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加速系数确定方法、装置、电子设备及可读存储介质

文献发布时间:2023-06-19 10:30:40


加速系数确定方法、装置、电子设备及可读存储介质

技术领域

本申请涉及测试技术领域,具体而言,涉及一种加速系数确定方法、装置、电子设备及可读存储介质。

背景技术

目前,集成电路产品在大规模生产之前,都需要接受可靠性测试以验证产品的可用性。

集成电路的可靠性测试是一种加速测试,利用短时间测试来推算长时间使用寿命。但可靠性测试需要知道实际影响产品使用寿命的多个物理变量的加速系数。通常,实际影响集成电路产品使用寿命的物理变量包括诸如电压,温度,湿度等物理变量。

目前常规的加速系数测量方法为:选中多个批次样品,分别进行单个物理变量变化的测试实验(即控制除某一物理变量外的其余所有条件不变,仅改变该物理变量的值的测试实验),根据各实验结果推测该物理变量对应的加速系数。比如,可以将3个批次的集成电路产品在保持除温度外其余条件相同的情况下,在不同温度下进行测试实验,一定时间后通过这三个测试实验的实验结果,推测出温度加速系数。此外,将另3个批次的集成电路产品在保持除电压外其余条件相同的情况下,在不同电压下进行测试实验,一定时间后通过这三个测试实验的实验结果,推测出电压加速系数。

然而,目前常规的加速系数测量方法必须要多批次,大样品量测试,因此存在成本高的问题。此外,由于必须要多个批次样品,存在样品之间差异造成的不确定性,影响加速系数的准确性。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种加速系数确定方法、装置、电子设备及可读存介质,以实现对于加速系数的确定。

本申请实施例提供了一种加速系数确定方法,包括:获取针对预设样品在第一条件下,标的变量的多个测试值以及各测试值的时间;所述第一条件包括多个物理变量,且各所述物理变量具有设定值;所述标的变量随着测试时间以及所述第一条件中的任一物理变量的值的改变而改变;根据各所述测试值以及各所述测试值的时间,建立所述预设样品在所述第一条件下的标的变量与测试时间的预测模型;获取所述预设样品,在第二条件下进行测试期间,所述标的变量达到第一目标测试值和第二目标测试值时的时间;所述第二条件为改变所述第一条件中第一待测试物理变量的值所得到的条件,所述第一待测试物理变量为所述第一条件中的任一物理变量;使用所述预测模型,预测所述预设样品在所述第一条件下,所述标的变量达到所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间;根据预测得到的所述第一条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,和测试得到的所述第二条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,确定所述第一待测试物理变量的加速系数。

上述实现过程中,首先通过第一条件下的多个测试值以及各测试值的时间,构建出第一条件下的标的变量与测试时间的预测模型。然后,改变第一条件中第一待测试物理变量的值得到第二条件,获取对预设样品在第二条件下进行测试时标的变量达到第一目标测试值和第二目标测试值的时间。此外,采用预测模型,预测预设样品在第一条件下,标的变量达到第一目标测试值和第二目标测试值的时间。然后,根据预测得到的第一条件下所述第一目标测试值和第二目标测试值的时间,和测试得到的第二条件下第一目标测试值和第二目标测试值的时间,即可确定第一待测试物理变量的加速系数。上述实现过程中,同一时间段仅需针对预设样品进行一种条件下的测试,并通过预测模型预测得到的第一条件下达到相同目标测试值的时间,从而通过单批次的样品即可实现对于不同条件下加速系数的确定,解决了现有方式中需要多批次、大样品量测试,成本高的问题。此外,由于不需要采用多批次样品,也避免了由于样品之间差异造成的不确定性,影响加速系数的准确性的问题。

进一步地,根据预测得到的所述第一条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,和测试得到的所述第二条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,确定所述待测试物理变量的加速系数,包括:根据预测得到的所述第一条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,和测试得到的所述第二条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,得到从所述第一条件变为所述第二条件时所述第一待测试物理变量对应的加速系数的值;根据从所述第一条件变为所述第二条件时所述第一待测试物理变量对应的加速系数的值,以及所述第二条件下的第一待测试物理变量的值和所述第一条件下的第一待测试物理变量的值,按照所述第一待测试物理变量的预设加速系数模型,确定出所述第一待测试物理变量的加速因子的值;将所述加速因子的值代入所述加速系数模型中,得到所述第一待测试物理变量的加速系数。

