骤(d)，

在所述步骤(a)中获取的所述第一缺陷信息以及在所述步骤(b)中获取的所述第二缺陷信息分别与相同薄膜卷的表面的对应的多个检查位置对应，并且所述第一缺陷信息以及所述第二缺陷信息是多个，

所述计算结果信息是在每个对应的检查位置上计算状态变化而得到的信息，

在所述步骤(d)中，显示于所述显示部的所述计算结果信息是按状态变化的变化量多的检查位置顺序排列而被显示的计算结果信息、或者是根据变化量的大小以多段不同的显示方式被显示的计算结果信息。

(14)根据上述(13)所述的制造管理方法，其中，

还包括：获取温湿度数据和/或加速度数据，作为从制造所述薄膜卷后直至制造具备该薄膜卷的所述薄膜的产品为止的期间的输送时的环境信息的步骤(e)，

在所述步骤(d)中，将所述环境信息与所述计算结果信息一起显示于所述显示部。

(15)一种制造管理方法，执行包括如下步骤的处理：

获取第一缺陷信息的步骤(a)，该第一缺陷信息是在通过对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查的检查部在刚制造后的产品检查时对所述薄膜卷的基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的；

获取在从所述薄膜卷抽出薄膜并制造具备所述薄膜的产品时对基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息的步骤(b)；以及

根据所述第一缺陷信息和所述第二缺陷信息，判断所述薄膜卷的状态变化，并基于判断出的状态变化，设定制造具备所述薄膜的产品时的、从所述薄膜卷抽出后的对薄膜的热处理条件的步骤(c)。

发明效果

本发明涉及的制造管理系统具备：一个以上的检查部，对在芯上卷绕薄膜而成的薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查，生成检查数据；第一信息获取部，获取在刚制造后的产品检查时对所述薄膜卷的基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的第一缺陷信息；第二信息获取部，获取从所述薄膜卷抽出薄膜并制造具备所述薄膜的产品时对基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息；以及卷绕条件设定部，根据所述第一缺陷信息和所述第二缺陷信息，判断所述薄膜卷的状态变化，根据判断出的状态变化，设定所述薄膜卷的制造时的卷绕条件。由此，能够防止使用薄膜卷的薄膜进行制造的产品发生不良。

附图说明

图1是表示薄膜卷的制造工序以及关于第一缺陷信息的检查部的检查位置的示意图。

图2是图1的制造工序的卷绕装置周边的放大示意图。

图3是表示使用薄膜卷的产品的制造工序以及关于第二缺陷信息的检查部的检查位置的示意图。

图4A是表示检查部的构成的概略图。

图4B是用于说明光源及相机的配置的图。

图4C是检查部中的光源以及相机的配置例。

图4D是表示光源以及相机相对于卷状的薄膜的位置关系的立体图。

图4E是用于说明防止反射板的配置的图。

图4F是表示基于解析部的缺陷解析处理的流程图。

图5是制造管理系统的框图。

图6A是表示制造管理方法的处理的流程图。

图6B是表示第一实施方式中的接着图6A执行的处理的流程图。

图7A是根据第一检查数据和第一检查数据而生成的第一缺陷信息的例子。

图7B是根据第二检查数据以及第二检查数据而生成的第二缺陷信息的例子。

图7C是根据第一、第二缺陷信息而生成的状态变化的例子。

图8是表示第二实施方式中接着图6A执行的处理的流程图。

图9是表示第三实施方式中的接着图6A执行的处理的流程图。

图10是表示第四实施方式中接着图6A执行的处理的流程图。

附图标记说明

3000制造管理系统；30控制装置；311获取部；312存储部；315卷绕条件设定部；316包装条件设定部；317计算结果信息生成部；318热处理条件设定部；32操作显示部(显示部)；85环境信息存储部；90、90-1、90-2检查部；1000薄膜卷制造装置；2000产品制造装置。

具体实施方式

下面，参照附图，对本发明的实施方式进行说明。但是，本发明的范围并不限定于所公开的实施方式。此外，在附图的说明中，对相同的要素标注相同的附图标记，省略重复的说明。另外，为了便于说明，附图的尺寸比率被夸张，有时与实际的比率不同。

首先，参照图1、图2，对本实施方式中的获取关于第一缺陷信息的检查数据的薄膜卷80的制造工序进行说明。接着，参照图3，对抽出该薄膜卷80并具备薄膜卷的产品的产品制造工序进行说明。

(薄膜卷的制造工序)

在制造工序中，在产品检查时，通过检查部90(第一检查部90-1)对薄膜卷80的薄膜面侧进行光学检查，生成检查数据。以下，将通过薄膜卷80的制造工序中的检查得到的检查数据称为第一检查数据。图1是表示薄膜卷80的制造工序及关于第一缺陷信息的检查部90的检查位置的示意图。如后所述，第一缺陷信息是通过解析第一检查数据而生成的(后述的图6A等)。

图1的薄膜卷制造装置1000通过溶液流延方式制造光学薄膜。所制造的光学膜的薄膜卷80在产品检查时通过检查部90被检查。

溶液流延方式是如下的方法：将原料的树脂溶解于溶剂并根据需要向其中添加增塑剂、紫外线吸收剂、防止劣化剂、润滑剂、剥离促进剂等各种添加剂而制备的涂料，在无限移动的环状的金属支承体(例如带或滚筒)之上从模具喷出，流延后，在环状支承体上将溶剂去除至某种程度后，从环状支承体剥离，接着通过各种输送单元通过干燥部而去除溶剂，卷绕于卷绕轴上。

如图1所示，薄膜卷制造装置1000具有流延部01、第一干燥部02、延伸部03、第二干燥部04、滚花形成部05和卷绕回收部06(也称为卷绕装置)。在薄膜卷制造装置1000中，在卷绕回收部06被配置检查部90。检查部90对薄膜卷80的薄膜面侧进行光学检查，生成第一检查数据。关于检查部90的构成，将在后面叙述(图4A～图4E)。在图1中箭头表示薄膜等的输送方向(图2、图3等相同)。

流延部01具有：无端移动(图中的箭头方向)的无端支承体的镜面带状金属流延带(以下称为带)01a；以及使将树脂溶解于溶剂而成的涂料流延至带01a的模具01b。另外，为了使从模具01b流出的涂料膜稳定，也可以在相对于模具01b的带的传送方向的上游侧配置减压室(未图示)，在下游侧配置加压室(未图示)。

01d表示在带01a中流延形成并将流延膜01c剥离的剥离辊，F8a表示被剥离的未延伸薄膜。

第一干燥部02(第一干燥工序)具有：具有干燥风入口02b和排出口02c的干燥箱02a、以及通过输送未延伸薄膜F8a的上下一组而由多组构成的输送辊02d。

通过第一干燥部02能够进行进入延伸部03(延伸工序)前的未延伸薄膜F8a中包含的溶剂量的调整，可根据需要适当设置。

延伸部03具有MD(Machine Direction，机械方向(纵向))延伸部03a以及TD(Transverse Direction，横向)延伸部03b。延伸部03对从第一干燥部02输送来的未延伸薄膜F8a进行延伸。

