一种提高液晶相控阵天线波束指向精度的方法和天线设备

技术领域

本发明涉及相控阵天线领域，特别是涉及一种提高液晶相控阵天线波束指向精度的方法、液晶相控阵天线设备、存储介质和计算机设备。

背景技术

卫星通信技术始于六十年代，七、八十年代得到蓬勃发展，九十年代，个人移动通信的应用又给卫星通信的发展注入了新的动力。相控阵天线技术是卫星通信的关键技术，其快速波束扫描的能力使其成为卫星通信系统中不可或缺的组成部件。

液晶相控阵是一种基于液晶移相器的相控阵天线，相位调制原理的核心在于改变液晶指向矢的分布，同时确保入射光的偏振方向基本沿液晶分子长轴，外界电场或磁场激励可以改变平行排列的液晶指向矢分布，造成入射光光程的变化，从而实现电控相位延迟的控制。

发明内容

为了解决上述问题至少之一，本发明第一个实施例提供一种提高液晶相控阵天线波束指向精度的方法，包括：

选择液晶相控阵天线的一个未获取实际馈相值的阵元，使用预设置的相控阵天线数学模型获取所述阵元的理论馈相值，所述液晶相控阵天线包括阵列排布的多个阵元；

使用预设置的馈相获取方法获取所述阵元的馈相量化误差，并根据所述理论馈相值和馈相量化误差获取所述阵元的实际馈相值，根据所述实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压；

判断所述液晶相控阵天线是否还有未获取实际馈相值的阵元，若是则跳转到所述选择液晶相控阵天线的一个未获取实际馈相值的阵元的步骤。

进一步地，所述使用预设置的馈相获取方法获取所述阵元的馈相量化误差，并根据所述理论馈相值和馈相量化误差获取所述阵元的实际馈相值，根据所述实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压进一步包括：

根据所述液晶移相器的电压—相位曲线获取所述阵元的馈相量化误差；

根据所述理论馈相值和馈相量化误差获取所述阵元的实际馈相值；

根据所述实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压。

进一步地，所述根据所述液晶移相器的电压—相位曲线获取所述阵元的馈相量化误差进一步包括：

根据所述液晶移相器的电压—相位曲线获取第一馈相量化误差，并根据所述第一馈相量化误差获取第一波束指向误差；

根据所述液晶移相器的电压—相位曲线获取第二馈相量化误差，并根据所述第二馈相量化误差获取第二波束指向误差；

将所述第一波束指向误差和第二波束指向误差中的最小值对应的馈相量化误差作为所述阵元的馈相量化误差。

进一步地，所述使用预设置的馈相获取方法获取所述阵元的馈相量化误差，并根据所述理论馈相值和馈相量化误差获取所述阵元的实际馈相值，根据所述实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压进一步包括：

通过预设置的天线测试系统测量所述液晶相控阵列天线的离轴角和旋转角，并根据所述离轴角和旋转角获取所述阵元的馈相量化误差；

根据所述理论馈相值和馈相量化误差获取所述阵元的实际馈相值；

根据所述实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压。

进一步地，所述天线测试系统包括馈源、反射面、波束控制电路和检测装置，所述通过预设置的天线测试系统测量所述阵元的离轴角和旋转角，并根据所述离轴角和旋转角获取所述阵元的馈相量化误差进一步包括：

所述阵元接收电磁信号以使得所述检测装置测量并输出所述离轴角和旋转角，其中，所述电磁信号为所述波束控制电路控制所述馈源发射的、并经所述反射面形成的准平面波；

根据所述离轴角和旋转角获取所述阵元的馈相量化误差。

进一步地，所述天线测试系统为近场天线测试系统、远场天线测试系统或紧缩场天线测试系统。

进一步地，在所述使用预设置的馈相获取方法获取所述阵元的馈相量化误差，并根据所述理论馈相值和馈相量化误差获取所述阵元的实际馈相值，根据所述实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压之后，在所述判断所述液晶相控阵天线是否还有未计算实际馈相值的阵元之前，所述方法还包括：

根据所述阵元的实际馈相值，获取所述液晶相控阵天线中与所述阵元中心对称的阵元的实际馈相值。

本发明第二个实施例提供一种液晶相控阵天线设备，包括阵列排布的阵元和控制器，每个阵元包括液晶移相器，所述控制器被配置为：

选择液晶相控阵天线的一个未获取实际馈相值的阵元，使用预设置的相控阵天线数学模型获取所述阵元的理论馈相值，所述液晶相控阵天线包括阵列排布的多个阵元；

使用预设置的馈相获取方法获取所述阵元的馈相量化误差，并根据所述理论馈相值和馈相量化误差获取所述阵元的实际馈相值，根据所述实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压；

