固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法及装置

技术领域

本发明涉及固态硬盘测试技术领域，特别是涉及一种固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

目前，计算机设备已经成为当今人们最具备生成力的实用工具，随着固态硬盘价格的下跌，固态硬盘越来越普及，NVMe SSD简称SSD以其优越的性能更是发展迅猛，各大电脑厂商纷纷将计算机设备中的硬盘做成SSD。在计算机设备出厂之前，均需要对计算机设备中固态硬盘的参数指标进行测试，而其中固态硬盘的异常掉电测试在消费级和企业级测试场景中都尤为重要。

在传统技术中，对固态硬盘的异常掉电测试通常都是在黑盒的系统下进行测试的，由于在测试过程中异常掉电都是在系统不同场景下掉电，比如在系统静置或读写时掉电，无法命中固件后台操作如磨损均衡处理的场景。因此，导致了传统技术中的固态硬盘异常掉电测试覆盖率不够高，不能全面地对固态硬盘进行测试，难以尽早发现待测固态硬盘所存在的故障隐患，进而影响了用户的使用体验。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

一种固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法，所述方法包括：

将待测固态硬盘连接到测试设备中，并获取自动化测试脚本；

根据所述待测固态硬盘的参数对各项测试模块进行设置，所述待测固态硬盘的参数包括固态硬盘容量及产品类型；

运行所述自动化测试脚本，进行磨损均衡触发模块测试；

在磨损均衡测试过程中触发阈值检查模块，判断所述待测固态硬盘的性能在一定时间内是否低于预设的性能阈值，若是则触发了磨损均衡后台操作；

对所述待测固态硬盘进行对应序列的异常掉电测试，待异常掉电测试完成后进行全盘数据比较，并输出全盘数据比较结果。

在其中一个实施例中，所述运行所述自动化测试脚本，进行磨损均衡触发模块测试的步骤还包括：

对所述待测固态硬盘安全擦除，并进行全盘顺序写入；

选择一定覆盖区域持续进行顺序覆盖写入，并记录测试初始阶段的性能平均值作为基准性能；

持续监控待测固态硬盘的每秒顺序写性能。

在其中一个实施例中，所述判断所述待测固态硬盘的性能在一定时间内是否低于预设的性能阈值的步骤包括：

判断连续3s内待测固态硬盘的写性能是否低于基准性能的60％，若是则触发了磨损均衡后台操作，若否则没有触发磨损均衡后台操作。

在其中一个实施例中，所述根据所述待测固态硬盘的参数对各项测试模块进行设置，所述待测固态硬盘的参数包括固态硬盘容量及产品类型的步骤还包括：

根据待测固态硬盘的容量和产品类型设置覆盖写入区间的大小；

根据待测固态硬盘的产品类型设置性能阈值；

根据待测固态硬盘的产品类型设置掉电序列。

一种固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试装置，所述装置包括：

连接模块，所述连接模块用于将待测固态硬盘连接到测试设备中，并获取自动化测试脚本；

设置模块，所述设置模块用于根据所述待测固态硬盘的参数对各项测试模块进行设置，所述待测固态硬盘的参数包括固态硬盘容量及产品类型；

测试模块，所述测试模块用于运行所述自动化测试脚本，进行磨损均衡触发模块测试；

判断模块，所述判断模块用于在磨损均衡测试过程中触发阈值检查模块，判断所述待测固态硬盘的性能在一定时间内是否低于预设的性能阈值，若是则触发了磨损均衡后台操作；

结果输出模块，所述结果输出模块用于对所述待测固态硬盘进行对应序列的异常掉电测试，待异常掉电测试完成后进行全盘数据比较，并输出全盘数据比较结果。

在其中一个实施例中，所述测试模块还用于：

对所述待测固态硬盘安全擦除，并进行全盘顺序写入；

选择一定覆盖区域持续进行顺序覆盖写入，并记录测试初始阶段的性能平均值作为基准性能；

持续监控待测固态硬盘的每秒顺序写性能。

在其中一个实施例中，所述判断模块还用于：

判断连续3s内待测固态硬盘的写性能是否低于基准性能的60％，若是则触发了磨损均衡后台操作，若否则没有触发磨损均衡后台操作。

在其中一个实施例中，所述设置模块还用于：

根据待测固态硬盘的容量和产品类型设置覆盖写入区间的大小；

根据待测固态硬盘的产品类型设置性能阈值；

根据待测固态硬盘的产品类型设置掉电序列。

一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。

上述固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法、装置、计算机设备及存储介质通过将待测固态硬盘连接到测试设备中，并获取自动化测试脚本；根据所述待测固态硬盘的参数对各项测试模块进行设置，所述待测固态硬盘的参数包括固态硬盘容量及产品类型；运行所述自动化测试脚本，进行磨损均衡触发模块测试；在磨损均衡测试过程中触发阈值检查模块，判断所述待测固态硬盘的性能在一定时间内是否低于预设的性能阈值，若是则触发了磨损均衡后台操作；对所述待测固态硬盘进行对应序列的异常掉电测试，待异常掉电测试完成后进行全盘数据比较，并输出全盘数据比较结果。本发明实现了不需要固件额外定制代码增加测试接口即可使黑盒异常掉电测试，并在命中固件后台操作如磨损均衡处理的场景，提高了异常掉电测试的覆盖率，并进一步提高了产品质量。

