一种电源管理芯片测试系统

技术领域

本申请涉及电子电路及半导体领域，尤其涉及一种电源管理芯片测试系统。

背景技术

随着科技的进步，各个行业对于服务器(SV)的稳定性要求越来越高。服务器(SV)内部所使用的电源管理模块决定了整个服务器(SV)的稳定性，反应速度快、输出稳定的电源管理模块可以为整个服务器(SV)提供持续稳定的电源输出，这样在遇到突发状况时，也能保证服务器(SV)的性能平稳。

电源管理芯片是电源管理模块中的重要组成，而电源管理芯片的性能关系到服务器的性能，性能较强的电源管理芯片，既可以加强服务器的工作性能，又可提高服务器在市场上的竞争力，因此，如何筛选出性能较强的电源管理芯片至关重要。

基于上述原因，亟需一种能筛选较强性能电源管理芯片的测试系统。

发明内容

本申请提供一种电源管理芯片测试系统，用以解决如何筛选性能较强的电源管理芯片的问题。

本申请提供一种电源管理芯片测试系统，该系统包括：待测电源管理芯片、检测电路和测试平台，待测电源管理芯片包括多个引脚，测试平台通过检测电路与待测电源管理芯片的引脚连接，测试平台用于输出测试信号通过检测电路对待测电源管理芯片进行功能测试，功能测试包括开短路测试、输出电压稳定性测试、使能测试、复位测试、静态功耗测试和输入电流测试。

在其中一个实施例中，当功能测试为开短路测试时，该测试平台用于

向待测电源管理芯片引脚提供第一预设电流，并通过检测引脚的输出电压；

若引脚的输出电压在第一电压阈值范围内，确定引脚正常；

若引脚的输出电压超出第一电压阈值，确定引脚存在开路或短路。

在其中一个实施例中，待测电源管理芯片的引脚包括输入引脚、使能引脚、接地引脚和输出引脚；

检测电路包括第一开关、第二开关、第三开关及第一电容，其中第一开关一端与测试平台连接，另一端连接输入引脚和第一电容的一端，第一电容的另一端接地，第二开关一端连接测试平台连接，另一端连接使能引脚，接地引脚接地，第三开关一端连接测试平台，另一端连接输出引脚。

在其中一个实施例中，当功能测试为输出电压稳定性测试时，第一开关、第二开关和第三开关均处于闭合状态，测试平台还用于向输入引脚提供第一预设电压、向使能引脚提供零电压，向输出引脚提供第一预设电流并检测输出引脚的第一输出电压，以确定待测电源管理芯片的输出电压功能是否正常。

在其中一个实施例中，测试平台还用于向输入引脚提供第二预设电压，向使能引脚提供零电压，向输出引脚提供第一预设电流并检测输出引脚的第二输出电压，计算第二输出电压和第一输出电压的差及第二预设电压和第一预设电压的差，

若检测输出电压差与输入电压差的比值在第一预设阈值内，确定待测电源管理芯片输出电压稳定。

在其中一个实施例中，测试平台还用于向输出引脚提供第二预设电流并检测输出引脚的第三输出电压，若第三输出电压和第一输出电压的差值在第二预设预支范围内，确定待测电源管理芯片在不同负载的输出电压正常。

在其中一个实施例中，当功能测试为使能测试时，第一开关、第二开关和第三开关均处于闭合状态，测试平台还用于向输入引脚提供第一预设电压，向使能引脚依次提供第三电压，其中，第三电压为以第三预设电压以预设步进值递减的电压，

并检测输出引脚的输出电压，当输出引脚的输出电压大于正常输出电压值时，检测使能引脚的电压，若使能引脚的电压与第三预设电压的差值在预设范围内，则确定使能引脚正常。

在其中一个实施例中，当功能测试为输入电流测试时，第一开关和第二开关处于闭合状态，测试平台还用于向输入引脚提供第四预设电压，向使能引脚提供零电压，并检测输入引脚的电流；

