电容校准系统、方法、设备及存储介质

技术领域

本申请实施例涉及但不限于设备测试技术领域，尤其涉及一种电容校准系统、方法、设备及存储介质。

背景技术

目前在测试机行业中，往往需要对电容器(如多层陶瓷电容器(MLCC))测量容值及损耗这两个重要参数，此时通常借助于电容测量装置进行容值和损耗的测量。但是，在电容测量装置使用前，往往需要完成开路、短路两项校准，但是相关技术中电容测量装置无法实现内部编程，因此需要人为进行校准。以电容测量装置为电容计E4981A为例，在进行测量之前，在无被测物时，需要先进行开路以及短路的测量，且由于电容计上待测量的通道较多，需要逐一测试，从而导致校准时间较长，因此，需要一种方式能提升电容测量装置的电容的校准效率。

发明内容

以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

本申请实施例提供了一种电容校准系统、方法、设备及存储介质，能提升电容测量装置的电容的校准效率。

第一方面，根据本申请一些实施例提供的一种电容校准系统，所述校准系统包括：

电容测量装置；

切换装置，所述切换装置与所述电容测量装置的测试接口电连接；

电极驱动组件，所述电极驱动组件包括驱动件、第一电极组件以及第二电极组件，所述驱动件的驱动端与所述第一电极组件连接，所述第一电极组件以及所述第二电极组件均与所述切换装置电连接；

控制模块，所述控制模块与所述切换装置、所述电容测量装置以及所述驱动件均通信连接，所述控制模块用于控制所述驱动件使得所述第一电极组件和所述第二电极组件处于开路状态并通过所述电容测量装置和所述切换装置进行开路校准得到的第一校准参数，所述控制模块还用于控制所述驱动件使得所述第一电极组件和所述第二电极组件处于短路状态并通过所述电容测量装置和所述切换装置进行短路校准得到的第二校准参数，所述第一校准参数和所述第二校准参数用于对所述电容测量装置进行电容校准。

第二方面，根据本申请一些实施例提供的一种电容校准方法，所述校准方法应用于电容校准系统，所述电容校准系统包括：电容测量装置、切换装置以及电极驱动组件，所述切换装置与所述电容测量装置的测试接口电连接；所述电极驱动组件包括驱动件、第一电极组件以及第二电极组件，所述驱动件的驱动端与所述第一电极组件连接，所述第一电极组件以及所述第二电极组件均与所述切换装置电连接，所述方法包括：

控制所述驱动件使得所述第一电极组件和所述第二电极组件处于开路状态并通过所述电容测量装置和所述切换装置进行开路校准得到的第一校准参数；

控制所述驱动件使得所述第一电极组件和所述第二电极组件处于短路状态并通过所述电容测量装置和所述切换装置进行短路校准得到的第二校准参数；所述第一校准参数和所述第二校准参数用于对所述电容测量装置进行电容校准。

第三方面，根据本申请一些实施例提供的电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第二方面任意一项所述的电容校准方法。

第四方面，根据本申请一些实施例提供的一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于实现如第二方面任意一项所述的电容校准方法。

本申请实施例包括：通过设置驱动件使得第一电极组件和第二电极组件分别处于开路状态和短路状态，从而使得电容测量装置进行开路校准和短路校准的物理环境可以实现自动就绪，且通过切换装置可以实现电容测量装置对不同待测通道的电极切换，此时，通过控制模块分别对驱动件、切换装置以及电容测量装置下发控制指令，实现电容测量装置分别在开路状态和短路状态下对不同待测通道的开路校准以及短路校准，从而得到电容测量装置在实际测量过程中用于电容校准所需的第一校准参数和第二校准参数。和相关技术相比，本申请实施例在电容测量装置不支持内部编程的情况下，通过控制模块、电机驱动组件以及切换装置共同实现不同待测通道的开路和短路的自动校准，因此，本申请实施例能能提升电容测量装置的电容的校准效率。

