一种自动化测试设备以及测试方法

技术领域

本发明涉及滤光片生产技术领域，尤其是涉及自动化测试设备以及根据自动化测试设备实施的测试方法。

背景技术

在通讯领域，滤光片的尺寸都比较小，范围通常在0.5～2.0mm范围内，这就导致在加工工艺中无法采用成品的尺寸进行镀膜，通常都是采用大尺寸的基片进行镀膜，完成镀膜工艺后再划切加工成对应的小尺寸；滤光片的性能要求比较高，其波长性能要求都是在埃

在测试膜片的光谱性能指标的时候，现有的测试设备在测试和过程中采用固定单一孔位的测试位，需要先将膜片摆放到测试位上后，再进行测试，待测试完毕后，再将膜片摆放到包装盒中；其中摆放待测样品和吸取已测样品的过程使得测试无法进行，使得测试设备效率无法充分利用。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种自动化测试设备，能够在提高滤光片的测试效率基础上减少设备体积。

为了克服现有技术的不足，本发明的目的之二在于提供一种滤光片测试方法，能够在提高滤光片的测试效率基础上减少设备体积。

本发明的目的之一采用如下技术方案实现：

一种自动化测试设备，包括

第一摆放结构，所述第一摆放结构用于放置待检测产品；

第二摆放结构，所述第二摆放结构用于放置检测后的产品；

检测结构，所述检测结构位于所述第一摆放结构以及所述第二摆放结构之间，所述检测结构包括旋转驱动件、探测器以及激光光源，所述旋转驱动件上设有多个检测孔位，所述探测器以及所述激光光源分别位于所述旋转驱动件的相对两侧，所述旋转驱动件相对所述探测器以及所述激光光源转动使不同所述检测孔位对准所述探测器以及所述激光光源；

抓取结构，所述抓取结构位于所述第一摆放结构以及所述第二摆放结构之间并与所述检测结构相对，所述抓取结构包括横向驱动件以及安装于所述横向驱动件的抓取组件，所述抓取组件在所述第一摆放结构、所述检测结构以及所述第二摆放结构之间移动，将第一摆放结构上的待检测产品移动至所述检测孔位，将检测孔位上检测后的产品移动至所述第二摆放结构；

处理系统，所述处理系统与所述探测器通信连接，所述处理系统测试并处理所述探测器接收的光谱数据。

进一步的，所述第一摆放结构包括第一移动件、第二移动件以及第一支架，所述第二移动件安装于所述第一移动件，所述第一支架安装于所述第二移动件，所述第一移动件带动所述第二移动件以及所述第一支架在第一方向移动，所述第二移动件带动所述第一支架在垂直于第一方向的第二方向移动。

进一步的，所述第一移动件以及所述第二移动件为气缸、直线模组、蜗轮蜗杆中的任意一种。

进一步的，所述第二摆放结构包括第三移动件以及第二支架，所述第二支架安装于所述第三移动件，所述第三移动件带动所述第二支架沿所述第二方向移动。

进一步的，所述横向驱动件带动所述抓取组件在所述第一方向移动。

进一步的，所述抓取组件的数量为两个，一所述抓取组件将所述第一摆放结构上的待检测产品移动至所述检测孔位，另一所述抓取组件将所述检测孔位上检测后的产品移动至所述第二摆放结构。

进一步的，所述抓取组件包括竖直驱动件、连接板以及吸盘，所述竖直驱动件滑动安装于所述横向驱动件，所述连接板滑动安装于所述竖直驱动件，所述吸盘固定于所述连接板末端，所述竖直驱动件带动所述吸盘在竖直方向移动。

