显示装置的光晕测量方法、系统和存储介质

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种显示装置的光晕测量方法、系统和存储介质。

背景技术

光晕是MiniLED背光等显示装置的典型画质问题之一，光晕指的是显示装置在显示画面时，亮物体轮廓边缘出现“光环”，从而影响用户在观看时的观感。因此为了确定MiniLED背光等显示装置的显示性能，如何获得显示装置的光晕值是需要解决的问题。

发明内容

本申请实施例提供一种显示装置的光晕测量方法、系统和存储介质，以解决相关技术中的不足。

根据本发明实施例的第一方面，提供一种显示装置的光晕测量方法，该方法包括：

拍摄待测试的显示装置显示的图像以获得测试图像，所述测试图像包括第一图案区和位于第一图案区周侧的第二图案区，所述第一图案区的灰度值大于所述第二图案区的灰度值；

计算得到所述测试图像中第一测量区域的灰度均值L

根据所述第一测量区域的灰度均值L

其中，halo表示光晕值。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述拍摄待测试显示装置显示的图像以获得测试图像的步骤包括：

在设定的曝光时间下拍摄待测试的显示装置显示的图像以获得测试图像；

对所述测试图像进行中值滤波处理。

可选的，在本申请的一些实施例中，在所述计算得到所述测试图像中第一测量区域的灰度均值L

在所述测试图像上确定第一测量区域、第二测量区域以及第三测量区域。

可选的，在本申请的一些实施例中，在所述测试图像上确定第一测量区域、第二测量区域以及第三测量区域的步骤包括：

计算积分半径R；

对所述测试图像进行二值化处理；

在二值化处理后的所述测试图像中获取所述第一测量区域的中心坐标，所述第二测量区域的中心坐标以及所述第三测量区域的中心坐标；

根据所述第一测量区域的中心坐标和所述积分半径R确定所述第一测量区域位置；

根据所述第二测量区域的中心坐标和所述积分半径R确定所述第二测量区域位置；

根据所述第三测量区域的中心坐标和所述积分半径R确定所述第三测量区域位置。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述计算确定积分半径R的步骤包括：

获取显示装置的屏幕尺寸A，长宽比m：n，分辨率W*H，预设外置的亮度测量口径的直径D；

通过如下公式计算所述积分半径R：

可选的，在本申请的一些实施例中，所述在二值化处理后的所述测试图像中得到所述第一测量区域的中心坐标，所述第二测量区域的中心坐标以及所述第三测量区域的中心坐标的步骤包括：

获取所述第一图案区的中心点的坐标(X

根据(X

可选的，在本申请的一些实施例中，所述计算得到所述第一测量区域内的灰度均值L

通过如下公式计算L

可选的，在本申请的一些实施例中，计算得到所述测试图像中第一测量区域的灰度均值L

获取所述第一测量区域内的灰度累加值，通过如下公式

获取所述第二测量区域内的灰度累加值，通过如下公式

获取多个不同的所述第三测量区域的灰度累加值，通过如下公式

根据本发明实施例的第二方面，提供一种显示装置的光晕测量系统，包括：

图像获取单元，用于拍摄待测试的显示装置显示的图像以获得测试图像；

计算单元，用于计算得到所述测试图像中第一测量区域的灰度均值L

其中，halo表示光晕值。

根据本发明实施例的第三方面，提供一种存储介质，所述存储介质存储有多条指令，所述指令适于处理器进行加载，执行时实现上述任一项所述方法的步骤。

根据上述实施例可知，本申请的显示装置的光晕测量方法，首先拍摄待测试的显示装置的显示图像以获得测试图像，并确定位于测试图像的第一图案区内的第一测量区域，位于测试图像的第二图案区内并远离第一图案区的边界的第二测量区域，位于测试图像的第二图案区内并靠近第一图案区的边界的第三测量区域。然后通过计算得到第一测量区域的灰度均值L

附图说明

图1是本申请提供的显示装置的光晕测量方法的流程图；

图2是本申请提供的显示装置的光晕测量方法的测试图像的示意图；

图3是本申请提供的显示装置的光晕测量方法中的所述拍摄待测试显示装置的显示图像以获得测试图像的步骤的流程图；

图4是本申请提供的显示装置的光晕测量方法中的在所述测试图像上确定第一测量区域、第二测量区域以及第三测量区域的步骤的流程图；

图5是本申请提供的显示装置的光晕测量方法中的在所述测试图像上确定第一测量区域、第二测量区域以及第三测量区域的步骤的流程图；

图6是本申请提供的显示装置的光晕测量方法中的所述计算确定积分半径R的步骤的流程图；

图7是本申请提供的显示装置的光晕测量方法中的所述在二值化处理后的所述测试图像中得到所述第一测量区域的中心坐标，所述第二测量区域的中心坐标以及所述第三测量区域的中心坐标的步骤的流程图；