附图说明

图1是本申请实施例中电容校准系统的结构总示意图；

图2(a)是本申请实施例中电容校准系统的开路校准的等效电路示意图；

图2(b)是本申请实施例中电容校准系统的短路校准的等效电路示意图；

图2(c)是本申请实施例中电容校准系统的电容测量的等效电路示意图；

图3是本申请实施例中电容校准系统的电极驱动组件的不含第二电极组件的结构示意图；

图4是本申请实施例中电容校准系统的电极驱动组件的部分结构剖面示意图；

图5是本申请实施例中电容校准系统的电极驱动组件的不含第一电极组件的结构示意图；

图6是本申请实施例中电容校准系统中电容测量装置的背面示意图；

图7是本申请实施例中电容校准系统中一个实施例的校准过程示意图；

图8是本申请实施例中电容校准方法的流程示意图；

图9是本申请实施例中电容校准方法对应的电子设备的硬件结构示意图。

附图标记：

电容测量装置100、HANDLER接口110、SCANNER接口120、GPI B接口130、

切换装置200、

电极驱动组件300、驱动件310、第一电极组件320、第一插针模组321、顶针3211、第一电极模组322、第一电极3221、第二电极组件330、第二电极模组331、第二电极3311、测试部连接板340、测试部安装板350、电极安装板360、电极装载夹具370、挤压块372、调节螺丝373、

控制模块400、

上位机500。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

需要说明的是，虽然在装置示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

附图中所示的流程图仅是示例性说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解，而有的操作/步骤可以合并或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。

目前在测试机行业中，往往需要对电容器(如多层陶瓷电容器(MLCC))测量容值及损耗这两个重要参数，此时通常借助于电容测量装置进行容值和损耗的测量。但是，在电容测量装置使用前，往往需要完成开路、短路两项校准，而由于电容测量装置无法实现内部编程，因此需要人为进行校准。以电容测量装置为电容计E4981A为例，在进行测量之前，在无被测物时，需要先进行开路以及短路的测量，且由于电容计上待测量的通道较多，需要逐一测试，从而导致校准时间较长，因此，需要一种方式能提升电容测量装置的电容的校准效率。基于此，本申请提供一种电容校准系统、方法、设备及存储介质，能提升电容测量装置的电容的校准效率。

图1为本申请实施例的电容校准系统的一个具体实施例的系统示意图，参照图1所示，根据本申请的电容校准系统，包括：

电容测量装置100；

切换装置200，切换装置200与电容测量装置100的测试接口电连接；

电极驱动组件300，电极驱动组件300包括驱动件310、第一电极组件320以及第二电极组件330，驱动件310的驱动端与第一电极组件320连接，第一电极组件320以及第二电极组件330均与切换装置200电连接；

控制模块400，控制模块400与切换装置200、电容测量装置100以及驱动件310均通信连接，控制模块400用于控制驱动件310使得第一电极组件320和第二电极组件330处于开路状态并通过电容测量装置100和切换装置200进行开路校准得到的第一校准参数，控制模块400还用于控制驱动件310使得第一电极组件320和第二电极组件330处于短路状态并通过电容测量装置100和切换装置200进行短路校准得到的第二校准参数，第一校准参数和第二校准参数用于对电容测量装置100进行电容校准。

因此，通过设置驱动件310使得第一电极组件320和第二电极组件330分别处于开路状态和短路状态，从而使得电容测量装置100进行开路校准和短路校准的物理环境可以实现自动就绪，且通过切换装置200可以实现电容测量装置100对不同待测通道的电极切换，此时，通过控制模块400分别对驱动件310、切换装置200以及电容测量装置100下发控制指令，实现电容测量装置100分别在开路状态和短路状态下对不同待测通道的开路校准以及短路校准，从而得到电容测量装置100在实际测量过程中用于电容校准所需的第一校准参数和第二校准参数。和相关技术相比，本申请实施例，在电容测量装置100不支持内部编程的情况下，通过控制模块400、电机驱动组件以及切换装置200共同实现不同待测通道的开路和短路的自动校准，因此，本申请实施例能能提升电容测量装置100的电容的校准效率。

需说明的是，第一电极组件320包括多个第一电极3221，第二电极组件330包括多个与第一电极3221一一对应的第二电极3311，每一组对应设置的第一电极3221和第二电极3311组成一个电极对，每一电极对对应一个电容测量装置100的通道，从而可以实现一次性对电容测量装置100的多个通道进行自动校准。切换装置200通过测试线缆与第一电极组件320和第二电极组件330电导通，从而可以根据控制模块400的通道片选请求，将与通道片选请求中待测通道对应的电极对导通。此时，电容测量装置100可以通过与切换装置200连接接口，获取导通的电极对的信息，从而得到电极对的第一校准参数和第二校准参数。

