一种老化测试装置、方法、设备及存储介质

技术领域

本申请实施例涉及计算机领域，尤其涉及一种老化测试装置、方法、设备及存储介质。

背景技术

在主板的生产过程中，一般需要对主板进行老化测试，从而判断主板在长时间高性能的高负载的条件下工作后，是否还能够正常工作的测试。在对主板进行显示老化测试，需要将主板和显示器相连接，并控制主板长时间输出视频信号从而进行显示老化测试。由于每一个主板上都需要连接显示器，当测试场地的面积较小时，难以支持大量的显示器同时配合主板进行了老化测试，测试效率低下。并且对主板的批量测试对应需要采购数量较大的显示器，数量较大的显示器在生产车间占用了大量的场地面积的同时，测试过程中的使用还消耗了大量的电能，成本较高。

发明内容

本发明实施例提供了一种老化测试装置、方法、设备及存储介质，能够在较低成本的情况下提高对主板进行老化测试的效率，解决了现有技术中对主板进行老化测试时效率低下且成本高的技术问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种老化测试装置，所述老化测试装置适用于测试板，所述老化测试装置包括信号发送模块、信号接收模块以及老化确定模块；

所述信号发送模块用于在所述测试板与主板连接的情况下，向所述主板发送模拟接入信号，所述模拟接入信号用于模拟表征有显示设备接入所述主板，触发所述主板从所述测试板中获取显示器模拟参数并生成视频信号；

所述信号接收模块用于持续获取所述主板的视频信号；

所述老化确定模块用于在获取到所述视频信号的时长达到预设时长的情况下，确定所述主板的老化状态。

第二方面，本发明实施例提供了一种老化测试方法，所述老化测试方法适用于测试板，所述老化测试方法包括：

在所述测试板与主板连接的情况下，向所述主板发送模拟接入信号，所述模拟接入信号用于模拟表征有显示设备接入所述主板，触发所述主板从所述测试板中获取显示器模拟参数并生成视频信号；

持续获取所述主板发送的视频信号；

在获取到所述视频信号的时长达到预设时长的情况下，确定所述主板的老化状态。

第三方面，本发明实施例提供了一种老化测试设备，所述老化测试设备包括处理器、存储器以及测试板；

所述存储器用于存储计算机程序，并将所述计算机程序传输给所述处理器；

所述处理器用于根据所述计算机程序中的指令执行如第二方面所述的一种老化测试方法。

第四方面，本发明实施例提供了一种存储计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行如第二方面所述的一种老化测试方法。

上述，本发明实施例提供了一种老化测试装置，当主板与测试板相连接时，向主板发送模拟接入信号，从而在测试板没有真正接入显示器的情况下，也能够模拟显示器接入，使得主板开始向测试板输出视频信号以进行显示老化测试。在本发明实施例能够在主板没有接入显示器的情况下，完成主板的显示老化测试，与现有技术相比，在测试场地面积相同的情况下，能够同时对更多的主板进行显示老化测试，避免由于显示器的占地面积过大导致无法同时对多个主板进行显示老化测试的情况，提高对主板进行老化测试的效率。其次，本发明实施例能够节省采购大量采购显示器的费用以及为显示器供电所需的大量电费，降低主板进行显示老化测试的成本。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种主板进行显示老化测试的场景示意图。

图2为本发明实施例提供的一种老化测试装置的结构示意图。

图3为本发明实施例提供的一种测试板的结构示意图。

图4为本发明实施例提供的另一种对主板进行显示老化测试的场景示意图。

图5为本发明实施例提供的又一种对主板进行显示老化测试的场景示意图。

图6为本发明实施例提供的一种老化测试方法的流程示意图。

图7为本发明实施例提供的另一种测试板的结构示意图。

图8为本发明实施例提供的又一种测试板的结构示意图。

图9为本发明实施例提供的又一种测试板的结构示意图。

图10为本发明实施例提供的一种存储模块的结构示意图。

图11为本发明实施例提供的一种控制存储模块读写的电路示意图。

图12为本发明实施例提供的一种在存储模块和信号输出模块之间设置二极管的示意图。

图13为本发明实施例提供的一种将EDID2_SCL和EDID2_SDA的电平拉高的电路示意图。

图14为本发明实施例提供的一种排针的电路示意图。

图15为本发明实施例提供的另一种排针的电路示意图。

图16为本发明实施例提供的一种老化测试设备的结构示意图。

附图标记

测试板10、主板20、显示器30、信号发送模块101、信号接收模块102、老化确定模块103、接口11、存储模块12、信号生成模块13、处理器模块14、模拟信号传输接口111、模拟参数传输接口112、视频信号传输接口113、时钟信号传输接口114。