若输入引脚的电流小于第四预设电流值，确定待测电源管理芯片合格。

在其中一个实施例中，当功能测试为静态功耗测试时，第一开关和第二开关处于闭合状态，测试平台还用于向输入引脚和使能引脚分别提供第一预设电压，并检测输入引脚的电流；

若输入引脚的电流接近零电流，确定待测电源管理芯片静态功耗正常。

在其中一个实施例中，待测电源管理芯片的引脚还包括复位引脚，检测电路还包括第二电容、第四开关和第五开关，第二电容的第二端与输出引脚连接，第二电容的第一端与第四开关的第二端连接，第四开关的第一端接地，第五开关的第一端与测试平台连接，第五开关的第二端与复位引脚和输出引脚连接；

当功能测试为复位测试时，第一开关、第二开关、第三开关及第四开关处于闭合状态，

测试平台用于向使能引脚提供零电压，向输入引脚提供依次减小的输入电压，向复位引脚提供零电流检测复位引脚的电压，

当复位引脚的电压小于预设值时，检测输出引脚的输出电压；

若输出引脚的输出电压小于欠压值时，确定待测电源管理芯片的复位引脚功能正常。

本申请提供一种电源管理芯片测试系统，该电源管理芯片测试系统包括：待测电源管理芯片、检测电路和测试平台，待测电源管理芯片包括多个引脚，测试平台通过检测电路与待测电源管理芯片的引脚连接，测试平台用于输出测试信号通过检测电路对待测电源管理芯片进行功能测试，功能测试包括开短路测试、输出电压稳定性测试、使能测试、复位测试、静态功耗测试和输入电流测试。本申请通过检测电路将测试平台和待测电源管理芯片的引脚连接进行各项功能测试，从而筛选出较强性能的电源管理芯片，进而提高服务器的工作性能和竞争力。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

图1为本申请一实施例提供的电源管理芯片内的部分电路图；

图2为本申请一实施例提供的一种电源管理芯片测试系统结构示意图；

图3为本申请一实施例提供的电源管理芯片内部电路细节图；

图4为本申请一实施例提供的一种电源管理芯片测试系统结构示意图；

图5为本申请一实施例提供的一种电源管理芯片测试系统结构示意图。

通过上述附图，已示出本申请明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本申请构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本申请的概念。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

随着芯片工艺的发展，一片芯片上承载的功能越来越多，电源管理芯片测试系统需要测试的范围也越来越大，需要测试的项目越多。各个行业对于服务器(SV)的稳定性要求越来越高。服务器(SV)内部所使用的电源管理模块决定了整个服务器(SV)的稳定性，反应速度快、输出稳定的电源管理模块可以为整个服务器(SV)提供持续稳定的电源输出，这样在遇到突发状况时，也能保证服务器(SV)的性能平稳。

电源管理芯片是电源管理模块中的重要组成，而电源管理芯片的性能关系到服务器的性能，在电源应用中，电源管理芯片往往被希望具有最小的工作电流和功耗；在进行开关动作时，具有反应迅速的上升和下降电压波形，且在输入电压出现波动等不稳定情况下也能保持稳定的输出能力。好的电源管理芯片，既可以加强服务器的工作性能，又可提高服务器在市场上的竞争力因此，如何筛选性能较强的电源管理芯片至关重要。

本申请提供一种电源管理芯片测试系统，该电源管理芯片测试系统包括：待测电源管理芯片、检测电路和测试平台，待测电源管理芯片包括多个引脚，测试平台通过检测电路与待测电源管理芯片的引脚连接，测试平台用于输出测试信号通过检测电路对待测电源管理芯片进行功能测试，功能测试包括开短路测试、输出电压稳定性测试、使能测试、复位测试、静态功耗测试和输入电流测试。本申请通过检测电路将测试平台和待测电源管理芯片的引脚连接进行各项功能测试，从而筛选出较强性能的电源管理芯片，进而提高服务器的工作性能和竞争力。

如图1所示，图1为本申请一实施例提供的电源管理芯片内的部分电路图，包括有输入引脚IN、使能引脚EN、复位引脚RESET、输出引脚OUT及接地引脚GND。使能引脚可以通过控制开关进而控制输出引脚和复位引脚的功能。

如图2所示，本申请一实施例提供一种电源管理芯片测试系统，该电源管理芯片测试系统包括：待测电源管理芯片203、检测电路202和测试平台201，待测电源管理芯片203包括芯片本体及多个引脚，测试平台201通过检测电路202与待测电源管理芯片203的引脚连接，测试平台201用于对待测电源管理芯片203进行测试；