第二干燥部04(第二干燥工序)与第一干燥部02的基本结构相同，因此省略说明。

在卷绕回收部06(卷绕回收工序)将从第二干燥部404输送来的延伸薄膜F8卷绕于卷绕轴之前，滚花形成部05在延伸薄膜F8的两端形成滚花。另外，形成滚花的位置优选为，在将用配设在滚花形成部05的上游侧的TD延伸部303b把持的延伸薄膜F8的两端切除后，在延伸薄膜F8的两端形成滚花。

卷绕回收部06具有：卷绕由滚花形成部05在两端形成滚花的延伸薄膜F8的卷绕机06a、伴随空气量控制装置06b、用于检测延伸薄膜F8的行走速度的接触或非接触式的线性编码器06c、卷绕轴转速测定仪06d、张力控制装置06e、以及厚度测定装置6f。

如本图所示，将在流延部01中原料的树脂溶解于溶剂，根据需要向其中加入增塑剂、紫外线吸收剂、防止劣化剂、润滑剂、剥离促进剂等各种添加剂而制备的涂料，在无限移动的无接头带01a上从模具01b喷出，将经流延形成的流延膜在无端支承体上除去至某种程度后，从带剥离，接着通过各种输送单元通过干燥部、延伸部03，在两端部形成滚花后，在卷绕回收部06上卷绕于卷绕轴，由此制造光学膜。

考虑生产率、品质等，如图1、图2所示的所制造的光学膜的宽度优选为1000mm至2500mm。

考虑到质量、处理等，厚度优选为15μm至50μm。

考虑到生产率、卷绕品质等，卷绕在卷绕轴82(参照图2，卷绕轴也成为芯)上的薄膜卷8的延伸薄膜F8的长度优选为2000m至8000m。卷绕长度表示根据速度和时间而算出的值。

图2是表示滚花形成部05和卷绕回收部06的放大示意图。

在滚花形成装置05a中，包括具有按压单元501c的凹凸面的滚花形成辊501a和支承辊501b为一对。通过将延伸薄膜F8夹在滚花形成辊501a和支承辊501b之间，从而在延伸薄膜F8的两端形成滚花。滚花形成辊501a能够通过按压单元501c向上下方向(图中的箭头方向)移动。按压单元501c的移动量(按压量)由控制装置07(参照后述的图5)控制。

控制装置07具有存储器、CPU、以及输入输出I/F。在控制装置07中，在输入到CPU的信息与预先输入到存储器的信息之间进行运算处理，确定按压单元501c的移动量(按压量)，确定滚花形成辊501a的移动量(按压量)。当滚花形成辊501a的移动量(按压量)变大时，所形成的滚花的高度变高，当滚花形成辊501a的移动量(按压量)变小时，所形成的滚花的高度变低。

另外，在滚花形成部05的延伸薄膜F8的输送方向上游侧具有TD延伸部(未图示)的情况下，优选在切除通过TD延伸部(未图示)把持的延伸薄膜F8的两端之后，在延伸膜的两端形成滚花。

作为滚花形成装置05a，在该图中示出了利用按压辊和支承辊的方式，但除了该方法以外，例如可列举喷墨方式、激光方式等。

在本发明中，滚花形成装置可以采用任何方法，例如在喷墨方式的情况下，控制来自喷墨头的滚花形成材料的喷出量。另外，在激光方式的情况下，控制激光输出。

伴随空气量控制装置06b具有：接触辊602a，其与卷绕在卷绕轴82上的延伸薄膜F8接触而进行按压；按压量控制装置602b，其控制接触辊602a的按压量，伴随空气量控制装置06b通过调整按压，能够调整伴随空气量。按压量控制装置602b被配设在接触辊602a的两端。

接触辊与张力控制(输送张力)的关系在文献((J.K.Good Modeling，Nip InducedTension in Wound Rolls)Proceedings of Forth International Conference on WebHandling，1997)中的、

基于TW(卷绕张力)＝Th(输送张力)+μN(μ：摩擦系数N：接触压力)的想法，能够设定不产生故障的优选卷绕中的半径方向应力、圆周方向应力。

作为材质，能够使用金属或在金属辊的周围卷绕树脂、橡胶等而成的材质。另外，也可以使用随着从宽度中央部朝向侧方而使直径变化的冠形辊(crown role)。作为芯材，能够使用AL、铁、CFRP(carbon fiberreinforced plastics：碳纤维复合材料)。

张力控制装置06e具有张力控制器605a和张力控制器605a的移动单元605b。张力控制装置06e能够根据在回收部6中的卷绕轴82上卷绕的延伸薄膜F8的变化，使张力控制器605a的位置移动(图中的箭头方向)。一般而言，设定为初始张力设定值t1时，设定为最初卷绕时降低张力(设定值t1)，随着卷绕直径变大，张力变高(设定值t1+α)。张力设定值t1根据由卷绕条件设定部315设定的卷绕条件而被变更。

另外，本图对带有延伸薄膜F8进行了说明，但未配设延伸装置的情况当然也可以是未延伸膜的情况。

(使用薄膜卷的产品的制造工序)

接着，参照图3对本实施方式中的具备获取与第二缺陷信息相关的检查数据的薄膜卷80的产品(以下，简称为产品)的制造工序进行说明。在产品的制造工序中，从薄膜卷80抽出薄膜F8，制造产品时，通过检查部90(第二检查部90-2)对薄膜卷80的薄膜面侧进行光学检查，生成检查数据。该第二检查部90-2是具有与制造图1的薄膜卷80时使用的第一检查部90-1相同的检查性能的检查装置。在这种情况下，第一检查部90-1和第二检查部90-2也可以公共使用同一个体(装置)，也可以使用相同性能的分别单独的检查部90。以下，将从薄膜卷80抽出薄膜F8、在具备该薄膜F8的产品的制造工序中的检查得到的检查数据也称为第二检查数据。

图3是表示具备薄膜卷80的层叠偏振膜1的制造工序、以及关于第二缺陷信息的检查部90的检查位置的示意图。如后所述，第二缺陷信息是通过解析第二检查数据而生成的(后述的图6A等)。

图3所示的层叠偏振膜的产品制造装置2000在一个生产线上进行从偏振片的制造到粘接保护膜而得到层叠偏振膜的一系列的工序。

图3所示的制造具备薄膜F8的层叠偏振膜1的产品制造装置2000从上游侧起依次具有湿式处理装置204、干燥装置205以及层压装置206。另外，产品制造装置2000具有抽出部202。在图1、图2的薄膜卷制造装置1000中制造的薄膜卷80被装填于该抽出部202的第三辊部63，从薄膜卷80抽出的膜F8用作第二保护膜13。并且，在产品制造装置2000中，在抽出部202的第三辊部63配置检查部90。检查部90光学检查装填于第三辊部63的薄膜卷80的薄膜面侧，生成第一检查数据。关于检查部90的构成，将在后面叙述(图4A～图4E)。在图1中箭头表示薄膜等的输送方向(图2、图3等相同)。

湿式处理装置204具有：卷绕有长条带状的未处理的亲水性聚合物膜1a的第一辊部41、输送亲水性聚合物膜1a的输送部42、以及处理部。处理部是对未处理的亲水性聚合物膜1a处理二色性物质而使亲水性聚合物膜1a变化为偏振片1b的部分。