具体实施方式

以下描述和附图充分地示出本申请的具体实施方案，以使本领域的技术人员能够实践它们。实施例仅代表可能的变化。除非明确要求，否则单独的部件和功能是可选的，并且操作的顺序可以变化。一些实施方案的部分和特征可以被包括在或替换其他实施方案的部分和特征。本申请的实施方案的范围包括权利要求书的整个范围，以及权利要求书的所有可获得的等同物。在本文中，各实施方案可以被单独地或总地用术语“发明”来表示，这仅仅是为了方便，并且如果事实上公开了超过一个的发明，不是要自动地限制该应用的范围为任何单个发明或发明构思。本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用于将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素。本文中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的结构、产品等而言，由于其与实施例公开的部分相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

如图1所示，图1为目前对主板20进行显示老化测试的场景示意图。其中，主板20，是指计算机的主电路板，主板20上集成有计算机的主要电路系统，主板20用于传输各种电子信号。主板20还设置有用于与外部设备(例如处理器、储存设备、内存或显卡等)相连接的拓展插槽，外部设备与主板20的拓展插槽连接后，可通过主板20进行数据的传输。例如，在本实施例中，对主板20进行老化测试时，需要在主板20的拓展插槽上连接处理器(计算机进行信息处理以及程序运行的最终执行单元)以及显卡(将计算机需要显示的信息进行转换并驱动显示器30进行显示的单元)，从而使得显卡在处理器的控制下，输出相应的视频信号。显示老化测试，是指控制主板20在长时间以及高负载的条件下输出视频信号后，确认主板20是否还能够正常输出视频信号的测试。

在图1所示的场景中，参与到测试过程的设备包括主板20、测试板10以及显示器30，主板20是测试目标，主板20通过测试板10与显示器30进行连接。其中，测试板10是指用于为主板20进行供电，并负责主板20和显示器30之间数据传输的电路板；显示器30，是指将主板20发送的视频信号以可视化的方式进行显示的设备，例如显示器30可以是LCD显示器或者是OLED显示器等。在通过测试板10将显示器30和主板20连接后，控制主板20在高负载的条件下长时间输出视频信号，测试板10再将视频信号发送到显示器30中进行显示，调试人员通过观察显示器30中显示的画面来确认主板20显示功能的老化状态。然而，通过这种方式来对主板20进行老化显示测试时，每个主板20上都需要外接一个显示器30，对主板20的批量测试对应需要采购数量较大的显示器30，数量较大的显示器30在生产车间占用了大量的场地面积的同时，测试过程中的使用还消耗了大量的电能，成本较高，并且当主板20的数量较多时，显示器30的数量会限制厂商对主板20进行显示老化测试的效率。

基于此，本发明实施例提供了一种老化测试装置，用于解决现有技术中在对主板进行老化测试时，效率低下且成本较高的技术问题。

如图2所示，图2为本发明实施例提供的一种老化测试装置的结构示意图，老化测试装置适用于测试板10，老化测试装置包括信号发送模块101、信号接收模块102以及老化确定模块103。

信号发送模块101用于在测试板10与主板20连接的情况下，向主板20发送模拟接入信号，模拟接入信号用于模拟表征有显示设备接入主板20，触发主板20从测试板10中获取显示器模拟参数并生成视频信号。

