电容式指纹模组测试用底座及电容式指纹模组测试装置

技术领域

本发明属于测试领域，具体涉及一种电容式指纹模组测试用底座及电容式指纹模组测试装置。

背景技术

随着智能科技的发展与进步，指纹识别技术也得到快速发展，而且已广泛应用于移动电话、便携式计算机等移动终端，特别是在手机领域，指纹识别技术已经成为智能手机必不可少的功能配置。近期，随着全面屏智能手机的浪潮涌来，指纹识别技术也得到了革新发展。

在研发及生产活动中，需要对不同芯片进行功能测试，现有的基本上是一种尺寸的模组对应一个治具，测试不同的尺寸的模组需要更换模具，一方面是更换繁琐，另一方面针对研发特别是研发初期的功能测试需求，常常只有单个模组的情况，单个模组开单个治具，造成成本压力大，阻碍了研发的发展。

发明内容

针对上述缺陷，特别是为满足指纹芯片在研发初期的功能测试需求，现提供一种电容式指纹模组测试用底座及电容式指纹模组测试装置，实现不同芯片能通过更换芯片载片或者针模兼容到一套治具的目的，避免专为单个模组开单个治具，降低生产成本，提高电容式指纹芯片的测试效率。该功能测试装置简易，一拖多电容式指纹芯片功能测试。

一方面，本发明提供一种电容式指纹模组测试用底座，所述电容式指纹模组测试用底座包括底座本体，该底座本体中间位置开设有第一阶型腔和第二阶型腔，第二阶型腔位于第一阶型腔的上方，第二阶型腔的水平截面积小于第一阶型腔的水平截面积。

通过此二阶型腔的设计，使得被测试芯片整体被抬高，被测试芯片与手指呈最大面积接触，减轻在测试时由于手指接触周围结构导致的按压变形所造成的影响。

另一方面，本发明还提供一种电容式指纹模组测试装置，包括针模和电路导通元件，所述电容式指纹模组测试装置还包括底座、可更换芯片载块，可更换芯片载块包括载块本体，该载块本体上设置有芯片腔，底座为上述的电容式指纹模组测试用底座，可更换芯片载块位于第二阶型腔内，可更换芯片载块的顶面高于底座本体的顶面，针模位于电容式指纹模组测试用底座的下方，针模通过第一阶型腔与底座本体接触，电路导通元件下端穿出针模，上端穿出可更换芯片载块。

可选地，所述电容式指纹模组测试装置还包括盖板，盖板包括盖板本体，盖板设置有第一凹槽，可更换芯片载块的顶面位于第一凹槽内，盖板位于电容式指纹模组测试用底座的上方，底座本体上还设置有连接部，盖板与电容式指纹模组测试用底座的连接部转动连接。

可选地，所述电容式指纹模组测试装置还包括卡扣。

可选地，所述电容式指纹模组测试装置还包括可更换芯片压片，可更换芯片压片位于盖板与可更换芯片载块之间，可更换芯片压片包括压片基体，该压片基体上设置有与被测试芯片形状相配合的部位。

可选地，所述盖板上还设有第二凹槽，第二凹槽位于第一凹槽的上方，第二凹槽的水平截面大于第一凹槽的水平截面，可更换芯片压片安装在第二凹槽内。

可选地，所述载块本体上还设置有方便取放腔，方便取放腔与芯片腔相连通。

可选地，所述针模上设置有凸台，载块本体的底面上设置有凸台容纳腔，凸台位于该凸台容纳腔腔内。

可选地，所述针模由至少两层的相互独立的针模层组成，凸台设置在针模层的最上面的一层。

可选地，所述电容式指纹模组测试装置还包括伸缩性元件和/或阻燃板，载块本体的底面上还设置有与该伸缩性元件配合的连接位，该伸缩性元件一端与针模连接，另一端与连接位连接；阻燃板设置在针模下方。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于：

