控制装置、时序控制电路、控制方法、芯片及电子设备

技术领域

本公开涉及控制技术领域，尤其涉及一种控制装置、时序控制电路、控制方法、芯片及电子设备。

背景技术

目前，越来越多的电子设备设置有具备触控功能的显示面板。当显示面板的触控芯片发生不掉电复位时，若因一些原因(如静电放电(Electro Static Discharge,ESD)等)导致内存中固件出现异常，触控芯片将出现软失效(Soft Fail)而无法正常运行，相关技术通常从闪存中获取固件，并将固件加载到内存中以重新启动触控芯片，然而，当异常状况导致内存与控制器的通信出现不稳定或异常时，触控芯片无法正常启动，并且，对于一些不包括闪存的电路或装置而言，相关技术无法实现触控芯片的重启动。

发明内容

有鉴于此，本公开提出了一种控制装置，所述装置包括控制模块、存储模块、校验模块，所述存储模块连接于所述控制模块、所述校验模块，其中，

所述校验模块用于：当确定所述控制装置发生复位时，执行N次校验操作，所述校验操作包括：等待预设时长的时间后对所述存储模块中的运行程序进行校验，得到校验结果，其中，N≥1且为整数；

所述控制模块用于：当N次校验操作的其中一次校验结果为校验正确的情况下，执行所述存储模块中的运行程序。

在一种可能的实施方式中，所述校验操作的执行次数为1对应的预设时长大于执行次数大于1对应的预设时长。

在一种可能的实施方式中，所述校验模块包括：

调整单元，用于在所述校验模块首次执行所述校验操作情况下，将所述预设时长设置为第一时长。

在一种可能的实施方式中，所述调整单元还用于：

在首次执行所述校验操作的校验结果为校验不正确的情况下，将校验操作的执行次数设置为M次，并将所述预设时长设置为第二时长，

其中，M＞1且为整数，所述第二时长小于所述第一时长。

在一种可能的实施方式中，所述调整单元还用于：

当执行M次校验操作的校验结果均为不正确的情况下，将校验操作的执行次数设置为K次，并将所述预设时长设置为第三时长，

其中，K＞M且为整数，所述第三时长小于所述第二时长。

在一种可能的实施方式中，所述校验模块包括：

校验单元，用于对所述运行程序进行校验；

延时单元，连接于所述校验单元，用于对所述校验单元的启动时间延时所述预设时长。

在一种可能的实施方式中，所述校验模块还包括：

循环控制单元，连接于所述延时单元及所述校验单元，用于控制所述延时单元及所述校验单元执行S次校验操作，其中，1＜S≤N。

在一种可能的实施方式中，所述校验模块还用于：

当N次校验操作的校验结果均为校验不正确的情况下，中断所述控制模块的启动。

在一种可能的实施方式中，所述装置连接于外接设备，所述校验模块还用于：

当N次校验操作的校验结果均为校验不正确的情况下，输出控制信号，使得所述外接设备发送应用程序文件到所述存储模块。

在一种可能的实施方式中，所述存储模块包括静态随机存储内存。

根据本公开的另一方面，提出了一时序控制电路，应用于控制装置中，所述控制装置包括控制模块、存储模块、校验模块，所述存储模块连接于所述控制模块、所述校验模块，所述电路包括：

延时模块，连接于所述校验模块，用于对所述校验模块的启动时间延时第一时长，以使得所述校验模块在延时所述第一时长后，对所述存储模块中的运行程序进行校验，得到校验结果，并使得所述校验模块根据所述校验结果控制所述控制模块的启动。

