芯片测试用例管理方法及装置

技术领域

本申请涉及芯片验证技术领域，尤其涉及一种芯片测试用例管理方法及装置。

背景技术

随着芯片技术的发展，芯片具有的架构和功能也日益复杂。因此，需要编写大量的测试用例来验证芯片功能的正确性。在进行芯片测试时，由于芯片测试用例的数量以及类别非常多，极易造成测试用例遗漏的现象并无法掌握芯片测试的实时进度。这样，使得工作人员以及检测系统无法及时察觉到芯片测试用例的遗漏，导致芯片验证的完整性有所欠缺，降低了芯片验证结果的准确性。

因此，需要提供一种芯片测试用例管理方法及装置。

发明内容

本申请实施例提供一种芯片测试用例管理的技术方案，用以解决芯片测试用例易被遗漏的技术问题。

具体的，一种芯片测试用例管理方法，包括以下步骤：

获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集；

获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集；

通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果；

当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，提取未测试的测试用例；

通过PYQT5输出管理端，输出所述未测试的测试用例。

进一步的，所述方法还包括：

当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，生成警示信息；

输出所述警示信息。

进一步的，所述方法还包括：

根据芯片测试记录集中若干已完成测试的测试用例，更新芯片测试计划集中的若干测试用例；

输出所述更新后的芯片测试计划集。

进一步的，获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集，具体包括：

获取本次完成测试的测试用例；

调用上一次测试完成时生成的测试用例记录集；

将所述测试用例添加至上一次测试完成时生成的测试用例记录集。

进一步的，获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集，具体包括：

接收测试完成的测试用例的获取周期预设信息；

根据所述获取周期预设信息，获取本次获取周期内若干完成测试的测试用例；

调用上一次获取周期获取完成后生成的测试用例记录集；

将所述若干测试用例添加至上一次获取周期获取完成后生成的测试用例记录集。

进一步的，通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，查找所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例，具体包括：

调用Python数据管理端中的比较算法；

通过所述比较算法比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果。

本申请实施例还提供一种芯片测试用例管理装置。

具体的，一种芯片测试用例管理装置，包括：

获取模块，用于获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集；还用于获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集；

比较模块，用于通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果；

提取模块，用于当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，提取未测试的测试用例；

输出模块，用于通过PYQT5输出管理端，输出所述未测试的测试用例。

进一步的，所述装置还包括：

警示模块，用于当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，生成警示信息；

其中，输出模块还用于输出所述警示信息。

进一步的，所述装置还包括：

更新模块，用于根据芯片测试记录集中若干已完成测试的测试用例，更新芯片测试计划集中的若干测试用例；

其中，输出模块还用于输出所述更新后的芯片测试计划集。

进一步的，所述比较模块用于通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果，具体用于：

调用Python数据管理端中的比较算法；

通过所述比较算法比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果。

本申请实施例提供的技术方案，至少具有如下有益效果：

通过芯片测试用例管理方法及装置对芯片测试用例进行有效管理，将未测试的测试用例进行可视化输出，能够在大量测试用例的情况下使得工作人员或检测系统能够及时察觉到芯片测试用例的遗漏，从而保证了芯片验证的完整性并提升芯片验证结果的准确性。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1为本申请实施例提供的一种芯片测试用例管理方法的流程图。

