三坐标测量路径生成方法、系统、设备及介质

技术领域

本申请涉及三坐标测量技术领域，特别涉及一种三坐标测量路径生成方法、系统、设备及介质。

背景技术

目前，部分软件已经实现了对MBD(Model Based Definition，基于模型的定义，即基于模型的工程定义，是一个用集成的三维几何模型来完整表达产品定义信息的方法体，它详细规定了三维几何模型中产品尺寸、公差的标注规则和工艺信息的表达方法)模型上PMI(Product and Manufacturing Information，产品制造信息，是在三维CAD和协同开发系统中为生产制造提供必要的非几何属性数据)进行识别和三坐标测量路径自动规划的功能。

但由于受到软件中内置算法的限制，默认生成的测量路径的过于简单，对于结构复杂的零部件来说，缺少必要的避让点，在测量路径上，导致测头容易与零件或夹具相互干扰。

并且，现有的算法通常仅考虑测量路径的可实现性，并不考虑测量路径的测量效率。例如，在对特定的回转体类零部件进行直径测量时，默认生成的测量路径上，三坐标测针需要转换近十个测量角度。每转换一个测量角度，在使用前都需要进行校针处理，导致测量效率极其低下。

由于上述问题的存在，对于大部分零部件来说，现有软件自动生成的测量路径难以一次满足实际的测量需求。为避免对测量路径进行多次修改迭代，进行反复测量，需要大量的人工干预和后期处理。也就是需要借助人工经验来调整、优化以及验证测量路径。导致人工成本增加以及测量效率再度降低。

发明内容

为了解决上述技术问题，本申请提供一种三坐标测量路径生成方法、系统、设备及介质。

第一方面，本申请提供一种三坐标测量路径生成方法，所述三坐标测量路径生成方法包括：

获取与第一工件匹配的第二工件；

获取所述第一工件的待标注信息和所述第二工件的至少一组产品标注信息；

筛选出与所述待标注信息最相似的一组所述产品标注信息作为测量信息；

获取所述测量信息对应的测量路径作为所述待标注信息的初始测量路径；

基于所述待标注信息的尺寸公差和所述初始测量路径生成所述待标注信息对应的目标测量路径。

基于该三坐标测量路径生成方法，可以通过找到与第一工件相同或相似的第二工件，借助第二工件已有的产品标注信息对应的测量路径作为第一工件的待标注信息的初始测量路径。在初始测量路径的基础上，基于待标注信息的尺寸公差适当地进行修改得到最后需要使用的目标测量路径。

较佳地，所述获取与第一工件匹配的第二工件的步骤包括：

获取所述第一工件的几何模型；

获取与所述第一工件的几何模型最相似的工件作为第二工件。

在该方案中，将与第一工件的几何模型相似度最高的工件作为第二工件。基于几何模型高度相似的第二工件的已知的若干组产品标注信息，筛选出与待标注信息最接近的一组，并获取其对应的测量路径作为待标注信息的初始测量路径。基于这样的初始测量路径所得到目标测量路径进行测量的过程中碰撞点更少，测量效率更高。

较佳地，在所述获取所述第一工件的几何模型的步骤前，包括：

获取所述第一工件的属性信息；

获取与所述第一工件的属性信息相同的工件作为第二工件；

若无法获取到与所述第一工件的属性信息相同的工件，再执行所述获取所述第一工件的几何模型的步骤。

在该方案中，可以先查询是否曾经测量过与第一工件或与第一工件分属同种的工件，如果查询到与第一工件的属性信息完全一致的相同工件或同种工件，直接从该第二工件已知的若干产品标注信息选取与待标注信息相似度最高的一组，不用再进行几何模型的比对，可以提高检测效率，节省资源开销。

较佳地，所述获取与第一工件匹配的第二工件的步骤包括：从工件测量信息库中获取与第一工件匹配的标准工件作为第二工件，其中所述工件测量信息库中存储有若干所述标准工件的属性信息、几何模型、所述标准工件的至少一组产品标注信息以及所述产品标注信息对应的测量路径。

在该方案中，可以将若干标准工件的已知的属性信息、几何模型，标准工件的至少一组产品标注信息以及产品标注信息对应的测量路径预先存储在工件测量库中，以供与第一工件进行查询匹配。

较佳地，所述三坐标测量路径生成方法还包括：基于所述目标测量路径对所述待标注信息进行仿真测试，若在所述仿真测试的过程中获取到碰撞点，优化所述目标测量路径以消除所述碰撞点。