在一种可能的实施方式中，所述电路还包括：

循环控制模块，连接于所述延时模块及所述校验模块，用于控制所述校验模块及所述延时模块执行M次校验操作，

其中，所述校验操作包括：对所述校验模块的启动时间延时第二时长的时间后对所述存储模块中的运行程序进行校验，得到校验结果，其中，M＞1且为整数，

其中，所述第二时长小于所述第一时长。

在一种可能的实施方式中，所述电路还包括：

调整模块，连接于所述循环控制模块，用于当执行M次校验操作的校验结果均为不正确的情况下，将校验操作的执行次数设置为K次，并将延时时长设置为第三时长，

其中，K＞M且为整数，所述第三时长小于所述第二时长。

根据本公开的另一方面，提出了一种控制方法，所述方法应用于控制装置中，所述控制装置包括控制模块及存储模块，所述方法包括：

当确定所述控制装置发生复位时，执行N次校验操作，所述校验操作包括：等待预设时长的时间后对所述存储模块中的运行程序进行校验，得到校验结果，其中，N≥1且为整数；

当N次校验操作的其中一次校验结果为校验正确的情况下，执行所述存储模块中的运行程序。

在一种可能的实施方式中，所述校验操作的执行次数为1对应的预设时长大于执行次数大于1对应的预设时长。

在一种可能的实施方式中，所述方法还包括：

在首次执行所述校验操作情况下，将所述预设时长设置为第一时长。

在一种可能的实施方式中，所述方法还包括：

在首次执行所述校验操作的校验结果为校验不正确的情况下，将校验操作的执行次数设置为M次，并将所述预设时长设置为第二时长，

其中，M＞1且为整数，所述第二时长小于所述第一时长。

在一种可能的实施方式中，所述方法还包括：

当执行M次校验操作的校验结果均为不正确的情况下，将校验操作的执行次数设置为K次，并将所述预设时长设置为第三时长，

其中，K＞M且为整数，所述第三时长小于所述第二时长。

根据本公开的另一方面，提出了一种芯片，所述芯片包括：

所述的控制装置；或

所述的时序控制电路。

根据本公开的另一方面，提出了一种电子设备，所述电子设备包括所述的芯片。

在一种可能的实施方式中，所述电子设备包括显示器、智能手机或便携设备。

本公开实施例可以当确定所述控制装置发生复位时，执行N次校验操作，所述校验操作包括：等待预设时长的时间后对所述存储模块中的运行程序进行校验，得到校验结果，当N次校验操作的其中一次校验结果为校验正确的情况下，执行所述存储模块中的运行程序，以使得控制装置开始正常工作，可以避免因存储模块的通信异常或不稳定导致的校验失败而依法的软失效，提高了启动成功率，并且，本公开实施例的控制装置，可以不依赖于闪存进行控制装置的复位重启，成本低。

根据下面参考附图对示例性实施例的详细说明，本公开的其它特征及方面将变得清楚。

附图说明

包含在说明书中并且构成说明书的一部分的附图与说明书一起示出了本公开的示例性实施例、特征和方面，并且用于解释本公开的原理。

图1示出了根据本公开一实施例的控制装置的框图。

图2示出了根据本公开一实施例的控制装置的框图。

图3示出了根据本公开一实施例的时序控制电路的框图。

图4示出了根据本公开一实施例的时序控制电路的框图。

图5示出了根据本公开一实施例的控制方法的流程图。

图6示出了根据本公开一实施例的控制方法的流程图。

图7示出了根据本公开一实施例的控制装置的框图。

具体实施方式

以下将参考附图详细说明本公开的各种示例性实施例、特征和方面。附图中相同的附图标记表示功能相同或相似的元件。尽管在附图中示出了实施例的各种方面，但是除非特别指出，不必按比例绘制附图。

在本公开的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本公开和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本公开的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本公开中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本公开中的具体含义。

在这里专用的词“示例性”意为“用作例子、实施例或说明性”。这里作为“示例性”所说明的任何实施例不必解释为优于或好于其它实施例。

另外，为了更好的说明本公开，在下文的具体实施方式中给出了众多的具体细节。本领域技术人员应当理解，没有某些具体细节，本公开同样可以实施。在一些实例中，对于本领域技术人员熟知的方法、手段、元件和电路未作详细描述，以便于凸显本公开的主旨。