图2为本申请实施例提供的一种芯片测试用例管理装置的结构示意图。

100 芯片测试用例管理装置

11 获取模块

12 比较模块

13 提取模块

14 输出模块

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

请参照图1，为本申请实施例提供的一种芯片测试用例管理方法，包括以下步骤：

S110：获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集。

可以理解的是，为了保证芯片功能的正确性，需要编写大量测试的测试用例进行验证。其中，所述测试用例为用于验证芯片某一功能，且已编写好相关功能验证代码的相关程序数据。通过在芯片上运行若干测试用例，即可进行芯片相关功能的验证。为了保证芯片功能验证的完整性，需要对拟测试的所有测试用例进行有效统计。因此，需要获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集。所述芯片测试计划集至少包括测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中的一种测试用例信息。其中，所述测试用例名称信息为用户根据实际需求为各测试用例所标注的、能够用于区分若干测试用例的名称信息。测试用例名称信息还可以包括测试用例的链接信息。这样，通过测试用例名称信息即可获取对应测试用例的具体测试程序代码。所述测试用例数量信息为所有待测试测试用例的具体数量。这样，通过测试用例数量信息能够获取芯片待验证的若干测试用例的具体数量。所述测试用例用户信息为与测试用户的用户名称信息、用户链接信息、或用户属性信息等相关的所有信息。例如，测试用户的姓名、工号、科室、测试用户测试记录/测试用例保存路径链接等信息。所述测试用例测试前状态信息为若干测试用例运行前的状态。根据测试用例的实际情况可以标注为不同的标识。例如，可以标注为“待测试”、“0”等标识。所述测试用例测试完成后状态信息为若干测试用例运行完毕之后的状态。根据测试用例的实际情况可以标注为不同的标识。例如，可以标注为“已测试”、“未测试”、“PASS”、“ERROR”或“NULL”等标识。所述测试用例测试进度信息为根据测试用例的实时测试情况所实时更新的所有测试用例或每一测试用例的验证进度。可以理解的是，这里所述各测试用例信息的具体表现形式，显然不构成对本申请保护范围的限制。

具体的，所述由若干测试用例构成的芯片测试计划集可通过读取保存有若干待测试的测试用例相关信息的文件获得。所述文件至少保存有若干待测试测试用例的测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中一种测试用例信息。例如，读取保存有若干待测试的测试用例相关信息的Excel表格文件、PDF文件、Word文件、PPT文件等。可以理解的是，这里所述保存有若干待测试的测试用例相关信息的文件的具体格式，显然不构成对本申请保护范围的限制。这样，通过读取所述文件，即可获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集。另外，所述芯片测试计划集可根据用户实际的测试需求在芯片测试展开前、芯片测试结束后、芯片测试过程中的任一测试节点获取。可以理解的是，这里所述芯片测试计划集的具体获取时间，显然不构成对本申请保护范围的限制。

S120：获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集。

可以理解的是，进行芯片测试用例的管理，首先需要保证芯片测试用例在验证过程中不被遗漏。因此，需要将测试完成的用例进行有效统计，并与计划测试的测试用例进行对比。这样，在获取到由若干测试用例构成的芯片测试计划集之外，还应获取到由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集。所述芯片测试记录集至少包括测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中的一种测试用例信息。其中，所述测试用例名称信息为用户根据实际需求为各测试用例所标注的、能够用于区分若干测试用例的名称信息。测试用例名称信息还可以包括测试用例的链接信息。这样，通过测试用例名称信息即可获取对应测试用例的具体测试程序代码。所述测试用例数量信息为所有待测试测试用例的具体数量。这样，通过测试用例数量信息能够获取芯片待验证的若干测试用例的具体数量。所述测试用例用户信息为与测试用户的用户名称信息、用户链接信息、或用户属性信息等相关的所有信息。例如，测试用户的姓名、工号、科室、测试用户测试记录/测试用例保存路径链接等信息。所述测试用例测试前状态信息为若干测试用例运行前的状态。根据测试用例的实际情况可以标注为不同的标识。例如，可以标注为“待测试”、“0”等标识。所述测试用例测试完成后状态信息为若干测试用例运行完毕之后的状态。根据测试用例的实际情况可以标注为不同的标识。例如，可以标注为“已测试”、“未测试”、“PASS”、“ERROR”或“NULL”等标识。所述测试用例测试进度信息为根据测试用例的实时测试情况所实时更新的所有测试用例或每一测试用例的验证进度。可以理解的是，这里所述各测试用例信息的具体表现形式，显然不构成对本申请保护范围的限制。具体的，所述由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集可通过读取芯片测试端的测试记录信息获得。所述芯片测试端至少保存有若干待测试测试用例的测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中一种测试用例信息。这样，通过读取芯片测试端的测试记录信息，即可获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集。

进一步的，在本申请提供的一种优选的实施方式中，获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集，具体包括：

