一种内存测试系统

技术领域

本发明的所公开实施例涉及计算机领域，且更具体而言，涉及一种内存测试系统。

背景技术

目前，内存包括UDIMM(台式机内存)、SODIMM(笔记本内存)等，在生产时会存在各种制造缺陷，一般在生产后会对其进行生产测试，以便将不良品筛查出来。

目前，大部分内存产品均应用于x86兼容机中，因此，通常使用x86主板搭配内存测试软件的方式来对内存产品进行测试，内存测试软件是一种可运行于x86 CPU 120中的软件，但是，仅使用内存测试软件，需要从主板BIOS代码中才能修改内存电压、时序、频率等，从而无法有效修改x86平台的内存电压、时序、频率等，并且，也无法测量内存工作时的电流值，覆盖面窄。

发明内容

根据本发明的实施例，本发明提出一种内存测试系统，以解决上述问题。

根据本发明的方面，公开一种实例性的内存测试系统，包括：测试主板，设置有内存插槽，以插入待测内存；中央处理器，设置于所述测试主板上；电流测试模块，与所述内存插槽连接，用于测量所述待测内存的工作电流；测试控制模块，与所述测试主板和所述电流测试模块通信连接，用于控制所述测试主板进入BIOS设置页面，以设置所述待测内存的测试参数，并在控制所述测试主板开机启动后，控制所述测试主板上的所述中央处理器运行内存测试软件，以通过所述测试参数对所述待测内存进行测试，并控制所述电流测试模块获得所述待测内存的工作电流。

在一些实施例中，所述测试控制模块包括存储器和控制器，其中所述存储器与所述控制器通信连接，所述存储器内存储有内存测试软件；所述控制器通过USB接口与所述测试主板通信连接。

在一些实施例中，所述控制器用于模拟USB键盘及鼠标的功能，以通过所述USB键盘及鼠标控制所述测试主板进入BIOS设置页面，以设置所述待测内存的测试参数；所述控制器用于通过所述存储器模拟U盘的功能，以通过所述U盘控制所述测试主板上的所述中央处理器运行所述内存测试软件，以通过所述测试参数对所述待测内存进行测试。

在一些实施例中，所述控制器用于通过所述存储器模拟U盘的功能，以通过所述U盘控制所述测试主板上的所述中央处理器在不同测试阶段运行不同的所述内存测试软件。

在一些实施例中，所述电流测试模块包括：转接板，插入所述内存插槽；电流采集电路，设置于所述转接板上，与所述待测内存电连接，并通过CAN接口或UART接口与所述控制器通信连接。

在一些实施例中，还包括温度控制模块，其中，所述温度控制模块包括温度控制电路及与所述温度控制电路电连接的高温罩，其中所述温度控制电路通过CAN接口或UART接口与所述控制器通信连接，所述高温罩设置于所述待测内存之上，以使所述待测内存位于所述高温罩之内。

在一些实施例中，所述测试主板还通过UART接口与所述控制器通信连接，以将通过所述测试参数对所述待测内存进行测试所得到的测试结果发送给所述控制器。

在一些实施例中，所述控制器通过GPIO接口与所述测试主板通信连接，以控制所述测试主板开机、复位和关机。

在一些实施例中，所述测试参数包括所述待测内存的工作时序、工作电压和工作频率。

在一些实施例中，所述测试主板上设置有CPU插槽，其中，所述中央处理器插入所述CPU插槽内，所述CPU插槽与所述内存插槽位于所述测试主板的同一表面。

本发明的有益效果有：通过测试控制模块，实现控制测试主板进入BIOS设置页面，以设置待测内存的测试参数，并在控制测试主板开机启动后，控制测试主板的CPU运行内存测试软件，以通过测试参数对待测内存进行测试，实现有效设置待测内存的测试参数，从而实现有效修改待测内存的测试参数，简单且通用，覆盖面广，并且通过电流测试模块，实现采集对待测内存进行测试时的电流，进一步提高测试待测内存的良品率。

