一种薄膜开关的性能检测方法、系统、处理器和存储介质

技术领域

本发明涉及检测技术领域，尤其涉及一种薄膜开关的性能检测方法、系统、处理器和存储介质。

背景技术

薄膜开关由多层薄膜材料组成，包括导电层、绝缘层和触摸感应层，这些层协同工作以提供触控功能；薄膜开关作为一种广泛应用于各类电子设备的组件，其性能直接影响用户的操作体验；随着智能设备的普及和技术的发展，对薄膜开关的触觉反应特性要求越来越高。

现有的薄膜开关检测技术薄膜开关的性能检测主要通过检测治具来测量按压力度，以及使用电阻或电流测量来评估开关的响应；但是常规的检测治具及其检测方法的性能指标单一，如按压力度或开关响应时间，而忽视了更为复杂的触觉反应特性，例如在不同操作强度下的灵敏度变化，并不能完全模仿真实的用户操作场景，可能无法全面评估薄膜开关在实际使用中的表现，在精确性、全面性和效率方面都存在局限，难以满足日益增长的高性能薄膜开关的检测需求。

鉴于此，需要对现有技术中的薄膜开关检测技术加以改进，以解决其检测性能指标单一，检测不准确的技术问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种薄膜开关的性能检测方法、系统、处理器和存储介质，解决以上的技术问题。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种薄膜开关的性能检测方法，包括：