获取本次完成测试的测试用例；

调用上一次测试完成时生成的测试用例记录集；

将所述测试用例添加至上一次测试完成时生成的测试用例记录集。

通过读取至少保存有测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中一种测试用例信息的芯片测试端测试记录信息，即可获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集。具体的，所述芯片测试记录集的获取可以通过读取芯片测试端所记录的本次完成测试的芯片测试用例信息来获取本次完成测试的测试用例相关信息。这时，需要将上一次测试完成时所生成的测试用例记录集调取，以便将本次测试完成的芯片测试用例信息添加至所述调取的测试用例记录集。即，根据芯片测试用例的实时测试完成情况，将由若干已测试完成的测试用例构成的测试用例记录集进行实时更新，直至所有的芯片测试用例测试完成。这样，能够掌握芯片测试用例的实时测试状态信息，以便进行芯片测试用例的实时管理。

进一步的，在本申请提供的一种优选的实施方式中，获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集，具体包括：

接收测试完成的测试用例的获取周期预设信息；

根据所述获取周期预设信息，获取本次获取周期内若干完成测试的测试用例；

调用上一次获取周期获取完成后生成的测试用例记录集；

将所述若干测试用例添加至上一次获取周期获取完成后生成的测试用例记录集。

通过读取至少保存有测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中一种测试用例信息的芯片测试端测试记录信息，即可获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集。具体的，首先需要获取用户预先设置的读取芯片测试端记录信息的周期。其中，所述已测试完成的测试用例的获取周期可根据实际需要进行预设。例如，从芯片测试端按照一次获取固定个数的已完成测试的测试用例进行周期性设置；或按照固定的时间段进行已完成测试的测试用例的周期性设置。可以理解的是，这里所述预设的已测试完成的测试用例获取周期的具体参数值，显然不构成对本申请保护范围的限制。之后，即可根据预设的信息读取周期，周期性读取芯片测试端的测试记录信息。即，根据已测试完成的测试用例的获取周期预设信息，获取在本次获取周期内的若干已完成测试的测试用例。按照固定的时间段周期性获取已完成测试用例时，若在本次获取周期内存在测试用例未测试完成的现象，该测试用例相关信息的获取可顺延至后续的获取周期内进行。获取本次获取周期内若干完成测试的测试用例后，需要将上一次获取周期获取完成后生成的测试用例记录集调取，以便将本次获取周期内的若干芯片测试用例信息添加至所述调取的测试用例记录集。这样，使得测试用例记录集按照预设的芯片测试用例获取周期更新，直至所有的芯片测试用例测试完成。

S200：通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果。

当芯片测试计划集以及芯片测试记录集均获取完成，即可进行芯片测试计划集以及芯片测试记录集之间的比较。其中，所述芯片测试计划集由若干测试用例构成；所述芯片测试记录集由若干已测试完成的测试用例构成。所述芯片测试用例至少包括测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中的一种测试用例信息。Python语言是一种解释型语言，容易调用其它语言模块、包含多种便于编程的库、且具有良好的扩展性，因此选用Python语言作为脚本语言进行芯片测试用例数据的处理。这样，使得测试用例的数据信息被相关应用程序调用并执行时，可以减小网页的规模并提高其浏览速度。即，通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集。此时，使得芯片测试计划集与芯片测试记录集之间的比较效率更高。另外，用户还可以根据实际测试需求进行相关脚本的编写，使得芯片测试用例的管理更为系统化。例如，可根据用户的实际测试需求独立编写回归测试脚本，以定时更新芯片测试过程中测试用例的状态。

在通过Python数据管理端比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集之前，需保证所获取到的芯片测试计划集以及芯片测试记录集已被转换为Python数据管理端能够处理的语言格式。否则，无法进行芯片测试计划集以及芯片测试记录集的比较。在比较芯片测试计划集以及芯片测试记录集时，可直接比较芯片测试计划集、芯片测试记录集中各自的芯片测试用例的数量或测试用例名称信息等。可以理解的是，这里所述芯片测试计划集与芯片测试记录集之间具体的比较依据，显然不构成对本申请保护范围的限制。这时，即可得到芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果。经比较，芯片测试计划集与芯片测试记录集中芯片测试用例不一致，则说明芯片测试计划集中存在未测试的测试用例。但是，若芯片测试计划集与芯片测试记录集中芯片测试用例一致，则说明芯片测试计划集中不存在未测试的测试用例。