需说明的是，电容测量装置100用于电容测量，电容校准系统是用于对电容测量装置100分别进行开路校准和短路校准，以得到电容测量装置100在实际电容测量时校正电容所需的第一校准参数和第二校准参数。

需说明的是，控制模块400可以实现内部编程，电容测量装置100可以提供读写指令以供控制模块400进行开路校准、短路校准的校准流程触发以及第一校准参数、第二校准参数的读取。

需说明的是，驱动件310可以设置为电机，通过电机可以实现对第一电极组件320的移动，从而使得第一电极组件320与第二电极组件330之间留有间隔以形成开路状态，或者第一电极组件320与第二电极组件330抵接，形成短路状态，从而可以通过驱动件310实现电容测量装置100物理环境的自动设置。

需说明的是，第一校准参数和第二校准参数为影响电容的参数之一，通过对空载情况下进行电容测量，再对负载情况下进行电容测量，从而可以根据空载和负载之间的电容关系，确定第一校准参数、第二校准参数对实测过程中测量得到的电容的参数的影响，进而可以得到一个较为准确的电容。

示例性的，以第一校准参数为电极之间的导纳，第二校准参数为电极之间的阻抗为例，电容测量装置100的校准原理参照图2(a)～图2(c)所示，电容测量装置100在开路状态时其等效电路图参照如图2(a)所示，电容测量装置100在短路状态时其等效电路图参照如图2(b)所示，电容测量装置100在进行被测物体的电容测量时，其等效电路图参照如图2(c)所示。

参照图2(a)所示，在测量前先测量开路状态下，假设两电极之间的导纳Y

参照图2(b)所示，在短路状态下，假设两电极间的阻抗Z

Z

此时,在实际进行被测物的电容测量时，假设被测物的真实的阻抗Z

其中，Z

因此，可以基于图2(a)～图2(c)所示的校准原理，得到被测物的阻抗真实值Z

需说明的是，参照图1所示，在一些实施例中，电容校准系统还包括上位机500，示例性的，以切换装置200位切换盒为例，上位机500在用于进行程序控制及校准数据读写和工艺文件存储的功能；控制模块400作为控制信号的执行元件，与上位机500通过以太网连接；电容测量装置100作为校准装置进行校准，切换盒用于接收控制模块400发送的切换通道的信号，并与电容测量装置100连接，向电容测量装置100发送第一电极组件320和第二电极组件330测量得到的测量信号，示例性的，以电容测量装置100为电容计E4981A为例，测量使用开尔文四线制测试法，参照图6所示，电容计设置有HANDLER接口110、SCANNER接口120、GPIB接口130，且HANDLER接口110、SCANNER接口120、GPIB接口130均以线缆方式与控制模块400连接，其中HANDLER接口110主要负责从控制模块400接收校准触发信号及回馈完成信号，校准触发信号和回馈完成信号均为数字IO形式；SCANNER接口120主要负责从控制模块400接收通道片选请求以获得片选信号(即确定测量通道号)，信号为数字IO形式；GPIB接口130作为通讯接口，负责读写校准结果数据，以获得第一校准参数和第二校准参数，电容计还设置有测试接口，测试接口位于电容计的另一侧。电容计经由图1所示电容计的测试接口引出两对测试线，两对测试线经过切换装置200，一对以焊接方式与第一电极组件320连接，一对以焊接方式连接第二电极组件330。具体的，参照图1至图4所示，在一些实施例中，切换装置200的控制接口与图1的控制模块400连接，用以接收切换通道的信号；切换装置200输入侧的接头形式为BNC母座，以线缆形式连接电容测量装置100的测试端口；切换装置200输出侧的接头形式为BNC母座，以线缆形式分别连接至第一电极组件320和第二电极组件330。一些实施例中，切换装置200上还设置有状态指示灯用以表明目前导通的待测通道。