进一步的，多个所述检测孔位均匀分布于所述旋转驱动件。

进一步的，所述自动化测试设备检测时，所述探测器、所述激光光源以及所述检测孔位位于同一直线上。

本发明的目的之二采用如下技术方案实现：

一种采用上述自动化测试设备实施的测试方法，包括以下步骤；

调整光源：调整激光光源的光角度，确定激光光源信号与测试样品之间的入射角，作为判断光谱性能的依据；

摆放待测产品：第一摆放结构移动，将待测试样品移动至抓取位置，抓取结构抓取第一摆放结构上的待测试样品，并将待测试样品移动至检测结构的未工作的检测孔位上；

检测产品：探测器接收正对的检测孔位上的测试样品的光谱，处理系统测试并处理光谱数据，得到测试样品的性能；

摆放已测产品：第二摆放结构移动，将第二支架移动至摆放位置，抓取结构抓取检测孔位上已经测试的样品，并将已经测试的样品移动至第二摆放结构的第二支架上；

旋转驱动件转动：旋转驱动件转动，使得检测孔位上的待测试产品移动至探测器下方进行检测。

相比现有技术，本发明自动化测试设备的旋转驱动件上设有多个检测孔位，旋转驱动件相对探测器以及激光光源转动使不同检测孔位对准探测器以及激光光源，抓取结构位于第一摆放结构以及第二摆放结构之间并与检测结构相对，抓取结构包括横向驱动件以及安装于横向驱动件的抓取组件，抓取组件在第一摆放结构、检测结构以及第二摆放结构之间移动，将第一摆放结构上的待检测产品移动至检测孔位，将检测孔位上检测后的产品移动至第二摆放结构，通过上述设计，摆放物料、测试物料、吸取测试物料同步操作，摆脱了现有技术中的待料时间，大幅度提升了测试效率。

附图说明

图1为本发明自动化测试设备的立体图；

图2为图1的自动化测试设备的第一摆放结构的立体图；

图3为图1的自动化测试设备的第二摆放结构的立体图；

图4为图1的自动化测试设备的检测结构的一立体图；

图5为图4的检测结构的另一立体图；

图6为图1的自动化测试设备的抓取结构的立体图。

图中：10、第一摆放结构；11、第一移动件；12、第二移动件；13、第一支架；130、摆放槽；20、第二摆放结构；21、第三移动件；22、第二支架；220、放置槽；30、检测结构；31、底板；32、安装架；33、旋转驱动件；34、检测孔位；35、检测组件；350、立柱；351、探测器；36、激光光源；40、抓取结构；41、横向驱动件；42、抓取组件；420、竖直驱动件；421、连接板；422、吸盘；50、外观检测结构。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在另一中间组件，通过中间组件固定。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在另一中间组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在另一中间组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

如图1所示，本发明自动化测试设备包括处理系统、第一摆放结构10、第二摆放结构20、检测结构30、抓取结构40以及外观检测结构50。检测结构30位于第一摆放结构10以及第二摆放结构20之间。抓取结构40位于第一摆放结构10以及第二摆放结构20之间并与检测结构30正对设置。处理系统与第一摆放结构10、第二摆放结构20、检测结构30、抓取结构40以及外观检测结构50通信连接。

请继续参阅图2，第一摆放结构10包括第一移动件11、第二移动件12以及第一支架13。第二移动件12安装于第一移动件11，第一支架13安装于第二移动件12。第一移动件11带动第二移动件12以及第一支架13在第一方向往复移动，第二移动件12带动第一支架13在垂直于第一方向的第二方向往复移动。第一支架13设有摆放槽130，摆放槽130用于放置多个待测试产品。在本实施例中，第一移动件11、第二移动件12为电动控制结构，第一移动件11、第二移动件12与处理系统通信连接，处理系统控制第一移动件11以及第二移动件12移动，具体的，第一移动件11以及第二移动件12为气缸、直线模组、蜗轮蜗杆中的任意一种。待测试产品为滤光片。

请继续参阅图3，第二摆放结构20包括第三移动件21以及第二支架22，第二支架22安装于第三移动件21。第三移动件21带动第二支架22在第二方向往复移动。第二支架22设有多个放置槽220，多个放置槽220使第二支架22能够同时放置多个已检测产品。