在本实施例中，当测试板10与主板20进行连接时，主板20与测试板10之间的数据链路建立。数据链路，是指用于传输数据或信息的通路。例如，当主板20与测试板10相连接后，信号发送模块101即可通过数据链路向主板20发送模拟接入信号。其中，模拟接入信号用于模拟表征显示器30接入状态，即模拟接入信号中包括有模拟显示器30接入测试板10的信号，以告知主板20显示器30已经接入。需要进一步说明的是，在本实施例中通过生成模拟接入信号，从而来虚拟表征显示器30接入测试板10的状态，在本实施例中并不需要真正将显示器30接入测试板10中。当主板20接收到模拟接入信号后，确认显示器30接入，之后，主板20的处理器即可通过数据链路从测试板中获取显示器模拟参数，并根据显示器模拟参数生成视频信号。

需要说明的是，显示器模拟参数中包括有显示器30的模拟参数，示例性的，显示器模拟参数为扩展显示器识别数据，扩展显示器识别数据中包括有显示器信息及其显示器的性能参数，例如包括供应商信息、最大图像大小、颜色设置、厂商预设置、频率范围的限制以及显示器名和序列号的字符串等等。当主板20接收到显示器模拟参数后，需要根据显示器模拟参数，确定显示器30的画面参数，并根据画面参数以及所需要显示的画面数据，生成对应的视频信号。其中，画面数据中包括有与所需要显示的画面相对应的数据。视频信号，是指能够被显示器30识别并进行可视化显示的信号。具体的，在一个实施例中，主板20上的拓展插槽上连接有处理器以及显卡，在主板20与测试板10的接口11相连接后，主板20上的处理器通过数据链路从测试板10中获取显示器模拟参数，处理器再根据获取到的显示器模拟参数，设置所需要显示的画面的分辨率、画面的尺寸以及画面的颜色等画面参数，并根据画面参数对所需要显示的画面数据进行设置，得到目标画面数据，之后，处理器再将目标画面数据发送到显卡上，显卡将目标画面数据转化为显示器30能够识别的视频信号。

信号接收模块102用于持续获取主板20的视频信号。

在本实施例中，主板20在根据显示器模拟参数生成视频信号后，通过数据链路持续向测试板10输出视频信号，信号接收模块102则用于接收主板20持续输出的视频信号。在一个实施例中，信号接收模块102在接收视频信号的数据量达到预设容量时，会清空接收到的视频信号，并继续接收主板20输出的视频信号。

老化确定模块103用于在获取到视频信号的时长达到预设时长的情况下，确定主板20的老化状态。

当信号接收模块102获取主板20输出的视频信号的时长达到预设时长的情况下，老化确定模块103则用于确定主板20此时的老化状态。老化状态，是指主板20的老化程度，预设时长，是指预先设置的时间长度，在本实施例中，预设时长可以根据实际需要进行设置，例如30分钟或60分钟等，在本实施例中不对预设时长的具体数值进行限定。在一个实施例中，老化确定模块103在确定主板20的老化状态时，可对信号接收模块102在最后时刻接收到的视频信号进行分析，确定视频信号是否异常，例如，根据信号接收模块102最后时刻接收到的视频信号确定是否能够正常显示画面，从而来确定主板20当前的老化状态。在另一个实施例中，老化确定模块103在确定主板20的老化状态时，可通过数据链路从主板20上获取状态信息，状态信息包括有当前主板20的工作状态的信息，根据主板20的状态信息来确定主板20的老化状态。具体的，在一个实施例中，老化确定模块103用于确定主板20的老化状态，包括：用于确认主板20是否处于异常状态或死机状态。其中，异常状态，是指主板20上运行的计算机系统处于非正常运行状态，或主板20的硬件处于非正常运行状态。死机状态，是指主板20上运行的计算机系统无法从一个严重的错误中恢复过来，或主板20的硬件出现故障，导致计算机系统处于长时间无响应的状态。

在一个实施例中，测试板结构如图3所示，包括接口11、存储模块12、信号生成模块13以及处理器模块14，接口11接入信号生成模块13以及存储模块12，处理器模块14分别与信号生成模块13以及存储模块12相连接。