可理解的是，在一些实施例中，控制模块400还用于：

获取电容测量装置100的待测通道集以及当前的校准流程类别；

遍历待测通道集并生成待测通道集中每一待测通道的通道片选请求；

向电容测量装置100以及切换装置200发送通道片选请求；

将电容测量装置100的校准状态设置为关闭状态，并触发电容测量装置100对待测通道进行校准；

从电容测量装置100中读取待测通道的校准值；

当校准流程类别为开路校准，将校准值作为第一校准参数；

当校准流程类别为短路校准，将校准值作为第二校准参数。

需说明的是，对于电容测量装置100而言，通道片选请求用于向电容测量装置100进行仪表内部参数号的设置，以使电容测量装置100可以知道当前测量的通道的信息，并进行内部的初始化。对于切换装置200而言，通道片段请求用于向切换装置200请求电极对导通，以使物理上的电极对状态就绪。需说明的是，本申请实施例对通道片选请求的具体形式不做要求，本领域技术人员可以依据电容测量装置100对通道的识别方式进行格式封装，可以依据切换装置200对通道识别的方式进行格式封装。

需说明的是，将电容测量装置100的校准状态设置为关闭状态，在校准完成后改状态会设置为打开状态，从而可以得到判断依据校准状态的值判断是否完成校准。

需说明的是，在一些实施例中，对于电容测量装置100其开路校准和短路校准是相同的处理过程，具体的参见图2(a)和图2(b)所示。因此，需要控制模块400进行校准流程类别的区分，可以将第一校准参数和第二校准参数分类保存，更加便于后期的处理。

需说明的是，在一些实施例中，会对第一校准参数和第二校准参数进行校验，此时，在一些实施例中，会在每一次读取后进行一次校验，在另一些实施例中，会在所有通道校准完成后，进行统一校验。

需说明的是，在一些实施例中，待测通道集可以通过操作人员在人机界面选择电容测量装置100中的一个或多个通道进行测量以形成待测通道集。在另一些实施例中，待测通道集可以通过操作人员一键触发，将电容测量装置100中支持的多个通道均作为待测通道形成待测通道集。

需说明的是，在电容测量装置100中读取待测通道的校准值时，当连续预设次数读取时其校准状态均为OFF，则表示校准失败，此时需要重新触发电容测量装置100进行校准。示例性的，以预设次数为3为例，参照图7所示，当连续3次读取时校准状态为OFF，则重新触发电容测量装置100执行校准。

可理解的是，在一些实施例中，电容校准系统还包括显示模块，控制模块400还用于：

将第一校准参数与预设的开路校准阈值进行开路校验；

当开路校验结果显示校验不合格，控制显示模块将第一校准参数的待测通道用第一颜色填充。

需说明的是，参照图1所示，在一些实施例中，显示模块设置于上位机500上。需说明的是，开路校准阈值是预先设置的，可以通过配置文件进行加载，每个待测通道均可以对应有一个开路校准阈值，也可以多个待测通道共享一个开路校准阈值，对此，本申请实施例不做限制。

需说明的是，通过将待测通道进行第一颜色填充，使得显示时更容易识别出异常的待测通道，从而可以进行快速定位。

需说明的是，本申请实施例对第一颜色不做限制，本领域技术人员可以根据需要选择性设置。

需说明的是，第一校准参数大于开路校准阈值时，表示校验不合格。第一校准参数小于或等于开路标准阈值时，表示校验合格。

可理解的是，在一些实施例中，第一校准参数与电容测量装置100的待测通道一一对应，待测通道设置有多个，控制模块400还用于：

将多个第一校准参数进行第一极差计算；

当第一极差计算的计算结果大于预设的开路极值阈值，控制显示模块显示开路校准不良信息。

需说明的是，通过第一极差计算从而可以判断各个待测通道的测量结果之间的差异，当计算结果大于开路极值阈值表示各个通道之间的测量结果相差较大，此时，校准的结果是不可靠的。因此，通过第一极差计算可以进一步辅助判断进行校准的第一校准参数是否可用。

需说明的是，开路校准不良信息可以是文字信息，如“开路校准不良”，在另一些实施例中，开路校准不良信息也可以是图像信息，对此，本申请实施例不做限制。此时通过将整个开路校准过程中的总校准结果进行展示，操作人员可以依据单个通道以及多个通道的整体情况更为全面判断第一校准参数是否可用，提升校准的效率。