判断所述液晶相控阵天线是否还有未计算实际馈相值的阵元，若是则跳转到所述选择液晶相控阵天线的一个未获取实际馈相值的阵元的步骤。

本发明的第三个实施例一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现第一个实施例所述的提高液晶相控阵天线波束指向精度的方法。

本发明的第四个实施例一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现第一个实施例所述的提高液晶相控阵天线波束指向精度的方法。

本发明的有益效果如下：

本发明针对目前现有的问题，制定一种提高液晶相控阵天线波束指向精度的方法和液晶相控阵天线设备，所述方法通过获取每个阵元的理论馈相值和馈相量化误差获取该阵元的实际馈相值，并根据实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压，能够解决因液晶相控阵天线的液晶移相器的电压—相位特性曲线非线性导致的天线波束指向精度低的问题，即利用各阵元的馈相量化误差对理论馈相值进行补偿，以获取各阵元的实际馈相值，有效提高天线波束指向精度，从而弥补了现有技术中存在的问题，具有广泛的应用前景。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出本发明的一个实施例所述提高液晶相控阵天线波束指向精度的方法的流程图；

图2示出本发明的一个实施例所述液晶移相器电压-相位(V-φ)特性曲线图；

图3示出本发明的一个实施例所述二维阵列空间波束指向示意图；

图4示出本发明的一个实施例所述紧缩场原理框图；

图5示出本发明的一个实施例所述二维阵列天线布局示意图；

图6示出本发明的另一个实施例所述的一种计算机设备的结构示意图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本发明，下面结合优选实施例和附图对本发明做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本发明的保护范围。

传统相控阵天线主要通过数控移相器完成相位变换实现波束扫描，其移相精度和控制测量方法已经很成熟，工作带宽内幅相一致性相对较好，组成阵列以后整个相控阵天线的性能相对稳定，性能优化相对简单。然而相关技术中，液晶相控阵天线通常存在天线波束指向精度较低的问题，针对该问题，发明人经过大量研究后指出，液晶相控阵天线的天线波束指向精度较低的的原因在于，液晶相控阵天线是无源天线，各阵元的移相器的电压—相位特性曲线(V-φ曲线)不满足线性关系，移相量均方根RMS值与传统移相器相差较大，从而导致实际配相量化处理时单元馈相值误差较大，特别是当液晶相控阵天线的阵列较大、波束扫描角度较大时表现更加明显，从而影响阵列天线波束指向精度，无法满足阵列天线波束指向精度性能指标要求。

根据上述问题和导致该问题的原因，如图1所示，本发明的一个实施例提供了一种提高液晶相控阵天线波束指向精度的方法，包括：

选择液晶相控阵天线的一个未获取实际馈相值的阵元，使用预设置的相控阵天线数学模型获取所述阵元的理论馈相值，所述液晶相控阵天线包括阵列排布的多个阵元；

使用预设置的馈相获取方法获取所述阵元的馈相量化误差，并根据所述理论馈相值和馈相量化误差获取所述阵元的实际馈相值，根据所述实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压；

判断所述液晶相控阵天线是否还有未获取实际馈相值的阵元，若是则跳转到所述选择液晶相控阵天线的一个未获取实际馈相值的阵元的步骤。

所述方法通过获取每个阵元的理论馈相值和馈相量化误差获取该阵元的实际馈相值，并根据实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压，能够解决因液晶相控阵天线的液晶移相器的电压—相位特性曲线非线性导致的天线波束指向精度低的问题，即利用各阵元的馈相量化误差对理论馈相值进行补偿，以获取各阵元的实际馈相值，有效提高天线波束指向精度，从而弥补了现有技术中存在的问题，具有广泛的应用前景。

在一个具体的实施例中，如图1所示，液晶相控阵列天线包括阵列排布的多个阵元，下面以对液晶相控阵列天线的各液晶移相器的控制电压补偿为例进行说明：

在本实施例中，液晶相控阵列天线为平面相控阵天线，包括阵列排布的从0到2N-1的2N个阵元，依次对各阵元的液晶移相器的控制电压进行补偿，即获取各阵元的实际馈相值。具体包括：

第一步，选择液晶相控阵天线的一个未获取实际馈相值的阵元，使用预设置的相控阵天线数学模型获取所述阵元的理论馈相值，所述液晶相控阵天线包括阵列排布的多个阵元。

在本实施例中，针对选择的阵元，根据阵列天线原理形成的相控阵天线数学模型计算该阵元的理论馈相值。具体的，首先初始化模型所有参数，阵列单元通道总数量i＝2N(顺序从0至2N-1)，x和y方向间距分别为x

