一种清洗采样针的方法、系统、存储介质及设备

技术领域

本发明涉及采样针清洗技术领域技术领域，尤其涉及一种清洗采样针的方法、系统、存储介质及设备。

背景技术

近年来，我国的血液分析仪在国内迅速普及，给临床提供更多可靠地试验指标，对疾病的诊断和鉴别起到重要作用，血液细胞分析仪，故名思议，是吸取血样进行分析的仪器。

目前的采样针样本分析仪中，采样针和采样管路内壁通常称为携带污染的主要来源，当样本分配结束后，采样针内壁和外壁上仍会沾有部分样本，该部分样本未被清洗干净，将影响下一次样本的测量，为防止污染以及保证分析结果准确性，涉及样本分析的生化仪、血液分析仪等医疗设备中需要对采样针经常清洗，采样针包括样本针和试剂针，通常采用清洗池对采样针进行清洗，保证仪器正常从盛液血样的试管内正常吸取血样。

目前行业内都是通过采样针伸入采集管内吸取预定体积的待测血样，其中吸取的量可以由高精度的注射器保证，但是因为采样针需要伸入采集管内部，所以外表面也会粘上待测样本，因此，如果外表面没有清洗干净，当采样针进入检测池时也会把这部分未清洗干净样本带入检测池，从而导致最终的检测结果会产生偏差。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提出了一种清洗采样针的方法。

一种清洗采样针的方法，所述方法包括下列步骤：

将采样针与待测样本未接触区域预设为H区域、所述采样针与待测样本接触区域预设为T区域；

当所述采样针的H区域接触清洗采样拭子时，根据第一档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗；

当所述采样针的T区域接触清洗采样拭子时，根据第二档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗，其中第一档位速度＞第二档位速度。

上述方案中，所述当所述采样针的H区域接触清洗采样拭子时，根据第一档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗还包括：根据第三档位速度确定清洗液流动速度。

上述方案中，所述当所述采样针的T区域接触清洗采样拭子时，根据第二档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗还包括：

根据第四档位速度确定清洗液流动速度，其中第三档位速度＞第四档位速度。

上述方案中，所述第一档位速度预设在80mm/s至120mm/s区间内、第二档位速度预设在30mm/s至60mm/s区间内。

上述方案中，所述将采样针与待测样本未接触区域预设为H区域、所述采样针与待测样本接触区域预设为T区域之后，还包括：根据所述采样针长度、采样针上升速度，确定所述清洗采样拭子是否与H区域接触。

上述方案中，所述将采样针与待测样本未接触区域预设为H区域、所述采样针与待测样本接触区域预设为T区域之后，还包括：根据所述采样针长度、采样针上升速度和待采样液面高度，确定所述清洗采样拭子是否与T区域接触。

上述方案中，根据所述清洗元件内的真空抽取速度确定第三档位速度和第四档位速度，其中真空抽取范围预设在-15kpa至-45kpa区间内。

本申请还提出了一种清洗采样针的系统，其特征在于，所述系统包括：位置检测单元、速度控制单元和清洗单元；

所述位置检测单元，用于检测当前采样针位于与待测样本未接触区域，即H区域还是位于采样针与待测样本接触区域，即T区域；

所述速度控制单元，用于当所述采样针的H区域接触清洗采样拭子时，根据第一档位速度上升采样针、当所述采样针的T区域接触清洗采样拭子时，根据第二档位速度上升采样针，其中第一档位速度＞第二档位速度；

所述清洗单元，用于当所述采样针根据第一档位速度、第二档位速度上升时，用清洗液对采样针进行清洗。

本申请还提出了一种可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行如下步骤：

将采样针与待测样本未接触区域预设为H区域、所述采样针与待测样本接触区域预设为T区域；

当所述采样针的H区域接触清洗采样拭子时，根据第一档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗；

当所述采样针的T区域接触清洗采样拭子时，根据第二档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗，其中第一档位速度＞第二档位速度。

本申请还提出了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行如下步骤：

将采样针与待测样本未接触区域预设为H区域、所述采样针与待测样本接触区域预设为T区域；

当所述采样针的H区域接触清洗采样拭子时，根据第一档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗；

当所述采样针的T区域接触清洗采样拭子时，根据第二档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗，其中第一档位速度＞第二档位速度。

采用本发明实施例，具有如下有益效果：将采样针与待测样本未接触区域预设为H区域、所述采样针与待测样本接触区域预设为T区域；当所述采样针的H区域接触清洗采样拭子时，根据第一档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗；当所述采样针的T区域接触清洗采样拭子时，根据第二档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗，其中第一档位速度＞第二档位速度，这种方法通过调配采样针当前的清洗区域的不同调整采样针的上升速度，合理分配清洗液量，使得清洗液更多的对采样针与样本接触部位进行清洗，不仅可以提升清洗效果，还可适当节省试剂，能够确保在有效利用清洗液的情况下，将采样针外壁覆着的样本液体清洗干净。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