接口11，是指测试板10与外部设备进行信息交换的共享边界，接口11的种类包括有USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)接口、AUX(Auxiliary，音频输入)接口或HDMI(High Definition Multimedia Interface，高清多媒体接口)接口等，不同的外部设备可根据自身所支持的通信协议选择对应的接口11与测试板10进行连接。当接口11与主板20进行连接时，接口11用于建立主板20与存储模块12之间的第一数据链路以及建立主板20与信号生成模块13之间的第二数据链路。当主板20与接口11相连接后，存储模块12即可通过第一数据链路和主板20之间进行数据和信息的传输，同理，信号生成模块13即可通过第二数据链路和主板20之间进行数据和信息的传输。

存储模块12用于存储显示器模拟参数，以及用于，根据主板20发送的数据获取请求，通过第一数据链路向主板20发送显示器模拟参数，以及用于，通过第一数据链路接收主板20输出的视频信号。信号生成模块13用于生成模拟接入信号。处理器模块14用于控制信号生成模块13输出模拟接入信号，以及用于，确定主板20的老化状态。

具体的，如图4所示，图4为本实施例提供的一种对主板20进行显示老化测试的场景示意图。图3中，参与到显示老化测试过程的设备包括主板20以及测试板10，其中主板20是测试目标。在图4中，将主板20上40PIN、80PIN或120PIN的标准接口与主板20上的接口11相连接，标准接口中具有兼容HDMI协议的引脚。信号发送模块101、信号接收模块102和老化确定模块103以程序指令/模块的形式存储于存储模块12，并能被处理器模块14调用执行，具体到对主板20的老化测试过程中，主板20和接口11连接后，主板20与存储模块12之间的第一数据链路以及主板20与信号生成模块13之间的第二数据链路建立。测试板10可通过外部电源供电，测试板10上电启动后，信号生成模块13生成模拟接入信号，处理器模块14调用存储模块12中的信号发送模块101，此时，处理器模块14控制信号输出模块13通过第二数据链路持续向主板20输出模拟接入信号，主板20的处理器在接收到模拟接入信号后，确认显示器30接入，处理器通过第一数据链路向存储模块12发送获取显示器模拟参数的请求，存储模块12在接收到请求后，通过第一数据链路向主板20发送显示器模拟参数，处理器在接收到显示器模拟参数后，设置画面参数，并根据画面参数对所需要显示的画面数据进行设置，得到目标画面数据，之后，处理器再将目标画面数据发送到显卡上，显卡将目标画面数据转化为显示器30能够识别的视频信号。之后，处理器模块14调用存储模块12中的信号接收模块102，使得存储模块12通过接口11持续获取主板20输出的视频信号。其中，主板20输出视频信号的负载程度可根据处理器中所需要显示的画面数据进行设置，画面数据中场景越丰富、细节越完整、显示效果越清晰，则主板20上处理器和显卡输出视频信号时所需要的算力越大，主板20的负载程度越高。当主板20输出视频信号的时间达到预设时长后，处理器模块14调用存储模块12中的老化确定模块103，处理器模块14控制信号生成模块停止向主板20发送模拟接入信号，主板20的处理器在确认没有接收到模拟接入信号后，显卡停止输出视频信号，处理器模块14确认主板的老化状态，从而完成主板20的显示老化测试过程。

示例性的，在一个实施例中，在主板20发送视频信号的时间达到预设时长后，主板20会向测试板10输出当前的状态信息。其中，状态信息，是指包括有当前主板20的工作状态的信息。在一个实施例中，主板20上设置有定时器，定时器是用于进行计时的装置，当主板20开始发送视频信号后，定时器开始计时，当定时器计时的时间达到预设时长后，主板20开始向测试板10输出当前的状态信息，处理器模块14则根据主板输出的状态信息来确定主板的老化状态。在另一个实施例中，还可以在测试板10上外接辅助设备辅助老化测试的完成。示例性的，处理器上还可以外接数码管，处理器在确定主板20的老化状态后，生成对应的数字信号并将数字信号发送到“8”字型数码管上进行显示，“8”字型数码管上显示不同的数字对应主板20不同的老化状态，例如，当“8”字型数码管显示数字“1”时，对应主板20处于死机状态，当“8”字型数码管显示数字“2”时，对应主板20处于异常状态，从而使得工作人员通过观察“8”字型数码管即可得知主板20的老化状态。又或者是，在另一个实施例中，如图5所示，将多个测试板上外接到同一个显示器中，当测试板10接收主板20发送的视频信号达到预设时长后，主板20继续发送视频信号，测试人员轮流将每个测试板10接收到的视频信号在显示器30上进行显示，测试人员通过观察显示器30上所显示的内容来确认每个主板20的老化状态。例如，当显示器30显示的画面卡顿或无法显示，则说明主板20处于异常状态。若显示器30所显示的画面为“蓝屏”或所显示的画面卡住不播放时，则表示主板20处于死机状态。其中，蓝屏是指系列操作系统在无法从一个系统错误中恢复过来时，为保护电脑数据文件不被破坏而强制显示的蓝色屏幕图像。