请参阅图1，图1示出了根据本公开一实施例的控制装置的框图。

如图1所示，所述装置包括控制模块10、存储模块20、校验模块30，所述存储模块20连接于所述控制模块10、所述校验模块30，其中，

所述校验模块30用于：当确定所述控制装置发生复位时，执行N次校验操作，所述校验操作包括：等待预设时长的时间后对所述存储模块20中的运行程序进行校验，得到校验结果，其中，N≥1且为整数；

所述控制模块10用于：当N次校验操作的其中一次校验结果为校验正确的情况下，执行所述存储模块20中的运行程序。

本公开实施例可以当确定所述控制装置发生复位时，执行N次校验操作，所述校验操作包括：等待预设时长的时间后对所述存储模块中的运行程序进行校验，得到校验结果，当N次校验操作的其中一次校验结果为校验正确的情况下，执行所述存储模块中的运行程序，以使得控制装置开始正常工作，可以避免因存储模块的通信异常或不稳定导致的校验失败而依法的软失效，提高了启动成功率，并且，本公开实施例的控制装置，可以不依赖于闪存进行控制装置的复位重启，成本低。

在一个示例中，本公开实施例的控制装置可以为触控芯片，或设置有触控芯片具有触控功能的显示面板、终端。

在一个示例中，显示面板可以包括液晶显示面板、有机发光二极管显示面板、量子点发光二极管显示面板、迷你发光二极管显示面板和微发光二极管显示面板等。

在一个示例中，终端又称之为用户设备(User Equipment，UE)、移动台(MobileStation，MS)、移动终端(Mobile Terminal，MT)等，是一种向用户提供语音和/或数据连通性的设备，例如，具有无线连接功能的手持式设备、车载设备等。目前，一些终端的举例为：手机(Mobile Phone)、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、移动互联网设备(MobileInternetdevice，MID)、可穿戴设备，虚拟现实(Virtual Reality，VR)设备、增强现实(Augmentedreality，AR)设备、工业控制(Industrial Control)中的无线终端、无人驾驶(Selfdriving)中的无线终端、远程手术(Remote medical Surgery)中的无线终端、智能电网(Smart Grid)中的无线终端、运输安全(Transportation Safety)中的无线终端、智慧城市(Smart City)中的无线终端、智慧家庭(Smart Home)中的无线终端、车联网中的无线终端等。

本公开实施例的控制模块10可以包括处理组件，处理组件包括但不限于单独的处理器，或者分立元器件，或者处理器与分立元器件的组合。所述处理器可以包括电子设备中具有执行指令功能的控制器，所述处理器可以按任何适当的方式实现，例如，被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现。在所述处理器内部，可以通过逻辑门、开关、专用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuit，ASIC)、可编程逻辑控制器和嵌入微控制器等硬件电路执行所述可执行指令。

在一个示例中，当人体(如手指)触摸显示面板、电子设备的触控区域时，静电放电(Electro Static Discharge,ESD)的电荷可能会通过触控区域的线路而传送至控制装置，由于存储模块(如静态随机存取内存)容易因ESD而产生的脉冲电流导致其中的数据状态电位突然跳变，造成数据不准确，使得存储模块中的应用程序不准确，当ESD事件的持续时间较长，校验模块在执行文件的校验的过程中因存储模块的通信异常或不稳定而导致数据校验失败，使得控制装置无法成功重启控制模块实现自我恢复，本公开实施例当确定所述控制装置发生复位时，执行N次校验操作，所述校验操作包括：等待预设时长的时间后对所述存储模块中的运行程序进行校验，得到校验结果，当N次校验操作的其中一次校验结果为校验正确的情况下，执行所述存储模块中的运行程序，以使得控制装置开始正常工作，可以避免因存储模块的通信异常或不稳定导致的校验失败而依法的软失效。