提供触控模拟器和电容测量装置，将触控模拟器与所述电容测量装置同步设置；

触控模拟器运行以进行模拟触控操作，通过电容测量装置获取电容变化信号；

设定电容变化的若干个触发阈值区间，并读取对应的触发阈值区间的触控强度变化值，以得到每个触发阈值区间内的变化幅度；

对获取的电容变化信号进行频率分析，根据电容变化频率和变化幅度，以识别薄膜开关的触觉反应特征，根据所述触觉反应特征评估薄膜开关的触觉灵敏度和一致性的结果。

可选的，提供触控模拟器和电容测量装置，将触控模拟器与所述电容测量装置同步设置；具体包括：

根据待测薄膜开关的特性，选取能够模拟多种触控行为的触控模拟器，以及电容测量装置；

设定触控模拟器的工作参数；所述工作参数包括触控频率、持续时间、触控强度及模式；

调整电容测量装置，以使所述电容测量装置的检测频率与所述触控模拟器的触控频率保持同步；

通过操作界面，以实时监控所述触控模拟器和电容测量装置的性能数据，结合所述性能数据对所述电容测量装置进行微调；

初步测试，验证触控模拟器和电容测量装置的同步性能是否满足测试要求，若否，则根据初步测试结果对所述调整电容测量装置进行进一步调整；若是，则继续执行。

可选的，所述触控模拟器运行以进行模拟触控操作，通过电容测量装置获取电容变化信号；具体包括：

在所述触控模拟器上搭载预设的触控程序，并校对触控模拟器的动作精度，使其与薄膜开关的尺寸参数相匹配；

启动所述电容测量装置，并对其进行预热工作，检测其与触控模拟器连接的同步性；

将薄膜开关装载至所述触控模拟器的检测位，启动所述触控模拟器按照其所述触控程序运行，以对薄膜开关进行模拟触控操作；

连续捕获薄膜开关在不同触控状态下的电容变化信号，并记录所述触控模拟器不同触控状态下对应的工作参数；

判断所述电容变化信号的信号是否为连续性的，若是，则输出所述电容变化信号；若否，则对所述触控模拟器进行故障修复或调整所述触控程序。

可选的，所述模拟触控操作过程中还包括：

采用取像组件对薄膜开关进行拍摄，以获取图像信息；

应用图像处理算法对图像信息进行处理，识别薄膜开关在不同触控状态下的视觉特征的变化，通过所述视觉特征的变化，触发对薄膜开关性能的评估；

解析处理后的图像信息，识别视觉响应中的模式和异常，获得视觉响应数据；

输出基于图像分析的性能评估结果和所述视觉响应数据。

可选的，所述设定电容变化的若干个触发阈值区间，并读取对应的触发阈值区间的触控强度变化值，以得到每个触发阈值区间内的变化幅度；具体包括：

分析薄膜开关的预期性能，基于所述预期性能设定电容变化的若干个触发阈值区间，并对每个所述触发阈值区间进行标记和编码；

在电容测量装置中编程，设置当电容变化达到或超过触发阈值时触发信号的逻辑；所述逻辑为当电容变化达到触发阈值时自动记录对应的电容读数；

在进行触控模拟操作时，实时监控电容变化，当达到设定的阈值区间时，自动记录对应的电容变化值；

在若干个触发阈值区间分别读取对应的触发阈值区间的触控强度变化值，从而制定对应的触控强度区间；

将记录的若干个触发阈值区间的电容变化值按照不同的触控强度区间进行分类，通过判断所述触控强度区间内电容变化值的最大值和最小值的差值，得到每个触发阈值区间内的变化幅度。

可选的，对获取的电容变化信号进行频率分析，根据电容变化频率和变化幅度，以识别薄膜开关的触觉反应特征；具体包括：

对获取的电容变化信号进行预处理，确定合适的分析窗口和样本间隔，并优化频率分析的分辨率；

采用傅里叶变换的频率分析方法，对电容变化信号进行处理，以获取频率谱；在频率谱中识别和记录电容变化的主要频率成分和相应的幅度；

分析所述频率谱中的特征峰值和谱线分布，以识别薄膜开关在不同触控条件下的电容变化模式；

在频率谱中提取电容变化频率和变化幅度的关系，确定触觉灵敏度的定量指标，以识别薄膜开关的触觉反应特征。

可选的，根据所述触觉反应特征评估薄膜开关的触觉灵敏度和一致性的结果；具体包括：

根据所述定量指标的大小评估薄膜开关的触觉灵敏度，获得第一评估结果；

利用多组触发阈值区间的电容数据比较不同触控状态下的频率分布和幅度变化，评估薄膜开关在重复触摸下的性能一致性，获得第二评估结果；

综合所述第一评估结果和所述第二评估结果，定量化薄膜开关的触觉特征；所述触觉特征的定量化过程包括响应时间、频率响应范围和一致性的评价。

本发明还提供了一种薄膜开关的性能检测系统，用于实现如上所述的薄膜开关的性能检测方法，所述性能检测系统包括：

触控模拟器，用于对薄膜开关进行模拟触控操作；

电容测量装置，用于检测薄膜开关在不同触控条件下的电容变化；

数据处理模块，用于对电容变化信号进行频率分析，并从中提取触觉反应特征；

交互界面，用于显示所述触控模拟器和所述电容测量装置的工作状态，以及电容检测数据；

控制模块，用于控制所述性能检测系统运行；

环境适应性模块，用于监测测试环境的温度、湿度，并对性能检测结果进行误差补偿。

本发明还提供了一种处理器，包括存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有指令；

所述处理器调用所述存储器中的所述指令，以使得所述处理器执行如上所述的薄膜开关的性能检测方法。

本发明还提供了一种存储介质，所述存储介质上存储有指令，所述指令用于实现如上所述的薄膜开关的性能检测方法。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：检测时，基于电容测量技术和触控模拟的相互配合，触控模拟器被用来模仿在薄膜开关上的触控操作，从轻触到按压，模拟不同的触控场景，在模拟操作进行的同时，与模拟器同步的电容测量装置记录薄膜开关内部的电容变化，薄膜开关在受到触控时其介电常数会发生变化，从而改变电容值；电容变化的数据被捕捉并通过设定的触发阈值区间进行分类，然后进行频率分析；通过综合观察电容值的变化频率和幅度，检测方法将准确地评估出薄膜开关的触觉反应特征，其对触控操作的反应速度和灵敏度，从而能够精确地描述开关的性能表现；本性能检测方法能够通过触控模拟和电容测量集成，能够综合考量薄膜开关在不同触控强度下的性能，捕捉到更复杂的触觉反应特性，从而克服了现有技术只关注单一性能指标的局限，提高了测试的精准度和全面性，确保了批量生产中薄膜开关品质的稳定性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。