附图说明

图1为一个实施例中固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法的流程示意图；

图2为另一个实施例中固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法的流程示意图；

图3为再一个实施例中固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法的流程示意图；

图4为又一个实施例中固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法的流程示意图；

图5为一个实施例中固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试装置的结构框图；

图6为一个实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

目前，对固态硬盘的异常掉电测试通常都是在黑盒的系统下进行测试的，由于在测试过程中异常掉电都是在系统不同场景下掉电，比如在系统静置或读写时掉电，无法命中固件后台操作如磨损均衡处理的场景。因此，导致了传统技术中的固态硬盘异常掉电测试覆盖率不够高，不能全面地对固态硬盘进行测试，难以尽早发现待测固态硬盘所存在的故障隐患，进而影响了用户的使用体验。

基于此，本发明提供了一种固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法，旨在不需要固件额外定制代码增加测试接口的情况下，即可实现黑盒异常掉电测试，并命中固件后台操作如磨损均衡处理的场景，以提高产品质量。

在一个实施例中，如图1所示，提供了一种固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法，该方法包括：

步骤102，将待测固态硬盘连接到测试设备中，并获取自动化测试脚本；

步骤104，根据待测固态硬盘的参数对各项测试模块进行设置，待测固态硬盘的参数包括固态硬盘容量及产品类型；

步骤106，运行自动化测试脚本，进行磨损均衡触发模块测试；

步骤108，在磨损均衡测试过程中触发阈值检查模块，判断待测固态硬盘的性能在一定时间内是否低于预设的性能阈值，若是则触发了磨损均衡后台操作；

步骤110，对待测固态硬盘进行对应序列的异常掉电测试，待异常掉电测试完成后进行全盘数据比较，并输出全盘数据比较结果。

在本实施例中，提供了一种固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法，该方法的具体测试过程如下：

首先，设置固态硬盘连接状态，获取自动化测试脚本。具体地，将固态硬盘正常连接到测试设备中，并保证待测固态硬盘与测试设备连接的稳定性。

接着，根据固态硬盘的参数选择对应的测试模块。固态硬盘的参数具体包括固态硬盘容量，产品类型等。可以根据硬盘容量和产品类型自动设置覆盖写入区间大小，或者可以根据产品类型自动设置性能阈值，又或者可以根据产品类型自动设置掉电序列。

然后，运行自动化测试脚本，进行磨损均衡触发模块测试，在磨损均衡测试过程中触发阈值检查模块，判断待测固态硬盘的性能在一定时间内是否低于预设的性能阈值，若是则触发了磨损均衡后台操作。这里的性能阈值可以提前预设，例如将性能阈值设置为基准性能的一定百分比。

通过异常掉电测试模块进行对应序列的异常掉电测试，并在异常掉电测试完成后进行全盘数据比较。最后，输出测试结果。具体地，输出全盘数据比较结果，若在全盘数据比较中并未发现出错则该待测固态硬盘的测试结果为通过，若在全盘数据比较中并发现出错则该待测固态硬盘的测试结果为失败。

在本实施例中，通过将待测固态硬盘连接到测试设备中，并获取自动化测试脚本；根据所述待测固态硬盘的参数对各项测试模块进行设置，所述待测固态硬盘的参数包括固态硬盘容量及产品类型；运行所述自动化测试脚本，进行磨损均衡触发模块测试；在磨损均衡测试过程中触发阈值检查模块，判断所述待测固态硬盘的性能在一定时间内是否低于预设的性能阈值，若是则触发了磨损均衡后台操作；对所述待测固态硬盘进行对应序列的异常掉电测试，待异常掉电测试完成后进行全盘数据比较，并输出全盘数据比较结果。本发明实现了不需要固件额外定制代码增加测试接口即可使黑盒异常掉电测试，并在命中固件后台操作如磨损均衡处理的场景，提高了异常掉电测试的覆盖率，并进一步提高了产品质量。

在一个实施例中，如图2所示，提供了一种固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法，该方法中运行自动化测试脚本，进行磨损均衡触发模块测试的步骤还包括：