如图6所示，图6为本发明实施例提供的一种老化测试方法的流程图。本发明实施例提供的老化测试方法适用于上述的测试板，该老化测试方法可以由老化测试设备执行，该老化测试设备可以通过软件和/或硬件的方式实现，该老化测试设备可以是两个或多个物理实体构成，也可以由一个物理实体构成。方法包括以下步骤：

步骤201、在测试板与主板连接的情况下，向主板发送模拟接入信号，模拟接入信号用于模拟表征有显示设备接入主板，触发主板从测试板中获取显示器模拟参数并生成视频信号。

步骤202、持续获取主板发送的视频信号；

步骤203、在获取到视频信号的时长达到预设时长的情况下，确定主板的老化状态。

上述，本发明实施例在测试板与主板连接的情况下，向主板发送模拟接入信号，从而触发主板从测试板中获取显示器模拟参数并生成视频信号；在获取到主板输出视频信号的时长达到预设时长的情况下，确定主板的老化状态。在本发明实施例能够在主板没有接入显示器的情况下，完成主板的显示老化测试。与现有技术相比，在测试场地面积相同的情况下，能够同时对更多的主板进行显示老化测试，避免由于显示器的占地面积过大导致无法同时对多个主板进行显示老化测试的情况，提高对主板进行老化测试的效率。其次，本发明实施例只需要在测试板上增设一个信号输出模块以及存储模块即可，成本低廉，并且能够节省采购大量采购显示器的费用以及为显示器供电所需的大量电费，降低主板进行显示老化测试的成本。

在上述实施例的基础上，测试板10与主板20通过HDMI接口相连接，模拟接入信号为高电平信号。

HDMI接口，即High Definition Multimedia Interface，高清多媒体接口。HDMI接口是一种全数字化视频和声音发送接口，可以发送未压缩的音频及视频信号。在本实施例中，测试板10和主板20通过HDMI接口相连接，从而能够在主板20和测试板10之间实现模拟接入信号、显示器模拟参数以及视频信号的传输。高电平，是指的是与低电平相对的高电压，在逻辑电平中，保证逻辑门的输入为高电平时所允许的最小输入高电平，当输入电平高于输入高电压时，则认为输入电平为高电平，一般规定低电平为0～0.04V，高电平为2.4～5.3V。

本实施例中可将高电平信号作为模拟接入信号的原因在于，当显示器30与主板20通过HDMI接口相连接时，根据HDMI的握手协议，主板20在识别到HDMI接口的热插拔信号后，主板20即可发起获取显示器模拟参数的数据获取请求。由于热插拔信号本质上为高电平信号，因此，在本实施例中，使用高电平信号来模拟热拔插信号，从而起到模拟显示器30接入的效果。在一个实施例中，选择电压幅值为2.4～5.3V的电平信号作为高电平信号，当主板20和测试板10连接后，信号发送模块101再将高电平信号发送到主板20中，从而起到告知主板20显示器30已经接入的效果。

当使用高电平信号作为模拟接入信号时，在如图3所示测试板中，接口11为HDMI接口，信号生成模块13为直流转换电路。直流电压转换电路，是指将幅值固定的直流电压变换成幅值和极性为可变的直流电压的变换电路。例如，直流电压转化电路将5V的直流电压转化为12V直流电压。在本实施例中，将直流电压转换电路输出的高电平信号作为模拟接入信号。在一个实施例中，如图7所示，直流转换电路还与存储模块12相连接，从而使得直流转换电路在输出高电平信号后，还将高电平信号传输到存储模块12中，起到为存储模块12供电的作用，以使存储模块12能够正常工作，不必再额外设置电源为存储模块12供电，进一步简化电路。在另一个实施例中，直流转换电路具有多个电压输出端，每个电压输出端可输出数值不同的电平信号，其中一个电压输出端用于与接口11相连接，输出高电平信号，另一个电压输出端用于与存储模块12相连接，输出与存储模块12的工作电压相适应的电压信号，从而避免出现高电平信号的电压数值与存储模块12不适配，导致存储模块12无法正常工作的情况。