图8是本申请提供的显示装置的光晕测量方法中的计算得到所述测试图像中第一测量区域的灰度均值L

图9是本申请提供的显示装置的光晕测量系统的框图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。此外，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本申请，并不用于限制本申请。在本申请中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上”和“下”通常是指装置实际使用或工作状态下的上和下，具体为附图中的图面方向；而“内”和“外”则是针对装置的轮廓而言的。

本申请实施例提供一种显示装置的光晕测量方法，可以获取显示装置的光晕值，如图1和图2所示，该方法包括：

拍摄待测试的显示装置的显示图像以获得测试图像100，所述测试图像100包括第一图案区100A和位于第一图案区100A周侧的第二图案区100B，所述第一图案区100A的灰度值大于所述第二图案区100B的灰度值；

计算得到所述测试图像100中第一测量区域100a的灰度均值L

根据所述第一测量区域100a的灰度均值L

可以理解的是，本申请的显示装置的光晕测量方法，首先拍摄待测试的显示装置的显示图像以获得测试图像100，然后计算得到所述测试图像100中第一测量区域100a的灰度均值L

下面将对显示装置的光晕测量方法进行详细的阐述：

参照图1和图2，显示装置的光晕测量方法包括：拍摄待测试的显示装置的显示图像以获得测试图像100，所述测试图像100包括第一图案区100A和位于第一图案区100A周侧的第二图案区100B，所述第一图案区100A的灰度值大于所述第二图案区100B的灰度值；

其中，该待测试的显示装置的显示图像的灰度级可以为12bit，如此由于12bit图的精度更好，有利于获得准确的亮度信息图像。可以通过工业相机等图像获取单元拍摄待测试的显示装置，进一步地，为了提高光晕检测的准确性，在拍摄前，该图像获取单元与显示装置进行像素定位，即让图像获取单元的一个像素对应显示装置的一个像素的比值。同时调整图像获取单元的曝光参数，为了使得产生的光晕更加明显，即使得第二图案区100B靠近于第一图案区100A的亮度更亮，可以通过调大曝光参数进行实现，但需要避免超过显示图像的灰度级，以防止过曝。

该待测试的显示装置的显示图像可以包括第一区域和位于第一区域的周侧的第二区域，该第一区域的灰度值可以为225，该第二区域的灰度值为0，即第一区域呈白色显示，而该第二区域呈黑色显示，该第一区域即可以位于显示图像的中心，或者位于显示图像边缘处。如此以使得该显示图像的第一区域和第二区域的灰度值相差较大，从而当拍摄待测试的显示装置的显示图像以获得测试图像100时，测试图像100的第一图案区100A与第一区域对应，测试图像100的第二图案区100B与第二区域对应，进而使得第一图案区100A的灰度值大于第二图案区100B的灰度值，且两者灰度值相差较大，进而使得产生的光晕更加明显，以提高后续测量光晕值的准确性。

计算得到所述测试图像100中第一测量区域100a的灰度均值L

其中，该第一图案区100A占测试图像100的面积为10％，进而以保证第二图案区100B的区域较大，以便于保证第二图案区100B内的第二测量区域100b和第三测量区域100c的灰度值相差较大，进而使得产生的光晕更加明显，以提高后续测量光晕值的准确性。

根据所述第一测量区域100a的灰度均值L

参照图3，进一步地，所述拍摄待测试显示装置的显示图像以获得测试图像100的步骤包括：

在设定的曝光时间下拍摄以获得测试图像100；

对所述测试图像100进行中值滤波处理。

其中，由于不同曝光时间获取到的图像灰度值不一样，当需要重复拍摄多次测试图像100时，需要保持每一次拍摄的图像的曝光时间相同，以在同一纬度下进行光晕值的计算。而可以采用中值滤波的方法对测试图像100进行降噪处理。中值滤波是基于排序统计理论的一种能有效抑制噪声的非线性信号处理技术，中值滤波的基本原理是把数字图像或数字序列中一个像素的值用该像素的一个邻域中各像素值的中值代替，让周围的像素值接近真实值，从而消除孤立的噪声点。具体过程是用某种结构的二维滑动模板，将板内像素按照像素值的大小进行排序，生成单调上升(或下降)的为二维数据序列。如此采用上述中值滤波的方法对测试图像100消除拍摄过程产生的椒盐噪声，提高后续光晕值测量的准确性。

参照图4，进一步地，在所述计算得到所述测试图像100中第一测量区域100a的灰度均值L

在所述测试图像100上确定第一测量区域100a、第二测量区域100b以及第三测量区域100c。

其中，通过在测试图像100上确定坐标点以确定第一测量区域100a、第二测量区域100b以及第三测量区域100c的位置，以便于后续对于各个测量区域的灰度均值的计算。

参照图5，进一步地，在所述测试图像100上确定第一测量区域100a、第二测量区域100b以及第三测量区域100c的步骤包括：

计算确定积分半径R；

对所述测试图像100进行二值化处理，在二值化处理后的所述测试图像100中得到所述第一测量区域100a的中心坐标，所述第二测量区域100b的中心坐标以及所述第三测量区域100c的中心坐标；