本发明的测试装置用于功能测试，不同的芯片只需更换芯片载片即可，无需重新新开治具。

本发明特别适用于芯片研发打样阶段的功能测试、电性能等测试。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新电容式指纹模组测试用底座正放结构示意图；

图2是图1倒放结构示意图；

图3是本发明一种电容式指纹模组测试装置分解结构示意图；

图4是本发明盖板结构示意图；

图5是本发明一种可更换芯片压片结构示意图；

图6是本发明另一种可更换芯片压片结构示意图；

图7是本发明可更换芯片载块倒放结构示意图；

图8是本发明可更换芯片载块倒放结构示意图；

图9是本发明凸台位置结构示意图；

图10是被测试芯片测试前尚未安装在本发明的电容式指纹模组测试装置上的示意图；

图11是被测试芯片测试前已安装在本发明的电容式指纹模组测试装置上的示意图；

图12是测试芯片测试测试工作状态下的示意图。

附图标记说明：电容式指纹模组测试用底座1；底座本体11；第一阶型腔12；第二阶型腔13；连接部14；盖板2；盖板本体21；第一凹槽22；第二凹槽23；可更换芯片载块3；载块本体31；芯片腔32；方便取放腔33；卡扣4；可更换芯片压片5；压片基体51；与被测试芯片形状相配合的部位52；电路导通元件6；伸缩性元件7；阻燃板8；针模9；第一层针模层91；第二层针模层92；凸台93；PCB线路板10；被测试芯片101。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

下面以具体地实施例对本发明的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。

请参考图1和图2，图1为一种电容式指纹模组测试用底座正放结构示意图，图2是图1倒放结构示意图。

一种电容式指纹模组测试用底座1，包括底座本体11，该底座本体11中间位置开设有第一阶型腔12和第二阶型腔13，第二阶型腔13位于第一阶型腔12的上方，第二阶型腔13的水平截面积小于第一阶型腔12的水平截面积。

在一些可能的具体实施方式中，底座本体11上还设置有连接部14，连接部14用于实现翻转。

请参考图3-9，图3为一种电容式指纹模组测试装置分解结构示意图，图4是本发明盖板结构示意图，图5是本发明一种可更换芯片压片结构示意图，图6是本发明另一种可更换芯片压片结构示意图，图7是本发明可更换芯片载块倒放结构示意图，图8是本发明可更换芯片载块倒放结构示意图，图9是本发明凸台位置结构示意图。

一种电容式指纹模组测试装置，包括底座、可更换芯片载块3、针模9和电路导通元件6，底座为图1-2中的电容式指纹模组测试用底座1，可更换芯片载块3包括载块本体31，该载块本体31上设置有芯片腔32，可更换芯片载块3位于第二阶型腔13内，可更换芯片载块3的顶面高于底座本体11的顶面，针模9位于电容式指纹模组测试用底座1的下方，针模9通过第一阶型腔12与底座本体11接触，电路导通元件6下端穿出针模9，上端穿出可更换芯片载块3。

第一阶型腔12与针模9通过螺丝相连；第二阶型腔13形成可更换芯片载块3的竖直方向止挡。通过此二阶型腔的设计，使得可更换芯片载块3安装在电容式指纹模组测试用底座1内部之后，可更换芯片载块3的上表面表面高于电容式指纹模组测试用底座1上表面，从而使得在测试时被测试的芯片整体被抬高，芯片与手指呈最大面积接触，减轻在测试时由于手指接触周围结构导致的按压变形所造成的影响。

需要理解的是，电路导通元件6可以为任何能将被测试芯片与PCB板电路导通的元件。

在一些可能的具体实施方式中，电路导通元件6为可伸缩式金针。

在一些可能的具体实施方式中，载块本体31上还设置有方便取放腔33，方便取放腔33与芯片腔32相连通，方便被测试芯片的取放。

在一些可能的具体实施方式中，电容式指纹模组测试装置还包括盖板2，盖板2包括盖板本体21，盖板2设置有第一凹槽22，可更换芯片载块3的顶面位于第一凹槽22内，盖板2位于电容式指纹模组测试用底座1的上方，盖板2与电容式指纹模组测试用底座1的连接部14通过转轴连接，实现翻转。