上述，本发明实施例中测试板和主板通过HDMI接口相连接，且通过使用高电平信号来模拟显示器接入时的热拔插信号，从而在对主板进行显示老化测试时，无需真正接入显示器，能够进一步降低成本。

在上述实施例的基础上，测试板10包括模拟信号传输接口111、模拟参数传输接口112以及视频信号传输接口113；

信号发送模块101用于通过模拟信号传输接口111向主板20发送模拟接入信号，主板20用于通过模拟参数传输接口112从测试板10中获取显示器模拟参数；信号接收模块102用于通过视频信号传输接口113持续获取主板20的视频信号。

在本实施例中，测试板10上包括有模拟信号传输接口111、模拟参数传输接口112以及视频信号传输接口113，其中，模拟信号传输接口111用于传输模拟接入信号，模拟参数传输接口112用于传输显示器模拟参数，视频信号传输接口113用于传输视频信号。具体的，当测试板10和主板20相连接时，信号发送模块101通过模拟信号传输接口111向主板20发送模拟接入信号，主板20在接收到模拟接入信号后，通过模拟参数传输接口112从测试板10中获取显示器模拟参数。之后，主板20根据显示器模拟参数生成视频信号，并通过视频信号传输接口113向信号接收模块102发送视频信号。

在一个实施例中，如图8所示，图8为本发明实施例提供的另一种测试板的结构示意图。在测试板10中，模拟信号传输接口111与信号生成模块13相连接，从而当测试板10与主板20相连接时，通过模拟信号传输接口111能够建立信号生成模块13与主板20之间的模拟信号传输链路，信号生成模块13可以通过模拟信号传输链路将模拟接入信号发送给主板20。模拟参数传输接口112与存储模块12相连接，从而当测试板10与主板20相连接时，通过模拟参数传输接口112能够建立主板20与存储模块12之间的模拟参数传输链路，以便后续主板20可通过模拟参数传输链路向存储模块12发送数据获取请求，存储模块12在接收到数据获取请求后，可通过模拟参数传输链路向主板20发送显示器模拟参数。

另外在图8中，视频信号传输接口113与存储模块12相连接，从而当测试板10与主板20相连接时，通过视频信号传输接口113能够建立主板20与存储模块12之间的视频信号传输链路，从而使得后续主板20在生成视频信号后，能够通过视频信号传输链路将视频信号发送到存储模块12中。

需要进一步说明的是，在一个实施例中，存储模块12包括有多个用于传输数据的数据传输端口，不同的数据传输端口与对应的接口相连接，例如，用于传输显示器模拟参数的传输端口与模拟参数传输接口112相连接，用于传输视频信号的传输端口与视频信号传输接口113相连接。

在上述实施例的基础上，模拟接入信号还用于触发主板20从测试板10中获取显示器模拟参数时，触发主板20向测试板10发送时钟信号，时钟信号用于指示主板20获取显示器模拟参数的时间；

相应的，测试板10还包括时钟信号传输接口114，主板20用于通过时钟信号传输接口114向测试板10发送时钟信号。

在一个实施例中，主板20在接收到模拟接入信号后，在从测试板10中获取显示器模拟参数的同时，还向测试板10发送时钟信号。其中，时钟信号，是指由时钟发生器产生的电平信号，时钟信号中包括两种电平，高电平和低电平。在本实施例中，时钟信号由主板20上的定时器产生，时钟信号用于指示主板20获取显示器模拟参数的时间。示例性的，在一个实施例中，当时钟信号为高电平信号时，主板20通过模拟参数传输链路从测试板10中获取显示器模拟参数，当时钟信号为低电平信号时，则主板20不通过模拟参数传输链路从测试板10中获取显示器模拟参数，通过时钟信号可以实现主板20和测试板10之间的同步运作。