其中(x

第二步，使用预设置的馈相获取方法获取所述阵元的馈相量化误差，并根据所述理论馈相值和馈相量化误差获取所述阵元的实际馈相值，根据所述实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压。

液晶相控阵天线是无源天线，如图2所示为液晶相控阵天线的各阵元的液晶移相器的电压—相位曲线图，由图可知，液晶移相器的控制电压和相位(即移相量)之间不满足线性关系。因此，液晶相控阵天线的各阵元的理论移相量存在误差，而液晶移相器为液晶相控阵天线的核心部件，其性能决定了组阵后阵列天线的整体指标性能，表征到整个液晶相控阵天线时表现为天线波束指向精度较低。

在本实施例中，通过获取每个阵元的理论馈相值和馈相量化误差获取该阵元的实际馈相值，并根据实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压。

在一个可选的实施例中，所述使用预设置的馈相获取方法获取所述阵元的馈相量化误差，并根据所述理论馈相值和馈相量化误差获取所述阵元的实际馈相值，根据所述实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压进一步包括：

根据所述液晶移相器的电压—相位曲线获取所述阵元的馈相量化误差；

根据所述理论馈相值和馈相量化误差获取所述阵元的实际馈相值；

根据所述实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压。

在本实施例中，通过电压—相位曲线图获取馈相量化误差，并使用馈相量化误差对理论馈相值进行补偿以获取实际馈相值，并根据实际馈相值对加载在所述阵元的液晶移相器的电压进行控制；具体的，对加载在液晶移相器的液晶层的电极电压进行控制，从而改变液晶分子的偏转方向。

值得注意的是，所述获取馈相量化误差的方法可以采用四舍五入法和随机馈相法，相对精度较高。

然而，考虑到四舍五入算法会引入较大误差并且波束指向误差会呈现周期性变化；以及随机馈相算法其基础为遗传算法，程序复杂且运行时间更长，特别对于阵列单元数量非常多且阵面尺寸较大的液晶相控阵天线对算法的复杂性要求更高。因此采用上述两种方法存在迭代时间较长，程序鲁棒性较差的问题。。

如图3所示，本实施例所述根据所述液晶移相器的电压—相位曲线获取所述阵元的馈相量化误差进一步包括：

根据所述液晶移相器的电压—相位曲线获取第一馈相量化误差，并根据所述第一馈相量化误差获取第一波束指向误差；

根据所述液晶移相器的电压—相位曲线获取第二馈相量化误差，并根据所述第二馈相量化误差获取第二波束指向误差；

将所述第一波束指向误差和第二波束指向误差中的最小值对应的馈相量化误差作为所述阵元的馈相量化误差。

在本实施例中，由量化误差引起波束指向离轴角和旋转角分别为θ'

具体的，由馈相量化误差δΦ

其中，s1、s2、t1和t2为中间变量，仅用于计算，无实际意义。

计算由于馈相量化误差引起的波束指向离轴角和旋转角误差分别为:

天线实际波束指向与理论值之间的误差空间角为γ，波束指向误差为：

本实施例采用进退位算法对馈相量化误差为δΦ

根据波束指向误差最小原则，比较两者的大小即可确定该阵元移相量量化值为进位值还是退位值，从而获得波束指向最优时所有阵元移相量量化值，即控制电压量化值。具体的，当进位波束指向误差γ

本实施例通过获取每个阵元的理论馈相值和馈相量化误差获取该阵元的实际馈相值，并根据实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压，能够解决因液晶相控阵天线的液晶移相器的电压—相位特性曲线非线性导致的天线波束指向精度低的问题，即利用各阵元的馈相量化误差对理论馈相值进行补偿，获取各阵元的实际馈相值，有效提高天线波束指向精度，从而弥补了现有技术中存在的问题，具有广泛的应用前景。

在另一个可选的实施例中，所述使用预设置的馈相获取方法获取所述阵元的馈相量化误差，并根据所述理论馈相值和馈相量化误差获取所述阵元的实际馈相值，根据所述实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压进一步包括：

通过预设置的天线测试系统测量所述液晶相控阵列天线的离轴角和旋转角，并根据所述离轴角和旋转角获取所述阵元的馈相量化误差；

根据所述理论馈相值和馈相量化误差获取所述阵元的实际馈相值；

根据所述实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压。

在本实施例中，通过预设置的天线测试系统能够直接测量得到实际的离轴角θ'