应该说明的是，本公开实施例对确定发生复位的具体实现方式不做限定，例如可以通过系统时钟、复位时钟、系统产生的复位信号或其他任意一种方式确定控制装置发生复位。

应该说明的是，本公开实施例对应用程序的具体类型不做限定，应用程序可以是驱动控制装置各个器件作用的驱动程序，也可以包括其他的功能性程序，还可以是其他能够被控制模块运行以使得控制装置正常工作的程序、指令，对此，本公开实施例不做限定。

本公开实施例对校验模块对应用程序执行校验的校验方式不做限定，示例性，可以通过数据比对校验、奇偶校验(Parity Check)、BCC异或校验法(block checkcharacter，块校验码)、LRC纵向冗余校验(Longitudinal Redundancy Check)、CRC(CyclicRedundancy Check，循环冗余校验)循环冗余校验、MD5、SHA、MAC等摘要算法对应用程序进行校验。

本公开实施例对校验操作的执行次数的具体数目不做限定，本领域技术人员可以根据需要或实际情况设置，应明白，对于不同的执行次数，每次循环操作中校验模块等待的预设时长不同。。

在一种可能的实施方式中，所述校验操作的执行次数为1对应的预设时长大于执行次数大于1对应的预设时长。

请参阅图2，图2示出了根据本公开一实施例的控制装置的框图。

在一种可能的实施方式中，如图2所示，所述校验模块30可以包括：

调整单元310，用于在所述校验模块30首次执行所述校验操作情况下，将所述预设时长设置为第一时长。

在一种可能的实施方式中，所述调整单元310还可以用于：

在首次执行所述校验操作的校验结果为校验不正确的情况下，将校验操作的执行次数设置为M次，并将所述预设时长设置为第二时长，

其中，M＞1且为整数，所述第二时长小于所述第一时长。

在一种可能的实施方式中，所述调整单元310还可以用于：

当执行M次校验操作的校验结果均为不正确的情况下，将校验操作的执行次数设置为K次，并将所述预设时长设置为第三时长，

其中，K＞M且为整数，所述第三时长小于所述第二时长。

本公开实施例可以根据实际情况设置校验操作的执行次数，以适应不同情况下复位重启的状况，以提高对不同原因导致的存储模块的通信异常或不稳定情况的持续时间的适应性，当然，本公开实施例对设置的对应次数的对应预设时长的具体大小不做限定，本公开实施例可以根据需要设置，当将循环执行的次数设置为较小的值时，本公开实施例可以将预设时长设置为较大的时长；当将循环执行次数设置为较大的值时，本公开实施例可以将易俗河时长设置为较小的时长。并且，本公开实施例支持对执行次数、预设时长的实时调整，例如在执行M次校验操作的校验结果均为不正确的情况下，将校验操作的执行次数设置为K次，并将所述预设时长设置为第三时长，只要校验操作执行中某一次校验正确，即可启动控制模块。

在一种可能的实施方式中，如图2所示，所述校验模块30包括：

校验单元320，用于对所述运行程序进行校验；

延时单元330，连接于所述校验单元320，用于对所述校验单元320的启动时间延时所述预设时长。

校验单元320可以被设置为获悉控制装置发生复位就立刻执行对存储模块的应用程序的校验操作，本公开实施例通过延时单元330可以实现对校验单元320的校验操作的延时，以避免因存储模块的通信异常或不稳定导致的校验失败而依法的软失效。

本公开实施例通过延时单元330，使得校验单元320在每一次控制装置的复位启动时执行引用程序检验的起始时间会被延时第一时长，如此，在校验单元320等待所述第一时长经过的过程中便可以避开存储模块的通信异常或不稳定，从而在通信稳定后才开始对存储模块进行检验，避免检验因受到突发的ESD影响而出现数据校验失败的情况。最终，在检验结果显示检验通过后，启动控制模块10，使所述控制装置开始正常工作。