在该方案中，可以通过对目标测量路径的仿真测试提前发现碰撞点，及时对目标测量路径进行优化以消除碰撞点。提高一次性测量成功率。

较佳地，所述三坐标测量路径生成方法还包括：将所述第一工件的所述属性信息、所述几何模型、所述待标注信息以及所述待标注信息对应的目标测量路径分别作为标准工件的属性信息、几何模型、产品标注信息以及所述产品标注信息对应的测量路径存储至所述工件测量信息库。

在该方案中，每完成对一个工件的测量，就将该工件的相关信息存储至工件测量信息库，以不断扩充工件测量信息库中的数据。便于在之后的匹配过程中，可以快速找到符合匹配条件的标准工件作为第二工件。

较佳地，所述待标注信息和所述产品标注信息均包括产品标注特征，所述产品标注特征包括测量尺寸类型、评价数值以及关联几何体特征对象中的至少一种。

较佳地，基于上述产品标注特征，所述筛选出与所述待标注信息最相似的一组所述产品标注信息作为测量信息的步骤包括：

按照预设比对顺序，将所述待标注信息与所述产品标注信息中的所述产品标注特征进行依次比对；

筛选出与所述待标注信息最相似的一组产品标注信息作为所述测量信息。

在该方案中，通过对两者的产品标注特征进行依次比对，筛选出与待标注信息百分之百相似的产品标注信息或者相似度最高的产品标信息。基于这种方式筛选出的产品标注信息对应的测量路径更加接近实际测量时第一工件的待标注信息的测量路径。

较佳地，所述预设比对顺序依次为：所述测量尺寸类型、所述关联几何体特征对象以及所述评价数值。

在该方案中，以测量尺寸类型作为首要判断条件，在测量尺寸类型一致的情况下，再判断关联几何体特征对象是否相同，最后再判断评价数值。这样可以快速匹配出与第一工件的待标注信息最接近的产品标注信息。

较佳地，所述第一工件的属性信息包括所述第一工件的名称、几何模型编号、图号以及版本号中的至少一种。

第二方面，本申请提供一种三坐标测量快速编程方法，所述三坐标测量快速编程方法包括：

根据第一方面中任一种可能的方案所述的三坐标测量路径生成方法获取第一工件的待标注信息的目标测量路径；

根据所述目标测量路径编制所述待标注信息的测量程序。

基于该三坐标测量快速编程方法，可以根据获取的目标测量路径生成相应的测量程序，运行该测量程序可以对第一工件的待标注信息自动进行测量。

较佳地，所述三坐标测量快速编程方法还包括：将所述测量程序作为标准工件的产品标注信息的测量程序存储至工件测量信息库。

在该方案中，根据每个生成的待标注信息的目标测量路径生成对应的测量程序，并将每个待标注信息对应的测量程序作为标准工件的产品标注信息的测量程序存储至工件测量信息库中。便于后续可以直接从工件测量信息库中调用所需测量程序，不用重新生成。

第三方面，本申请提供一种三坐标测量路径生成系统，所述三坐标测量路径生成系统包括：

工件匹配模块，用于获取与第一工件匹配的第二工件；

标注信息获取模块，用于获取所述第一工件的待标注信息和所述第二工件的至少一组产品标注信息；

测量信息筛选模块，用于筛选出与所述待标注信息最相似的一组所述产品标注信息作为测量信息；

初始测量路径获取模块，用于获取所述测量信息对应的测量路径作为所述待标注信息的初始测量路径；

目标测量路径生成模块，用于基于所述待标注信息的尺寸公差和所述初始测量路径生成所述待标注信息对应的目标测量路径。

基于该三坐标测量路径生成系统，可以通过找到与第一工件相同或相似的第二工件，借助第二工件已有的产品标注信息对应的测量路径作为第一工件的待标注信息的初始测量路径。在初始测量路径的基础上，基于待标注信息的尺寸公差适当地进行修改得到最后需要使用的目标测量路径。

较佳地，所述工件匹配模块包括：

几何模型获取单元，用于获取所述第一工件的几何模型；

几何模型匹配单元，用于获取与所述第一工件的几何模型最相似的工件作为第二工件。

在该方案中，将与第一工件的几何模型相似度最高的工件作为第二工件。基于几何模型高度相似的第二工件的已知的若干组产品标注信息，筛选出与待标注信息最接近的一组，并获取其对应的测量路径作为待标注信息的初始测量路径。基于这样的初始测量路径所得到目标测量路径进行测量的过程中碰撞点更少，测量效率更高。