进一步的，在本申请提供的一种优选的实施方式中，通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，查找所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例，具体包括：

调用Python数据管理端中的比较算法；

通过所述比较算法比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果。

在进行芯片测试计划集与芯片测试记录集之间的比较时，由于Python数据管理端具有丰富的编程库，因此首先需要调用相关的算法。即，调用Python数据管理端中的比较算法。之后，通过所述比较算法，比较芯片测试计划集中测试用例信息与芯片测试记录集中测试用例信息。例如，通过调用比较算法，根据芯片测试计划集中测试用例数量信息与芯片测试记录集中测试用例数量信息进行比较。或，根据比较芯片测试计划集中测试用例名称信息与芯片测试记录集中测试用例名称信息进行比较。可以理解的是，这里所述芯片测试用例比较的具体测试用例信息，显然不构成对本申请保护范围的限制。当芯片测试计划集与芯片测试记录集比较完毕，若两集合中测试用例信息不一致，说明芯片测试计划集中存在未测试的测试用例；若两集合中测试用例信息一致，说明芯片测试计划集中不存在未测试的测试用例。

S300：当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，提取未测试的测试用例。

通过对芯片测试计划集与芯片测试记录集进行比较，若两集合中测试用例信息不一致，说明芯片测试计划集中存在未测试的测试用例。所述芯片测试用例至少包括测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中的一种测试用例信息。当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，需将芯片测试计划集中未被测试的测试用例提取。这样，便于将已完成测试与未被测试的测试用例区分。另外，若芯片测试用例信息中包括芯片测试用例状态信息，则未被测试的测试用例测试状态未被更新与测试计划集中状态一致，或更新为相应的标注。

S400：通过PYQT5输出管理端，输出所述未测试的测试用例。

芯片测试过程中，需通过大量的芯片测试用例进行芯片功能的验证以及测试。当测试用例因故未被测试时，不易查找。因此，当测试计划集中存在未测试的测试用例时，需将提取到的未测试的测试用例输出。通过PYQT5可视化管理脚本进行未测试的测试用例的输出，能够在可视化呈现若干未测试的测试用例的同时减小输出网页的规模并提高相关程序的输出速度。因此，选用PYQT5模块作为未测试的测试用例的输出管理端。即，通过PYQT5输出管理端，输出未测试的测试用例。所述输出的未测试的测试用例至少包括测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中的一种测试用例信息。这样，使得用户能够直接获取到芯片测试过程中未被测试的测试用例信息，以便进行未测试测试用例的重新测试或进行芯片测试计划的调整。

进一步的，在本申请提供的一种优选的实施方式中，所述方法还包括：

当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，生成警示信息；

输出所述警示信息。

经比较，芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，可生成警示信息并将警示信息输出。这样，使得用户能够及时获知芯片的测试状况，并及时处理芯片测试的异常。例如，当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，发出测试异常的声音提示或将测试异常的提示文本进行输出。这样，用户收到异常提示，并通过输出的未测试测试用例信息，即可及时进行芯片测试用例的处理或芯片测试计划的调整。可以理解的是，这里所述警示信息的具体输出方式，显然不构成对本申请保护范围的限制。

进一步的，在本申请提供的一种优选的实施方式中，所述方法还包括：

根据芯片测试记录集中若干已完成测试的测试用例，更新芯片测试计划集中的若干测试用例；

输出所述更新后的芯片测试计划集。

可以理解的是，当芯片测试计划集与芯片测试记录集比较完毕，若两集合中测试用例信息不一致，说明芯片测试计划集中存在未测试的测试用例；若两集合中测试用例信息一致，说明芯片测试计划集中不存在未测试的测试用例。为了能够便于用户掌握芯片测试用例的测试状态以及芯片验证的进程，还可以根据芯片测试记录集中若干已完成测试的测试用例，更新芯片测试计划集中的若干测试用例。这时，芯片测试计划集中的若干测试用例若测试完成，则测试状态信息被更新。例如，芯片测试计划集中的待测试测试用例被测试完成，则对应的测试状态被更新为PASS或ERROR。标注为PASS，说明芯片测试用例成功通过测试，无需进行后续的调整；标注为ERROR，说明芯片测试用例未成功通过测试，需后续针对该用例进行调整。相应的，若测试用例全部测试完成，芯片测试计划集中存在未测试的测试用例，其测试状态可选择是否更新。若更新，可进行未测试的标注。例如，标注为NULL，说明对应的测试用例未被测试。若不更新，则与测试计划集中初始的测试状态保持一致。这样，将所有测试用例测试状态更新后的芯片测试计划集输出，可便于用户获知芯片测试过程中各测试用例的测试状态。可以理解的是，这里所述芯片测试计划集中的测试用例测试状态的具体标注内容，显然不构成对本申请保护范围的限制。