本公开实施例对延时单元330、校验单元320、调整单元310的具体实现方式不做限定。

在一种可能的实施方式中，如图2所示，所述校验模块30还包括：

循环控制单元340，连接于所述延时单元330及所述校验单元320，用于控制所述延时单元330及所述校验单元320执行S次校验操作，其中，1＜S≤N。

本公开实施例可以通过循环控制单元340控制延时单元330及校验单元320，使得校验单元320每次对应用程序的校验操作的启动时间均延迟预设时长。

在循环执行校验操作时，校验单元可以被配置为在一次校验操作完成时就启动下一次的校验操作，本公开实施例通过延时单元330可以将校验单元320的每一次校验操作的启动时间均延后预设时长，并通过循环控制单元对循环执行校验操作进行控制，以避免因存储模块的通信异常或不稳定导致的校验失败而依法的软失效。

在一种可能的实施方式中，所述校验模块30还可以用于：

当N次校验操作的校验结果均为校验不正确的情况下，中断所述控制模块10的启动。

在一种可能的实施方式中，所述装置连接于外接设备，所述校验模块30还可以用于：

当N次校验操作的校验结果均为校验不正确的情况下，输出控制信号，使得所述外接设备发送应用程序文件到所述存储模块20。

当设置的校验参数的循环执行系数达到预设次数时，若最后一次校验的校验结果依然不正确，本公开实施例可以中断所述控制模块10的启动，或者，输出控制信号，使得所述外接设备发送应用程序文件到所述存储模块20，例如透过控制模块的某个信号通信管脚、端口通知外部的主机处理器，使该主机处理器将至少应用程序的可执行文件直接加载到存储模块之中，或在控制装置存在闪存的情况下，将所述文件储存到控制装置的闪存中。

请参阅图3，图3示出了根据本公开一实施例的时序控制电路的框图。

所述电路应用于控制装置中，如图3所示，所述控制装置包括控制模块10、存储模块20、校验模块30，所述存储模块20连接于所述控制模块10、所述校验模块30，所述电路包括：

延时模块410，连接于所述校验模块30，用于对所述校验模块30的启动时间延时第一时长，以使得所述校验模块30在延时所述第一时长后，对所述存储模块20中的运行程序进行校验，得到校验结果，并使得所述校验模块30根据所述校验结果控制所述控制模块10的启动。

本公开实施例通过对所述校验模块的启动时间延时第一时长，以使得所述校验模块在延时所述第一时长后，对所述存储模块中的运行程序进行校验，得到校验结果，并使得所述校验模块根据所述校验结果控制所述控制模块的启动，以使得控制装置开始正常工作，可以避免因存储模块的通信异常或不稳定导致的校验失败而依法的软失效，提高了启动成功率，并且，本公开实施例的控制装置，可以不依赖于闪存进行控制装置的复位重启，成本低。

本公开实施例通过延时模块40，使得校验模块30在每一次控制装置的复位启动时执行引用程序检验的起始时间会被延时第一时长，如此，在校验模块30等待所述第一时长经过的过程中便可以避开存储模块的通信异常或不稳定，从而在通信稳定后才开始对存储模块进行检验，避免检验因受到突发的ESD影响而出现数据校验失败的情况。最终，在检验结果显示检验通过后，启动控制模块10，使所述控制装置开始正常工作。

在一个示例中，本公开实施例的控制装置可以为触控芯片，或设置有触控芯片具有触控功能的显示面板、终端。

请参阅图4，图4示出了根据本公开一实施例的时序控制电路的框图。

在一种可能的实施方式中，如图4所示，所述电路还包括：

循环控制模块420，连接于所述延时模块410及所述校验模块30，用于控制所述校验模块30及所述延时模块410执行M次校验操作，

其中，所述校验操作包括：对所述校验模块30的启动时间延时第二时长的时间后对所述存储模块20中的运行程序进行校验，得到校验结果，其中，M＞1且为整数，

其中，所述第二时长小于所述第一时长。

本公开实施例可以通过循环控制模块420控制延时模块410及校验模块30，使得校验模块30每次对应用程序的校验操作的启动时间均延迟第二时长。

在循环执行校验操作时，校验模块可以被配置为在一次校验操作完成时就启动下一次的校验操作，本公开实施例通过延时模块410可以将校验模块30的每一次校验操作的启动时间均延后预设时长，并对循环执行校验操作进行控制，以避免因存储模块的通信异常或不稳定导致的校验失败而依法的软失效。