较佳地，所述工件匹配模块还包括：

属性信息获取单元，用于获取所述第一工件的属性信息；

属性信息匹配单元，用于获取与所述第一工件的属性信息相同的工件作为第二工件；

若无法获取到与所述第一工件的属性信息相同的工件，再运行所述几何模型获取单元。

在该方案中，可以先查询是否曾经测量过与第一工件或与第一工件分属同种的工件，如果查询到与第一工件的属性信息完全一致的相同工件或同种工件，直接从该第二工件已知的若干产品标注信息选取与待标注信息相似度最高的一组，不用再进行几何模型的比对，可以提高检测效率，节省资源开销。

较佳地，所述工件匹配模块用于从工件测量信息库中获取与第一工件匹配的标准工件作为第二工件，其中所述工件测量信息库中存储有若干所述标准工件的属性信息、几何模型、所述标准工件的至少一组产品标注信息以及所述产品标注信息对应的测量路径。

在该方案中，可以将若干标准工件的已知的属性信息、几何模型，标准工件的至少一组产品标注信息以及产品标注信息对应的测量路径预先存储在工件测量库中，以供与第一工件进行查询匹配。

较佳地，所述三坐标测量路径生成系统还包括优化模块，用于基于所述目标测量路径对所述待标注信息进行仿真测试，若在所述仿真测试的过程中获取到碰撞点，优化所述目标测量路径以消除所述碰撞点。

在该方案中，可以通过对目标测量路径的仿真测试提前发现碰撞点，及时对目标测量路径进行优化以消除碰撞点。提高一次性测量成功率。

较佳地，所述三坐标测量路径生成系统还包括第一存储模块，用于将所述第一工件的所述属性信息、所述几何模型、所述待标注信息以及所述待标注信息对应的目标测量路径分别作为标准工件的属性信息、几何模型、产品标注信息以及所述产品标注信息对应的测量路径存储至所述工件测量信息库。

在该方案中，每完成对一个工件的测量，就将该工件的相关信息存储至工件测量信息库，以不断扩充工件测量信息库中的数据。便于在之后的匹配过程中，可以快速找到符合匹配条件的标准工件作为第二工件。

较佳地，所述待标注信息和所述产品标注信息均包括产品标注特征，所述产品标注特征包括测量尺寸类型、评价数值以及关联几何体特征对象中的至少一种。

较佳地，基于上述产品标注特征，所述测量信息筛选模块包括：

比对单元，用于按照预设比对顺序，将所述待标注信息与所述产品标注信息中的所述产品标注特征进行依次比对；

筛选单元，用于筛选出与所述待标注信息最相似的一组产品标注信息作为所述测量信息。

在该方案中，通过对两者的产品标注特征进行依次比对，筛选出与待标注信息百分之百相似的产品标注信息或者相似度最高的产品标信息。基于这种方式筛选出的产品标注信息对应的测量路径更加接近实际测量时第一工件的待标注信息的测量路径。

较佳地，所述预设比对顺序依次为：所述测量尺寸类型、所述关联几何体特征对象以及所述评价数值。

在该方案中，以测量尺寸类型作为首要判断条件，在测量尺寸类型一致的情况下，再判断关联几何体特征对象是否相同，最后再判断评价数值。这样可以快速匹配出与第一工件的待标注信息最接近的产品标注信息。

较佳地，所述第一工件的属性信息包括所述第一工件的名称、几何模型编号、图号以及版本号中的至少一种。

第四方面，本申请提供一种三坐标测量快速编程系统，所述三坐标测量快速编程系统包括：

测量路径获取模块，用于根据第三方面中任一种可能的方案所述的三坐标测量路径生成系统获取第一工件的待标注信息的目标测量路径；

程序编制模块，用于根据所述目标测量路径编制所述待标注信息的测量程序。

基于该三坐标测量快速编程系统，可以根据获取的目标测量路径生成相应的测量程序，运行该测量程序可以对第一工件的待标注信息自动进行测量。

较佳地，所述三坐标测量快速编程系统还包括第二存储模块，用于将所述测量程序作为标准工件的产品标注信息的测量程序存储至工件测量信息库。

在该方案中，每生成一个工件的待标注信息对应的测量程序，都作为标准工件的产品标注信息的测量程序存储至工件测量信息库中。便于后续可以直接从工件测量信息库中调用所需数据，不用重新生成。

第五方面，本申请提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行计算机程序时实现第一方面及其任一种可能的方案所述的三坐标测量路径生成方法，以及第二方面及其任一种可能的方案所述的三坐标测量快速编程方法。