图1为本实施例一的性能检测方法的流程示意图之一；

图2为本实施例一的性能检测方法的流程示意图之二；

图3为本实施例一的性能检测方法的流程示意图之三。

具体实施方式

为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。需要说明的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。

实施例一：

结合图1至图3所示，本发明实施例提供了一种薄膜开关的性能检测方法，包括：

S1，提供触控模拟器和电容测量装置，将触控模拟器与电容测量装置同步设置；同步设置过程包括确定触控模拟器的工作参数，使之匹配电容测量装置的检测频率；

这一步骤涉及准备两个关键设备：触控模拟器和电容测量装置；触控模拟器用于模拟人的触摸，而电容测量装置则用于检测触摸过程中薄膜开关电容的变化。

同步设置使得触控模拟器的操作（如触摸频率、强度）需要与电容测量装置的检测频率相匹配，以确保准确捕捉电容变化数据。

S2，触控模拟器运行以进行模拟触控操作，通过电容测量装置获取电容变化信号；

在这一步骤中，触控模拟器开始模拟用户的触控动作，比如轻触、按压等。同时，电容测量装置检测并记录薄膜开关在不同触控操作下的电容变化。这些变化是衡量薄膜开关性能的关键数据。

S3，设定电容变化的若干个触发阈值区间，并读取对应的触发阈值区间的触控强度变化值，以得到每个触发阈值区间内的变化幅度；

这一步骤涉及设定一系列的电容变化阈值，用来界定不同级别的触控强度。当电容变化达到这些预设阈值时，系统将记录下相应的触控强度变化值，这有助于分析薄膜开关对不同触控强度的响应。

S4，对获取的电容变化信号进行频率分析，根据电容变化频率和变化幅度，以识别薄膜开关的触觉反应特征，根据触觉反应特征评估薄膜开关的触觉灵敏度和一致性的结果。

在此步骤中，收集到的电容变化数据将被用于频率分析，这包括分析电容变化的速度、频率和幅度；通过这种分析，可以识别出薄膜开关的触觉反应特征，如反应速度、灵敏度。

基于上述分析结果，可以评估薄膜开关的触觉灵敏度（即对触摸的敏感程度）和一致性（即在重复使用中表现的稳定性）。这一评估对于理解和改进薄膜开关的性能至关重要，并有助于提高用户体验。

本发明的工作原理为：检测时，基于电容测量技术和触控模拟的相互配合，触控模拟器被用来模仿在薄膜开关上的触控操作，从轻触到按压，模拟不同的触控场景，在模拟操作进行的同时，与模拟器同步的电容测量装置记录薄膜开关内部的电容变化，薄膜开关在受到触控时其介电常数会发生变化，从而改变电容值；电容变化的数据被捕捉并通过设定的触发阈值区间进行分类，然后进行频率分析；通过综合观察电容值的变化频率和幅度，检测方法将准确地评估出薄膜开关的触觉反应特征，其对触控操作的反应速度和灵敏度，从而能够精确地描述开关的性能表现；相较于现有技术中的检测技术，本性能检测方法能够通过触控模拟和电容测量集成，能够综合考量薄膜开关在不同触控强度下的性能，捕捉到更复杂的触觉反应特性，从而克服了现有技术只关注单一性能指标的局限，提高了测试的精准度和全面性，确保了批量生产中薄膜开关品质的稳定性。

在本实施例中，具体说明的是，步骤S1具体包括：

S11，根据待测薄膜开关的特性，选取能够模拟多种触控行为的触控模拟器，以及电容测量装置；

触控模拟器的选择要能模拟多样的用户触控行为，包括轻触、长按、滑动，以充分模拟现实使用场景；电容测量装置应当具备高灵敏度和足够的测量范围，以便准确捕捉薄膜开关的微小电容变化。

S12，设定触控模拟器的工作参数；工作参数包括触控频率、持续时间、触控强度及模式；以模拟用户在日常使用中对薄膜开关的各类操作，确保通过模拟获取的数据能够反映用户的真实使用情况。