干燥装置205具有：输送部51，其输送长条带状的偏振片1b；以及加热部，其对偏振片1b赋予热而对偏振片1b进行干燥。

层压装置206具有输送干燥后的偏振片1c及保护膜12的输送部61、粘结剂涂敷部64、贴合部67、包围上述粘结剂涂敷部64及贴合部67的腔室69。

<湿式处理装置>

湿式处理装置204包括利用染色处理液对长条带状的亲水性聚合物膜1a进行染色并且延伸的处理部。湿式处理包括使包含染色处理液的多个处理液作用于亲水性聚合物膜1a的同时延伸亲水性聚合物膜1a的处理。

湿式处理装置是以往公知的，对于本发明的湿式处理装置204，也能够采用以往公知的结构。

处理部例如从上游侧起依次具有溶胀处理槽4A、染色处理槽4B、交联处理槽4C、延伸处理槽4D和清洗处理槽4E。

湿式处理装置204的输送部42具有多个引导辊等，将卷绕在第一辊部41上的长条带状的亲水性聚合物膜1a拉出，并输送至处理部。

溶胀处理槽4A是容纳有溶胀处理液的处理槽。溶胀处理液使亲水性聚合物膜1a溶胀。染色处理槽4B是容纳有染色处理液的处理槽。染色处理液将亲水性聚合物膜1a染色。交联处理槽4C是容纳有交联处理液的处理槽。交联处理液使染色的亲水性聚合物膜1a交联。延伸处理槽4D是容纳有延伸处理液的处理槽。延伸处理液没有特别限定，例如可以使用含有硼化合物作为有效成分的溶液。清洗处理槽4E是收容有清洗处理液的处理槽。清洗处理液清洗延伸后的亲水性聚合物膜1a。清洗处理液是用于对附着于亲水性聚合物膜1a的染色处理液、交联处理液等处理液进行清洗的处理液。作为清洗处理液，代表性地使用离子交换水、蒸馏水、纯水等水。

<干燥装置>

干燥装置205被设置在湿式处理装置204的下游侧且层压装置206的上游侧。在图示例中，干燥装置205被设置在清洗处理槽4E的下游侧。

干燥装置205既可以为一个，或者也可以沿偏振片的输送方向排列设置两个以上。在图示例中，例如，一个干燥装置205被设置于偏振片的输送路径。干燥装置205具有：输送部51，其具有输送由湿式处理装置204制造的长条带状的偏振片1b的引导辊；以及加热部，其对由输送部51在长度方向(MD方向)上输送的偏振片1b施加热而将其干燥。

加热部例如具有腔室52和热源(未图示)。腔室52具有能够在内部输送偏振片的空间53。

<层压装置>

层压装置206的输送部61具有引导辊等。输送部61将由干燥装置205干燥的长条带状的偏振片1c输送至贴合部67。此外，输送部61将长条带状的保护膜12等向贴合部67输送。

图示例的层叠偏振膜的产品制造装置2000可在偏振片1c的两面分别层叠第一保护膜12及第二保护膜13。根据该装置，可以得到如图3(吹出部)所示那样的、具有第一保护膜12/粘结剂层31/偏振器11/粘结剂层32/第二保护膜13的层结构的层叠偏振膜1。

这样的产品制造装置2000具有：卷绕长条带状的第一保护膜12的第二辊部62；以及卷绕长条带状的第二保护膜13(膜F8)的第三辊部63。第二辊部62的第一保护膜12及第三辊部63的第二保护膜13分别独立地由输送部61从各辊部62、63向贴合部67输送。

粘结剂涂敷部64具有涂敷辊641。粘结剂涂敷部64的涂敷辊641在膜上涂敷粘结剂。粘结剂涂敷部64被配置在贴合部67的上游侧。

在图示例的层压装置206中，粘结剂涂敷部64分别被配置在第一保护膜12的单面侧以及第二保护膜13(膜F8)的单面侧。

能够通过一个粘结剂涂敷部64在第一保护膜12的单面涂敷粘结剂而形成粘结剂层，能够通过另一个粘结剂涂敷部64在第二保护膜13(膜F8)的单面涂敷粘结剂而形成粘结剂层。

此外，根据需要，粘结剂涂敷部也可以被配置在偏振片1c的单面侧和该偏振片1c的另一方的单面侧(未图示)。在设置该未图示的粘结剂涂敷部的情况下，能够在偏振片1c的单面侧和该偏振片1c的另一方的单面侧分别涂敷粘结剂而形成粘结剂层。

另外，分别配置在偏振片1c的单面侧和该偏振片1c的另一方的单面侧的粘结剂涂敷部还能够用于涂敷后述的易粘接组合物。

粘结剂涂敷部64例如具有作为涂敷辊的凹版辊641、存积有粘结剂的容器642以及刮板643。此外，粘结剂涂敷部64也可以根据需要而具有支承辊。支承辊隔着薄膜与凹版辊641对置配置。

凹版辊641在表面形成有多个单元(供粘结剂进入的凹部)。凹版辊641以其表面与储存在容器642内的粘结剂65接触的方式绕轴旋转(用箭头表示凹版辊641的旋转方向)。随着旋转，粘结剂65附着于凹版辊641的包括单元(cell)的表面，多余的粘结剂65通过刮板643被刮落到容器642内。通过使在单元内放入粘结剂的凹版辊641与薄膜接触，从而单元内的粘结剂65被转印到第一保护膜12和第二保护膜13的单面。这样，从凹版辊641向第一保护膜12和第二保护膜13的一面分别呈整面状涂布粘结剂65。

使偏振片1c与第一保护膜12及第二保护膜13粘接的粘结剂没有特别限定，但如上所述优选使用活性能量线固化型粘结剂。作为活性能量线固化型粘结剂，可以使用以往公知的粘结剂。活性能量线固化型粘结剂一般包含活性能量线固化性成分及聚合引发剂，并根据需要而包含各种添加剂。

(抽出部202)

抽出部202具有易粘接处理槽21、清洗处理槽22、热处理槽23。易粘接处理槽21对将第二保护膜13(膜F8)的偏振片11进行粘接的面进行易粘接处理。例如，易粘接处理槽21执行电晕放电处理、等离子体处理等。电晕放电处理通过对在腔室内与第二保护膜13(膜F8)相对配置的线或锯齿状的电极施加高电压来进行。清洗处理槽22具备与上述的清洗处理槽4E同样的结构，是收容有清洗处理液的处理槽。洗净处理液洗净第二保护膜13(膜F8)。热处理槽23具有与干燥装置205同样的结构，加热第二保护膜13(膜F8)进行干燥。另外，根据由制造管理系统3000设定的热处理条件来变更热处理槽23的干燥温度(后述的图10)。

(检查部90)

接着，参照图4A～图4E，对检查部90的构成进行说明。图4A表示检查部90的构成的概略图。图4B是用于说明光源91及相机92的配置的图。检查部90具备光源91、作为光学传感器的相机92、作为数据处理装置的解析部93以及存储部94。检查部90将被卷绕成卷状，对重叠状态的膜F8产生的缺陷进行光学检查。检查部90通过相机92对薄膜卷80的薄膜面侧进行光学检查，生成图像数据作为检查数据(第一、第二检查数据)。解析部93通过解析图像数据，生成缺陷信息(第一、第二缺陷信息)。检查部90将在长条的薄膜F8的卷绕中产生的缺陷作为检查对象。