相应的，在本实施例中，主板上还包括有时钟信号传输接口114，时钟信号传输接口114用于传输时钟信号。具体的，当测试板10与主板20相连接时，时钟信号传输接口114用于建立主板20和测试板10之间的时钟信号传输链路，使得主板20能够通过时钟信号传输链路向测试板10发送时钟信号。

在一个实施例中，如图9所示，测试板10中还包括有时钟信号传输接口114，时钟信号传输接口114与存储模块12相连接，在主板20和测试板10相连接后，时钟信号传输接口114用于建立主板20和存储模块12之间的时钟信号传输链路，使得存储模块12能够根据时钟信号向主板发送显示器模拟参数。

具体的，在将如图9所示的测试板10和主板20相连接时，将测试板10和主板20上的兼容HDMI协议的标准接口相连接。即将模拟信号传输接口111与标准接口的接入信号接收端口相连接，将模拟参数传输接口112与标准接口的HDMI数据传输端口相连接，将时钟信号传输接口114与标准接口的时钟发送端口相连接，将视频信号传输接口113与标准接口的视频信号发送端口相连接。其中，接入信号接收端口用于接收模拟接入信号，HDMI数据传输端口用于发送数据获取请求以及接收显示器模拟参数，时钟发送端口用于发送时钟信号，视频信号发送端口用于发送视频信号。

主板20与测试板10相连接后，模拟信号传输接口111用于建立主板20的接入信号接收端口和信号生成模块13之间的模拟信号传输链路，时钟信号传输接口114用于建立主板20的时钟发送端口与存储模块12之间的时钟信号传输链路，视频信号传输接口113用于建立主板20的视频信号发送端口与存储模块12之间的视频信号传输链路，模拟参数传输接口112用于建立主板20的HDMI数据传输端口与存储模块12之间的模拟参数传输链路。处理器模块14控制信号生成模块13开始向接入信号接收端口输出模拟接入信号，接入信号接收端口将模拟接入信号发送给处理器，处理器确认此时显示器30接入，分别通过HDMI数据传输端口以及时钟发送端口向存储模块12发送数据获取请求以及时钟信号，存储模块12在接收到数据获取请求后，根据时钟信号开始向HDMI数据传输端口发送显示器模拟参数，HDMI数据传输端口在接收到显示器模拟参数后，将显示器模拟参数发送到处理器，处理器根据显示器模拟参数，设置画面参数，并根据画面参数对所需要显示的画面数据进行设置，得到目标画面数据，处理器再将目标画面数据发送到显卡上，显卡将目标画面数据转化为显示器30能够识别的视频信号，显卡再通过视频信号发送端口将视频信号发送到存储模块12中。当主板20输出视频信号的时间达到预设时长后，处理器模块14进一步判断主板20的老化状态，从而完成主板20的显示老化测试过程。

在一个实施例中，测试板10上存储模块12的具体电路结构如图10所示，在图10中，BL24C04为存储模块12，SCL端口与时钟信号传输接口114相连接，用于传输时钟信号EDID2_SCL，DSA端口与模拟参数传输接口112相连接，用于传输显示器模拟参数EDID2_SDA。通过对A0端口、A1端口以及A2端口的电平进行设置，可以对存储模块12进行读写操作。例如，当A1端口为高电平时，可以从存储模块12中读取显示器模拟参数，当A0端口为高电平时，可以向存储模块12中写入显示器模拟参数。需要进一步说明的是，与A0端口、A1端口以及A2端口相连接的电路如图11所示，通过选择图11中的不同的电阻接地从而调节A0端口、A1端口以及A2端口上的电平，以便对存储模块12进行读写。在图10中，与HDMI 5V接口用于与电源相连接，在一个实施例中，将HDMI 5V接口与直流电压转换电路输出5V电压的端口+5_ALW相连接，为了防止与主板20相连接时HDMI接线的线材所带的电压倒灌给直流电压转换电路，还可以在HDMI 5V接口与直流电压转换电路之间设置一个二极管D1，如图12所示。需要进一步说明的是，在图10中，根据I2C协议的要求，还需要将EDID2_SCL和EDID2_SDA的电平拉高，具体电路如图13所示。