应该说明的是，在单次校验操作中，所述第一时长设定的越长则越容易避开存储模块的通信异常或不稳定，然而，设定过长的第一时长，可能会带给用户触摸响应迟钝的感受，但是设定过短的第一时长又可能会无法避开通信失效期。基于这个理由，本公开实施例通过循环控制模块420，配置用以使该校验模块30向存储模块重复执行多次检验操作。

在一个示例中，循环校验是为了解决所述第一时长的设定时间过长的问题，缩短等待时间(即，第二时长)同时增加循环检验次数，只要有一次校验通过就可以认为校验成功，跳出循环。如此，不但可以这样能减少等待时间，也可以提高系统响应速度。

在一种可能的实施方式中，如图4所示，所述电路还包括：

调整模块430，连接于所述循环控制模块420，用于当执行M次校验操作的校验结果均为不正确的情况下，将校验操作的执行次数设置为K次，并将延时时长设置为第三时长，

其中，K＞M且为整数，所述第三时长小于所述第二时长。

本公开实施例可以根据实际情况设置校验操作的执行次数，以适应不同情况下复位重启的状况，以提高对不同原因导致的存储模块的通信异常或不稳定情况的持续时间的适应性，当然，本公开实施例对设置的对应次数的对应预设时长的具体大小不做限定，本公开实施例可以根据需要设置，当将循环执行的次数设置为较小的值时，本公开实施例可以将预设时长设置为较大的时长；当将循环执行次数设置为较大的值时，本公开实施例可以将易俗河时长设置为较小的时长。并且，本公开实施例支持对执行次数、预设时长的实时调整，例如在执行M次校验操作的校验结果均为不正确的情况下，将校验操作的执行次数设置为K次，并将所述预设时长设置为第三时长，只要校验操作执行中某一次校验正确，即可启动控制模块。

应该明白的是，所述时序控制电路，是与前述的控制装置对应的，其具体介绍请参考之前对控制装置的介绍，在此不再赘述。

请参阅图5，图5示出了根据本公开一实施例的控制方法的流程图。

所述方法应用于控制装置中，所述控制装置可以包括控制模块10及存储模块20，如图5所示，所述方法包括：

步骤S11，当确定所述控制装置发生复位时，执行N次校验操作，所述校验操作包括：等待预设时长的时间后对所述存储模块20中的运行程序进行校验，得到校验结果，其中，N≥1且为整数；

步骤S12，当N次校验操作的其中一次校验结果为校验正确的情况下，执行所述存储模块20中的运行程序。

本公开实施例可以当确定所述控制装置发生复位时，执行N次校验操作，所述校验操作包括：等待预设时长的时间后对所述存储模块中的运行程序进行校验，得到校验结果，当N次校验操作的其中一次校验结果为校验正确的情况下，执行所述存储模块中的运行程序，以使得控制装置开始正常工作，可以避免因存储模块的通信异常或不稳定导致的校验失败而依法的软失效，提高了启动成功率，并且，本公开实施例的控制装置，可以不依赖于闪存进行控制装置的复位重启，成本低。