需要理解的是,在实际应用中,物理变量所对应的加速系数往往是与该物理变量的值相关联的函数,该函数中的常量被称之为加速因子,因此通过确定出物理变量所对应的加速因子,即可快速确定出物理变量所对应的加速系数。

比如,对于集成电路产品中的电压这一物理变量而言,其所对应的加速系数可以通过V-model(V模型,一种电压对应的加速系数模型)表征为EXP(beta(V2-V1))。式中,EXP表征以自然常数e为底的指数函,beta为V-model中与加速系数相关的加速因子,值为常数,受产品本身的材质、结构等自身因素影响,V1和V2为两个不同的电压值,因此,当beta的值确定后,电压这一物理变量所对应的加速系数即可被确定。

此外,对于该物理变量的两种不同值的不同条件下,加速系数还会与这两种条件下得到相同的测试值的时间相关。比如对于集成电路产品中的电压这一物理变量而言,假定第一条件中电压为V1,达到第一目标测试值对应的时间为t

据此,在上述实现过程中,通过预测得到的第一条件下第一目标测试值和第二目标测试值的时间,和测试得到的第二条件下第一目标测试值和第二目标测试值的时间,以及第一待测试物理变量的预设加速系数模型,就可以很容易地确定出加速因子,进而确定出第一待测试物理变量的加速系数。整个确定过程利用预测模型的预测值和第二条件下的实际测试值实现,实现简单,通过单批次的样品即可实现,测试周期更短且成本更低,且测试都是在同一样品上实现的,测试结果不会受到不同样品之间差异所造成的不确定性的影响,测试结果更为准确。

进一步地,所述第二目标测试值为多个;所述根据预测得到的所述第一条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,和测试得到的所述第二条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,得到从所述第一条件变为所述第二条件时所述第一待测试物理变量对应的加速系数的值,包括:根据预测得到的所述第一条件下所述第一目标测试值和各所述第二目标测试值的时间,和测试得到的所述第二条件下所述第一目标测试值和各所述第二目标测试值的时间,得到所述第二条件下各所述第二目标测试值所对应的加速系数;根据各所述第二目标测试值所对应的加速系数,确定从所述第一条件变为所述第二条件时所述第一待测试物理变量对应的加速系数的值。

在上述实现过程中,通过多个第二目标测试值来确定出从第一条件变为第二条件时所述第一待测试物理变量对应的加速系数的值。这样,就使得对于从第一条件变为第二条件时,第一待测试物理变量对应的加速系数的值的确定,能够综合多个测试结果,从而提高所确定出的从第一条件变为第二条件时,第一待测试物理变量对应的加速系数的值的准确性,进而使得最终确定出的加速系数能够更为准确。

进一步地,根据各所述第二目标测试值所对应的加速系数,确定从所述第一条件变为所述第二条件时所述第一待测试物理变量对应的加速系数的值,包括:确定各所述第二目标测试值所对应的加速系数的平均值;所述平均值为从所述第一条件变为所述第二条件时所述第一待测试物理变量对应的加速系数的值。

进一步地,所述第二目标测试值为多个;所述根据预测得到的所述第一条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,和测试得到的所述第二条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,得到从所述第一条件变为所述第二条件时所述第一待测试物理变量对应的加速系数的值,包括:根据预测得到的所述第一条件下所述第一目标测试值和各所述第二目标测试值的时间,和测试得到的所述第二条件下所述第一目标测试值和各所述第二目标测试值的时间,得到所述第二条件下各所述第二目标测试值所对应的,所述第一待测试物理变量的值的加速系数;

对应的,根据从所述第一条件变为所述第二条件时所述第一待测试物理变量对应的加速系数的值,以及所述第二条件下的第一待测试物理变量的值和所述第一条件下的第一待测试物理变量的值,按照所述第一待测试物理变量的预设加速系数模型,确定出所述第一待测试物理变量的加速因子的值,包括:根据所述第二条件下的各所述第二目标测试值所对应的加速系数,以及所述第二条件下的第一待测试物理变量的值和所述第一条件下的第一待测试物理变量的值,按照所述第一待测试物理变量的预设加速系数模型,确定出各所述第二目标测试值所对应的加速因子的值;根据各所述第二目标测试值所对应的加速因子的值,确定出所述第一待测试物理变量的加速因子的值。