请参照图2，为本申请实施例提供的一种芯片测试用例管理装置100，包括：

获取模块11，用于获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集；还用于获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集；

比较模块12，用于通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果；

提取模块13，用于当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，提取未测试的测试用例；

输出模块14，用于通过PYQT5输出管理端，输出所述未测试的测试用例。

获取模块11，用于获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集。可以理解的是，为了保证芯片功能的正确性，需要编写大量测试的测试用例进行验证。其中，所述测试用例为用于验证芯片某一功能，且已编写好相关功能验证代码的相关程序数据。通过在芯片上运行若干测试用例，即可进行芯片相关功能的验证。为了保证芯片功能验证的完整性，需要对拟测试的所有测试用例进行有效统计。因此，需要获取模块11获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集。所述芯片测试计划集至少包括测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中的一种测试用例信息。其中，所述测试用例名称信息为用户根据实际需求为各测试用例所标注的、能够用于区分若干测试用例的名称信息。测试用例名称信息还可以包括测试用例的链接信息。这样，通过测试用例名称信息即可获取对应测试用例的具体测试程序代码。所述测试用例数量信息为所有待测试测试用例的具体数量。这样，通过测试用例数量信息能够获取芯片待验证的若干测试用例的具体数量。所述测试用例用户信息为与测试用户的用户名称信息、用户链接信息、或用户属性信息等相关的所有信息。例如，测试用户的姓名、工号、科室、测试用户测试记录/测试用例保存路径链接等信息。所述测试用例测试前状态信息为若干测试用例运行前的状态。根据测试用例的实际情况可以标注为不同的标识。例如，可以标注为“待测试”、“0”等标识。所述测试用例测试完成后状态信息为若干测试用例运行完毕之后的状态。根据测试用例的实际情况可以标注为不同的标识。例如，可以标注为“已测试”、“未测试”、“PASS”、“ERROR”或“NULL”等标识。所述测试用例测试进度信息为根据测试用例的实时测试情况所实时更新的所有测试用例或每一测试用例的验证进度。可以理解的是，这里所述各测试用例信息的具体表现形式，显然不构成对本申请保护范围的限制。

具体的，所述由若干测试用例构成的芯片测试计划集可通过读取保存有若干待测试的测试用例相关信息的文件获得。所述文件至少保存有若干待测试测试用例的测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中一种测试用例信息。例如，读取保存有若干待测试的测试用例相关信息的Excel表格文件、PDF文件、Word文件、PPT文件等。可以理解的是，这里所述保存有若干待测试的测试用例相关信息的文件的具体格式，显然不构成对本申请保护范围的限制。这样，通过读取所述文件，即可获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集。另外，所述芯片测试计划集可根据用户实际的测试需求在芯片测试展开前、芯片测试结束后、芯片测试过程中的任一测试节点获取。可以理解的是，这里所述芯片测试计划集的具体获取时间，显然不构成对本申请保护范围的限制。