在一个可选的实施例中，所述天线测试系统为近场天线测试系统、远场天线测试系统或紧缩场天线测试系统。

在本实施例中，近场天线测试系统指从测试探头到被测天线口平面的距离约为3λ至5λ，近场天线测试系统主要包含：1.多轴扫描架子系统(包括控制驱动器及电缆组件)；2.被测天线定位子系统，通常由一个单轴或多轴转台，控制驱动器及电缆组件组成；3.射频子系统，包括发射源，接收机及射频电缆组件；4.系统主控器及一个负责给扫描架及转台子系统发定位指令，采集测试数据，近远场变换计算和分析测试结果的系统软件。

在本实施例中，远场天线测试系统指符合r＝2D2/λ条件的天线测试,其中r为测试场的收发间距离，D为被测天线的最大口径,λ为测试频率的波长。远场天线测试系统主要包含：1.接收端单轴或多轴转台子系统(包括控制驱动器及电缆组件)；2.发射子系统，通常由一个单轴转台，控制驱动器及电缆组件组成；3.射频子系统，包括发射源，接收机及射频电缆组件；4.系统主控器及一个负责给转台子系统发定位指令，采集测试数据和分析测试结果的系统软件。

然而，考虑到由于液晶相控阵反射面天线照射馈源与近场测试探头距离太近，馈源辐射的电磁信号与反射面反射的电磁信号在近场区域会相互干扰影响，导致使用近场天线测试系统测量获得的天线性能误差较大；并且，考虑到采用远场天线测试系统测量时由于液晶相控阵反射面天线效率太低，使得经过反射面反射后到达接收端探头的信号信噪比较差从而影响测量精度，而且远场探头位置机械对准误差较大，存在测量误差的累积问题。

在本实施例中，紧缩场测试天线测试系统指在一个相对小(紧缩)的空间里产生出传统远场天线测试所需要的平面波。具体地，如图4所示，所述紧缩场天线测试系统包括馈源、反射面、波束控制电路(图中未示出)和检测装置(图中未示出)，所述通过预设置的天线测试系统测量所述阵元的离轴角和旋转角，并根据所述离轴角和旋转角获取所述阵元的馈相量化误差进一步包括：所述阵元接收电磁信号以使得所述检测装置测量并输出所述离轴角和旋转角，其中，所述电磁信号为所述波束控制电路控制所述馈源发射的、并经所述反射面形成的准平面波；根据所述离轴角和旋转角获取所述阵元的馈相量化误差。

在本实施例中，通过紧缩场测试天线测试系统测量实际的离轴角和旋转角以获取所述阵元的馈相量化误差，并使用馈相量化误差和理论馈相值获取该阵元的实际馈相值，从而获取加载到所述阵元的液晶移相器的电压，具有准确度高、误差小等特点。

第三步，判断所述液晶相控阵天线是否还有未计算实际馈相值的阵元，若是则跳转到所述选择液晶相控阵天线的一个未获取实际馈相值的阵元的步骤。

在本实施例中，通过遍历的方式分别对液晶相控阵天线的每一个阵元的液晶移相器的加载电压进行调整，有效提高天线波束指向的精度。

至此，完成对液晶相控阵天线的调整，有效提高液晶相控阵天线的波束指向精度。

考虑到液晶相控阵天线为平面相控阵天线，各阵元相对于中心点对称，并且对称的两个阵元的实际馈相值相反的特性，在一个实施例中，在所述使用预设置的馈相获取方法获取所述阵元的馈相量化误差，并根据所述理论馈相值和馈相量化误差获取所述阵元的实际馈相值，根据所述实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压之后，在所述判断所述液晶相控阵天线是否还有未计算实际馈相值的阵元之前，所述方法还包括：根据所述阵元的实际馈相值，获取所述液晶相控阵天线中与所述阵元中心对称的阵元的实际馈相值。

在本实施例中，所述液晶相控阵天线为如图5所示的矩形阵或三角阵，各阵元相对于中心点对称。因此，在获取某个阵元的实际馈相值之后，根据该阵元的实际馈相值获取相对于中心对称的对应阵元的实际馈相值，即整个液晶相控阵天线中只需获取一半阵元的实际馈相值即可得到所有阵元的实际馈相值，能够加快调整液晶相控阵天线波束指向的速度，并提高调整效率。

基于上述提高液晶相控阵天线波束指向精度的方法，本发明的另一个实施例提供了一种液晶相控阵天线设备，包括阵列排布的阵元和控制器，每个阵元包括液晶移相器，所述控制器被配置为：