在上述实现过程中,通过多个第二目标测试值来确定出第一待测试物理变量的加速因子的值。这样,就使得对于加速因子的值的确定,能够综合多个测试结果,从而提高所确定出的加速因子的值的准确性,进而使得最终确定出的加速系数能够更为准确。

进一步地,所述方法还包括:获取所述预设样品,在第三条件下进行测试期间,所述标的变量达到第三目标测试值和第四目标测试值时的时间;所述第三条件为改变所述第一条件中第二待测试物理变量的值所得到的条件,所述第二待测试物理变量为所述第一条件中除所述第一待测试物理变量外的任一物理变量;使用所述预测模型,预测所述预设样品在所述第一条件下,所述标的变量达到所述第三目标测试值和所述第四目标测试值的时间;根据预测得到的所述第一条件下所述第三目标测试值和所述第四目标测试值的时间,和测试得到的所述第三条件下所述第三目标测试值和所述第四目标测试值的时间,确定所述第二待测试物理变量的加速系数。

在上述实现过程中,通过重新在第一条件的基础上,改变另一物理变量的值,从而实现可以在同一样品上继续实现对于另一物理变量的加速系数的确定,即可以基于单批次样品实现对于多个物理变量的加速系数的确定,而不需要采用多个批次实现,降低了测试成本和周期,同时避免了不同批次产品之间差异造成的不确定性的影响,使得测试结果更为准确。

进一步地,所述根据各所述测试值以及各所述测试值的时间,建立所述预设样品在所述第一条件下的标的变量与测试时间的预测模型,包括:在以测试值和测试时间作为坐标轴的坐标系中,对所述测试值以及各所述测试值的时间所确定的各坐标点进行拟合,得到所述测试值以及各所述测试值的时间的拟合函数;所述拟合函数为所述预设样品在所述第一条件下的标的变量与测试时间的预测模型。

在上述实现过程中,通过拟合方式可以很好的反映出第一条件下的标的变量与测试时间之间的变化规律,从而可以使得预测模型的预测结果更为贴合实际结果,从而提高方案确定出的加速系数的准确性。

本申请实施例还提供了一种加速系数确定装置,包括:模型建立模块和处理模块;

所述模型建立模块,用于获取针对预设样品在第一条件下,标的变量的多个测试值以及各测试值的时间,根据各所述测试值以及各所述测试值的时间,建立所述预设样品在所述第一条件下的标的变量与测试时间的预测模型;所述第一条件包括多个物理变量,且各所述物理变量具有设定值;所述标的变量随着测试时间以及所述第一条件中的任一物理变量的值的改变而改变;

所述处理模块,用于获取所述预设样品,在第二条件下进行测试期间,所述标的变量达到第一目标测试值和第二目标测试值时的时间;所述第二条件为改变所述第一条件中第一待测试物理变量的值所得到的条件,所述第一待测试物理变量为所述第一条件中的任一物理变量;使用所述预测模型,预测所述预设样品在所述第一条件下,所述标的变量达到所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间;根据预测得到的所述第一条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,和测试得到的所述第二条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,确定所述第一待测试物理变量的加速系数。

在上述实现过程中,同一时间段仅需针对预设样品进行一种条件下的测试,并通过预测模型预测得到的第一条件下达到相同目标测试值的时间,从而通过单批次的样品即可实现对于不同条件下加速系数的确定,解决了现有方式中需要多批次、大样品量测试,成本高的问题。此外,由于不需要采用多批次样品,也避免了由于样品之间差异造成的不确定性,影响加速系数的准确性的问题。

本申请实施例还提供了一种电子设备,包括:处理器、存储器及通信总线;所述通信总线用于实现所述处理器和存储器之间的连接通信;所述处理器用于执行存储器中存储的一个或者多个程序,以实现上述任一种的加速系数确定方法。

本申请实施例中还提供了一种可读存储介质,所述可读存储介质存储有一个或者多个程序,所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行,以实现上述任一种的加速系数确定方法。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案,下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本申请的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的一种加速系数确定方法的流程示意图;