第六方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面及其任一种可能的方案所述的三坐标测量路径生成方法，以及第二方面及其任一种可能的方案所述的三坐标测量快速编程方法。

本申请的积极进步效果在于：

本申请提供了一种三坐标测量路径生成方法和系统，通过找到与第一工件相同或相似的第二工件，并借助第二工件已有的产品标注信息对应的测量路径作为第一工件的待标注信息的初始测量路径。在初始测量路径的基础上，基于待标注信息的尺寸公差适当地进行修改得到最后需要使用的目标测量路径。

本申请还提供了一种三坐标测量快速编程方法和系统，基于三坐标测量路径生成方法和系统，可以快速获取待标注信息的目标测量路径，并生成相应的测量程序。

基于本申请提供的三坐标测量路径生成方法和系统、三坐标测量快速编程方法和系统，可以快速获取适合每个工件待标注信息的初始测量路径，并且基于初始测量路径生成更加准确的目标测量路径。基于这种目标测量路径生成的测量程序可以极大程度上降低人工干预并且减少人工成本，以及提高测量效率和一次性测量成功率。

附图说明

图1为本申请实施例1提供的三坐标测量路径生成方法的流程示意图；

图2为本申请实施例2提供的三坐标测量快速编程方法的流程示意图；

图3为本申请实施例3提供的三坐标测量路径生成系统的结构示意图；

图4为本申请实施例4提供的三坐标测量快速编程系统的结构示意图；

图5为本申请实施例5提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面通过实施例的方式进一步说明本发明，但并不因此将本发明限制在所述的实施例范围之中。

以下，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实施例的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

实施例1

本实施例提供一种三坐标测量路径生成方法。

如图1所示，该方法包括步骤S1-S5：

步骤S1、获取与第一工件匹配的第二工件；

步骤S2、获取所述第一工件的待标注信息和所述第二工件的至少一组产品标注信息；

步骤S3、筛选出与所述待标注信息最相似的一组所述产品标注信息作为测量信息；

步骤S4、获取所述测量信息对应的测量路径作为所述待标注信息的初始测量路径；

步骤S5、基于所述待标注信息的尺寸公差和所述初始测量路径生成所述待标注信息对应的目标测量路径。

在步骤S1中，可以通过第一工件的属性信息或者几何模型匹配合适的第二工件。

具体地，步骤S1包括：

获取所述第一工件的几何模型；

获取与所述第一工件的几何模型最相似的工件作为第二工件。

或者，在所述获取所述第一工件的几何模型的步骤前，包括：

获取所述第一工件的属性信息；

获取与所述第一工件的属性信息相同的工件作为第二工件；

若无法获取到与所述第一工件的属性信息相同的工件，再执行所述获取所述第一工件的几何模型的步骤。

示例性的，步骤S1先获取第一工件的属性信息，然后根据第一工件的属性信息查找是否能够匹配到属性信息相同的第二工件。如果无法匹配到，再根据第一工件的几何模型查找几何模型最相似的工件作为第二工件。

其中，第二工件主要来源于工件测量信息库。该工件测量信息库中存储有若干标准工件的属性信息、几何模型，标准工件的至少一组产品标注信息以及产品标注信息对应的测量路径。

也就是说，可以从工件测量信息库中的标准工件中，筛选出与第一工件属性信息相同或几何模型高度相似的标准工件作为第二工件。

具体地，第一工件的属性信息包括所述第一工件的名称、几何模型编号、图号以及版本号中的至少一种。

在步骤S2中，待标注信息为第一工件所需要测量的相关信息。

具体地，待标注信息和产品标注信息均包括产品标注特征，产品标注特征包括测量尺寸类型、评价数值以及关联几何体特征对象中的至少一种。

其中，典型的测量尺寸类型为：直径尺寸、线性尺寸、半径尺寸、倒角尺寸、角度尺寸、表面粗糙度等。

示例性的，第一工件的待标注信息为：测量尺寸类型为直径尺寸(注：有些商业软件，如西门子NX11，会将“直径”和“半径”统一称为“半径尺寸”)，评价数值为Φ25mm±0.01mm，关联几何体特征对象为外圆柱面。