在一个实施例中，当测试板10还与显示器30相连接时，可以通过跳帽的方式来选择模拟接入信号的来源以及显示器模拟参数的来源，跳帽，是指用于调解电路上不同信号通断关系的装置。示例性的，如图14所示，JHROM1为测试板10上的排针，其中，排针上的1引脚用于与显示器30的时钟传输子端口相连接，2引脚用于与主板20上的时钟发送端口相连接，3引脚用于与存储模块12的SCL端口相连接，4引脚用于与存储模块12的SDA端口相连接，5引脚用于与显示器30的数据传输子端口相连接，6引脚用于与主板20的HDMI数据传输端口相互连接。显示器30的时钟传输子端口用于传输时钟信号，显示器30的数据传输子端口用于传输显示器30中储存的显示器模拟参数。当使用跳帽短接引脚1和引脚2，以及短接引脚5和引脚6时，此时主板20上的时钟发送端口与显示器30的时钟传输子端口相连接，主板20上的HDMI数据传输端口与显示器30的数据传输子端口相连接，此时主板20能够获取的是显示器30上的显示器模拟参数。同理，当使用跳帽短接引脚2和引脚3，以及短接引脚4和引脚5时，此时主板20上获取的是存储模块12中的显示器模拟参数。

在另一个实施例中，如图15所示，还可以通过跳帽的方式选择主板上模拟接入信号的来源，图15中，JHROM1为测试板10上的排针，排针是连接器的一种，排针上具有多个引脚。其中，引脚1和显示器30的信号传输端口相连接，引脚2和接入信号生成模块13的模拟信号传输接口111相连接，引脚3和主板20上的接入信号接收端口相连接。其中，显示器30的信号传输端口用于传输显示器30发送的接入信号，接入信号用于表征显示器30接入主板20。当使用跳帽短接引脚1和引脚3时，则此时主板20上接收到的是显示器30发送的接入信号。当使用跳帽短接引脚2和引脚3时，此时主板20上到的测试板10发送的模拟接入信号。

上述，本发明实施例能够在不外接显示器的情况下完成显主板的老化测试，能够避免由于显示器的占地面积过大导致无法同时对多个主板进行显示老化测试的情况，提高对主板进行老化测试的效率，并且成本低廉，能够降低主板进行显示老化测试的成本。

图16为本申请一个实施例提供的一种老化测试设备的结构示意图，如图15所示，该老化测试设备包括测试板10、处理器300、存储器301、输入装置302、输出装置303；老化测试设备中处理器300的数量可以是一个或多个，图15中以一个处理器300为例；老化测试设备中测试板10、处理器300、存储器301、输入装置302、输出装置303可以通过总线或其他方式连接，图16中以通过总线连接为例。

存储器301作为一种计算机可读存储介质，可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块，如本申请实施例中的老化测试方法所对应的程序指令/模块(例如，老化测试装置中的信号发送模块101、信号接收模块102以及老化确定模块103)。处理器300通过运行存储在存储器301中的软件程序、指令以及模块，从而执行老化测试设备的各种功能应用以及数据处理，即实现上述的老化测试方法。

存储器301可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储根据老化测试设备的使用所创建的数据等。此外，存储器301可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中，存储器301可进一步包括相对于处理器300远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至老化测试设备。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

输入装置302可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与老化测试设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。输出装置303可包括显示屏等显示设备。另外，老化测试设备还可以包括通信装置，以实现与外部设备(如摄像头)的通信。

上述所述的老化测试设备包含相应的老化测试装置，可以用于执行任意老化测试方法，具备相应的功能和有益效果。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的装置和设备的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

此外，本申请实施例还提供一种包含计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行本申请任意实施例中提供的老化测试方法中的相关操作，且具备相应的功能和有益效果。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。

因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。存储器是计算机可读介质的示例。

计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

注意，上述仅为本发明实施例的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明实施例不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明实施例的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明实施例进行了较为详细的说明，但是本发明实施例不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明实施例构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明实施例的范围由所附的权利要求范围决定。