可理解的是，在一些实施例中，电容校准系统还包括显示模块，控制模块400还用于：

将第二校准参数与预设的短路标准阈值进行短路校验；

当短路校验结果显示校验不合格，控制显示模块将第二校准参数的待测通道用第二颜色填充。

需说明的是，第二颜色仅用于区分表示第二校准参数的待测通道的状态。在一些实施例中，第一校准参数和第二校准参数的待测通道分别显示时，第二颜色可以采用和第一颜色相同的颜色，也可以采用不同的颜色。需说明的是，在一些实施例中，当第一校准参数和第二校准参数仅通过第一颜色和第二颜色区分开路或短路校准的结果，第一颜色和第二颜色不同。对此，本申请实施例对第二颜色的选择不做约束。

可理解的是，在一些实施例中，第二校准参数与电容测量装置100的待测通道一一对应，待测通道设置有多个，控制模块400还用于：

将多个第二校准参数进行第二极差计算；

当第二极差计算的计算结果大于预设的短路极值阈值，控制显示模块显示短路校准不良信息。

需说明的是，短路校准不良信息可以是文字信息，如显示文字“短路校准不良”；在另一些实施例中，也可以显示图案信息以表示短路校准失败。

可理解的是，在一些实施例中，控制模块400还用于：

控制驱动件310回零并获取被测物的高度；

根据高度，控制驱动件310驱动第一电极组件320沿竖直方向移动，直至第一电极组件320和第二电极组件330之间的间距为该高度。

需说明的是，被测物是电容测量时实际需要测量的物体，通过在校准时，采用被测物的高度，可以使得测量结果更为准确。需说明的是，将驱动件310回零，可使得控制更为简单。示例性的，假设被测物的高度为2cm，则第一电极组件320和第二电极组件330之间间隔2cm。

需说明是，图3至图5所示，电极驱动组件300还包括测试部连接板340以及测试部安装板350，测试部连接板340与驱动件310的驱动端连接，测试部安装板350的一侧与测试部连接板340连接，第一电极组件320包括第一插针模组321和对应的第一电极模组322，第一插针模组321设置于测试部安装板350的上表面，第一电极模组322通过电极安装板360可拆卸安装于测试部安装板350下方，第一电极模组322包括多个第一电极3221，此时通过切换装置200导通第一插针模组321上的顶针3211，实现第一电极模组322上的第一电极3221的导通。示例性的，参照图4所示，以驱动件310可以设置为步进电机为例，驱动件310为整个电机驱动组件的执行元件，通过丝杆传动的滑台结构驱动第一电极组件320移动。其中，滑台的一侧连接测试部连接板340，测试部连接板340连接测试部安装板350；测试部安装板350的上表面装有多个第一插针模组321，测试部安装板350的下表面螺纹连接有电极安装板360，与第一插针模组321对应的第一电极模组322通过电极安装板360固定于测试部安装板350上。需说明的是，参照图3所示，第一电极3221与第一插针模组321相邻的一端为金属针结构，第一电极3221远离第一插针模组321的一端为金属轮结构。需说明的是，参照图3和参照图4所示，多个第一插针模组321间隔固定于测试部安装板350上，第一电极模组322根据实际需要选择性的安装于测试部安装部上并与对应的第一插针模组321形成一个第一电极组件320，需说明的是，在一些实施例中，可以多个第一电极模组322通过一个电极安装板360安装于测试部安装板350。

需说明的是，电极驱动组件300还包括电极装载夹具370，第二电极组件330包括第二插针模块以及第二电极模组331，第二插针模块包括多个探针，第二电极模组331包括多个与探针一一对应的第二电极3311，多个第二电极3311被一一对应夹持在电极装载夹具370的凹槽内，在凹槽的一侧设置有挤压块372，挤压块372通过旋紧电机装载夹具上的调节螺丝373挤压位于凹槽内的两个第二电极3311，使得第二电极3311被固定于凹槽内，当探针顶端顶至第二电极3311的下表面，实现电信号导通。示例性的，参照图5所示，第二电极模组331包括8个第二电极3311，第二电极3311为下电极，对应的第一电极模组322包括8个第一电极3221，且第一电极3221为上电极。

可理解的是，图8为本申请的电容校准方法的一个实施例的流程示意图，电容校准方法应用于上述电容校准系统，通过电容校准系统中的控制模块400执行电容校准方法实现对电容测量装置100的校准，参照图8所示，根据本申请实施例的电容校准方法，方法包括：