附图说明

下面将结合附图及实施方式对本发明作进一步说明，附图中：

图1是本发明实施例的内存测试系统的结构示意图。

图2是本发明实施例的内存测试系统的结构示意图。

具体实施方式

为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明的技术方案做进一步详细描述。

如图1所示，为本发明实施例的内存测试系统的结构示意图。该内存测试系统100包括测试主板110、CPU(central processing unit，中央处理器)120、电流测试模块130和测试控制模块140。

测试主板110设置有内存插槽111，以插入待测内存。该测试主板110可以为x86主板。待测内存可以为DIMM(Dual-Inline-Memory-Modules，双列直插式存储模块)，例如，UDIMM(台式机内存)、SODIMM(笔记本内存)等。DIMM可以包括DDR(Double Data Rate，双倍速率同步动态随机存储器)，例如，DDR3和DDR4。

CPU 120设置于该测试主板110上，CPU 120用于运行内存测试软件，以对待测内存进行测试。

电流测试模块130与待测内存通信连接。该电流测试模块130用于测量待测内存的工作电流。

测试控制模块140与测试主板110和电流测试模块130通信连接。测试控制模块140用于控制测试主板110进入BIOS设置页面，以设置待测内存的测试参数，并在控制测试主板110开机启动后，控制测试主板110上的CPU 120运行内存测试软件，以通过测试参数对待测内存进行测试，并控制电流测试模块130获得待测内存的工作电流。

在一示例中，待测内存的测试参数包括待测内存的工作时序、工作电压和工作频率。

本实施例中，通过测试控制模块140，实现控制测试主板110进入BIOS设置页面，以设置待测内存的测试参数，并在控制测试主板110开机启动后，控制测试主板110上的CPU120运行内存测试软件，以通过测试参数对待测内存进行测试，实现有效设置待测内存的测试参数，从而实现有效修改待测内存的测试参数，简单且通用，覆盖面广，并且通过电流测试模块130，实现采集对待测内存进行测试时的电流，进一步提高测试待测内存的良品率。

在一些实施例中，如图2所示，测试控制模块140包括存储器142和控制器141，其中，存储器142与控制器141通信连接，存储器142内存储有内存测试软件。

控制器141通过USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)接口1b与测试主板110通信连接。具体地，控制器141包括USB接口1b，测试主板110包括USB接口1b，控制器141的USB接口1b与测试主板110的USB接口1b连接，从而实现控制器141通过USB接口1b与测试主板110通信连接。

控制器141用于模拟USB键盘及鼠标的功能，以通过USB键盘及鼠标控制测试主板110进入BIOS设置页面，以设置待测内存的测试参数。控制器141通过键盘及鼠标的通信协议模拟USB键盘及鼠标的功能，从而控制器141可以用作USB键盘及鼠标，进而通过USB键盘及鼠标控制测试主板110进入BIOS设置页面，进而，在BIOS设置页面上设置待测内存的测试参数。

控制器141用于通过存储器142模拟U盘的功能，以通过U盘控制测试主板110上运行内存测试软件，以通过测试参数对待测内存进行测试。控制器141通过U盘的通信协议模拟U盘的功能，从而控制器141可以通过存储器142用作U盘，进而通过U盘的引导，测试主板110上的CPU 120运行内存测试软件，通过测试参数对待测内存进行测试。在一示例中，控制器141用于通过存储器142模拟U盘的功能，以通过U盘控制测试主板110上的CPU 120在不同测试阶段运行不同的内存测试软件。这样，实现在不同的测试阶段对待测内存进行不同的测试。

本实施例中，通过测试控制模块140模拟USB键盘及鼠标、U盘的功能，实现有效设置待测内存的测试参数，并通过测试参数对待测内存进行测试，简单且通用。

在一些实施例中，如图2所示，电流测试模块130包括转接板131和电流采集电路132。转接板131插入内存插槽111。电流采集电路132设置于转接板131上，与待测内存通信连接。在一示例中，如图2所示，电流采集电路132通过CAN(Controller Area Network，控制器局域网络)接口1a与控制器141通信连接。在一示例中，转接板131与待测内存连接，在待测内存与转接板131连接时，转接板131上的电流采集电路132与待测内存的引脚电连接，从而电流采集电路132能采集待测内存的工作电流。电流采集电路132通过CAN接口1a与控制器141通信连接，控制器141通过CAN接口1a向电流采集电路132发送电流采集指令，电流采集电路132响应该电路采集指令，将所采集到的待测内存的工作电流返回到控制器141，进而控制器141获得电流采集电路132所采集到的待测内存的工作电流。具体地，转接板131上设置有CAN接口1a，控制器141包括CAN接口1a，控制器141的CAN接口1a与转接板131上的CAN接口1a连接，从而实现电流采集电路132通过CAN接口1a与控制器141通信连接。在其他示例中，电流采集电路132还可以通过UART(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，通用异步收发传输器)接口与控制器141通信连接。