其中：

图1为一个实施例中的样本分析装置的结构示意图；

图2为一个实施例中现有技术中的采样针清洗方法的S-T直角坐标系；

图3为一个实施例中一种清洗采样针的方法流程示意图；

图4为一个实施例中本申请方案中的采样针清洗方法的S-T直角坐标系；

图5为一个实施例中拭子清洗采样针过程的示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在下文的描述中，给出了大量具体的细节以便提供对本发明更为彻底的理解。然而，对于本领域技术人员而言显而易见的是，本发明可以无需一个或多个这些细节而得以实施，在其他的例子中，为了避免与本发明发生混淆，对于本领域公知的一些技术特征未进行描述，应当理解的是，本发明能够以不同形式实施，而不应当解释为局限于这里提出的实施例，相反地，提供这些实施例将使公开彻底和完全，并且将本发明的范围完全地传递给本领域技术人员。

在此使用的术语的目的仅在于描述具体实施例并且不作为本发明的限制。在此使用时，单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也意图包括复数形式，除非上下文清楚指出另外的方式，还应明白术语“组成”和/或“包括”，当在该说明书中使用时，确定所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或部件的存在，但不排除一个或更多其它的特征、整数、步骤、操作、元件、部件和/或组的存在或添加。在此使用时，术语“和/或”包括相关所列项目的任何及所有组合。

为了彻底理解本发明，将在下列的描述中提出详细的结构，以便阐释本发明提出的技术方案。本发明的可选实施例详细描述如下，然而除了这些详细描述外，本发明还可以具有其他实施方式。

本申请提出的一种清洗采样针的方法，应用在样本分析装置；如图1所示，在该样本分析装置，101是清洗元件、102是个两位三通阀，用于对清洗元件的出口进行切换、103是清洗采样拭子，清洗液从拭子的103b进入清洗内部，清洗采样针表面，最后在负压装置VAC负压作用下，从拭子的出口103a排出、104是采样针、104a是采样针吸取样本的时候在采集管内部的位置、104b是采样针在采集管内时样本与采样针接触的最高液面位置、104c是采样针完成清洗后在拭子内部位置，即此时采样针处于图中虚线位置、105是采集管，里面装着待测样本。

在一些实施例中，采样针的针尖从采样位置104a到拭子清洗位置104c是H(H区域)，本申请是100mm，不同仪器高度可以不一样，采样针与样本接触的距离即104a到104b的位置是h(T区域)，需要说明的，采集管105一般是行业通用，内径10.4mm，比如医院做个抽血化验，通常是3ml的血样，所以采集管内样本的高度h大致是35mm，即有65mm是不跟样本接触。

如图2所示为现有技术中的采样针清洗方法，无论当清洗采样拭子与采样针的什么位置接触时，都按照固定速度按速度V

由于在采样针的104b至104c的位置时，采样针外壁没有与待测样本接触，所以此时对采样针的清洗主要清洗一些可能附着的灰尘类的，所以此时采样针向上运行速度采用比较快速的档位速度；当清洗至采样针外壁与待测样本已经接触的位置(104a至104b)，再将采样针向上运行的速度采用比较缓慢的档位速度，这样合理调配采样针的上升速度，能够保证对采样针外表面的清洗效果；基于此，本申请提出了一种清洗采样针的方法。

如图3所示，在一个实施例中，提供了一种清洗采样针的方法，应用在样本分析装置，该方法包括下列步骤：

S101、将采样针与待测样本未接触区域预设为H区域、采样针与待测样本接触区域预设为T区域；

S102、当采样针的H区域接触清洗采样拭子时，根据第一档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗；

优选的，根据第一档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗还包括：根据第三档位速度确定清洗液流动速度。

进一步的，由于采样针的H区域没有接触样本液体，故可以在本申请方案的基础上，加入其它的配套的组件装置，从而引入另外一种试剂体系采用水或者浓度较低的清洗液进行清洗。

S103、当采样针的T区域接触清洗采样拭子时，根据第二档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗，其中第一档位速度＞第二档位速度。

综上，本申请方案通过先将采样针与待测样本未接触区域预设为H区域、所述采样针与待测样本接触区域预设为T区域；当所述采样针的H区域接触清洗采样拭子时，根据第一档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗；当所述采样针的T区域接触清洗采样拭子时，根据第二档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗，其中第一档位速度＞第二档位速度，这种方法通过调配采样针当前的清洗区域的不同调整采样针的上升速度，合理分配清洗液量，使得清洗液更多的对采样针与样本接触部位进行清洗，不仅可以提升清洗效果，还可适当节省试剂，能够确保在有效利用清洗液的情况下，将采样针外壁覆着的样本液体清洗干净。