作为薄膜F8中的缺陷，可举出卡带、纵向褶皱、斜向褶皱等。

卡带是因薄膜F8彼此的粘连而与周围相比看起来发黑的缺陷，是辊的周向上的较暗的条纹状的不良。卡带也称为黑色带、打结。

纵向褶皱是辊的周向的筋状的变形。纵向褶皱也称为灯笼弯曲。

斜向褶皱是相对于辊的周向及宽度方向倾斜的方向的变形，具有棱锥状、链状的凹凸。斜向褶皱也称为金刚石(diamond)弯曲。

光源91向薄膜F8的检查区域照射光。光源91在卷状的薄膜F8的宽度方向(与薄膜F8的长度方向正交的方向，与薄膜面平行的方向)均匀地照射光。在此，均匀是指薄膜F8中的照度在薄膜F8的整个宽度方向上大致相同(最大值与最小值之差为规定值以下等)。

相机92是光学读取薄膜F8的检查区域的光学传感器。相机92是具备CCD(ChargeCoupled Device：电荷耦合器件)、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor：互补金属氧化物半导体)等摄像元件、透镜等，根据各摄像元件的输出信号生成二维图像数据的区域传感器。相机92检测由光源91照射并在薄膜F8的检查区域反射的光中的扩散光。在此，作为相机92，使用黑白相机(单色相机)。

相机92具有遍及薄膜F8的整个宽度方向的拍摄范围，通过一次拍摄，同时读取薄膜F8的宽度方向的整个范围。相机92既可以检测可见光区域的光，也可以检测红外线区域的光。

另外，优选在相机92的输出信号中，与由薄膜F8以上的光源91照射光的照射部对应的信号值和与不被光源91照射光的非照射部对应的信号值的对比度在规定值以上。即，希望只有照射来自薄膜F8上的光源91的光(照射部)才看起来明亮的状态。

对比度由处理对象的两个值(在此，与照射部对应的信号值与与非照射部对应的信号值)的差、比等来表示，两个值越不同，对比度越大。为了增大照射部与非照射部的对比度，优选使用强力且直进性高的光源91。

在此，“强度”是指在将照射距离50mm的照度设为E50时，照度E50为500001x以上。另外，“直进性高”是指在将照射距离50mm的照度设为E50、照射距离100mm的照度设为E100时，满足(E50-E100)/E50<0.5。

解析部93由CPU、RAM等构成，读出在存储部94中存储的各种处理程序并在RAM中展开，通过与该程序的协作进行各种处理。

存储部94由HDD、SSD(Solid State Drive：固态驱动器)等构成，存储各种处理程序、该程序的执行所需的数据等。另外，存储部94将拍摄到的图像数据(检查数据)与拍摄时刻建立关联地存储。在存储部94中，存储有薄膜卷制造装置1000中的卷绕速度(例如100m/min)和产品制造装置2000中的薄膜F8的抽出条件(例如30m/min)。

解析部93通过对相机92(光学传感器)的输出信号进行数据处理，检测薄膜F8的缺陷(种类/位置/强度)。数据处理包括：针对从相机92的输出信号得到的图像数据的图像处理；基于图像处理后的数据来判断缺陷的缺陷判断处理；以及基于图像处理后的数据来定量评价缺陷的定量评价处理。

接着，参照图4B说明光源91及相机92的配置。在观察被光源91照射并被检查对象物(在此为薄膜F8)反射的正反射光的情况下，会观察光源91的亮度成分。由申请人研究的结果可知，在人观察的情况下，利用正反射光难以检测薄膜F8的缺陷。该研究结果在相机92等的机械视觉上也是同样的。当在接受来自光源91的正反射光(亮度成分)的位置P1配置相机92时，相机92基本上拍摄映入光源91的状态的检查对象物(与光源91的姿态重叠的检查对象物)，因此可知不优选检测缺陷。

作为相机92的位置，优选避开接收从光源91照射的光的正反射光的位置P1。另外，作为位置P1的附近的位置P2也几乎不能用于检测缺陷。在此，位置P1的附近是能够受到来自光源91的光的正反射光的影响的范围。相机92优选配置在除位置P1及其附近(位置P2等)以外的位置(位置P3～P6等)、即由检查对象物反射的光中接收扩散光的位置。

此外，如果对检查对象物的表面从低角度拍摄(位置P5、P6等)，则容易产生像差的问题，因此，优选在相机92的拍摄方向与检查对象面所成的角度为规定值以上的位置设置相机92。

接着，参照图4C，对实际的检查部90中的光源91及相机92的配置例进行说明。检查部90在将薄膜F8卷绕成卷状时用相机92拍摄薄膜F8。因此，在卷绕开始时和卷绕结束时，辊的卷绕直径不同。具体而言，如图4C所示，从刚开始卷绕后的薄膜卷80x到卷绕结束时的薄膜卷80y，卷绕直径逐渐变大。优选从薄膜F8的卷绕开始时到卷绕结束时为止，相机92稳定地接收扩散光。

因此，优选设为使卷绕刚开始之后的薄膜卷80x的检查区域位于光源91的照射方向以及相机92的拍摄方向各自的延长线上的配置，且使光源91的正反射光不进入相机92的配置。具体而言，在至少包括从来自光源91的照射光a33刚开始卷绕后接收由薄膜卷80x反射的正反射光a34的位置到来自光源91的照射光a35接收卷绕结束时的由薄膜卷80y反射的正反射光a36的位置的good(好)区域a37中，不配置相机92。另一方面，在good区域a37以外的very good(非常好)区域a38、a39中能够配置相机92。

优选的配置不限于图4C，通过将光源91和相机92靠近地配置，在辊的卷绕开始时和卷绕结束时观察位置(相机92拍摄的位置)的变化变小。并且，如果将光源91和相机92靠近配置，则还具有检查部90的装置本身变得紧凑(小型)的优点。

图4D是表示光源91和相机92相对于卷状的薄膜F8的位置关系的立体图。光源91和相机92靠近配置，卷绕中的薄膜F8的辊表面(重叠状态的薄膜F8)被作为检查对象。

并且，也可以在检查部90设置防止反射板，以使在薄膜F8的检查区域反射的光中的正反射光不进入相机92。

当背景映入相机92的观察范围的膜表面时，成为缺陷判断的精度降低的主要原因。如图4E所示，刚开始卷绕后的薄膜卷80x在卷绕至卷绕结束时的薄膜卷80y期间，卷绕直径最小。因此，在刚开始卷绕后，成为镜面反射的映入的对象的区域(在薄膜表面镜面反射的光进入相机92的区域)变得最大。从相机92向刚开始卷绕后的薄膜卷80x的观察范围的周向上的两端部1A、1B分别引出直线43、44，在该两条直线43、44分别在薄膜表面正反射的方向上称为直线(反射直线)。)45、46。该两条反射直线45、46之间的范围47映入相机92的观察范围内，因此，优选在该范围47上具有防止反射板48。

(缺陷解析处理)