获取模块11，还用于获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集。可以理解的是，进行芯片测试用例的管理，首先需要保证芯片测试用例在验证过程中不被遗漏。因此，需要将测试完成的用例进行有效统计，并与计划测试的测试用例进行对比。这样，获取模块11在获取到由若干测试用例构成的芯片测试计划集之外，还应获取到由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集。所述芯片测试记录集至少包括测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中的一种测试用例信息。其中，所述测试用例名称信息为用户根据实际需求为各测试用例所标注的、能够用于区分若干测试用例的名称信息。测试用例名称信息还可以包括测试用例的链接信息。这样，通过测试用例名称信息即可获取对应测试用例的具体测试程序代码。所述测试用例数量信息为所有待测试测试用例的具体数量。这样，通过测试用例数量信息能够获取芯片待验证的若干测试用例的具体数量。所述测试用例用户信息为与测试用户的用户名称信息、用户链接信息、或用户属性信息等相关的所有信息。例如，测试用户的姓名、工号、科室、测试用户测试记录/测试用例保存路径链接等信息。所述测试用例测试前状态信息为若干测试用例运行前的状态。根据测试用例的实际情况可以标注为不同的标识。例如，可以标注为“待测试”、“0”等标识。所述测试用例测试完成后状态信息为若干测试用例运行完毕之后的状态。根据测试用例的实际情况可以标注为不同的标识。例如，可以标注为“已测试”、“未测试”、“PASS”、“ERROR”或“NULL”等标识。所述测试用例测试进度信息为根据测试用例的实时测试情况所实时更新的所有测试用例或每一测试用例的验证进度。可以理解的是，这里所述各测试用例信息的具体表现形式，显然不构成对本申请保护范围的限制。具体的，所述由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集可通过读取芯片测试端的测试记录信息获得。所述芯片测试端至少保存有若干待测试测试用例的测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中一种测试用例信息。这样，通过读取芯片测试端的测试记录信息，即可获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集。

比较模块12，用于通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果。当芯片测试计划集以及芯片测试记录集均获取完成，即可进行芯片测试计划集以及芯片测试记录集之间的比较。其中，所述芯片测试计划集由若干测试用例构成；所述芯片测试记录集由若干已测试完成的测试用例构成。所述芯片测试用例至少包括测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中的一种测试用例信息。Python语言是一种解释型语言，容易调用其它语言模块、包含多种便于编程的库、且具有良好的扩展性，因此选用Python语言作为脚本语言进行芯片测试用例数据的处理。这样，使得测试用例的数据信息被相关应用程序调用并执行时，可以减小网页的规模并提高其浏览速度。即，比较模块12通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集。此时，使得芯片测试计划集与芯片测试记录集之间的比较效率更高。另外，用户还可以根据实际测试需求进行相关脚本的编写，使得芯片测试用例的管理更为系统化。例如，可根据用户的实际测试需求独立编写回归测试脚本，以定时更新芯片测试过程中测试用例的状态。

比较模块12在通过Python数据管理端比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集之前，需保证获取模块11所获取到的芯片测试计划集以及芯片测试记录集已被转换为Python数据管理端能够处理的语言格式。否则，比较模块12无法进行芯片测试计划集以及芯片测试记录集的比较。在比较模块12比较芯片测试计划集以及芯片测试记录集时，可直接比较芯片测试计划集、芯片测试记录集中各自的芯片测试用例的数量或测试用例名称信息等。可以理解的是，这里所述芯片测试计划集与芯片测试记录集之间具体的比较依据，显然不构成对本申请保护范围的限制。这时，即可得到芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果。经比较，芯片测试计划集与芯片测试记录集中芯片测试用例不一致，则说明芯片测试计划集中存在未测试的测试用例。但是，若芯片测试计划集与芯片测试记录集中芯片测试用例一致，则说明芯片测试计划集中不存在未测试的测试用例。

进一步的，在本申请提供的一种优选的实施方式中，所述比较模块12用于通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果，具体用于：

调用Python数据管理端的比较模型；

调用Python数据管理端中的比较算法；

通过所述比较算法比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果。

比较模块12在进行芯片测试计划集与芯片测试记录集之间的比较时，由于Python数据管理端具有丰富的编程库，因此首先需要调用相关的算法。即，调用Python数据管理端中的比较算法。之后，比较模块12通过所述比较算法，比较芯片测试计划集中测试用例信息与芯片测试记录集中测试用例信息。例如，比较模块12通过调用比较算法，根据芯片测试计划集中测试用例数量信息与芯片测试记录集中测试用例数量信息进行比较。或，根据比较芯片测试计划集中测试用例名称信息与芯片测试记录集中测试用例名称信息进行比较。可以理解的是，这里所述芯片测试用例比较的具体测试用例信息，显然不构成对本申请保护范围的限制。当芯片测试计划集与芯片测试记录集比较完毕，若两集合中测试用例信息不一致，说明芯片测试计划集中存在未测试的测试用例；若两集合中测试用例信息一致，说明芯片测试计划集中不存在未测试的测试用例。