该测试平台201用于向待测电源管理芯片203引脚提供第一预设电流，并通过检测引脚的输出电压确定引脚是否开路或短路。

本申请通过测试平台检测待测电源管理芯片的引脚输出电压，确定待测电源管理芯片的引脚是否开路或短路，确定待测电源管理芯片各引脚正常，筛选出好的电源管理芯片，进而保证服务器的性能。

在其中一个实施例中，测试平台采用ATE测试平台，ATE测试平台中具有多个测试单元和功能模块，可以对待测电源管理芯片做针对性的功能测试。

在其中一个实施例中，该测试平台用于若引脚的输出电压在第一电压阈值范围内，确定引脚正常；若引脚的输出电压超出第一电压阈值，确定引脚存在开路或短路。

具体地，如图3所示，图3为本申请一实施例待测电源管理芯片内部电路细节图，在待测电源管理芯片引脚的电路结构由PMOS管和NMOS管以及保护二极管组成，测试平台通过检测待测电源管理芯片的引脚的输出电压判断引脚是否存在开路或短路的情况，实际是通过检测二极管的压降，此时待测电源管理芯片不供电，从引脚输入电流并检测二极管两端的电压。测试平台向待测电源管理芯片的引脚输入电流并检测引脚的输出电压，若引脚的输出电压在第一电压阈值范围内，确定引脚正常；若引脚的输出电压超出第一电压阈值，确定引脚存在开路或短路。实际操作中，测试平台会向待测电源管理芯片的引脚驱动100-250uA的电流，测试其引脚的输出电压大概在0.4V-1.2V之间，确认该电源管理芯片的引脚合格。通过此测试，可以逐个检查待测电源管理芯片的其它引脚，测试引脚是否合格，筛选出性能较好的电源管理芯片，进而保证服务器的性能。

在其中一个实施例中，如图4所示，图4为本申请一实施例提供的待测电源管理芯片测试系统的结构示意图，其中，待测电源管理芯片的引脚包括输入引脚IN、使能引脚EN、接地引脚GND和输出引脚OUT；

该检测电路包括第一开关S1、第二开关S2、第三开关S3及第一电容C1，其中第一开关S1一端与测试平台连接，第一开关S1的另一端连接输入引脚和第一电容C1的一端，第一电容C1的另一端接地，第二开关S2一端连接测试平台连接，第二开关S2的另一端连接使能引脚，接地引脚接地，第三开关S3一端连接测试平台，第三开关S3的另一端连接输出引脚。

在其中一个实施例中，第一开关S1、第二开关S2和第三开关S3均处于闭合状态，该测试平台还用于向输入引脚提供第一预设电压、向使能引脚提供零电压，向输出引脚提供第一预设电流并检测输出引脚的第一输出电压，以确定待测电源管理芯片的输出电压功能是否正常。

具体地，如图4所示，第一开关S1、第二开关S2和第三开关S3均处于闭合状态，此时测试平台向输入引脚输入第一预设电压，向使能引脚提供0V电压，同时向输出引脚提供第一预设电流并检测输出引脚的输出电压，若检测到输出引脚有电压输出，则确定该待测电源管理芯片在有输入电压的情况下，可以正常输出电压，确定该待测电源管理芯片的输出功能正常，进而可以保证服务器的性能稳定；若检测到输出引脚无电压输出，则确定待测电源管理芯片在有输入电压的情况，不能正常输出电压，说明该待测电源管理芯片的输出功能异常。

在其中一个实施例中，测试平台还用于向输入引脚提供第二预设电压，向使能引脚提供零电压，向输出引脚提供第一预设电流并检测输出引脚的第二输出电压，计算第二输出电压和第一输出电压的差及第二预设电压和第一预设电压的差，