解析部93获取由相机92生成的二维图像数据(检查数据)，将获取的图像数据保存于存储部94。具体而言，解析部93从计时部(未图示)获取当前日期时间作为检查日期时间，并与该检查日期时间相对应地将图像数据存储在存储部94中。通过一次拍摄得到的图像数据以所卷绕的薄膜F8的周向上的区域的一部分作为对象。因此，通过参照所存储的输送速度(卷绕速度或者抽出速度)，与图像数据建立对应的检查日期时间相当于薄膜F8的长边方向上的位置。

解析部93对从相机92获取的图像数据(检查数据)进行数据处理。

图4F是示出解析部93的缺陷解析处理的流程图。解析部93将图像数据在薄膜F8的宽度方向上分割为多个区域(步骤S101)。具体而言，解析部93将图像数据分割为n个(例如几个～几十个)区域a1～an。

接着，解析部93获取区域a1的图像数据(步骤S102)，对区域a1的图像数据进行数学处理(步骤S103)。根据检测对象的缺陷的种类(卡带、纵向褶皱、斜向褶皱等)，准备适合的数学处理。

数学处理包括预处理、增强处理、信号处理、图像特征量提取等。

作为前处理，可举出图像的修整、低通滤波器、高通滤波器、高斯滤波器、中值滤波器、双边滤波器、形态学变换、颜色变换(L*a*b*、sRGB、HSV、HSL)、对比度调整、噪声除去、模糊/模糊图像的复原、掩模处理、霍夫变换、投影变换等。

作为强调处理，可列举Sobel过滤器、Scharr过滤器、Laplacian过滤器、gabor过滤器、canny法等。

作为信号处理，可举出基本统计量(最大值、最小值、平均值、中央值、标准偏差、方差、四分位点)、平方和平方根、差分、和、积、比、求出距离矩阵的处理、微分积分、阈值处理(二值化、自适应二值化等)、傅里叶变换、小波变换、峰值检测(峰值、峰值数、半值宽度等)等。

作为图像特征量提取，可举出模板匹配、SIFT特征量等。

步骤S103的数学处理相当于对图像数据的“图像处理”。

具体而言，在卡带的检测中，使用低通滤波器、高斯滤波器、中值滤波器、形态变换、掩膜处理等的值作为前处理，在信号处理中使用基本统计量、阈值处理。

在纵向褶皱、斜向褶皱中，使用高通滤波器作为预处理，使用Sobel滤波器、gabor滤波器作为强调处理，使用平方和平方根、傅里叶变换、基本统计量等作为信号处理。

接着，解析部93对区域a1的图像数据通过数学处理求出的值(特征量)进行阈值处理(步骤S104)。阈值处理是基于按检测对象的缺陷的种类预先设定的一个或多个阈值，判断是否是检测对象的缺陷，并且决定缺陷的等级(强度)的处理。

在步骤S104的阈值处理中，判断缺陷的存在、缺陷的种类相当于“缺陷判断处理”。此外，在步骤S104的阈值处理中，将按照阈值将缺陷分类为多个等级相当于“定量评价处理”。

例如，对于取1～100值的参数(特征量)，将缺陷分类为多个等级，在参数的值为1～10的情况下取等级1，在11～30的情况下取等级2，在31～60的情况下取等级3，在61～100的情况下取等级4。

对区域a1以外的区域也同样进行处理。例如，对区域an的图像数据进行的步骤S105～步骤S107的处理与步骤S102～步骤S104的处理相同。

在对各区域a1～an的处理之后，解析部93将对各区域a1～an的结果合并(步骤S108)，数据处理结束。具体而言，解析部93生成针对每个区域(每个薄膜F8的宽度方向上的位置)与检测到的缺陷的种类和等级建立对应的数据。

在图4F所示的数据处理中，除了对于在薄膜F8的宽度方向上分割的各区域a1～an的图像数据进行数学处理(步骤S103、S106)之外，也可以在步骤S101的处理之前，对区域分割前的图像数据整体进行数学处理。

在数据处理之后，解析部93将数据处理的处理结果保存于存储部94。可以将处理结果显示在检查部90的显示部(未图示)上。解析部93将在对所保存的图像数据的数据处理中得到的处理结果(在沿宽度方向分割的各区域中检测到的缺陷的种类及等级)，与对应于该图像数据的检查日期时间建立对应，并作为第一或第二缺陷信息存储在存储部94中。以上，膜缺陷检测处理结束。

此外，图4F所示的膜缺陷检测处理是表示与一次拍摄对应的范围的检查的处理。随着所卷绕的薄膜F8的移动，改变薄膜F8的长度方向的检查区域，重复薄膜缺陷检测处理，从而获取薄膜F8的长度方向的各位置的检查结果。

(制造管理系统3000)

接下来，参照图5～图7，对第一实施方式所涉及的制造管理系统3000进行说明。图5是表示制造管理系统3000的结构的框图。

制造管理系统3000除了上述的检查部90之外，还具备控制装置30和操作显示部32。控制装置30由CPU、存储器(RAM、HDD、SSD等)、输入输出I/F、通信部等构成，控制制造管理系统3000整体。操作显示部32由显示器以及输入装置构成，用于各种信息的显示以及各种指示的输入。

(控制装置30)

控制装置30作为第一、第二、第三信息获取部的获取部311、存储部312、卷绕条件设定部315、包装条件设定部316、计算结果信息生成部317、以及热处理条件设定部318发挥功能。

获取部311从检查部90获取与薄膜卷80相关的第一、第二缺陷信息。第一缺陷信息是通过对在薄膜卷制造装置1000的制造工序中获取到的第一检查数据进行解析而生成的缺陷信息，第二缺陷信息是通过对在产品制造装置2000的制造工序中获取到的第二检查数据进行解析而生成的缺陷信息。

在存储部312存储有各种处理程序。并且，在存储部312存储有薄膜卷制造装置1000的制造条件以及产品制造装置2000的制造条件。制造条件包括卷绕条件、包装条件、热处理条件。例如，在存储部312中存储有薄膜卷制造装置1000中的卷绕条件(例如薄膜F8的卷绕速度(例如100m/min)、滚花高度、接触压力)、以及产品制造装置2000中的薄膜F8的抽出条件(例如抽出速度(例如30m/min))、以及热处理条件(热处理槽23的干燥温度(例如80℃))。

(卷绕条件设定部315)

卷绕条件设定部315根据第一缺陷信息和第二缺陷信息，判断薄膜卷80的状态变化。然后，卷绕条件设定部315基于判断出的状态变化，设定制造以后的相同的薄膜卷80时的薄膜卷制造装置1000中的薄膜卷80的制造时的卷绕条件。作为状态变化，例如，在上述的图4F的缺陷检测处理中，是通过定量评价处理评价的参数值(特征量)的差分(或者变化率)或者等级1～等级4的差分(或者变化率)。作为卷绕条件，包括卷绕回收部06的卷绕张力(或输送张力)、接触辊602a的接触压力、滚花形成部05的滚花高度等。卷绕条件设定部315所设定的接触辊602a上的接触压力的优选范围为10～60N/m，更优选范围为20～40N/m。滚花形成部05的滚花高度的优选范围为1～6μm，更优选为2～4μm。

(包装条件设定部316)