图2为本申请实施例提供的一种预测模型的初始曲线示意图;

图3为本申请实施例提供的一种测试物理变量V时的曲线变化示意图;

图4为本申请实施例提供的一种继续测试物理变量T时的曲线变化示意图;

图5本申请实施例提供的一种加速系数确定装置的结构示意图;

图6为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行描述。

实施例一:

为实现对于加速系数的可靠确定,在本申请实施例中提供了一种加速系数确定方法。请参见图1所示,图1为本申请实施例所提供的加速系数确定方法的流程示意图,包括:

S101:获取针对预设样品在第一条件下,标的变量的多个测试值以及各测试值的时间。

需要说明的是,第一条件中包括有多个物理变量,且各物理变量具有设定值。此外,本申请实施例中所述的标的变量是指,可以随着测试时间以及第一条件中的任一物理变量的值的改变而改变的变量。在本申请实施例中,物理变量可以是电压,温度,湿度等影响产品使用的物理量。

在本申请实施例中,由工程师可以根据所需测试的物理变量,寻找出受这些物理变量的值所影响的变量来作为标的变量。示例性的,标的变量可以是产品的最小操作电压,产品的最大信号频率,或者其它变量。

在本申请实施例中,第一条件中所具有的物理变量的种类和每种物理变量在第一条件中的值可以由工程师根据实际需要进行设定。

在本申请实施例中,预设样品可以由工程师根据所需测试的产品,从生产出的产品样品中进行选择。在选择好样品(选择好的样品即预设样品)之后,即可将预设样品置于第一条件下进行测试,从而获取到多个测试值以及各测试值的时间。

应当理解的是,如果所需测试的产品种类的不同,往往设定的物理变量以及采用的标的变量也会不同。因此,测试过程中具体设定的物理变量以及采用的标的变量,可以由工程师根据实际需要测试的产品进行选择、配置。

S102:根据各测试值以及各测试值的时间,建立预设样品在第一条件下的标的变量与测试时间的预测模型。

示例性的,在本申请实施例中,可以在以测试值和测试时间作为坐标轴的坐标系中,对测试值以及各测试值的时间所确定的各坐标点进行拟合,从而得到测试值以及各测试值的时间的拟合函数。此时,所得到的拟合函数即为预设样品在第一条件下的标的变量与测试时间的预测模型。

应理解,除了可以通过前述拟合的方式实现预测模型的构建外,还可以通过诸如平滑法、自回归模型、移动平均模型、自回归移动平均模型、自回归差分移动平均模型等方法实现,在本申请实施例中并不做限定。

应理解,通常,获取到的标的变量的测试值以及各测试值的时间越多,即样本越多,那么构建出的预测模型则越能贴合实际规律,预测结果往往就越准确,但相应的构建预测模型所花的时间就会越多。

为此,在本申请实施例中,工程师可以根据实际测试需要,设定步骤S101中所需获取到的测试值以及各测试值的时间的数量。

S103:获取预设样品,在第二条件下进行测试期间,标的变量达到第一目标测试值和第二目标测试值时的时间。

需要说明的是,本申请实施例中所述的第二条件是指,改变第一条件中第一待测试物理变量的值,并保持第一条件中其余物理变量的值不变所得到的条件。其中,第一待测试物理变量为本轮所需测试的物理变量,其可以是第一条件中的任一物理变量。

比如,第一条件中包括电压,温度,湿度三个物理变量,值分别为电压V1,温度T1,湿度R1。假设本轮希望确定电压对应的加速系数。则第二条件可以设定为:电压V2,温度T1,湿度R1,其中V2不等于V1。

S104:使用预测模型,预测预设样品在所述第一条件下,标的变量达到第一目标测试值和第二目标测试值的时间。

在本申请实施例中,第一目标测试值和第二目标测试值可以由工程师根据实际需要进行设定。

需要说明的是,步骤S103和S104之间可以没有时序限制。

可选的,在本申请实施例中,第一目标测试值可以取第二条件下测试开始时的标的标量的值,从而可以快速获取到第二条件下开始测试时的时间,从而得到第一目标测试值对应的时间。