步骤S100、控制驱动件310使得第一电极组件320和第二电极组件330处于开路状态并通过电容测量装置100和切换装置200进行开路校准得到的第一校准参数；

步骤S200、控制驱动件310使得第一电极组件320和第二电极组件330处于短路状态并通过电容测量装置100和切换装置200进行短路校准得到的第二校准参数；第一校准参数和第二校准参数用于对电容测量装置100进行电容校准。

因此，通过设置驱动件310使得第一电极组件320和第二电极组件330分别处于开路状态和短路状态，从而使得电容测量装置100进行开路校准和短路校准的物理环境可以实现自动就绪，且通过切换装置200可以实现电容测量装置100对不同待测通道的电极切换，此时，通过控制模块400分别对驱动件310、切换装置200以及电容测量装置100下发控制指令，实现电容测量装置100分别在开路状态和短路状态下对不同待测通道的开路校准以及短路校准，从而得到电容测量装置100在实际测量过程中用于电容校准所需的第一校准参数和第二校准参数。和相关技术相比，本申请实施例，在电容测量装置100不支持内部编程的情况下，通过控制模块400、电机驱动组件以及切换装置200共同实现不同待测通道的开路和短路的自动校准，因此，本申请实施例能能提升电容测量装置100的电容的校准效率。