包装条件设定部316根据第一缺陷信息和第二缺陷信息来判断薄膜卷80的状态变化。然后，包装条件设定部316基于判断出的状态变化，设定在制造以后的相同的薄膜卷80时的薄膜卷制造后进行的薄膜卷的包装的包装条件。在设定的包装条件中，包括构成直接包装薄膜卷80的包装件以及收纳薄膜卷80的包装箱的包装件的原材料(包装件)、包装度(卷绕张数)、以及有无与包装箱同包装的除湿剂以及除湿剂的量中的至少任一个。例如，能够将包装素材从聚乙烯的片材变更为铝蒸镀片材。另外，包装度能够从单层变为双层，能够从双层变为三层(或者相反地)。包装箱包括架台(支承部件)，在包装箱内，薄膜卷80的卷绕轴82的两端部在由架台固定的状态下被保持在内部。在包装箱内，薄膜卷80的薄膜面被保持为与其他部件非接触的状态。

由包装条件设定部316设定的该包装条件既可以显示于操作显示部32，也可以送至薄膜卷制造装置1000的包装机08。用户通过参照操作显示部32上显示的包装条件，反映在包装机08中使用的包装原材料的变更上，或者进一步反映包装度和除湿剂的量。

(计算结果信息生成部317)

计算结果信息生成部317根据第一缺陷信息和第二缺陷信息计算薄膜卷80的状态变化，生成计算结果信息。并且，操作显示部32显示该计算结果信息。计算结果信息是对应每个检查位置计算状态变化的信息。在操作显示部32所显示的计算结果信息(以下也称为缺陷状态变化列表)中，按状态变化的变化量多的检查位置顺序排列而被显示，或者根据变化量的大小以多段不同的显示方式而被显示。例如，如果是卷绕了3000m的薄膜F8的薄膜卷80，则在宽度方向的检查区域a1～an(也称为检查位置)的各个检查区域中，按照从长度方向的端部(0m)到3000m的每100m对应的检查位置，计算状态变化。而且，在操作显示部32所显示的缺陷状态变化列表中，按照变化量多的检查位置的顺序排列而显示，或者按照能够将变化量多的检查位置、即变化量比阈值多的检查位置识别为其他检查位置的方式进行分色显示。用户通过操作显示部32确认控制装置30生成的计算结果信息，研究薄膜卷制造装置1000中的卷绕条件、包装条件的变更。

(热处理条件设定部318)

热处理条件设定部318根据第一缺陷信息和第二缺陷信息判断薄膜卷80的状态变化。然后，热处理条件设定部318基于判断出的状态变化，设定从制造产品制造装置2000的产品时的薄膜卷80抽出后的膜的热处理条件。热处理条件是抽出部202的热处理槽23的干燥温度。

(环境信息记录部85)

环境信息记录部85具备温湿度传感器851、加速度传感器852、控制部/存储部853以及二次电池等电池854。电池854向各装置供给电力。环境信息记录部85是可移动式的记录装置，与薄膜卷80一起被捆扎在包装箱的内部。温湿度传感器851测量包装箱内的温湿度。加速度传感器852测量给予包装箱的加速度。温湿度及加速度的测量被定期地进行，在运输期间内测量出的记录数据被存储在控制部/存储部853中。例如，薄膜卷80的输送在单独收纳于包装箱的状态下，通过卡车车辆在23℃、55％RH的温湿度环境下进行5天。此外，环境信息记录部85具备USB连接器等的输入输出I/F、或者Bluetooth(注册商标)等的短距离无线通信的通信I/F(均未图示)。

作为第三信息获取部发挥功能的获取部311从环境信息记录部85获取输送时的环境信息。在即将向产品制造装置2000的第三辊部63装填薄膜卷80之前，从与该薄膜卷80同捆(包装)的环境信息记录部85经由通信I/F获取输送中的温湿度及加速度的记录数据。以下，也将该输送中的温湿度的记录数据和/或加速度的记录数据称为环境信息(或输送环境信息)。

输送时的环境信息也可以用于卷绕条件设定部315、包装条件设定部316、计算结果信息生成部317以及热处理条件设定部318的处理。

例如，卷绕条件设定部315根据第一缺陷信息、第二缺陷信息以及输送环境信息判断薄膜卷80的状态变化。并且，卷绕条件设定部315可以基于所判断的状态变化，设定薄膜卷制造装置1000中的薄膜卷80的制造时的卷绕条件。

另外，包装条件设定部316也可以根据第一缺陷信息、第二缺陷信息以及输送环境信息判断薄膜卷80的状态变化，并基于判断出的状态变化设定薄膜卷制造后进行的薄膜卷的包装的包装条件。

另外，也可以在操作显示部32显示计算结果信息生成部317生成的计算结果信息时，一并显示该输送环境信息。

另外，热处理条件设定部318根据第一缺陷信息、第二缺陷信息以及输送环境信息判断薄膜卷80的状态变化。而且，热处理条件设定部318也可以根据判断出的状态变化，设定从制造产品制造装置2000的产品时的薄膜卷80抽出后的膜的热处理条件。

(第一实施方式中的制造管理方法)

接下来，参照图6A、图6B、图7，对第一实施方式中的制造管理方法进行说明。图6A是表示制造管理方法的处理的流程图，图6B是表示第一实施方式中的接着图6A执行的处理的流程图。

(步骤S1)

制造管理系统3000的检查部90(第一检查部90-1)进行刚制造后的薄膜卷80的产品检查，生成第一检查数据。具体而言，检查部90在薄膜卷制造装置1000的卷绕回收工序中，以规定间隔(例如每100m)对薄膜卷80的薄膜面侧进行光学检查，生成图像数据。

(步骤S2)

解析部93对在步骤S1中生成的检查数据进行解析，生成第一缺陷信息。这里的解析处理为图4F所示的解析处理。

(步骤S3)

控制装置30的获取部311从检查部90获取第一缺陷信息。所获取的第一缺陷信息与薄膜卷80的S/N相关联地存储于存储部312。并且，此时，也可以将薄膜卷制造装置1000中的制造条件建立关联并存储第一缺陷信息。图7A是存储于存储部312的第一检查数据以及通过对其进行解析而生成的第一缺陷信息的例子。在图7A的例子中，相对于薄膜卷80的全长3000m，在长度方向以100m间隔(1分间隔)进行检查(拍摄)，记录了针对多种缺陷的定量评价结果。例如，缺陷种类1、2是卡带、纵向褶皱、倾向褶皱等中的任一种。

(步骤S4)

制造管理系统3000的检查部90(第二检查部90-2)从薄膜卷80抽出薄膜，制造具备薄膜F8的产品时进行薄膜卷80的产品检查，生成第二检查数据。具体而言，检查部90以与步骤S1的检查相同的规定间隔(例如每100m)对装填于产品制造装置2000的第三辊部63的薄膜卷80进行光学检查，生成图像数据。

(步骤S5)

解析部93对在步骤S4中生成的检查数据进行解析，生成第二缺陷信息。这里的解析处理与步骤S3同样地是图4F所示的解析处理。

(步骤S6)

控制装置30的获取部311从检查部90获取第二缺陷信息。所获取的第二缺陷信息与薄膜卷80的S/N相关联地存储于存储部312。另外，此时，也可以将产品制造装置2000中的热处理条件建立关联并存储第二缺陷信息。图7B是存储于存储部312的第二检查数据以及通过对其进行解析而生成的第二缺陷信息的例子。图7B中也与图7A同样地，针对薄膜卷80的全长3000m，在长度方向以100m间隔(3分钟间隔)进行检查(拍摄)，记录了针对多种缺陷的定量评价结果。例如，缺陷种类1、2是卡带、纵向褶皱、斜向褶皱等中的任一种。