此时，第一工件的待标注信息可以理解为：为对直径为25mm的圆柱的整个外圆柱面进行测量，要求其尺寸公差不超过0.01mm。

在步骤S3中，可以按照预设比对顺序，将待标注信息逐一与第二工件的产品标注信息进行比对，以筛选出与与所述待标注信息最相似的一组所述产品标注信息。

具体地，所述筛选出与所述待标注信息最相似的一组所述产品标注信息作为测量信息的步骤包括：

按照预设比对顺序，将所述待标注信息与所述产品标注信息中的所述产品标注特征进行依次比对；

筛选出与所述待标注信息最相似的一组产品标注信息作为所述测量信息。

其中，预设比对顺序依次为：测量尺寸类型、关联几何体特征对象以及评价数值。

也就是说，先比对待标注信息与产品标注信息的测量尺寸类型。

如果比对结果表示只有一组的产品标注信息与待标注信息的测量尺寸类型相同，则该产品标注信息就为与待标注信息最相似的一组。

如果比对结果表示有两组及以上的产品标注信息与待标注信息的测量尺寸类型相同，再比对两者的关联几何体特征对象和评价数值。

直到找出与第一工件的待标注信息最相似的、唯一确定一组产品标注信息作为测量信息。

其中，评价数值包括尺寸值和尺寸公差。如果无法匹配到与待标注信息中的评价数值完全相同的产品标注信息，可以先选取与待标注信息中评价数值的尺寸值最接近的，再选取尺寸公差最接近的。

示例性的，第一工件的待标注信息为：测量尺寸类型为直径尺寸，关联几何体特征对象为外圆柱面，评价数值为Φ25mm±0.01mm。与该第一工件匹配的第二工件共有10组产品标注信息。

在这10组产品标注信息中，测量尺寸类型为直径尺寸的有4组。其中，这4组产品标注信息中的关联几何体特征对象分别为外圆柱面、外圆柱面、外圆柱面、外圆锥面。

也就是说，在与待标注信息中测量尺寸类型相同的4组产品标注信息中，关联几何体特征对象同样也相同的仍有4组。其中，这4组产品标注信息中的评价数值分别为Φ25mm±0.02mm、Φ25mm±0.03mm、Φ50mm±0.02mm、Φ50mm±0.01mm。

根据评价数值，先筛选出尺寸值最接近的，也就是直径为25mm的2组产品标注信息。再将这2组的尺寸公差与待标注信息中评价数值的尺寸公差进行对比，筛选出产品标注信息中评价数值的尺寸公差与待标注信息中评价数值的尺寸公差最接近的。

最终筛选出的产品标注信息为测量尺寸类型为直径尺寸，关联几何体特征对象为外圆柱面，评价数值为Φ25mm±0.02mm的作为测量信息。

在步骤S4中，获取测量信息对应的测量路径作为待标注信息的初始测量路径。

其中，在有工件测量信息库的情况下，可以直接从工件信息库中查询到第二工件的该组产品标注信息对应的测量路径。

具体地，所述获取所述测量信息对应的测量路径作为所述待标注信息的初始测量路径的步骤包括：从工件测量信息库中获取所述测量信息对应的测量路径。

在步骤S5中，需要基于第一工件的尺寸公差适应性调整初始测量路径以得到最终测量使用的目标测量路径。

示例性的，在步骤S3中筛选出的测量信息为：测量尺寸类型为直径尺寸，关联几何体特征对象为外圆柱面，评价数值为Φ25mm±0.02mm。

如果待标注信息中评价数值的尺寸公差为0.01mm，也就是测量信息中评价数值的尺寸公差与待标注信息中评价数值的尺寸公差不相同时，需要将该测量信息对应的测量路径作为初始测量路径，并根据待标注信息中评价数值的尺寸公差，将该初始测量路径复制生成评价数值的尺寸公差为0.01mm的目标测量路径。

以上仅为通用性的示例说明，实际在使用评价数值进行匹配时，还应考虑三坐标测针的逼近和回退距离，以便设定合适的阈值筛选出最相似且目标测量路径可用的标注信息。

在步骤S5之后，还可以基于生成的目标测量路径进行仿真测试，查看按照该目标测量路径进行测量是否会出现碰撞点。

具体地，所述三坐标测量路径生成方法还包括：基于所述目标测量路径对所述待标注信息进行仿真测试，若在所述仿真测试的过程中获取到碰撞点，优化所述目标测量路径以消除所述碰撞点。

在按照上述流程得到第一工件的目标测量路径或者优化后的目标测量路径，所述三坐标测量路径生成方法还包括：将所述第一工件的所述属性信息、所述几何模型、所述待标注信息以及所述待标注信息对应的目标测量路径分别作为标准工件的属性信息、几何模型、产品标注信息以及所述产品标注信息对应的测量路径存储至所述工件测量信息库。以扩充工件测量信息库中标准工件的种类数量及相关数据。