在一种可能的实施方式中，所述校验操作的执行次数为1对应的预设时长大于执行次数大于1对应的预设时长。

请参阅图6，图6示出了根据本公开一实施例的控制方法的流程图。

在一种可能的实施方式中，如图6所示，所述方法还包括：

步骤S13，在首次执行所述校验操作情况下，将所述预设时长设置为第一时长。

在一种可能的实施方式中，如图6所示，所述方法还包括：

步骤S14，在首次执行所述校验操作的校验结果为校验不正确的情况下，将校验操作的执行次数设置为M次，并将所述预设时长设置为第二时长，

其中，M＞1且为整数，所述第二时长小于所述第一时长。

在一种可能的实施方式中，如图6所示，所述方法还包括：

步骤S15，当执行M次校验操作的校验结果均为不正确的情况下，将校验操作的执行次数设置为K次，并将所述预设时长设置为第三时长，

其中，K＞M且为整数，所述第三时长小于所述第二时长。

相关技术中，对于没有闪存FLASH的应用，硬件不能自动从FLASH中加载固件来自我恢复，并且如果ESD事件持续时间较长，在进行固件(包括驱动程序等应用程序)内容校验时SRAM通信尚未恢复正常，则会校验失败，无法重启控制模块，导致控制装置自我恢复失败，控制装置出现软失效，而本公开实施例在复位发生后，先等待一段预设的时间，以期避开SRAM通信不稳定的时间，再进行SRAM内容校验，校验成功则重启MCU(控制模块)，控制装置自恢复成功，校验失败则循环执行以上步骤直到循环次数达到预设次数。其中，本公开实施例通过循环校验可以解决等待时间过长的问题，可以采用减少等待时间，适当增加循环次数的方式，只要有一次校验通过就可以认为校验成功，跳出循环，这样能减少等待时间，提高系统响应速度，避免因存储模块的通信异常或不稳定导致的校验失败而依法的软失效。

请参阅图7，图7示出了根据本公开一实施例的控制装置的框图。

例如，装置800可以是移动电话，计算机，数字广播终端，消息收发设备，游戏控制台，平板设备，医疗设备，健身设备，个人数字助理等。

参照图7，装置800可以包括以下一个或多个组件：处理组件802，存储器804，电源组件806，多媒体组件808，音频组件810，输入/输出(I/O)的接口812，传感器组件814，以及通信组件816。

处理组件802通常控制装置800的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件802可以包括一个或多个处理器820来执行指令，以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件802可以包括一个或多个模块，便于处理组件802和其他组件之间的交互。例如，处理组件802可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件808和处理组件802之间的交互。

存储器804被配置为存储各种类型的数据以支持在装置800的操作。这些数据的示例包括用于在装置800上操作的任何应用程序或方法的指令，联系人数据，电话簿数据，消息，图片，视频等。存储器804可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

电源组件806为装置800的各种组件提供电力。电源组件806可以包括电源管理系统，一个或多个电源，及其他与为装置800生成、管理和分配电力相关联的组件。

多媒体组件808包括在所述装置800和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件808包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当装置800处于操作模式，如拍摄模式或视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。

音频组件810被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件810包括一个麦克风(MIC)，当装置800处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器804或经由通信组件816发送。在一些实施例中，音频组件810还包括一个扬声器，用于输出音频信号。

I/O接口812为处理组件802和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。

传感器组件814包括一个或多个传感器，用于为装置800提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件814可以检测到装置800的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为装置800的显示器和小键盘，传感器组件814还可以检测装置800或装置800一个组件的位置改变，用户与装置800接触的存在或不存在，装置800方位或加速/减速和装置800的温度变化。传感器组件814可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件814还可以包括光传感器，如CMOS或CCD图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件814还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。

通信组件816被配置为便于装置800和其他设备之间有线或无线方式的通信。装置800可以接入基于通信标准的无线网络，如WiFi，2G或3G，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件816经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件816还包括近场通信(NFC)模块，以促进短程通信。例如，在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术，红外数据协会(IrDA)技术，超宽带(UWB)技术，蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。

在示例性实施例中，装置800可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述方法。

在示例性实施例中，还提供了一种非易失性计算机可读存储介质，例如包括计算机程序指令的存储器804，上述计算机程序指令可由装置800的处理器820执行以完成上述方法。

以上已经描述了本公开的各实施例，上述说明是示例性的，并非穷尽性的，并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下，对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择，旨在最好地解释各实施例的原理、实际应用或对市场中的技术的改进，或者使本技术领域的其它普通技术人员能理解本文披露的各实施例。