S105:根据预测得到的第一条件下第一目标测试值和第二目标测试值的时间,和测试得到的第二条件下第一目标测试值和第二目标测试值的时间,确定第一待测试物理变量的加速系数。

应理解,在实际应用中,物理变量所对应的加速系数往往是与该物理变量的值相关联的函数,该函数中的常量被称之为加速因子。

比如,对于集成电路产品中的电压这一物理变量而言,其所对应的加速系数可以通过V-model(V模型,一种电压对应的加速系数模型)表征为EXP(beta(V2-V1))。式中,EXP表征以自然常数e为底的指数函,beta为V-model中与加速系数相关的加速因子,值为常数,受产品本身的材质、结构等自身因素影响,V1和V2为两个不同的电压值。

因此,在本申请实施例中,为了确定出第一待测试物理变量的加速系数,需要先确定出第一待测试物理变量所对应的加速因子的值。

还需要说明的是,在已明确物理变量的两种具体值的两种条件下,加速系数还会与这两种条件下得到相同测试值的时间相关。例如,会与两种条件下,得到第一目标测试值和得到第二目标测试值的时间差相关。

比如,对于集成电路产品中的电压这一物理变量而言,假定第一条件中电压为V1,达到第一目标测试值对应的时间为t

因此,在本申请实施例中,可以根据预测得到的第一条件下第一目标测试值和第二目标测试值的时间(比如上例中的t

然后,根据从第一条件变为第二条件时第一待测试物理变量对应的加速系数的值,以及第二条件下的第一待测试物理变量的值和第一条件下的第一待测试物理变量的值,按照第一待测试物理变量的预设加速系数模型,确定出第一待测试物理变量的加速因子的值。

比如,对于上例而言,则有(t

进而,将加速因子的值代入所述加速系数模型中,得到第一待测试物理变量的加速系数。

比如,对于上例而言,假设beta的值为1,则可以确定电压这一物理变量的加速系数为EXP(beta(Vx-Vy)),其中Vx和Vy为电压值。

应当理解的是,在理想状态的测试环境下,理论上,无论第一目标测试值和第二目标测试值的取值如何改变,其得到的加速系数应当都是一致的。但是,实际应用中,测试环境并不是理想状态,因此不同的目标测试值取值往往得到的加速系数会存在一定的偏差。

而为了提高确定出的加速系数的可靠性,在本申请实施例的一种可行实施方式中,可以取多个第二目标测试值,从而可以基于多个第二目标测试值,综合确定加速系数。

在上述可行实施方式的一种可选方式中,可以根据预测得到的第一条件下第一目标测试值和各第二目标测试值的时间,和测试得到的第二条件下所述第一目标测试值和各第二目标测试值的时间,得到第二条件下各第二目标测试值所对应的加速系数。

然后,根据各第二目标测试值所对应的加速系数,确定从第一条件变为第二条件时第一待测试物理变量对应的加速系数的值。

进而依据确定出的从第一条件变为第二条件时第一待测试物理变量对应的加速系数的值,再按照前文所述的方式,确定出第一待测试物理变量对应的加速因子的值,进而确定出第一待测试物理变量对应的加速系数。

可选的,在上述方式中,可以确定各第二目标测试值所对应的加速系数的平均值,从而以该平均值作为从第一条件变为第二条件时第一待测试物理变量对应的加速系数的值。

示例性的,仍以集成电路产品中的电压这一物理变量为例,假定第二目标测试值有3个,分别为K1、K2、K3。假定第一条件中电压为V1,达到第一目标测试值对应的时间为t

那么,可以确定出K1、K2、K3分别对应的电压从V1变为V2时的加速系数的值:(t

需要理解的是,上述取平均值作为从第一条件变为第二条件时第一待测试物理变量对应的加速系数的值的方式,仅是本申请实施例中的一种可选方式,并不作为限制。事实上,本申请实施例中可以采用任何可以综合各第二目标测试值所对应的加速系数的方式,来确定从第一条件变为第二条件时第一待测试物理变量对应的加速系数的值。比如,还可以通过去除掉各第二目标测试值所对应的加速系数的值中的最大值和最小值,然后对剩余值取平均值,作为从第一条件变为第二条件时第一待测试物理变量对应的加速系数的值。