本实施例提供的三坐标测量路径生成方法，通过找到与第一工件相同或相似的第二工件，并借助第二工件已有的产品标注信息对应的测量路径作为第一工件的待标注信息的初始测量路径。在初始测量路径的基础上，基于待标注信息的尺寸公差适当地进行修改得到最后需要使用的目标测量路径。并且基于已知的工件的属性信息、几何模型、产品标注信息及产品标注信息对应的测量路径构建工件测量信息库。通过不断的积累使得可以用于匹配的标准工件的种类数量不断增加，提高初始测量路径匹配生成的准确率以及提高基于目标测量路径的测量效率。

实施例2

本实施例提供一种三坐标测量快速编程方法。

如图2所示，该方法包括步骤S6-S7：

步骤S6、根据实施例1任一种实施方式中所述的三坐标测量路径生成方法获取第一工件的待标注信息的目标测量路径；

步骤S7、根据所述目标测量路径编制所述待标注信息的测量程序。

另外，所述三坐标测量快速编程方法还包括：将所述测量程序作为标准工件的产品标注信息的测量程序存储至工件测量信息库。

本实施例提供的三坐标测量快速编程方法，基于实施例1中描述的三坐标测量路径生成方法，可以快速获取待标注信息的目标测量路径，并生成相应的测量程序。并将生成的测量程序也作为标准工件的产品标注信息的测量程序存储至工件测量信息库，便于后续可以直接从工件测量信息库中调用所需测量程序，不用重新生成。进一步提高三坐标测量效率。

实施例3

本实施例提供一种三坐标测量路径生成系统。

如图3所示，该系统包括：

工件匹配模块21，用于获取与第一工件匹配的第二工件；

标注信息获取模块22，用于获取所述第一工件的待标注信息和所述第二工件的至少一组产品标注信息；

测量信息筛选模块23，用于筛选出与所述待标注信息最相似的一组所述产品标注信息作为测量信息；

初始测量路径获取模块24，用于获取所述测量信息对应的测量路径作为所述待标注信息的初始测量路径；

目标测量路径生成模块25，用于基于所述待标注信息的尺寸公差和所述初始测量路径生成所述待标注信息对应的目标测量路径。

在工件匹配模块21中，可以通过第一工件的属性信息或者几何模型匹配合适的第二工件。

具体地，工件匹配模块21包括：

几何模型获取单元，用于获取所述第一工件的几何模型；

几何模型匹配单元，用于获取与所述第一工件的几何模型最相似的工件作为第二工件。

或者，工件匹配模块21还包括：

属性信息获取单元，用于获取所述第一工件的属性信息；

属性信息匹配单元，用于获取与所述第一工件的属性信息相同的工件作为第二工件；

若无法获取到与所述第一工件的属性信息相同的工件，再运行所述几何模型获取单元。

示例性的，通过属性信息获取单元先获取第一工件的属性信息，然后属性信息匹配单元根据第一工件的属性信息查找是否能够匹配到属性信息相同的第二工件。如果无法匹配到，再运行几何模型获取单元和几何模型匹配单元根据第一工件的几何模型查找几何模型最相似的工件作为第二工件。

其中，第二工件主要来源于工件测量信息库。该工件测量信息库中存储有若干标准工件的属性信息、几何模型，标准工件的至少一组产品标注信息以及产品标注信息对应的测量路径。

也就是说，可以从工件测量信息库中的标准工件中，筛选出与第一工件属性信息相同或几何模型高度相似的标准工件作为第二工件。

具体地，第一工件的属性信息包括所述第一工件的名称、几何模型编号、图号以及版本号中的至少一种。

在标注信息获取模块22中，待标注信息为第一工件所需要测量的相关信息。

具体地，待标注信息和产品标注信息均包括产品标注特征，产品标注特征包括测量尺寸类型、评价数值以及关联几何体特征对象中的至少一种。

其中，典型的测量尺寸类型为：直径尺寸、线性尺寸、半径尺寸、倒角尺寸、角度尺寸、表面粗糙度等。

示例性的，第一工件的待标注信息为：测量尺寸类型为直径尺寸(注：有些商业软件，如西门子NX11，会将“直径”和“半径”统一称为“半径尺寸”)，评价数值为Φ25mm±0.01mm，关联几何体特征对象为外圆柱面。