(步骤S11)

如图6B所示，在此，卷绕条件设定部315根据第一、第二缺陷信息，判断从制造薄膜卷80开始到使用它制造具备该薄膜的产品为止的期间所产生的薄膜卷80的状态变化。例如，在图7A、图7B的例子中，对相同的检查处彼此的相同种类的缺陷信息进行比较，计算变化率或者变化量(差分)，判断是否发生了状态变化。例如，当在任一检查位置或规定以上的检查位置存在规定阈值以上的变化的情况下，卷绕条件设定部315判断为发生了状态变化。

图7C是卷绕条件设定部315计算为从第二缺陷信息中减掉第一缺陷信息并取两者差的状态变化的例子。图7C示出的例子中，关于缺陷种类1(例如卡带的缺陷)，示出与缺陷信息1相比，在缺陷信息2中等级增加，等级恶化。另外，在图7C中，示出了缺陷种类2没有变化。另外，示出了缺陷种类1、2均在X方向(长度方向)以及Y方向(宽度方向)上，缺陷种类1的等级恶化没有偏差。

(步骤S12)

卷绕条件设定部315基于状态变化，如下所述地设定制造薄膜卷时的卷绕条件。所设定的卷绕条件被发送至薄膜制造装置1000，接收到它的控制装置07以后，通过该卷绕条件的设定进行薄膜卷80的制造。或者，该设定值也可以作为推荐值显示于显示部32。这种情况下，用户将薄膜卷制造装置1000中的卷绕条件变更为反映了推荐值的设定，进行以后的薄膜卷80的制造。

(卡带的缺陷)

例如，在缺陷种类1的卡带中，如图7C所示的例子那样，在多数(规定位置以上)的检查位置，与第一缺陷信息相比较，在第二缺陷信息中等级变大的情况(缺陷级别的恶化)下，变更在以后制造相同的薄膜卷80时的以下的至少任一卷绕条件。卷绕条件是上述的卷绕回收部06的卷绕张力(或输送张力)、接触辊602a的接触压力(10～60N/m的范围内)、滚花形成部05的滚花高度(1～6μm的范围内)。

(1-1)降低卷绕张力。例如，在变更后，使卷绕张力为0.8倍。

(1-2)根据等级的增加(恶化)，提高滚压高度。

(1-3)根据等级的增加，降低接触压力。

(1-4)存在宽度方向(Y)的偏差的情况。

在等级的增加位置存在宽度方向上的偏差的情况下(图7C的例子中，在区域a1～an中分布存在偏差的情况下)，变更延伸时的加热条件。例如，在等级增加较多地产生的一端侧，增加施加的热量，使容易产生笼带的缺陷的位置(膜厚)平坦化。

(1-5)存在长度方向(X)的偏差的情况。

在卷芯侧(图7C的例子中检查位置x接近0m的一侧)和卷外侧(图7C的例子中检查位置x接近3000m的一侧)，判断等级增加是否有偏差。

在(1-5-1)卷芯侧等级增加多的情况下，降低初期(卷芯侧)的卷绕张力，越靠外侧，越逐渐复原。

在(1-5-2)卷绕外侧等级增加多的情况下，使滚花高度从卷芯侧向外侧逐渐升高。

(斜向褶皱(链条状的褶皱))

例如，在缺陷种类2的斜向褶皱中，在大量(规定位置以上)的检查位置，与第一缺陷信息相比，等级因第二缺陷信息而变大时(缺陷级别的恶化)，变更以下的至少任一个卷绕条件。

(2-1)提高触摸按压。

(2-2)变更延伸时的加热条件。例如，在发生了较多等级增加的位置，增加施加的热量，使容易产生斜向褶皱的缺陷的位置(膜厚)平坦化。

关于这些1-1～1-5、2-1、2-2，也可以使用预先存储的控制表，根据等级来设定设定值或变更量。例如，该控制表根据等级的增加量或等级的绝对值，定义设定值或变更量。

这样，第一实施方式的制造管理系统具备：一个以上的检查部，对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查，生成检查数据；第一信息获取部，获取第一缺陷信息，该第一缺陷信息是在刚制造后的产品检查时对薄膜卷的、基于检查部的检查数据进行解析而生成的；第二信息获取部，获取在从薄膜卷抽出薄膜并制造具备薄膜的产品时对基于检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息；以及卷绕条件设定部，根据第一缺陷信息和第二缺陷信息，判断薄膜卷的状态变化，并基于判断出的状态变化来设定薄膜卷的制造时的卷绕条件。由此，无论从薄膜卷的制造后到被使用的状况、环境如何，都能够防止使用薄膜卷的薄膜制造的产品产生不良。

(第二实施方式中的制造管理方法)

接下来，参照图8，对第二实施方式中的制造管理方法进行说明。在图8所示的第二实施方式的制造管理方法中，根据从制造开始至使用它为止的薄膜卷的状态变化，设定包装条件。在第二实施方式中，图8示出的以外的结构与第一实施方式相同，省略说明。

图8是表示在第二实施方式中接着图6而执行的处理的流程图。

(步骤S21)

步骤S21的处理是与图6B的步骤S11同样的处理。具体而言，如图8所示，在此，包装条件设定部316根据第一、第二缺陷信息，判断从制造薄膜卷80到使用它制造具备该薄膜的产品为止的期间所产生的薄膜卷80的状态变化。例如，在图7A、图7B的例子中，对相同的检查处彼此的相同种类的缺陷信息进行比较，计算变化率或者变化量(差分)，判断是否发生了状态变化。例如，包装条件设定部316在任一检查位置或规定以上的检查位置存在规定阈值以上的变化的情况下，判断为发生了状态变化。

(步骤S222)

卷绕条件设定部315基于状态变化，设定刚制造薄膜卷后进行的包装条件。

例如，在判断为根据缺陷种类1、2的差异、即状态变化而产生了薄膜F8的贴附的情况下，将包装制造后的薄膜卷80的包装箱的包装原材料从聚乙烯片变更为铝蒸镀片。

这样，第二实施方式的制造管理系统具备：一个以上的检查部，对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查，生成检查数据；第一信息获取部，获取第一缺陷信息，该第一缺陷信息是在刚制造后的产品检查时对薄膜卷的、基于检查部的检查数据进行解析而生成的；第二信息获取部，获取在从薄膜卷抽出薄膜并制造具备薄膜的产品时对基于检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息；以及包装条件设定部，根据第一缺陷信息和第二缺陷信息，判断薄膜卷的状态变化，并基于判断出的状态变化，设定包装制造后的薄膜卷时的包装条件。由此，无论从薄膜卷的制造后到被使用的状况、环境如何，都能够防止使用薄膜卷的薄膜制造的产品产生不良。

(第三实施方式中的制造管理方法)

接下来，参照图9，对第三实施方式的制造管理方法进行说明。在图9所示的第三实施方式的制造管理方法中，根据从制造开始至使用它为止的薄膜卷的状态变化，生成计算结果信息，将其显示于显示部。在第三实施方式中，图9所示的以外的结构与第一实施方式相同，省略说明。