而在上述可行实施方式的另一种可选方式中,可以根据预测得到的第一条件下第一目标测试值和各第二目标测试值的时间,和测试得到的第二条件下第一目标测试值和各第二目标测试值的时间,得到第二条件下各第二目标测试值所对应的,第一待测试物理变量的值的加速系数。

然后,根据第二条件下的各第二目标测试值所对应的加速系数,以及第二条件下的第一待测试物理变量的值和第一条件下的第一待测试物理变量的值,按照第一待测试物理变量的预设加速系数模型,确定出各第二目标测试值所对应的加速因子的值。

进而根据各所述第二目标测试值所对应的加速因子的值,确定出所述第一待测试物理变量的加速因子的值,再按照前文所述的方式,将该加速因子的值代入所述加速系数模型中,得到第一待测试物理变量的加速系数。

可选的,在上述可选方式中,可以确定各第二目标测试值所对应的加速因子的值的平均值,从而以该平均值作为第一待测试物理变量的加速因子的值。

示例性的,仍以集成电路产品中的电压这一物理变量为例,假定第二目标测试值有3个,分别为K1、K2、K3。假定第一条件中电压为V1,达到第一目标测试值对应的时间为t

那么,可以确定出K1、K2、K3分别对应的电压从V1变为V2时的加速系数的值:(t

然后,可以计算beta1、beta2和beta3的平均数,从而得到第一待测试物理变量的加速因子的值为(beta1+beta2+beta3)/3。

需要理解的是,上述取平均值作为第一待测试物理变量的加速因子的值的方式,仅是本申请实施例中的一种可选方式,并不作为限制。事实上,本申请实施例中可以采用任何可以综合各第二目标测试值所对应的加速因子的值的方式,来确定第一待测试物理变量的加速因子的值。

需要说明的是,在本申请实施例中,若需要确定多个物理变量所对应的加速系数,那么在确定出一个物理变量的加速系数后,可以在第一条件的基础上,改变第一条件中第二待测试物理变量的值,并保持第一条件中其余物理变量的值不变,从而得到第三条件。其中,第二待测试物理变量为本轮所需测试的物理变量,其可以是第一条件中除已测试过的物理变量以外的任一物理变量。

与第二条件下类似的,可以获取预设样品在第三条件下进行测试期间,标的变量达到第三目标测试值和第四目标测试值时的时间。并使用该预测模型,预测预设样品在第一条件下,标的变量达到第三目标测试值和第四目标测试值的时间。

进而,根据预测得到的第一条件下第三目标测试值和第四目标测试值的时间,和测试得到的第三条件下第三目标测试值和第四目标测试值的时间,确定第二待测试物理变量的加速系数。

应理解,该第三条件下确定第二待测试物理变量的加速系数的过程本质与第二条件下确定第一待测试物理变量的加速系数的过程是一致的,区别仅在于改变值的物理变量的种类不同,以及设定的目标测试值可以存在不同。因此,参见上述关于第二条件下确定第一待测试物理变量的加速系数的过程,在此不再对第三条件下确定第二待测试物理变量的加速系数的过程进行展开描述。

应理解,若在确定出了两个物理变量的加速系数后,还需要确定别的物理变量的加速系数,则可以类似于确定第三条件的方式,确定出第四条件、第五条件等等,进而参照第二条件下确定第一待测试物理变量的加速系数的过程,确定出其余物理变量的加速系数。

需要说明的是,本申请实施例的方案可以应用到各种需要确定加速系数的场景中,比如可以应用到可靠性测试场景中。

本申请实施例所提供的方案,首先通过第一条件下的多个测试值以及各测试值的时间,构建出第一条件下的标的变量与测试时间的预测模型。然后,改变第一条件中第一待测试物理变量的值得到第二条件,获取对预设样品在第二条件下进行测试时标的变量达到第一目标测试值和第二目标测试值的时间。此外,采用预测模型,预测预设样品在第一条件下,标的变量达到第一目标测试值和第二目标测试值的时间。然后,根据预测得到的第一条件下所述第一目标测试值和第二目标测试值的时间,和测试得到的第二条件下第一目标测试值和第二目标测试值的时间,即可确定第一待测试物理变量的加速系数。这样,同一时间段仅需针对预设样品进行一种条件下的测试(另一条件下的测试结果则通过预测模型预测得到),从而使得通过单批次的样品(极端情况下甚至可以是单个样品)即可实现对于不同条件下加速系数的确定,解决了现有方式中需要多批次、大样品量测试,成本高的问题。此外,由于不需要采用多批次样品,也避免了由于样品之间差异造成的不确定性,影响加速系数的准确性的问题。