通过精细设定触控模拟器的工作参数，可确保模拟器反映出用户可能的真实使用情况，如轻触、快速点击、或持续施压。参数设定的目的是为了捕获一系列可靠的数据点，这些点能真实地代表薄膜开关在不同使用场景下的性能。

S13，调整电容测量装置，以使电容测量装置的检测频率与触控模拟器的触控频率保持同步；

此步骤需要校准电容测量装置，保证了电容测量装置能够同步记录每一个模拟触控动作产生的电容变化；正确的同步设置可以提高后续数据分析的准确性，确保触控响应时间内的每次电容变化都得以记录下来。

S14， 通过操作界面，以实时监控触控模拟器和电容测量装置的性能数据，结合性能数据对电容测量装置进行微调；微调包括减少延迟、优化数据传输速度；

通过触控模拟器和电容测量装置的操作界面，可以实时监控其性能；实时监控能够帮助识别并减少延迟，优化数据传输速度，从而提高整体测量系统的反应速度和数据传输效率。微调的作用是确保系统的性能调到最佳，以获取最准确和可靠的测试数据。

S15，初步测试，验证触控模拟器和电容测量装置的同步性能是否满足测试要求，若否，则根据初步测试结果对调整电容测量装置进行进一步调整；若是，则继续执行。

在此步骤中，通过初步测试来验证触控模拟器和电容测量装置的同步性能是否满足测试需求；如果初步测试显示同步性能不满足要求，需要进行进一步的微调和调整，直到系统运作达到预期标准。

在本实施例中，具体说明的是，步骤S2具体包括：

S21，在触控模拟器上搭载预设的触控程序，并校对触控模拟器的动作精度，使其与薄膜开关的尺寸参数相匹配；

在这一步，触控模拟器被加载了预设的触控程序，这些程序模拟了用户可能的各种触控行为。重要的是对触控模拟器的动作精度进行校对，确保其动作与薄膜开关的尺寸参数相匹配。这一步骤是为了保证模拟操作的真实性和准确性。

S22，启动电容测量装置，并对其进行预热工作，检测其与触控模拟器连接的同步性；

启动电容测量装置前的预热工作，以确保电容测量装置的稳定性和测量的准确性；检查电容测量装置与触控模拟器之间的同步性，确保两者的配合无误，这样在模拟触控时捕获的数据才准确无误。

S23，将薄膜开关装载至触控模拟器的检测位，启动触控模拟器按照其触控程序运行，以对薄膜开关进行模拟触控操作；

确认测试环境稳定无干扰后，激活触控模拟器开始执行预设的触控脚本；通过实时监控，确保每个触控动作都按照既定的模式和强度执行，且没有任何偏差；

启动触控模拟器，按照设定的触控程序对薄膜开关进行模拟操作。这些操作应覆盖薄膜开关在实际使用中可能遇到的各种情况。

S24，连续捕获薄膜开关在不同触控状态下的电容变化信号，并记录触控模拟器不同触控状态下对应的工作参数；

在进行模拟触控操作的同时，连续捕获薄膜开关在不同触控状态下的电容变化信号；同时记录触控模拟器在不同触控状态下的工作参数。

S25，判断电容变化信号的信号是否为连续性的，若是，则输出电容变化信号；若否，则对触控模拟器进行故障修复或调整触控程序。

检查捕获到的电容变化信号是否连续，如果信号是连续的，说明系统工作正常，可以输出电容变化信号；如果信号不连续，表明可能存在故障，需要对触控模拟器进行故障诊断和修复或调整触控程序，以确保数据的准确性和完整性。

在本实施例中，作为一优选方案，模拟触控操作过程中还包括：

S26，采用取像组件对薄膜开关进行拍摄，以获取图像信息；

使用高分辨率的取像组件（如高速相机）对薄膜开关在不同触控状态下进行拍摄；捕获的图像应当清晰反映薄膜开关表面的变化，包括但不限于形状变形、颜色变化或其他视觉上可见的特征。