若检测输出电压差与输入电压差的比值在第一预设阈值内，确定电源管理芯片输出电压稳定。

具体地，测试平台通过HOVI-2端口向使能引脚提供0V电压，测试平台通过HOVI-1端口向输入引脚提供第一预设电压，测试平台将HOVI-3端口设定为FIMV(量测电压模式)即提供第一预设电流并量测输出引脚的电压v1；测试平台通过HOVI-1端口向输入引脚提供第二预设电压，测试平台将HOVI-3设定为FIMV即提供第一预设电流并量测输出引脚的电压v2；通过计算第二输出电压V2和第一输出电压V1的差为输出电压差，第二预设电压和第一预设电压的差为输入电压差，通过计算(输出电压差/输入电压差)，若输出电压差与输入电压差的比值在第一预设阈值内，确定电源管理芯片输出电压稳定。若输出电压差与输入电压差的比值在第一预设阈值内，即使输入电压在一定范围内变化，输出电压也能保持稳定在很小的电压变化范围内，以此来保证电源管理芯片的输出电压稳定，从而可以保证服务器的性能安全；若输出电压差与输入电压差的比值不在第一预设阈值内，则证明在输入电压变化时，输出电压不稳定，从而可以筛选掉品质不好的电源管理芯片，保证服务器的性能。

在本申请一实施例中提供的第一预设电流为1mA，第一预设电压为2.8V，第二预设电压为10V，第一预设电流、第一预设电压和第二预设电压的具体数值可以根据实际情况确定，不超出电源管理芯片的额定电压即可。若超出电源管理芯片的额定电压，则会造成电源管理芯片内部电路损坏，也不能准确测出电源管理芯片的品质好坏。

在其中一个实施例中，待测电源管理芯片集成了两个模块，如图4虚框中所示为其中一个模块，两个模块具有相同的引脚，测试平台可以通过相同的措施确定该电源管理芯片输出引脚输出电压是否稳定，即测试平台还用于向输入引脚提供第二预设电压，向使能引脚提供零电压，向输出引脚提供第一预设电流并检测输出引脚的第二输出电压，计算第二输出电压和第一输出电压的差及第二预设电压和第一预设电压的差，若检测输出电压差与输入电压差的比值在第一预设阈值内，从而确定电源管理芯片第二个模块的输出引脚的输出电压稳定，保证该电源管理芯片的品质。

在其中一个实施例中，测试平台还用于向输出引脚提供第二预设电流并检测输出引脚的第三输出电压，若第三输出电压和第一输出电压的差值在第二预设阈值范围内，确定电源管理芯片在不同负载的输出电压正常。

具体地，闭合第一开关、第二开关和第三开关，测试平台通过HOVI-2端口向使能引脚提供0V电压，测试平台通过HOVI-1端口向输入引脚提供第一预设电压，同时测试平台将HOVI-3端口设定为FIMV(量测电压模式)即向输出引脚提供第一预设电流并量测其输出电压v1；测试平台通过HOVI-2端口向使能引脚提供0V电压，测试平台通过HOVI-1端口向输入引脚提供第一预设电压，同时测试平台将HOVI-3端口设定为FIMV(量测电压模式)即向输出引脚提供第一预设电流并量测其输出电压v3；通过确定|V3-V1|在第二预设阈值范围内，通过向输出引脚输入不同电流，确定电源管理芯片在不同负载下输出电压正常，从而验证该电源管理芯片品质正常。可选地，第一预设电流和第二预设电流均在电源管理芯片的正常工作范围内，即在该预设电流下，电源管理芯片可正常工作。

在其中一个实施例中，第一开关、第二开关和第三开关均处于闭合状态，测试平台还用于向输入引脚提供第一预设电压，向使能引脚EN依次提供第三电压，其中，第三电压为以第三预设电压以预设步进值递减的电压，