实施例二:

本实施例在实施例一的基础上,以一种具体的加速系数的确定过程为例,对本申请的方案进行进一步地示例说明。

假设需测试的物理变量为电压V和温度T。标的变量为F(V,T,t),其中t为时间变量。

首先,选择一批次的样品作为实验样品,将其在第一条件(V=V1,T=T1)下进行测试,记录前n个时间点(t

需要说明的是,该预测模型实质也是第一条件下的可靠性退化模型。

然后,改变电压V的值,得到第二条件(V=V2,T=T1),在第二条件下继续测试该实验样品到t

使用预测模型,外推获得F(V2,T1,t

计算物理变量电压V变化导致的加速系数的值:AFV=(tm-tn)/(tn+1-tn)=EXP(beta(V2-V1))=(V2/V1)^gamma。AFV表征加速系数的值。

由此可以获得电压加速因子beta的值(beta为采用V-model时的电压加速因子),也可以获得电压加速因子gamma的值(gamma为采用Power Law model(幂次分布模型)时的电压加速因子)。

上述beta和gamma可以根据实际需要,选择获得其中的一种,或者全部都获取。

假设上述物理变量V的加速系数在t

可以继续使用上述方法,测试第三条件(V1,T2)下t

使用模型外推得到和F(V1,T2,t

计算物理变量T的加速系数为AVT=(t

通过本实施例的方案,可以根据单批次样品测试加速系数和加速因子值,避免了批次差异造成的波动。此外,可以在测试过程中得到可靠性退化模型和加速因子值。此外,还可以通过陆续改变物理变量,从而得到多个物理变量的加速系数及加速因子值。

实施例三:

基于同一发明构思,本申请实施例中还提供了一种加速系数确定装置。请参阅图5所示,图5示出了与实施例一所示的加速系数确定方法对应的加速系数确定装置100。应理解,装置100具体的功能可以参见上文中的描述,为避免重复,此处适当省略详细描述。装置100包括至少一个能以软件或固件的形式存储于存储器中或固化在装置100的操作系统中的软件功能模块。具体地:

参见图5所示,加速系数确定装置100,包括:模型建立模块101和处理模块102。其中:

所述模型建立模块101,用于获取针对预设样品在第一条件下,标的变量的多个测试值以及各测试值的时间,根据各所述测试值以及各所述测试值的时间,建立所述预设样品在所述第一条件下的标的变量与测试时间的预测模型;所述第一条件包括多个物理变量,且各所述物理变量具有设定值;所述标的变量随着测试时间以及所述第一条件中的任一物理变量的值的改变而改变。

所述处理模块102,用于获取所述预设样品,在第二条件下进行测试期间,所述标的变量达到第一目标测试值和第二目标测试值时的时间;所述第二条件为改变所述第一条件中第一待测试物理变量的值所得到的条件,所述第一待测试物理变量为所述第一条件中的任一物理变量;使用所述预测模型,预测所述预设样品在所述第一条件下,所述标的变量达到所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间;根据预测得到的所述第一条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,和测试得到的所述第二条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,确定所述第一待测试物理变量的加速系数。

在本申请实施例的一种可行实施方式中,处理模块102具体用于,根据预测得到的所述第一条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,和测试得到的所述第二条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间,得到从所述第一条件变为所述第二条件时所述第一待测试物理变量对应的加速系数的值;根据从所述第一条件变为所述第二条件时所述第一待测试物理变量对应的加速系数的值,以及所述第二条件下的第一待测试物理变量的值和所述第一条件下的第一待测试物理变量的值,按照所述第一待测试物理变量的预设加速系数模型,确定出所述第一待测试物理变量的加速因子的值;将所述加速因子的值代入所述加速系数模型中,得到所述第一待测试物理变量的加速系数。

