双头测试探针结构

技术领域

本发明的双头测试探针结构，涉及一种应用于电子业的金属制测试探针结构，尤指一种探针于对应的两端皆设有弯折状测试接头、且测试接头表面披覆有特定材料的技术领域。

背景技术

各式电子产品充斥于人类日常生活中，例如移动电话、视听产品、电脑等，电子产品已成为人们每天不可或缺的必需品。而在电子产品的产制过程中，相关晶圆、电路板或电子零件在出厂前都必须经过测试，确保功能没有瑕疵、能正常运作，才能出货给下游业者，否则一旦将故障的零组件装配在电子商品中，轻则成品在出厂前测试无法通过、形同报废、造成耗损；重则出货后才发生故障，很有可能造成无法弥补的错误，例如飞机上的飞行相关控制仪器装配了存有瑕疵的电路板或零件，在天空中飞行时若因此发生故障，后果不堪设想。

由于现今产品为求轻薄短小，电路板或晶圆也朝向高密度化而导致电极垫的间距更窄，衍生的问题就是测试用的探针直径也连带更加微细，导致探针因直径变小，寿命相对缩短，耐用度差，若没有一种理想的探针结构，若测试时持续发生探针断裂需更换等现象，势必导致测试成本大增，测试效率也会变差。并且，现有探针的材料硬度大多不符合时下所需，甚至常有容易氧化的问题。另外，现有探针结构主要是笔直状，无法满足特殊需弯折的需求，且整体长度也过大。

显然，现有探针不论是在结构或材料部份，仍不理想完善，实有改进的必要。发明人有鉴于此，特以研创成本案，希望能借本案的提出，改进现有探针的缺点，希望使探针的功能与耐用度得以更臻完善且理想，符合实际需求。

发明内容

本发明的主要目的之一在于提供一种双头测试探针结构，以改善前述现有探针多为笔直状结构等缺失与限制。而实现该目的的技术方案是这样实现的：一种创新的探针结构，其主要于一直线状本体的两对应端，分别延设有一弯折状的测试接头；通过该种双头式弯折测试结构的实施，能满足测试治具缩减整体厚度的功效，也具双头测试功能，以满足实际需求。

本发明另一主要目的在于提供一种创新的探针结构，以解决现有技术中耐用性不佳、易氧化的问题。而实现该目的的技术方案是这样实现的：一种创新的探针结构，其主要于一直线状本体的两对应端，分别延设有一弯折状的测试接头；特别是该测试接头的表面，皆复合有铍、铜、铼、钨或钯等材料其中任一种或任两种以上的合金物；借此，该种探针，具有耐用、硬度佳等优点，能获致有效延长使用寿命的目的。

为达成上述目的，较佳的其中一种实施例，本发明的探针，主要于一直线状本体的两对应端，分别延设有一弯折部，各弯折部的末端为一测试接头。

较佳的其中一种实施例，各测试接头，呈尖端状。

较佳的其中一种实施例，各测试接头的表面，复合有铍、铜、铼、钨或钯等材料其中任一种。

较佳的其中一种实施例，各测试接头的表面，复合有铍、铜、铼、钨或钯等材料其中任两种以上的合金物。

较佳的其中一种实施例，本体的中心轴线与任一相邻弯折部的中心轴线，彼此间呈60~90度的夹角。

较佳的其中一种实施例，分别位于本体两端的两弯折部，其中心轴线互呈平行关系。

较佳的其中一种实施例，分别位于本体两端的两弯折部，分别朝向不同的方向延伸。

较佳的，该铍、铜、铼、钨或钯等材料，以电镀方式复合于该测试接头的表面；但不限定以电镀方式进行。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

图1：本发明的正视外观图；

图2：本发明的立体外观图。

附图标记说明

1 探针

11 本体

12 弯折部

13 测试接头

14 夹角

A 间距。

具体实施方式

下面结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

请参阅图1至图2所示，本发明的探针1，主要于一直线状本体11的两对应端，分别延设有一弯折部12，各弯折部12的末端为一测试接头13。其中，各测试接头13，呈尖端状；各测试接头13的表面，复合有铍、铜、铼、钨或钯等材料其中任一种或任两种以上的合金物。

前述该本体1的中心轴线与任一相邻弯折部12的中心轴线，彼此间呈60～90度的夹角14。

前述分别位于本体11两端的两弯折部12，其中心轴线互呈平行关系，或，分别位于本体11两端的该两弯折部12，分别朝向不同的方向延伸。

前述该铍、铜、铼、钨或钯等材料，以电镀方式复合于该测试接头13的表面；但不限定以电镀方式进行。

由图1可知，本案的探针1由于采用双头式弯折设计，因此探针1的整体高度，自其中一个测试接头13的尖端到另一测试接头13的尖端的间距(如图1的间距A)，较传统直立式探针的间距将大为缩小，因此能有效缩减测试治具的整体高度，以满足厂商不同的测试需求；且该双头式结构，也能具有双头测试的功效。

综上所述，本案双头测试探针结构，利用结构上的弯折变化设计，有效降低整体高度；并且，利用材料的设定，使探针具有耐用、硬度佳、避免氧化等优点，以达到有效延长使用寿命的目的。

以上说明内容仅为本发明较佳实施例，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。