并检测输出引脚的输出电压，当输出引脚的输出电压大于正常输出电压值时，确定使能引脚的电压，若使能引脚的电压与第三预设电压的差值在预设范围内，则确定使能引脚正常。

具体地，正常的芯片在输入电压改变的情况下，使能引脚的工作触发电压是不会出现很大改变的，若使能引脚的工作触发电压存在较大的变化，即证明不能通过使能引脚控制芯片工作，该电源管理芯片存在问题。基于此，测试平台通过HOVI-1端口向输入引脚提供第一预设电压，测试平台通过HOVI-2端口向使能引脚提供第三预设电压，同时测试平台将HOVI-3端口设定为FIMV(量测电压模式)即向输出引脚提供第一预设电流并监测其电压的取值v2；测试平台通过HOVI-2端口向使能引脚提供第三电压，其中第三电压是以第三预设电压逐步递减的电压，例如第三预设电压从2.4V开始每次递减0.1，每次递减测试平台同步检测输出引脚的电压v2，若v2大于正常输出电压值时，确定使能引脚的电压，通过使能引脚此时的电压与第三预设电压的差值是否在预设范围内，去验证使能引脚工作触发电压是否存在较大的变化。若使能引脚此时的电压与第三预设电压的差值在预设范围内，则证明可以通过该使能引脚控制芯片，从而证明电源管理芯片的品质。可选地，芯片的正常输出电压值为1.8V，若v2>0.99*1.8V，即表示芯片已经可以正常输出了。

在其中一个实施例中，第一开关和第二开关处于闭合状态，测试平台还用于向输入引脚提供第四预设电压，向使能引脚提供零电压，并检测输入引脚的电流；

若输入引脚的电流小于第四预设电流值，确定电源管理芯片合格。

具体地，如图5所示，检测电路还包括第六开关，第六开关的一端与测试平台连接，另一端连接输入引脚，第六开关所在的通路可以通过大电流。测试平台通过HOVI-2端口向使能引脚提供0V电压，测试平台通过DVI-1端口向输入引脚提供第四预设电压并测量输入引脚的电流；若输入引脚的电流小于第四预设电流值，确定电源管理芯片合格。在本申请的一实施例中，输入引脚的电流小于1.7A，即可确定电源管理芯片输入引脚电流正常。

可选地，第四预设电压为2.8V，由于第六开关所在的通路允许通过大电流，即测试平台通过DVI-1端口向输入引脚提供大电压不会损坏电源管理芯片。

在其中一个实施例中，第一开关和第二开关处于闭合状态，测试平台还用于向输入引脚和使能引脚分别提供第一预设电压，并检测输入引脚的电流；

若输入引脚的电流接近零电流，确定电源管理芯片静态功耗正常。

具体地，通过向输入引脚和使能引脚分别提供第一预设电压，并检测输入引脚的电流，若输入引脚的电流越小，即输入引脚的电流接近0，证明该电源管理芯片的静态电流越小，静态功耗越小。

在其中一个实施例中，如图5所示，电源管理芯片的引脚还包括复位引脚RESET，检测电路还包括第二电容、第四开关和第五开关，第二电容的第二端与输出引脚连接，第二电容的第一端与第四开关的第二端连接，第四开关的第一端接地，第五开关的第一端与测试平台连接，第五开关的第二端与复位引脚和输出引脚连接，

第一开关、第二开关、第三开关及第四开关处于闭合状态，

测试平台用于向使能引脚提供零电压，向输入引脚提供依次减小的输入电压，向复位引脚提供零电流检测复位引脚的电压，

当复位引脚的电压小于预设值时，检测输出引脚的输出电压；

若输出引脚的输出电压小于欠压值时，确定电源管理芯片的复位引脚功能正常。

具体地，测试平台通过HOVI-2端口向使能引脚提供0V电压，测试平台将HOVI-1端口设定为FVMI(提供电压，量测电流模式)，即向输入引脚提供依次减小的输入电压，本申请的实施例测试平台向输入引脚提供的电压是由2.6V开始每次递减0.01V；测试平台将HOVI-4端口设定为FIMV(量测电压模式)即检测复位引脚的输出电压，当输出电压小于预设值时，此时测试平台将HOVI-3端口设定为FIMV(量测电压模式)即向输出引脚提供预设电流并检测其输出电压，当输出引脚的输出电压小于欠压值时，此时复位引脚输出的为低电平，复位引脚功能正常。可选地，正常输出电压为1.8V，当芯片的输出电压小于正常输出电压的92％，芯片此时会进入欠压状态，复位引脚输出为低电平。

下面以一种基于ATE设备的检测电源管理模块的方法为例，介绍上述电源管理芯片测试系统的具体应用。在电源应用中，希望电源管理芯片具有最小的工作电流和功耗，在进行开关动作时，具有反应迅速的上升和下降电压波形，而且在输入电压出现波动等不稳定情况下也能保持稳定的输出能力，这些都是要来检测电源管理模块好坏的重要依据。