在上述可行实施方式的一种可行示例中,所述第二目标测试值为多个;所述处理模块102具体用于,根据预测得到的所述第一条件下所述第一目标测试值和各所述第二目标测试值的时间,和测试得到的所述第二条件下所述第一目标测试值和各所述第二目标测试值的时间,得到所述第二条件下各所述第二目标测试值所对应的加速系数;根据各所述第二目标测试值所对应的加速系数,确定从所述第一条件变为所述第二条件时所述第一待测试物理变量对应的加速系数的值。

在上述可行示例中,确定各所述第二目标测试值所对应的加速系数的平均值;所述平均值为从所述第一条件变为所述第二条件时所述第一待测试物理变量对应的加速系数的值。

在上述可行实施方式中,所述处理模块102具体用于,确定各所述第二目标测试值所对应的加速系数的平均值;所述平均值为从所述第一条件变为所述第二条件时所述第一待测试物理变量对应的加速系数的值。

在上述可行实施方式的一种可行示例中,所述第二目标测试值为多个;所述处理模块102具体用于,根据预测得到的所述第一条件下所述第一目标测试值和各所述第二目标测试值的时间,和测试得到的所述第二条件下所述第一目标测试值和各所述第二目标测试值的时间,得到所述第二条件下各所述第二目标测试值所对应的,所述第一待测试物理变量的值的加速系数;根据所述第二条件下的各所述第二目标测试值所对应的加速系数,以及所述第二条件下的第一待测试物理变量的值和所述第一条件下的第一待测试物理变量的值,按照所述第一待测试物理变量的预设加速系数模型,确定出各所述第二目标测试值所对应的加速因子的值;根据各所述第二目标测试值所对应的加速因子的值,确定出所述第一待测试物理变量的加速因子的值。

在本申请实施例中,所述处理模块102还用于,获取所述预设样品,在第三条件下进行测试期间,所述标的变量达到第三目标测试值和第四目标测试值时的时间;使用所述预测模型,预测所述预设样品在所述第一条件下,所述标的变量达到所述第三目标测试值和所述第四目标测试值的时间;根据预测得到的所述第一条件下所述第三目标测试值和所述第四目标测试值的时间,和测试得到的所述第三条件下所述第三目标测试值和所述第四目标测试值的时间,确定所述第二待测试物理变量的加速系数。其中:

所述第三条件为改变所述第一条件中第二待测试物理变量的值所得到的条件,所述第二待测试物理变量为所述第一条件中除所述第一待测试物理变量外的任一物理变量。

在本申请实施例中,所述模型建立模块101具体用于,在以测试值和测试时间作为坐标轴的坐标系中,对所述测试值以及各所述测试值的时间所确定的各坐标点进行拟合,得到所述测试值以及各所述测试值的时间的拟合函数;所述拟合函数为所述预设样品在所述第一条件下的标的变量与测试时间的预测模型。

需要理解的是,出于描述简洁的考量,部分实施例一中描述过的内容在本实施例中不再赘述。

实施例四:

本实施例提供了一种电子设备,可以参见图6所示,其包括处理器601、存储器602及通信总线603。其中:

通信总线603用于实现处理器601和存储器602之间的连接通信。

处理器601用于执行存储器602中存储的一个或多个程序,以实现上述实施例一/二中的加速系数确定方法。

可以理解,图6所示的结构仅为示意,电子设备还可包括比图6中所示更多或者更少的组件,或者具有与图6所示不同的配置,在本申请实施例中不做限定。

本实施例还提供了一种可读存储介质,如软盘、光盘、硬盘、闪存、U盘、SD(SecureDigital Memory Card,安全数码卡)卡、MMC(Multimedia Card,多媒体卡)卡等,在该可读存储介质中存储有实现上述各个步骤的一个或者多个程序,这一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行,以实现上述实施例一/二中的加速系数确定方法。在此不再赘述。

在本申请所提供的实施例中,应该理解到,所揭露装置和方法,可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,又例如,多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。

另外,作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

再者,在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分,也可以是各个模块单独存在,也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。

在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。

在本文中,多个是指两个或两个以上。

以上所述仅为本申请的实施例而已,并不用于限制本申请的保护范围,对于本领域的技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。

相关技术
  • 加速系数确定方法、装置、电子设备及可读存储介质
  • 母线热倒突变系数确定方法、系统、装置及可读存储介质
技术分类

06120112569353