选择液晶相控阵天线的一个未获取实际馈相值的阵元，使用预设置的相控阵天线数学模型获取所述阵元的理论馈相值，所述液晶相控阵天线包括阵列排布的多个阵元；

使用预设置的馈相获取方法获取所述阵元的馈相量化误差，并根据所述理论馈相值和馈相量化误差获取所述阵元的实际馈相值，根据所述实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压；

判断所述液晶相控阵天线是否还有未计算实际馈相值的阵元，若是则跳转到所述选择液晶相控阵天线的一个未获取实际馈相值的阵元的步骤。

所述液晶相控阵天线设备通过获取每个阵元的理论馈相值和馈相量化误差获取该阵元的实际馈相值，并根据实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压，能够解决因液晶相控阵天线的液晶移相器的电压—相位特性曲线非线性导致的天线波束指向精度低的问题，即利用各阵元的馈相量化误差对理论馈相值进行补偿，获取各阵元的实际馈相值，有效提高天线波束指向精度，从而弥补了现有技术中存在的问题，具有广泛的应用前景。具体实施方式参见前述实施例，在此不再赘述。

本发明的另一个实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现所述提高液晶相控阵天线波束指向精度的方法。

在实际应用中，所述计算机可读存储介质可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本实施例中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。

计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。

计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于无线、电线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。

可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本发明操作的计算机程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。

如图6所示，本发明的另一个实施例提供的一种计算机设备的结构示意图。图6显示的计算机设备12仅仅是一个示例，不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。

如图6所示，计算机设备12以通用计算设备的形式表现。计算机设备12的组件可以包括但不限于：一个或者多个处理器或者处理单元16，系统存储器28，连接不同系统组件(包括系统存储器28和处理单元16)的总线18。

总线18表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储器总线或者存储器控制器，外围总线，图形加速端口，处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。举例来说，这些体系结构包括但不限于工业标准体系结构(ISA)总线，微通道体系结构(MAC)总线，增强型ISA总线、视频电子标准协会(VESA)局域总线以及外围组件互连(PCI)总线。

计算机设备12典型地包括多种计算机系统可读介质。这些介质可以是任何能够被计算机设备12访问的可用介质，包括易失性和非易失性介质，可移动的和不可移动的介质。

系统存储器28可以包括易失性存储器形式的计算机系统可读介质，例如随机存取存储器(RAM)30和/或高速缓存存储器32。计算机设备12可以进一步包括其它可移动/不可移动的、易失性/非易失性计算机系统存储介质。仅作为举例，存储系统34可以用于读写不可移动的、非易失性磁介质(图6未显示，通常称为“硬盘驱动器”)。尽管图6中未示出，可以提供用于对可移动非易失性磁盘(例如“软盘”)读写的磁盘驱动器，以及对可移动非易失性光盘(例如CD-ROM，DVD-ROM或者其它光介质)读写的光盘驱动器。在这些情况下，每个驱动器可以通过一个或者多个数据介质接口与总线18相连。存储器28可以包括至少一个程序产品，该程序产品具有一组(例如至少一个)程序模块，这些程序模块被配置以执行本发明各实施例的功能。

具有一组(至少一个)程序模块42的程序/实用工具40，可以存储在例如存储器28中，这样的程序模块42包括但不限于操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。程序模块42通常执行本发明所描述的实施例中的功能和/或方法。

计算机设备12也可以与一个或多个外部设备14(例如键盘、指向设备、显示器24等)通信，还可与一个或者多个使得用户能与该计算机设备12交互的设备通信，和/或与使得该计算机设备12能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如网卡，调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口22进行。并且，计算机设备12还可以通过网络适配器20与一个或者多个网络(例如局域网(LAN)，广域网(WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图6所示，网络适配器20通过总线18与计算机设备12的其它模块通信。应当明白，尽管图6中未示出，可以结合计算机设备12使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。

处理器单元16通过运行存储在系统存储器28中的程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，例如实现所述提高液晶相控阵天线波束指向精度的方法。

本发明针对目前现有的问题，制定一种提高液晶相控阵天线波束指向精度的方法和液晶相控阵天线设备，所述方法通过获取每个阵元的理论馈相值和馈相量化误差获取该阵元的实际馈相值，并根据实际馈相值控制加载在所述阵元的液晶移相器的电压，能够解决因液晶相控阵天线的液晶移相器的电压—相位特性曲线非线性导致的天线波束指向精度低的问题，即利用各阵元的馈相量化误差对理论馈相值进行补偿，以获取各阵元的实际馈相值，有效提高天线波束指向精度，从而弥补了现有技术中存在的问题，具有广泛的应用前景。

显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本发明的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之列。