本方案的基于ATE设备的检测电源管理模块的方法以TPS767d318为例，如图1所示，来具体的介绍相应的检测方法。如图4、图5所示，主要对待测电源管理芯片进行了以下测试项目，包括：开短路测试、输出电压稳定性测试、使能测试、复位测试、静态功耗测试和输入电流测试，具体的测试步骤如下：

1、OS测试(开短路测试)测试的目的是为了查看芯片引脚是否存在开路或短路现象，以Vin1 OS测试为例，测试步骤如下：

HOVI-1驱动一个100uA的电流，量测电压即为Vin1os(单位V)。

其余引脚的OS测试只需要切换相应引脚的开关Relay，并抽100uA的电流，测试电压，方法类似。如图3所示，由于芯片内部的管脚对地GND是会有一个二极管的，这个项目就是测试这个这个二极管的电压，如果测试结果在0.5V左右，证明待测电源管理芯片就是良品。

2、Output voltage测试(输出电压稳定测试)，此项目是为了验证待测电源管理芯片的功能是否正常，看看待测电源管理芯片在有输入电压的情况下，是否可以正常输出电压。

dvout1的测量步骤：

(1)Vin1＝2.8V from HOVI-1；

(2)VEN＝0V from HOVI-2；

(3)HOVI-3设定为FIMV(提供电流，量测电压模式)抽1mA电流并量测1OUT引脚的电压即为输出电压dvout1。

dvout2的测量步骤：

(1)Vin2＝4.3V from HOVI-5；

(2)VEN＝0V from HOVI-6；

(3)HOVI-7设定为FIMV抽1mA电流并量测1OUT引脚的电压即为输出电压dvout2(单位V)。

3、Line regulation测试(输出电压稳定测试)，此项目用来查看产品在不同输入电压下的输出电压是否稳定，此测试项目可以查看待测电源管理芯片在电压变化时的抗干扰能力。

dVout1line的测试步骤：

(1)VEN＝0V from HOVI-2；

(2)Vin1＝2.7V from HOVI-1；

(3)HOVI-3设定为FIMV抽1mA电流并量测1OUT引脚的电压v1；

(4)Vin1＝10V from HOVI-1；

(5)HOVI-3设定为FIMV抽1mA电流并量测1OUT引脚的电压v2；

(6)执行数学运算：fabs((v2-v1)*1000/(100*(10-2.7)))(单位％)。具体通过计算输出电压随输入电压变化值的比率来验证芯片的输出电压是否稳定，待测电源管理芯片的良品率一般在1％以下。

dVout2line的测试步骤：

(1)VEN＝0V from HOVI-6；

(2)Vin2＝4.3V from HOVI-5；

(3)HOVI-7设定为FIMV抽1mA电流并量测其电压v1；

(4)Vin2＝10V from HOVI-5；

(5)HOVI-7设定为FIMV抽1mA电流并量测其电压v2；

(6)执行数学运算：fabs((v2-v1)*1000/(100*(10-2.7)))(单位％)。

4、Load regulation测试(不同负载的输出电压稳定性测试)，此项目用来查看待测电源管理芯片在不同负载情况下的输出电压，为了验证待测电源管理芯片在可工作的负载能力范围内是否可以正常工作，测试结果在测试范围(<30mV)之内的就是良品。

dVout1load的测量步骤：

(1)VEN＝0V from HOVI-2；

(2)Vin1＝2.8V from HOVI-1；

(3)HOVI-3设定为FIMV抽10uA电流并量测其电压v1；

(4)HOVI-3设定为FIMV抽100mA电流并量测其电压v2；

(5)执行数学运算：fabs((v1-v2)*1000)(单位mV)。

dVout2load的测量步骤：

(1)VEN＝0V from HOVI-6；

(2)Vin2＝4.3V from HOVI-5；

(3)HOVI-7设定为FIMV抽10uA电流并量测其电压v1；

(4)HOVI-7设定为FIMV抽100mA电流并量测其电压v2；

(5)执行数学运算：fabs((v1-v2)*1000)(单位mV)取绝对值。

5、Enable intput voltage测试(使能测试)，此项目用来查看待测电源管理芯片不同输入电压下的EN端的工作电压。正常的电源管理芯片在输入电压改变的情况下，EN端的工作触发电压是不会出现很大改变的，如果不能通过EN端控制芯片工作了，证明此电源管理芯片功能是有问题。EN端是电源管理芯片的主要控制端，要验证它的控制功能是否正常。