图9是表示在第三实施方式中接着图6执行的处理的流程图。

(步骤S31)

步骤S31的处理是与图6B的步骤S11等相同的处理。具体而言，如图9所示，在此，计算结果信息生成部317根据第一、第二缺陷信息，计算从制造薄膜卷80起至使用它制造具备该薄膜的产品为止的期间所产生的薄膜卷80的状态变化。例如，在图7A、图7B的例子中，计算结果信息生成部317对相同的检查处彼此的相同种类的缺陷信息进行比较，计算变化率或者变化量(差分)。

(步骤S32)

计算结果信息生成部317基于计算出的状态变化，生成显示用的计算结果信息(缺陷状态变化列表)。该计算结果信息是针对每个对应的检查地点计算状态变化的结果。计算结果信息生成部317例如像图7C那样按对应的每个检查位置获取差分。

(步骤S33)

计算结果信息生成部317使操作显示部32显示所生成的计算结果信息。操作显示部32所显示的计算结果信息是按状态变化的变化量多的检查位置顺序排列显示的信息。或者，操作显示部32所显示的计算结果信息是根据变化量的大小以多阶段的不同的显示方式显示的。

例如，如果是图7C的例子，则在差分为0(零)以下的情况下用黑色字符显示，在差分为1的情况下用红色字符显示，差分为2以上用红色字符以及阴影背景显示。或者，按照差分的等级大的检查地方顺序进行排序显示。例如，在图7C的例子中，将变化大的种类1的2900μm的检查地方排列显示在上位。

用户通过参照显示于该操作显示部32的计算结果信息，能够容易地掌握从制造薄膜卷80到使用它制造具备该薄膜的产品为止的期间中产生的薄膜卷80的状态变化的状况，有助于改善薄膜卷制造装置1000和产品制造装置2000的制造条件以及输送时的包装条件。

这样，第三实施方式的制造管理系统具备：一个以上的检查部，对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查，生成检查数据；第一信息获取部，获取第一缺陷信息，该第一缺陷信息是在刚制造后的产品检查时对薄膜卷的、基于检查部的检查数据进行解析而生成的；第二信息获取部，获取在从薄膜卷抽出薄膜并制造具备薄膜的产品时对基于检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息；计算结果信息生成部，根据第一缺陷信息和第二缺陷信息，计算薄膜卷的状态变化，并生成计算结果信息；以及显示部，显示计算结果信息，第一缺陷信息以及第二缺陷信息分别与相同薄膜卷的表面的对应的多个检查位置对应，并且第一缺陷信息以及第二缺陷信息是多个，计算结果信息是在每个对应的检查位置上计算状态变化而得到的信息，显示于显示部的计算结果信息是按状态变化的变化量多的检查位置顺序排列而被显示的计算结果信息、或者是根据变化量的大小以多段不同的显示方式被显示的计算结果信息。

由此，根据从薄膜卷的制造后到被使用的状况，能够有助于改善制造条件等，所以能够防止使用薄膜卷的薄膜制造的产品发生不良。

(第四实施方式中的制造管理方法)

接着，参照图10，对第四实施方式的制造管理方法进行说明。在图10所示的第四实施方式的制造管理方法中，根据从制造开始至使用它为止的薄膜卷的状态变化，生成计算结果信息，将其显示于显示部。在第四实施方式中，图10所示的以外的结构与第一实施方式相同，省略说明。

图10是表示在第四实施方式中接着图6A执行的处理的流程图。

(步骤S41)

步骤S41的处理是与图6B的步骤S11等相同的处理。具体而言，如图10所示，在此，热处理条件设定部318根据第一、第二缺陷信息，计算从制造薄膜卷80到使用它制造具备该薄膜的产品为止的期间所产生的薄膜卷80的状态变化。例如，在图7A、图7B的例子中，对相同的检查处彼此的相同种类的缺陷信息进行比较，计算变化率或者变化量(差分)。

(步骤S42)

热处理条件设定部318基于状态变化，设定制造具备薄膜F8的产品时的、从薄膜卷80抽出后的向薄膜F8的热处理条件。例如，热处理条件设定部318在根据缺陷种类1、2的差异、即状态变化判断为发生了薄膜F8的粘连的情况下，将产品制造装置2000的抽出部202的热处理槽23的干燥温度设定为100℃(例如从80℃变更为100℃)。或者，也可以在热处理槽23的内部设置多个红外线加热器等辅助加热机构，仅对检测到的缺陷位置进行局部加热。

接收它的产品制造装置2000然后通过该热处理条件的设定使抽出部202的热处理槽23动作。或者，该设定值也可以作为推荐值显示于显示部32。这时，用户将产品制造装置2000的抽出部2020的热处理槽23的热处理条件变更为反映了推荐值的设定，进行具备以后的薄膜F8的产品的制造。

这样，第四实施方式的制造管理系统具备：一个以上的检查部，对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查，生成检查数据；第一信息获取部，获取第一缺陷信息，该第一缺陷信息是在刚制造后的产品检查时对薄膜卷的、基于检查部的检查数据进行解析而生成的；第二信息获取部，获取在从薄膜卷抽出薄膜并制造具备薄膜的产品时对基于检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息；以及热处理条件设定部，根据第一缺陷信息和第二缺陷信息，判断薄膜卷的状态变化，并基于判断出的状态变化，设定制造具备薄膜的产品时的、从薄膜卷抽出后的对薄膜的热处理条件。由此，无论从薄膜卷的制造后到被使用的状况、环境如何，都能够防止使用薄膜卷的薄膜制造的产品产生不良。

以上说明的制造管理系统3000的构成是在说明上述实施方式的特征时说明主要构成，不仅限于上述构成，在本发明的保护范围内可以进行各种变更。另外，并不是排除一般的制造管理装置所具备的构成。例如，图6A、图8～图10所示的各实施方式也可以相互组合应用。

并且，在图5所示的例子中，示出了检查部90具备解析部93的例子，但是，也可以使控制装置30侧具有解析部93。在该情况下，获取部311从检查部90获取检查数据(图像数据)，控制装置30的解析部通过对其进行解析而生成缺陷信息。进而，在图5所示的例子中，示出了制造管理系统3000的控制装置30具备卷绕条件设定部315、包装条件设定部316、缺陷计算结果信息生成部317、以及热处理条件设定部318的例子，但也可以省略它们中的几个。另外，在相同的图5所示的例子中，例示了与包装箱一同包装的环境信息记录部85，但也可以从环境信息记录部85省略温湿度传感器851或加速度传感器852的一方，也可以省略环境信息记录部85本身。

另外，上述的实施方式涉及的制造管理系统3000的进行各种处理的单元及方法，能够通过专用的硬件电路或被编程的计算机的任一个来实现。上述程序例如可以由USB存储器、DVD(DigitalVersatile Disc：数字多功能光盘)-ROM等计算机可读取的记录介质提供，也可以经由因特网等网络在线提供。在这种情况下，记录在计算机可读取的记录介质中的程序通常被传送存储于硬盘等存储部。此外，上述程序可以作为单独的应用软件提供，也可以作为一个装置的功能装入该装置的软件中。

本申请基于2022年11月18日申请的日本专利申请(日本特愿2022-184715号)，参照其公开内容，作为整体被引入。