在一些可能的具体实施方式中，电容式指纹模组测试装置还包括可更换芯片压片5，可更换芯片压片5位于盖板2与可更换芯片载块3之间，用于将芯片压紧。

在一些可能的具体实施方式中，可更换芯片压片5包括压片基体51，该压片基体51上设置有与被测试芯片形状相配合的部位52。

在一些可能的具体实施方式中，盖板2上还设有第二凹槽23，第二凹槽23位于第一凹槽22的上方，第二凹槽23的水平截面大于第一凹槽22的水平截面，可更换芯片压片5安装在第二凹槽23内。

在一些可能的具体实施方式中，电容式指纹模组测试装置还包括卡扣4，通过卡扣4实现盖板2与电容式指纹模组测试用底座1的扣合。

在一些可能的具体实施方式中，针模9上设置有凸台93，载块本体31的底面上设置有凸台容纳腔34，凸台93位于该凸台容纳腔34腔内。

为降低针模9的加工成本，针模9由至少两层的相互独立的针模层组成，凸台93设置在针模层的最上面的一层。

在一些可能的具体实施方式中，针模9由第一层针模层91和第二层针模层92组成，凸台93设置在第一层针模层91上。

在一些可能的具体实施方式中，为将被测试芯片通过可更换芯片载块3的伸缩与电路导通元件6接触，电容式指纹模组测试装置还包括伸缩性元件7，载块本体31的底面上还设置有与该伸缩性元件7配合的连接位35，该伸缩性元件7一端与针模9连接，另一端与连接位35连接。

在一些可能的具体实施方式中，伸缩性元件7为弹簧。

在一些可能的具体实施方式中，为提高安全性，电容式指纹模组测试装置还包括阻燃板8，阻燃8设置在针模9下方。

请参考图10-12，图10是被测试芯片测试前尚未安装在本发明的电容式指纹模组测试装置上的示意图，图11是被测试芯片测试前已安装在本发明的电容式指纹模组测试装置上的示意图，图12是测试芯片测试测试工作状态下的示意图。

图10-12中，将本发明的电容式指纹模组测试装置安装在PCB线路板10上，测试时，将被测试芯片101安装上，即可以进行功能检测。

可更换芯片载块3通过其带有的金针孔位以及芯片腔32，安装于针模9的正上方且位于电容式指纹模组测试用底座1的中部，且与针模9之间通过弹簧实现在盖板2的扣合时实现芯片通过可更换芯片载块3的压缩与金针接触；金针穿插于针模9、可更换芯片载块3的针孔中间，连接被测试芯片焊盘触点与PCB板10的焊盘，起到电路导通作用；盖板2与电容式指纹模组测试用底座1通过转轴连接，实现翻转，通过卡扣4实现扣合功能。当被测试芯片外形尺寸、焊盘触点位置有所变化时，仅需更换芯片可更换芯片载块3、针模层和可更换芯片压片5，从而实现一托多的电容式指纹芯片测试的目的，验证芯片的电性能等功能，节约成本，提高测试效率。

本发明中，电容式指纹模组测试用底座1中部设置有两阶型腔，第一阶型腔12与针模9相连；第二阶型腔13与可更换芯片载块3在弹簧弹力作用下与其底部四边侧边相接触，形成可更换芯片载块3的竖直方向止挡。安装好后，将电容式指纹模组测试用底座1固定在作为测试板的PCB线路板10上，将被测试芯片101放入可更换芯片载块3中，盖板2扣合后，手指接触被测试芯片101表面，进行测试。当需要测试不同的芯片时，仅需更换可更换芯片载块3即可，无需重新新开治具，可更换芯片压片5也仅需根据芯片不同外形大小只需更换其的外形即可。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应作广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或者两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或者位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或者暗示所指的装置或者元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非是另有精确具体地规定。

本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。