此时，第一工件的待标注信息可以理解为：为对直径为25mm的圆柱的整个圆柱面进行测量，要求其尺寸公差不超过0.01mm。

在测量信息筛选模块23中，可以按照预设比对顺序，将待标注信息逐一与第二工件的产品标注信息进行比对，以筛选出与与所述待标注信息最相似的一组所述产品标注信息。

具体地，所述测量信息筛选模块23包括：

比对单元，用于按照预设比对顺序，将所述待标注信息与所述产品标注信息中的所述产品标注特征进行依次比对；

筛选单元，用于筛选出与所述待标注信息最相似的一组产品标注信息作为所述测量信息。

其中，预设比对顺序依次为：测量尺寸类型、关联几何体特征对象以及评价数值。

也就是说，先比对待标注信息与产品标注信息的测量尺寸类型。

如果比对结果表示只有一组的产品标注信息与待标注信息的测量尺寸类型相同，则该产品标注信息就为与待标注信息最相似的一组。

如果比对结果表示有两组及以上的产品标注信息与待标注信息的测量尺寸类型相同，再比对两者的关联几何体特征对象和评价数值。

直到找出与第一工件的待标注信息最相似的、唯一确定一组产品标注信息作为测量信息。

其中，评价数值包括尺寸值和尺寸公差。如果无法匹配到与待标注信息中的评价数值完全相同的产品标注信息，可以先选取与待标注信息中评价数值的尺寸值最接近的，再选取尺寸公差最接近的。

示例性的，第一工件的待标注信息为：测量尺寸类型为直径尺寸，关联几何体特征对象为外圆柱面，评价数值为Φ25mm±0.01mm。与该第一工件匹配的第二工件共有10组产品标注信息。

在这10组产品标注信息中，测量尺寸类型为直径尺寸的有4组。其中，这4组产品标注信息中的关联几何体特征对象分别为外圆柱面、外圆柱面、外圆柱面、外圆锥面。

也就是说，在与待标注信息中测量尺寸类型相同的4组产品标注信息中，关联几何体特征对象同样也相同的仍有4组。其中，这4组产品标注信息中的评价数值分别为Φ25mm±0.02mm、Φ25mm±0.03mm、Φ50mm±0.02mm、Φ50mm±0.01mm。

根据评价数值，先筛选出尺寸值最接近的，也就是直径为25mm的2组产品标注信息。再将这2组的尺寸公差与待标注信息中评价数值的尺寸公差进行对比，筛选出产品标注信息中评价数值的尺寸公差与待标注信息中评价数值的尺寸公差最接近的。

最终筛选出的产品标注信息为测量尺寸类型为直径尺寸，关联几何体特征对象为外圆柱面，评价数值为Φ25mm±0.02mm的作为测量信息。

在初始测量路径获取模块24中，获取测量信息对应的测量路径作为待标注信息的初始测量路径。

其中，在有工件测量信息库的情况下，可以直接从工件信息库中查询到第二工件的该组产品标注信息对应的测量路径。

具体地，所述工件匹配模块21用于从工件测量信息库中获取所述测量信息对应的测量路径。

在目标测量路径生成模块25中，需要基于第一工件的尺寸公差适应性调整初始测量路径以得到最终测量使用的目标测量路径。

示例性的，测量信息筛选模块23筛选出的测量信息为：测量尺寸类型为直径尺寸，关联几何体特征对象为外圆柱面，评价数值为Φ25mm±0.02mm。

如果待标注信息中评价数值的尺寸公差为0.01mm，也就是测量信息中评价数值的尺寸公差与待标注信息中评价数值的尺寸公差不相同时，需要将该测量信息对应的测量路径作为初始测量路径，并根据待标注信息中评价数值的尺寸公差，将该初始测量路径复制生成评价数值的尺寸公差为0.01mm的目标测量路径。

以上仅为通用性的示例说明，实际在使用评价数值进行匹配时，还应考虑三坐标测针的逼近和回退距离，以便设定合适的阈值筛选出最相似且目标测量路径可用的标注信息。

在目标测量路径生成模块25之后，还可以基于生成的目标测量路径进行仿真测试，查看按照该目标测量路径进行测量是否会出现碰撞点。

具体地，所述三坐标测量路径生成系统还包括优化模块，用于基于所述目标测量路径对所述待标注信息进行仿真测试，若在所述仿真测试的过程中获取到碰撞点，优化所述目标测量路径以消除所述碰撞点。