可理解的是，在一些实施例中，控制驱动件310使得第一电极组件320和第二电极组件330处于开路状态，包括：

控制驱动件310回零并获取被测物的高度；

根据高度，控制驱动件310驱动第一电极组件320沿竖直方向移动，直至第一电极组件320和第二电极组件330之间的间距为该高度。

需说明的是，当第一电极组件320和第二电极组件330抵接时，第一电极组件320和第二电极组件330处于短路状态。

可理解的是，第一校准参数和第二校准参数均通过如下步骤获取：

获取电容测量装置100的待测通道集以及当前的校准流程类别；

遍历待测通道集并生成待测通道集中每一待测通道的通道片选请求；

向电容测量装置100以及切换装置200发送通道片选请求；

将电容测量装置100的校准状态设置为关闭状态，并触发电容测量装置100对待测通道进行校准；

从电容测量装置100中读取待测通道的校准值；

当校准流程类别为开路校准，将校准值作为第一校准参数；

当校准流程类别为短路校准，将校准值作为第二校准参数。

可理解的是，电容校准系统还包括显示模块，电容校准方法还包括：

将第一校准参数与预设的开路校准阈值进行开路校验；

当开路校验结果显示校验不合格，控制显示模块将第一校准参数的待测通道用第一颜色填充。

可理解的是，第一校准参数与电容测量装置100的待测通道一一对应，待测通道设置有多个，电容校准方法还包括：

将多个第一校准参数进行第一极差计算；

当第一极差计算的计算结果大于预设的开路极值阈值，控制显示模块显示开路校准不良信息。

可理解的是，电容校准系统还包括显示模块，电容校准方法还包括：

将第二校准参数与预设的短路标准阈值进行短路校验；

当短路校验结果显示校验不合格，控制显示模块将第二校准参数的待测通道用第二颜色填充。

可理解的是，第二校准参数与电容测量装置100的待测通道一一对应，待测通道设置有多个，电容校准方法还包括：

将多个第二校准参数进行第二极差计算；

当第二极差计算的计算结果大于预设的短路极值阈值，控制显示模块显示短路校准不良信息。

示例性的，参照图1至图8，描述本申请一个实施例的校准过程如下：

第一阶段开路校准阶段主要测量在无被测物状态下的两电极间电容。主要的执行过程是：参照图1至图7所示，将一组上电极(如图4所示，共8个电极)固定在测试部安装板350上，与第一插针模组321形成第一电极组件320，将驱动件310回到零点，然后以零点的位置作为驱动件310运动的基准位置沿Z轴移动。此时，参照图7所示，驱动件310下降Z轴，具体的驱动件310移动至预设高度，使得上电极的下表面与下电极的上表面的距离等于被测物规格高度，其中，被测物规格高度通过预设的参数配方文件读取得到被测物的规格信息确定。进一步，参照图7所示，接通通道，选择仪表内部参数号，具体的，参照图1所示，上位机500通过控制模块400先以数字IO形式控制切换装置200接通第一通道及输出数字IO形式的片选信号给电容测量装置100来改变仪表内部参数号。进一步，参照图8所示，电容计的校准状态置为OFF。进一步，参照图1和图7所示，上位机500发命令触发校准过程，此时，电容计执行校准。进一步，参照图7所示，上位机500读取到校准状态变为on状态后，上位机500发命令读取校准值并判断8个通道都校准完成，未校准完成时，重新进行接通通道，选择仪表内部参数号以进行下一个待测通道的测量。进一步，在读取标准状态过程中，采用周期读取，当连续3次为OFF，则该通道校准失败，参照图7所示，上位机500重新触发电容测量装置100执行校准。进一步，参照图7所示，当8个待测通道均校准完，对各待测通道校准值进行判断以及极差比较，具体的，将各待测通道的校准值与预先设定的开路校准阈值进行比较做出判定，不大于开路校准阈值为合格值，不合格以颜色填充对应通道并在上位机500的人机界面显示给操作员；将8个待测通道的校准值计算极差，不大于开路极差阈值为合格值，不合格以开路校准不良的文字形式在人机界面显示给操作员。此时，将校验合格的第一校准参数用于电容测量装置100的实际测量所需的校准参数之一。

第二阶段短路校准阶段主要测量两电极短接时两电极间的等效直流电阻，参照图4至图7所示，驱动件310下降直至7个通道的上下电极均全部接触。进一步，开始一个通道的测量，具体的，参照图7所示，接通通道，选择仪表内部参数号，具体的，上位机500通过控制器先以数字IO形式控制切换装置200接通第一通道及输出数字IO形式的片选信号来改变电容测量装置100仪表内部参数号。进一步，参照图7所示，将短路校准的校准状态置off，上位机500发命令触发校准过程，此时，参照图7所示，电容测量装置100执行校准，当控制模块400读取到校准状态变为on状态后，上位机500发命令读取校准结果以完成一个通道的测量，进一步，判断8个通道是否校准完成，在8个通道校准完成后，参照图7所示，进行各通道校准值判断，极差比较，具体的，将校准结果与预先设定的短路标准阈值进行比较做出判定，不大于短路标准阈值为合格值，不合格以颜色填充对应通道在人机界面显示给操作员；并将8个通道的校准值计算极差，不大于短路极差阈值为合格值，不合格以短路校准不良的文字形式在人机界面显示给操作员。进一步，参照图7所示，在读取电容测量装置100的校准状态过程中，当连续3次为OFF，则该通道校准失败，控制模块400重新触发电容测量装置100执行校准。进一步，在8个通道未完成时，重复执行上述一个通道的校准过程。

可理解的是，本申请实施例还提出一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现第二方面的电容校准方法。

存储器作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序以及非暂态性计算机可执行程序。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施方式中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至该处理器。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

下面结合图9对计算机设备的硬件结构进行详细说明。该电子设备包括：处理器601、存储器602、输入/输出接口603、通信接口604和总线605。

处理器601，可以采用通用的CPU(Centra l Process in Un it，中央处理器)、微处理器、应用专用集成电路(App l icat ion Specific I ntegrated Ci rcu it，ASIC)、或者一个或多个集成电路等方式实现，用于执行相关程序，以实现本公开实施例所提供的技术方案；

存储器602，可以采用ROM(Read On ly Memory，只读存储器)、静态存储设备、动态存储设备或者RAM(Random Access Memory，随机存取存储器)等形式实现。存储器602可以存储操作系统和其他应用程序，在通过软件或者固件来实现本说明书实施例所提供的技术方案时，相关的程序代码保存在存储器602中，并由处理器601来调用执行本公开实施例的模型的分类预测方法；

输入/输出接口603，用于实现信息输入及输出；

通信接口604，用于实现本设备与其他设备的通信交互，可以通过有线方式(例如USB、网线等)实现通信，也可以通过无线方式(例如移动网络、WI FI、蓝牙等)实现通信；和总线605，在设备的各个组件(例如处理器601、存储器602、输入/输出接口603和通信接口604)之间传输信息；

其中，处理器601、存储器602、输入/输出接口603和通信接口604通过总线605实现彼此之间在设备内部的通信连接。

可理解为，本申请还提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，计算机可执行指令用于实现第二方面的电容校准方法。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。