S27，应用图像处理算法对图像信息进行处理，识别薄膜开关在不同触控状态下的视觉特征的变化，通过视觉特征的变化，触发对薄膜开关性能的评估；

将收集到的图像信息送入图像处理系统，运用算法对图像进行分析，如边缘检测；通过分析图像中薄膜开关的变化，如形状的扭曲或颜色深浅的变化，识别不同触控状态下的视觉特征变化；视觉特征的变化可以作为评估薄膜开关性能的一个补充指标，尤其在薄膜开关表面或结构有明显变化时尤为有效。

S28，解析处理后的图像信息，识别视觉响应中的模式和异常，获得视觉响应数据；

对处理后的图像信息进行解析，识别视觉上的模式和异常，从图像中提取量化数据，如变形程度、颜色变化范围等，这些数据可以用来评价薄膜开关的物理和视觉响应。确认视觉响应中的规律性和一致性，检查是否有异常或不符合预期的视觉反应，并起到对于性能问题的指示。

S29，输出基于图像分析的性能评估结果和视觉响应数据。

将所有视觉响应数据和图像分析结果整合，形成详细的评估报告；报告应包括视觉特征变化的详细描述、异常情况记录以及这些视觉信息如何与电容变化数据相互印证或提供额外的性能信息。

综上，通过将图像信息获取和分析引入性能检测系统，可以从另一个维度评估薄膜开关的性能，使得检测结果更为全面和精确；这不仅有助于发现电容测量可能遗漏的问题，还能提供更直观的性能展示。

在本实施例中，具体说明的是，步骤S3具体包括：

S31，分析薄膜开关的预期性能，基于预期性能设定电容变化的若干个触发阈值区间，并对每个触发阈值区间进行标记和编码。

S32，在电容测量装置中编程，设置当电容变化达到或超过触发阈值时触发信号的逻辑；逻辑为当电容变化达到触发阈值时自动记录对应的电容读数；

在电容测量装置中设置特定的编程逻辑，使其在电容变化达到或超过预设阈值时触发信号；这个逻辑确保当电容变化到达每个预设阈值时，能够自动记录相应的电容读数。这样的设置使得后续的数据分析能够精确关联到特定的触控强度。

S33，在进行触控模拟操作时，实时监控电容变化，当达到设定的阈值区间时，自动记录对应的电容变化值。

S34，在若干个触发阈值区间分别读取对应的触发阈值区间的触控强度变化值，从而制定对应的触控强度区间；

在各个触发阈值区间，分别读取对应的触控强度变化值；这些读数将用于制定出对应的触控强度区间，进一步精确地划分不同级别的触控响应；此步骤为将电容变化量与触控强度的具体级别关联起来提供了基础。

S35，将记录的若干个触发阈值区间的电容变化值按照不同的触控强度区间进行分类，通过判断触控强度区间内电容变化值的最大值和最小值的差值，得到每个触发阈值区间内的变化幅度。

将记录的电容变化值按照不同的触控强度区间进行分类；通过计算每个触控强度区间内电容变化值的最大值和最小值的差值，来得到每个触发阈值区间内的变化幅度；这一步骤的目的是量化触控强度与电容变化之间的关系，为深入理解薄膜开关的触控响应特性提供数据支撑。

综述，S3步骤通过精确设定和记录不同触控强度下的电容变化，为深入分析薄膜开关的性能特性提供了详细的数据基础。通过这一系列步骤，可以更好地理解和评估薄膜开关在不同触控条件下的行为和性能。

在本实施例中，具体说明的是，步骤S4具体包括：

S41，对获取的电容变化信号进行预处理，确定合适的分析窗口和样本间隔，并优化频率分析的分辨率；预处理包括滤波和噪声去除，以确保分析结果的准确性。

这个步骤的核心在于对收集到的电容变化信号进行初步处理，以提高后续分析的精度。

预处理包括滤波和去噪，这是为了消除信号中的干扰和背景噪声，确保结果的准确性。

确定合适的分析窗口和样本间隔，是为了优化频率分析的分辨率和效率，确保数据处理的科学性和有效性。

S42，采用傅里叶变换的频率分析方法，对电容变化信号进行处理，以获取频率谱；在频率谱中识别和记录电容变化的主要频率成分和相应的幅度；

采用傅里叶变换等频率分析方法处理电容变化信号，获得其频率谱。在频率谱中识别和记录主要的频率成分及其对应的幅度，这些频率成分是理解电容变化特性的关键；此步骤旨在从频率的角度出发，捕捉电容变化的主要特征和模式。