在一些实施例中，如图2所示，内存测试系统100还包括温度控制模块150，其中，温度控制模块150包括温度控制电路151及与温度控制电路151电连接的高温罩152。其中，在一示例中，如图2所示，温度控制电路151通过CAN接口1a与控制器141通信连接，高温罩152设置于待测内存之上，以使待测内存位于高温罩152之内。在其他示例中，温度控制电路151还可以通过或UART接口与控制141通信连接。

控制器141向温度控制电路151发送温度设定指令，温度控制电路151接收控制器141的温度设定指令，控制高温罩152升温或停止升温，以使得待测内存处于相应的温度下，进而，在相应的温度下对待测内存进行测试，实现对待测内存的工作温度进行测试。对待测内存进行测试时，待测内存所处的温度可以为85度或65度。在一示例中，高温罩152内设置有发热丝和温度传感器，其中发热丝和温度传感器分别与温度控制电路151电连接。温度控制电路151接收控制器141的温度设定指令，控制高温罩152内的加热丝进行加热，以使得高温罩152升温，通过温度传感器反馈高温罩152内的温度，当高温罩152内的温度达到相应的温度，控制高温罩152内的加热丝停止加热，以使得高温罩152保持相应的温度。

在一些实施例中，如图2所示，测试主板110还通过UART(Universal AsynchronousReceiver/Transmitter，通用异步收发传输器)接口1c与控制器141通信连接，以将通过测试参数对待测内存进行测试所得到的测试结果发送给控制器141。具体地，控制器141包括UART接口1c，测试主板110包括UART接口1c，控制器141的UART接口1c与测试主板110的UART接口1c连接，从而实现控制器141通过UART接口1c与测试主板110通信连接。

在一些实施例中，如图2所示，控制器141通过GPIO(General-purpose input/output，通用型输入输出)接口1d与测试主板110通信连接，以控制测试主板110开机、复位和关机。具体地，控制器141包括GPIO接口1d，测试主板110包括GPIO接口1d，控制器141的UART接口1c与测试主板110的GPIO接口1d连接，从而实现控制器141通过GPIO接口1d与测试主板110通信连接。

在一些实施例中，如图2所示，控制器141还包括以太网接口1f。外部设备通过以太网接口1f与控制器141通信连接，进而外部设备可以向控制器141发送相关信息，例如，开始测试指令。

需要说明的是，控制器141通过不同的接口与测试主板110、电流采集电路132、温度控制电路151、外部设备等通信连接，控制器141内具有通讯模块，或者控制器141通过外部的通讯模块及其相应的接口，与测试主板110、电流采集电路132、温度控制电路151、外部设备等进行通信。

在一些实施例中，如图2所示，测试控制模块140还包括电源143，该电源143与测试主板110电连接，以给测试主板110提供供电电压。该电源143可以由控制器141控制是否供电，控制器141发送供电指令时，该电源143工作以供电，发送停电指令时，该电源143不工作，以停止供电。该电源143也可以保持与测试主板110一直电连接。

CPU 120设置于测试主板110上，具体地，如图2所示，测试主板110上设置有CPU插槽112，CPU 120插入在CPU插槽112内，在一示例中，CPU插槽112与内存插槽111位于测试主板110的同一表面。需要注意的是，本发明中仅对测试主板110中与本发明有关的部分进行描述，测试主板110还可以包括其他部分，在此不作限定。

所属领域的技术人员易知，可在保持本发明的教示内容的同时对装置及方法作出诸多修改及变动。因此，以上公开内容应被视为仅受随附权利要求书的范围的限制。