请继续参阅图4以及图5，检测结构30包括底板31、安装架32、旋转驱动件33、检测孔位34、检测组件35以及激光光源36。底板31位于第一摆放结构10以及第二摆放结构20之间，安装架32固定于底板31。安装架32呈几字形，安装架32底部呈中空结构，使安装架32底部能够安装激光光源36。旋转驱动件33安装于安装架32，旋转驱动件33的输出端上安装有支架。旋转驱动件33设有多个检测孔位34，多个检测孔位34均匀分布于旋转驱动件33。检测孔位34为通孔。检测孔位34直径为0.3-0.5mm。多个检测孔位34位于一圆形上。旋转驱动件33转动过程中，多个检测孔位34依次经过检测组件35，使每一检测孔位34上的待检测产品被检测。检测组件35包括立柱350以及探测器351。立柱350固定于底板31，探测器351固定于立柱350顶部，使探测器351位于检测孔位34上方。激光光源36安装于安装架32底部，激光光源36、检测孔位34以及探测器351位于同一直线上，使激光光源36的光线能照射至检测孔位34的待检测产品上，并且探测器351接收待检测产品的透射光。

请继续参阅图6，抓取结构40包括横向驱动件41以及两抓取组件42。横向驱动件41位于第一摆放结构10以及第二摆放结构20之间，横向驱动件41沿第一方向延伸。具体的，横向驱动件41为电动控制结构，横向驱动件41与处理系统通信连接，处理系统控制横向驱动件41移动，具体的，横向驱动件41为气缸、直线模组、蜗轮蜗杆中的任意一种。待测试产品为滤光片。两抓取组件42中的一个抓取组件42用于抓取第一摆放结构10上的待检测产品至检测结构30，另一个抓取组件42用于抓取检测结构30上的已检测产品至第二摆放结构20。

每一抓取组件42包括竖直驱动件420、连接板421以及吸盘422，竖直驱动件420安装于横向驱动件41，连接板421安装于竖直驱动件420的输出端，吸盘422固定于连接板421端部。竖直驱动件420带动连接板421在竖直方向往复移动。

外观检测结构50用于检测产品的外观的光洁度。具体的，外观检测结构50的数量为两个，两外观检测结构50分别检测产品两面的光洁度。两外观检测结构50分别位于产品的上下两端。

使用自动化测试设备时，调整激光光源36的光角度，确定激光光源36信号与测试样品之间的入射角，作为判断光谱性能的依据；第一摆放结构10移动，将待测试样品移动至抓取位置，抓取结构40抓取第一摆放结构10上的待测试样品，并将待测试样品移动至检测结构30的未工作的检测孔位34上；探测器351接收正对的检测孔位34上的测试样品的光谱，处理系统测试并处理光谱数据，得到测试样品的性能；第二摆放结构20移动，将第二支架22移动至摆放位置，抓取结构40抓取检测孔位34上已经测试的样品，并将已经测试的样品移动至第二摆放结构20的第二支架22上；旋转驱动件33转动，使得检测孔位34上的待测试产品移动至探测器351下方进行检测。处理系统控制摆放待测产品、检测产品、摆放已测产品同步操作，摆脱了现有技术中的待料时间，大幅度提升了测试效率。

本发明还涉及一种采用上述自动化测试设备实施的测试方法，包括以下步骤：

调整光源：调整激光光源36的光角度，确定激光光源36信号与测试样品之间的入射角，作为判断光谱性能的依据；

摆放待测产品：第一摆放结构10移动，将待测试样品移动至抓取位置，抓取结构40抓取第一摆放结构10上的待测试样品，并将待测试样品移动至检测结构30的未工作的检测孔位34上；

检测产品：探测器351接收正对的检测孔位34上的测试样品的光谱，处理系统测试并处理光谱数据，得到测试样品的性能；

摆放已测产品：第二摆放结构20移动，将第二支架22移动至摆放位置，抓取结构40抓取检测孔位34上已经测试的样品，并将已经测试的样品移动至第二摆放结构20的第二支架22上；

旋转驱动件33转动：旋转驱动件33转动，使得检测孔位34上的待测试产品移动至探测器351下方进行检测。

其中，摆放待测产品、检测产品、摆放已测产品同步操作，摆脱了现有技术中的待料时间，大幅度提升了测试效率。

以上实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进演变，都是依据本发明实质技术对以上实施例做的等同修饰与演变，这些都属于本发明的保护范围。