S43，分析频率谱中的特征峰值和谱线分布，以识别薄膜开关在不同触控条件下的电容变化模式；

分析频率谱中的特征峰值和谱线分布，这有助于识别薄膜开关在不同触控条件下的电容变化模式。这一步骤重点在于解析和理解电容变化的规律性，以及这些变化如何与触控行为相关。

S44，在频率谱中提取电容变化频率和变化幅度的关系，确定触觉灵敏度的定量指标，以识别薄膜开关的触觉反应特征。定量指标为触控强度对频率变化的响应。

从频率谱中提取电容变化频率与变化幅度之间的关系，以确定触觉灵敏度的定量指标；定量指标包括触控强度对频率变化的响应，这有助于识别薄膜开关的触觉反应特征，这一步骤旨在将频率分析结果转化为具有实际意义的触觉灵敏度参数。

S45，根据定量指标的大小评估薄膜开关的触觉灵敏度，获得第一评估结果；

根据步骤S44确定的定量指标，评估薄膜开关的触觉灵敏度，通过这一评估可以了解薄膜开关对不同触控强度的反应能力，这是薄膜开关性能的重要方面。

S46，利用多组触发阈值区间的电容数据比较不同触控状态下的频率分布和幅度变化，评估薄膜开关在重复触摸下的性能一致性，获得第二评估结果；

确定薄膜开关的可靠性，通过观察频率谱的稳定性来检测任何可能的性能衰减或缺陷。

S47，综合第一评估结果和第二评估结果，定量化薄膜开关的触觉特征；触觉特征的定量化过程包括响应时间、频率响应范围和一致性的评价。

将触觉灵敏度评估和性能一致性评估的结果进行综合，形成对薄膜开关触觉特征的全面评价；定量化过程包括对响应时间、频率响应范围和一致性进行细致的评价。此步骤的目的是形成一个全面的、定量的评价结果，用以全方位地理解和表征薄膜开关的性能。

实施例二：

本发明还提供了一种薄膜开关的性能检测系统，其特征在于，用于实现如实施例一的薄膜开关的性能检测方法，性能检测系统包括：

触控模拟器，用于对薄膜开关进行模拟触控操作；

电容测量装置，用于检测薄膜开关在不同触控条件下的电容变化；

数据处理模块，用于对电容变化信号进行频率分析，并从中提取触觉反应特征；

交互界面，用于显示触控模拟器和电容测量装置的工作状态，以及电容检测数据；

控制模块，用于控制性能检测系统运行；

环境适应性模块，用于监测测试环境的温度、湿度，并对性能检测结果进行误差补偿。

综述，本性能检测系统为薄膜开关的性能评估提供了一个高度集成化和自动化的解决方案，统通过模拟实际的触控操作，并准确检测电容变化，从而全面评价薄膜开关的触觉灵敏度和反应特性；频率分析的引入能够在深层次揭示触控与电容变化之间的细微关系，为优化薄膜开关设计提供科学依据；交互界面和控制模块的设计改善了用户的操作体验，使检测过程更为简便快捷；环境适应性模块的加入增强了测试的稳定性和可靠性，确保结果不受环境因素的干扰，增强了数据的真实性和准确性；总体而言，该系统的实施有效地提高了薄膜开关性能检测的效率和精度，有助于提高产品质量和延长使用寿命。

实施例三：

本发明还提供了一种处理器，包括存储器和至少一个处理器，存储器中存储有指令；

处理器调用存储器中的指令，以使得处理器执行如实施例一的薄膜开关的性能检测方法。

实施例四：

本发明还提供了一种存储介质，存储介质上存储有指令，指令用于实现如实施例一的薄膜开关的性能检测方法。

以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。