根据所述第一测量区域100a的中心坐标和所述积分半径R确定所述第一测量区域100a位置；

根据所述第二测量区域100b的中心坐标和所述积分半径R确定所述第二测量区域100b位置；

根据所述第三测量区域100c的中心坐标和所述积分半径R确定所述第三测量区域100c位置。

其中，对测试图像100进行二值化处理获得二值化图像。在二值化处理的过程中，可以首先确定二值化阈值，将像素值小于二值化阈值的像素点的像素值设置为最小灰度值如0，将像素值大于或等于二值化阈值的像素点的像素值设置为最大灰度值如255。如此以使得第一图案区100A和第二图案区100B的灰度值相差较大，更容易确定第一图案区100A和第二图案区100B内的各个坐标位置，以便于后续确定第一测量区域100a，第二测量区域100b以及第三测量区域100c的中心坐标位置，并且统一积分半径R，以便于保证第一测量区域100a、第二测量区域100b以及第三测量区域100c的面积相等。通过第一测量区域100a的中心坐标作为圆心，以积分半径R作为半径，如此以算出第一测量区域100a的区域位置，同理可以确定第一测量区域100a和第二测量区域100b的区域位置。

参照图6，进一步地，所述计算确定积分半径R的步骤包括：

获取显示装置的屏幕尺寸A，长宽比m：n，分辨率W*H，预设外置的亮度测量口径的直径D；

通过如下公式计算所述积分半径R：

其中，显示屏幕的尺寸A的单位为英寸，而该预设外置的亮度测量口径的直径D的取值范围为4mm至27mm。W为显示屏幕的长度方向上的像素长度，H为显示屏幕的宽度方向上的像素长度，如此通过上述公式以确定积分半径R，以便于保证第一测量区域100a、第二测量区域100b以及第三测量区域100c的面积的确定。

参照图7，进一步地，所述在二值化处理后的所述测试图像100中得到所述第一测量区域100a的中心坐标，所述第二测量区域100b的中心坐标以及所述第三测量区域100c的中心坐标的步骤包括：

获取所述第一图案区100A的中心点的坐标(X

根据(X

其中，通过将第一图案区100A的中心点作为第一测量区域100a的中心坐标，从而可以使得第一测量区域100a位于第一图案区100A的中心位置，以使得该第一测量区域100a内的灰度值会均较大，从而可以作为亮区。而将第二测量区域100b的中心坐标为(X

进一步地，所述计算得到所述第一测量区域100a内的灰度均值L

通过如下公式计算L

其中，通过确定第一测量区域100a内所有像素的灰度值，之后进行累加以得到第一测量区域100a内的灰度累加值，之后由于该第一测量区域100a的面积由之前确定积分半径R决定，如此根据公式

参照图8，可选地，计算得到所述测试图像100中第一测量区域100a的灰度均值L

获取所述第一测量区域100a内的灰度累加值，通过如下公式

获取所述第二测量区域100b内的灰度累加值，通过如下公式

获取多个不同的所述第三测量区域100c的灰度累加值，通过如下公式

其中，通过确定第一测量区域100a内所有像素的灰度值，之后进行累加以得到第一测量区域100a内的灰度累加值，之后由于该第一测量区域100a的面积由之前确定积分半径R决定，如此根据公式

参照图9，本发明实施例还提供一种显示装置的光晕测量系统，该系统包括：图像获取单元10和计算单元20；

图像获取单元，用于拍摄待测试的显示装置显示的图像以获得测试图像；

计算单元，用于计算得到所述测试图像中第一测量区域的灰度均值L

其中，halo表示光晕值。

上述的图像获取单元10可以为具有图像采集功能的部件或者装置，例如，相机、摄像机、摄像头或者图像传感器等。

此外，本实施例中，由图像获取单元10采集待测试的显示装置的显示图像以获得测试图像，并发送给计算单元20进行计算以得出显示装置的光晕值，该系统中，图像获取单元10可作为一个独立的设备，在另一可能的实现方式中，图像获取单元10、计算单元20可同时集成在一个设备中，本实施例中，不对此作出限定。

本领域普通技术人员可以理解，上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤可以通过指令来完成，或通过指令控制相关的硬件来完成，该指令可以存储于存储介质中，并由处理器进行加载和执行。

为此，本申请实施例提供一种存储介质，其中存储有多条指令，该多条指令能够被处理器进行加载，以执行本申请实施例所提供的任一种显示装置的光晕测量方法中的步骤。

以上各个操作的具体实施可参见前面的实施例，在此不再赘述。

其中，该存储介质可以包括：只读存储器30(ROM，Read Only Memory)、随机存取记忆体(RAM，Random Access Memory)、磁盘或光盘等。

以上对本申请实施例所提供的一种显示装置的光晕测量方法、系统和存储介质进行了详细介绍，尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。