步骤202，对待测固态硬盘安全擦除，并进行全盘顺序写入；

步骤204，选择一定覆盖区域持续进行顺序覆盖写入，并记录测试初始阶段的性能平均值作为基准性能；

步骤206，持续监控待测固态硬盘的每秒顺序写性能。

在一个实施例中，判断待测固态硬盘的性能在一定时间内是否低于预设的性能阈值的步骤包括：判断连续3s内待测固态硬盘的写性能是否低于基准性能的60％，若是则触发了磨损均衡后台操作，若否则没有触发磨损均衡后台操作。

在本实施例中，提供了具体的进行磨损均衡触发模块测试的实现方法，其实现过程如下：

首先，对待测固态硬盘安全擦除，并进行全盘顺序写入，具体地可以进行全盘128KB顺序写入2遍。接着，选择一定覆盖区域持续进行顺序覆盖写入，并记录测试初始阶段的性能平均值作为基准性能。具体地，例如可以选择10％区域持续进行128KB顺序覆盖写入，并记录最初10s性能平均值作为基准性能。然后，持续监控待测固态硬盘的每秒顺序写性能。磨损均衡触发阈值检查模块，当检测到待测固态硬盘在连续3s内的性能低于基准性能的60％，则判断磨损均衡后台操作被触发了。

在一个实施例中，如图3所示，提供了一种固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法，该方法中根据待测固态硬盘的参数对各项测试模块进行设置，待测固态硬盘的参数包括固态硬盘容量及产品类型的步骤还包括：

步骤302，根据待测固态硬盘的容量和产品类型设置覆盖写入区间的大小；

步骤304，根据待测固态硬盘的产品类型设置性能阈值；

步骤306，根据待测固态硬盘的产品类型设置掉电序列。

在本实施例中，参考图4所示，提供了一种具体实现固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法，该方法的实现过程如下：

S401：设置固态硬盘连接状态，获取自动化测试脚本。

1、固态硬盘正常连接到测试设备。

S402：根据固态硬盘的参数选择对应的测试模块。

1、参数包括固态硬盘容量，产品类型等。

2、根据硬盘容量和产品类型自动设置S403中覆盖写入区间大小。

3、根据产品类型自动设置S404中的性能阈值。

4、根据产品类型自动设置S405中的掉电序列。

S403：根据参数，自动进行磨损均衡触发模块测试。

1、安全擦除，进行全盘128KB顺序写入2遍。

2、选择10％区域持续进行128KB顺序覆盖写入，记录最初10s性能平均值为基准。

3、持续监控每秒顺序写性能。

S404：磨损均衡触发阈值检查模块。

1、判断连续3s的性能低于基准性能的60％，则磨损均衡后台操作被触发了。

S405：异常掉电测试。

1、进行对应序列的异常掉电测试。

2、异常掉电测试完成后，进行全盘数据比较。

S406：输出测试结果。

1、输出全盘数据比较结果。

2、若无出错则测试结果为通过，若发生错误则测试结果为失败。

应该理解的是，虽然图1-4的流程图中的各个步骤按照箭头的指示，依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图1-4中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

在一个实施例中，如图5所示，提供了一种固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试装置500，该装置包括：

连接模块501，用于将待测固态硬盘连接到测试设备中，并获取自动化测试脚本；

设置模块502，用于根据所述待测固态硬盘的参数对各项测试模块进行设置，所述待测固态硬盘的参数包括固态硬盘容量及产品类型；

测试模块503，用于运行所述自动化测试脚本，进行磨损均衡触发模块测试；

判断模块504，用于在磨损均衡测试过程中触发阈值检查模块，判断所述待测固态硬盘的性能在一定时间内是否低于预设的性能阈值，若是则触发了磨损均衡后台操作；

结果输出模块505，用于对所述待测固态硬盘进行对应序列的异常掉电测试，待异常掉电测试完成后进行全盘数据比较，并输出全盘数据比较结果。

在一个实施例中，测试模块503还用于：

对所述待测固态硬盘安全擦除，并进行全盘顺序写入；

选择一定覆盖区域持续进行顺序覆盖写入，并记录测试初始阶段的性能平均值作为基准性能；

持续监控待测固态硬盘的每秒顺序写性能。

在一个实施例中，判断模块504还用于：

判断连续3s内待测固态硬盘的写性能是否低于基准性能的60％，若是则触发了磨损均衡后台操作，若否则没有触发磨损均衡后台操作。

在一个实施例中，设置模块502还用于：

根据待测固态硬盘的容量和产品类型设置覆盖写入区间的大小；

根据待测固态硬盘的产品类型设置性能阈值；

根据待测固态硬盘的产品类型设置掉电序列。

关于固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试装置的具体限定可以参见上文中对于固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法的限定，在此不再赘述。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，其内部结构图可以如图6所示。该计算机设备包括通过装置总线连接的处理器、存储器以及网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作装置、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作装置和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种固态硬盘磨损均衡时的异常掉电测试方法。

本领域技术人员可以理解，图6中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以上各个方法实施例中的步骤。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以上各个方法实施例中的步骤。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。