提取模块13，用于当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，提取未测试的测试用例。通过比较模块12对芯片测试计划集与芯片测试记录集进行比较，若两集合中测试用例信息不一致，说明芯片测试计划集中存在未测试的测试用例。所述芯片测试用例至少包括测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中的一种测试用例信息。当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，提取模块13需将芯片测试计划集中未被测试的测试用例提取。这样，便于将已完成测试与未被测试的测试用例区分。另外，若芯片测试用例信息中包括芯片测试用例状态信息，则未被测试的测试用例测试状态未被更新与测试计划集中状态一致，或更新为相应的标注。

输出模块14，用于通过PYQT5输出管理端，输出所述未测试的测试用例。芯片测试过程中，需通过大量的芯片测试用例进行芯片功能的验证以及测试。当测试用例因故未被测试时，不易查找。因此，当测试计划集中存在未测试的测试用例时，输出模块14需将提取模块13提取到的未测试的测试用例输出。通过PYQT5可视化管理脚本进行未测试的测试用例的输出，能够在可视化呈现若干未测试的测试用例的同时减小输出网页的规模并提高相关程序的输出速度。即，输出模块14通过PYQT5输出管理端，输出未测试的测试用例。所述输出的未测试的测试用例至少包括测试用例名称信息、测试用例数量信息、测试用例用户信息、测试用例测试前状态信息、测试用例测试完成后状态信息、测试用例测试进度信息中的一种测试用例信息。这样，使得用户能够直接获取到芯片测试过程中未被测试的测试用例信息，以便进行未测试测试用例的重新测试或进行芯片测试计划的调整。

进一步的，在本申请提供的一种优选的实施方式中，所述装置还包括：

警示模块，用于当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，生成警示信息；

其中，输出模块14还用于输出所述警示信息。

经比较模块12比较，芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，警示模块可生成警示信息。此时，输出模块14还可将警示信息输出。这样，使得用户能够及时获知芯片的测试状况，并及时处理芯片测试的异常。例如，当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，输出模块14发出测试异常的声音提示或将测试异常的提示文本进行输出。这样，用户收到异常提示，并通过输出的未测试测试用例信息，即可及时进行芯片测试用例的处理或芯片测试计划的调整。可以理解的是，这里所述警示信息的具体输出方式，显然不构成对本申请保护范围的限制。

进一步的，在本申请提供的一种优选的实施方式中，所述装置还包括：

更新模块，用于根据芯片测试记录集中若干已完成测试的测试用例，更新芯片测试计划集中的若干测试用例；

其中，输出模块14还用于输出所述更新后的芯片测试计划集。

可以理解的是，当芯片测试计划集与芯片测试记录集比较完毕，若两集合中测试用例信息不一致，说明芯片测试计划集中存在未测试的测试用例；若两集合中测试用例信息一致，说明芯片测试计划集中不存在未测试的测试用例。为了能够便于用户掌握芯片测试用例的测试状态以及芯片验证的进程，更新模块还可以根据芯片测试记录集中若干已完成测试的测试用例，更新芯片测试计划集中的若干测试用例。这时，芯片测试计划集中的若干测试用例若测试完成，则测试状态信息被更新。例如，芯片测试计划集中的待测试测试用例被测试完成，则对应的测试状态被更新模块更新为PASS或ERROR。标注为PASS，说明芯片测试用例成功通过测试，无需进行后续的调整；标注为ERROR，说明芯片测试用例未成功通过测试，需后续针对该用例进行调整。相应的，若测试用例全部测试完成，芯片测试计划集中存在未测试的测试用例，其测试状态可选择是否更新。若更新，可进行未测试的标注。例如，标注为NULL，说明对应的测试用例未被测试。若不更新，则与测试计划集中初始的测试状态保持一致。这样，输出模块14还可以将所有测试用例测试状态更新后芯片测试计划集输出，可便于用户获知芯片测试过程中各测试用例的测试状态。可以理解的是，这里所述芯片测试计划集中的测试用例测试状态的具体标注内容，显然不构成对本申请保护范围的限制。

需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，有语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。