VEN1的测试步骤：

(1)Vin1＝2.8V from HOVI-1；

(2)HOVI-3设定为FIMV抽1mA电流，监测其电压的取值v2；

(3)HOVI-2从2.4V开始每次递减0.1，直至v2>0.99*1.8，读取此时EN端的电压v1；

(4)执行数学运算：v1+0.1。

VEN2的测试步骤：

(1)Vin2＝4.3V from HOVI-5；

(2)HOVI-7设定为FIMV抽1mA电流，监测其电压的取值v2；

(3)HOVI-6从2.4V开始每次递减0.1，直至v2>0.99*1.8，读取此时EN端的电压v1；

(4)执行数学运算：v1+0.1。

6、Input current limit测试(输入电流测试)，此项目用来查看待测电源管理芯片输入端的工作电流，测试待测电源管理芯片的正常工作状态下输入端的电流。

ICL1的测试步骤：

(1)VEN＝0V from HOVI-2；

(2)Vin1＝2.8V from DVI-1并测量其电流；

ICL2的测试步骤：

(1)VEN＝0V from HOVI-6；

(2)Vin2＝2.8V from DVI-2并测量其电流。

7、RESET trip threshold voltage测试(复位测试)，此测试项目用来查看待测电源管理芯片reset端的工作电压，验证芯片的reset引脚功能是否正常。功能正常，才能使用reset将芯片复位。

Vth1的测试步骤：

(1)VEN＝0V from HOVI-2；

(2)HOVI-1设定为FVMI(提供电压，量测电流模式)，由2.6V开始每次递减0.01V；

(3)HOVI-3设定为FIMV抽1mA电流并量测电压vo1；

(4)HOVI-4设定为FIMV给0A电流并监测电压值v3，直至v3<1.0V，记录下此时vo1的值；

(5)执行数学运算：Vo1*100/1.8(单位％)。

注：Vth测试时，测试条件是Vout减小量测reset脚的电压，对于此时的临界点Vout而言，因为其测量数值接近于1.8V，实际会造成点数上下的浮动，所以差值可能为正也可能为负。

Vth2的测试步骤：

(1)VEN＝0V from HOVI-6；

(2)HOVI-5设定为FVMI，由3.20V开始每次递减0.01V；

(3)HOVI-7设定为FIMV抽1mA电流并量测电压vo2；

(4)HOVI-8设定为FIMV给0A电流并监测电压值v3，直至v3<1.0V，记录下此时vo1的值；

(5)执行数学运算：Vo2*100/3.3(单位％)。

8、Standby current测试(静态功耗测试)，此项目用来查看待测电源管理芯片的静态电流，此数值越小，静态电流越小，待测电源管理芯片的静态功耗就越小。

ISHDN1的测试步骤：

(1)VEN＝2.8V from HOVI-2；

(2)Vin1＝2.8V from HOVI-1，测量电流i；

(3)执行数学运算：i*1.0e6(单位uA)。

ISHDN2的测试步骤：

(1)VEN＝4.3V from HOVI-6；

(2)Vin2＝4.3V from HOVI-5，测量电流i；

(3)执行数学运算：i*1.0e6(单位uA)。

技术效果：该发明通过是使用ATE平台设备来分辨出哪些电源管理芯片的工作静态电流更小，从而来减少整个SV系统的静态功耗。还可以分辨除哪些芯片的抗干扰能力更强，从而来提高整个SV对于外部环境的抗干扰能力。这些性能的提升都可以让客户在使用中有更好的感官和体验感，进而提高了整个系统的市场竞争力。方案设计具有可扩展性，且可以长期稳定检测此类芯片。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本申请的其它实施方案。本申请旨在涵盖本申请的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本申请的一般性原理并包括本申请未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本申请的真正范围和精神由下面的权利要求书指出。

应当理解的是，本申请并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求书来限制。