在一些实施例中，第一档位速度预设在80mm/s至120mm/s区间内、第二档位速度预设在30mm/s至60mm/s区间内。

如图4所示，具体的，104b至104c用时t21，比现有技术节约了时间(t1-t21)，本申请中第二档位速度是51.2mm/s，第一档位速度是112mm/s，此时节约的时间大致为0.69s；在位置104b-104a的时候，采样针向上运行速度降低，即在104b-104a运动过程中，运行的时间是(t32-t21)，能够有效延长清洗时间，从而适当提高清洗效果。

优选的，当采样针的T区域接触清洗采样拭子时，根据第二档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗还包括：

根据第四档位速度确定清洗液流动速度，其中第三档位速度＞第四档位速度。

在一些实施例中，根据清洗元件内的真空抽取速度确定第三档位速度和第四档位速度，其中真空抽取范围预设在-15kpa至-45kpa区间内。

在一些实施例中，真空抽取范围的负压值为-30kpa，通过它提供的负压差，使空气流动产生粘性阻力，可以保证不漏液。

如图5所示为拭子清洗采样针过程，通过清洗元件内的真空抽取产生的负压，使得清洗液被吸入拭子腔体内与采样针接触，并呈螺旋状上升对采样针进行清洗，并从废液口排出。

另外，在采样针与样本接触位置(104b)开始进入拭子内部后，采样针向上运动速度降低，同时清洗液推出速度也是适当变慢，保证同样的清洗液总量的情况下，清洗液在拭子内壁对采样针清洗的时间延长，到达不仅更好完成清洗目的也可以节约试剂效果，节约时间并且本申请方案还可以降低拭子在极端气候(低压，寒冷)漏液的风险。

具体的，由于稀释液在进入拭子后，冲洗采样针，会形成液膜，故稀释液在拭子内部受到以下合力作用：

A、惯性力：由于自身具有一定的速度，将会有惯性力存在，即：

其中，下标d表示液滴或液面的量，V

B、重力：方向垂直向下，大小为：

G

C、粘性阻力：液滴在拭子中受到空气的作用，它们具有一定的相对速度，由于粘性的作用，空气和液滴产生相应的流动阻力，即：

在上述表达式中，A

D、壁面摩擦力：液滴在拭子中将存在与拭子壁面和采样针壁面的相对运动，当和它们接触时，液滴将受到相应的阻力F

在上述受力分析中，假设采样拭子内液体的速度是一致的，对于液滴，则有：

F

综上，本申请方案适当降低了清洗元件推出液体的速度，即u

在一些实施例中，将采样针与待测样本未接触区域预设为H区域、采样针与待测样本接触区域预设为T区域之后，还包括：根据采样针长度、采样针上升速度，确定清洗采样拭子是否与H区域接触。

在一些实施例中，将采样针与待测样本未接触区域预设为H区域、采样针与待测样本接触区域预设为T区域之后，还包括：根据采样针长度、采样针上升速度和待采样液面高度，确定清洗采样拭子是否与T区域接触。

本申请还提出了一种清洗采样针的系统，系统包括：位置检测单元、速度控制单元和清洗单元；

位置检测单元，用于检测当前采样针位于与待测样本未接触区域，即H区域还是位于采样针与待测样本接触区域，即T区域；

速度控制单元，用于当采样针的H区域接触清洗采样拭子时，根据第一档位速度上升采样针、当采样针的T区域接触清洗采样拭子时，根据第二档位速度上升采样针，其中第一档位速度＞第二档位速度；

清洗单元，用于当采样针根据第一档位速度、第二档位速度上升时，用清洗液对采样针进行清洗。

本申请还提出了一种可读存储介质，存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行如下步骤：

将采样针与待测样本未接触区域预设为H区域、采样针与待测样本接触区域预设为T区域；

当采样针的H区域接触清洗采样拭子时，根据第一档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗；

当采样针的T区域接触清洗采样拭子时，根据第二档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗，其中第一档位速度＞第二档位速度。

本申请还提出了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行如下步骤：

将采样针与待测样本未接触区域预设为H区域、采样针与待测样本接触区域预设为T区域；

当采样针的H区域接触清洗采样拭子时，根据第一档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗；

当采样针的T区域接触清洗采样拭子时，根据第二档位速度上升采样针，并且通过清洗液进行清洗，其中第一档位速度＞第二档位速度。

本领域普通技术人员能够理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是能够通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上实施例的各技术特征能够进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还能够做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围，以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。