在按照上述流程得到第一工件的目标测量路径或者优化后的目标测量路径，所述三坐标测量路径生成系统还包括第一存储模块，用于将所述第一工件的所述属性信息、所述几何模型、所述待标注信息以及所述待标注信息对应的目标测量路径分别作为标准工件的属性信息、几何模型、产品标注信息以及所述产品标注信息对应的测量路径存储至所述工件测量信息库。以扩充工件测量信息库中标准工件的种类数量及相关数据。

本实施例提供的三坐标测量路径生成系统，通过找到与第一工件相同或相似的第二工件，并借助第二工件已有的产品标注信息对应的测量路径作为第一工件的待标注信息的初始测量路径。在初始测量路径的基础上，基于待标注信息的尺寸公差适当地进行修改得到最后需要使用的目标测量路径。并且基于已知的工件的属性信息、几何模型、产品标注信息及产品标注信息对应的测量路径构建工件测量信息库。通过不断的积累使得可以用于匹配的标准工件的种类数量不断增加，提高初始测量路径匹配生成的准确率以及提高基于目标测量路径的测量效率。

实施例4

本实施例提供一种三坐标测量快速编程系统。

如图4所示，该系统包括：

测量路径获取模块26，用于根据实施例3任一种实施方式中所述的三坐标测量路径生成系统获取第一工件的待标注信息的目标测量路径；

程序编制模块27，用于根据所述目标测量路径编制所述待标注信息的测量程序。

另外，所述三坐标测量快速编程系统还包括第二存储模块：将所述测量程序作为标准工件的产品标注信息的测量程序存储至工件测量信息库。

本实施例提供的三坐标测量快速编程系统，基于实施例3中描述的三坐标测量路径生成系统，可以快速获取待标注信息的目标测量路径，并生成相应的测量程序。并将生成的测量程序也作为标准工件的产品标注信息的测量程序存储至工件测量信息库，便于后续可以直接从工件测量信息库中调用所需测量程序，不用重新生成。进一步提高三坐标测量效率。

实施例5

图5为本发明实施例5提供的一种电子设备的结构示意图。电子设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行程序时实现实施例1的三坐标测量路径生成方法或实施例2的三坐标测量快速编程方法。图5显示的电子设备30仅仅是一个示例，不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。

如图5所示，电子设备30可以通用计算设备的形式表现，例如其可以为服务器设备。电子设备30的组件可以包括但不限于：上述至少一个处理器31、上述至少一个存储器32、连接不同系统组件(包括存储器32和处理器31)的总线33。

总线33包括数据总线、地址总线和控制总线。

存储器32可以包括易失性存储器，例如随机存取存储器(RAM)321和/或高速缓存存储器322，还可以进一步包括只读存储器(ROM)323。

存储器32还可以包括具有一组(至少一个)程序模块324的程序/实用工具325，这样的程序模块324包括但不限于：操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。

处理器31通过运行存储在存储器32中的计算机程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，例如本发明实施例1的三坐标测量路径生成方法或实施例2的三坐标测量快速编程方法。

电子设备30也可以与一个或多个外部设备34(例如键盘、指向设备等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口35进行。并且，模型生成的设备30还可以通过网络适配器36与一个或者多个网络(例如局域网(LAN)，广域网(WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图5所示，网络适配器36通过总线33与模型生成的设备30的其它模块通信。应当明白，尽管图中未示出，可以结合模型生成的设备30使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理器、外部磁盘驱动阵列、RAID(磁盘阵列)系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。

应当注意，尽管在上文详细描述中提及了电子设备的若干单元/模块或子单元/模块，但是这种划分仅仅是示例性的并非强制性的。实际上，根据本发明的实施方式，上文描述的两个或更多单元/模块的特征和功能可以在一个单元/模块中具体化。反之，上文描述的一个单元/模块的特征和功能可以进一步划分为由多个单元/模块来具体化。

实施例6

本实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，程序被处理器执行时实现实施例1的三坐标测量路径生成方法或实施例2的三坐标测量快速编程方法。

其中，可读存储介质可以采用的更具体可以包括但不限于：便携式盘、硬盘、随机存取存储器、只读存储器、可擦拭可编程只读存储器、光存储器件、磁存储器件或上述的任意合适的组合。

在可能的实施方式中，本发明还可以实现为一种程序产品的形式，其包括程序代码，当程序产品在终端设备上运行时，程序代码用于使终端设备执行实现实施例1的三坐标测量路径生成方法或实施例2的三坐标测量快速编程方法。

其中，可以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明的程序代码，程序代码可以完全地在用户设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户设备上部分在远程设备上执行或完全在远程设备上执行。

虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这仅是举例说明，本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。