对位控制装置、对位控制方法、计算机设备及存储介质

技术领域

本发明涉及自动化设备检测技术领域，特别是涉及一种对位控制装置、对位控制方法、计算机设备及存储介质。

背景技术

液晶模组在制造完成后，需要进行检测，能够检测的前提就是液晶模组已经点亮。液晶模组在搬运过程中通常会出现位置偏差，因此为了消除位置偏差需要对液晶模组进行对位。然而在对液晶模组进行对位时，存在操作时间过长的问题。

发明内容

基于此，有必要针对在对液晶模组进行对位时存在操作时间长的问题，提供一种对位控制装置、对位控制方法、计算机设备及存储介质。

一种对位控制装置，包括运动模块，用于根据第一控制指令将多个待测样品移动至第一目标位置，根据第二控制指令对多个所述待测样品进行调整并移动至第二目标位置；所述第一控制指令包括第一样品移动指令，所述第二控制指令包括第二样品移动指令、第一位置调整指令和第二位置调整指令；所述运动模块包括样品搬运单元、第一位置调整单元和第二位置调整单元，所述样品搬运单元，与多个所述待测样品机械连接，用于根据所述第一样品移动指令将多个所述待测样品移动至所述第一目标位置，根据所述第二样品移动指令将多个所述待测样品移动至所述第二目标位置；所述第一位置调整单元，与多个所述待测样品机械连接，用于根据所述第一位置调整指令对多个所述待测样品上的校准位置之间的偏差在第一方向上进行调整；所述第二位置调整单元，与多个所述待测样品机械连接，用于根据所述第二位置调整指令对多个所述待测样品上的校准位置之间的偏差在第二方向上进行调整；图像获取模块，用于获取多个所述待测样品在第一目标位置处的对位图像；控制模块，分别与所述运动模块和所述图像获取模块电连接，用于输出所述第一控制指令至所述运动模块，根据所述图像获取模块获取的所述对位图像计算移动补偿值，并根据所述移动补偿值输出所述第二控制指令至所述运动模块。

上述对位控制装置，利用运动模块可以对多个待测样品同时进行自动化对位操作，大大缩短了操作时间。样品搬运单元根据第一样品移动指令将多个待测样品移动至第一目标位置，图像获取模块获取多个待测样品在第一目标位置处的对位图像。控制模块根据对位图像获取移动补偿值，并输出用于对多个待测样品的移动进行对位调整的第二控制指令。根据对位图像只需要对多个待测样品进行一次对位操作获取一组移动补偿值，即可完成对位操作。上述对位控制装置可以同时对多个待测样品进行对位操作，第一位置调整单元根据第一位置调整指令对多个待测样品上的校准位置之间的偏差在第一方向上进行调整，第二位置调整单元根据第二位置调整指令对多个所述待测样品上的校准位置之间的偏差在第二方向上进行调整，不需要分别对每个待测样品在第一方向上和第二方向上的偏差进行调整，从而可以减少用于调整样品位置的对位电机的数量。在完成对多个待测样品校准位置之间的偏差的调整后，样品搬运单元将多个待测样品准确地移动至第二目标位置。本发明提供的对位控制装置具有节省成本、操作简单、适用范围广等优点。

在其中一个实施例中，所述第一控制指令还包括抓取指令，所述第二控制指令还包括模具移动指令和角度调整指令。

在其中一个实施例中，所述运动模块还包括模具搬运单元，与模具机械连接，用于根据所述模具移动指令移动模具；角度调整单元，与多个所述待测样品机械连接，用于根据所述角度调整指令对多个所述待测样品的角度进行调整。

在其中一个实施例中，所述运动模块还包括样品抓取单元，用于根据所述抓取指令抓取多个所述待测样品。

一种对位控制方法，应用于上述任意一项实施例所述的对位控制装置，所述方法包括根据第一控制指令将多个待测样品移动至第一目标位置；所述第一控制指令包括第一样品移动指令；获取多个所述待测样品在所述第一目标位置处的对位图像；根据所述对位图像计算移动补偿值；根据所述移动补偿值获取第二控制指令；所述第二控制指令包括第二样品移动指令、第一位置调整指令和第二位置调整指令；根据所述第一位置调整指令对多个待测样品上的校准位置之间的偏差在第一方向上进行调整；根据所述第二位置调整指令对多个待测样品上的校准位置之间的偏差在第二方向上进行调整；根据所述第二样品移动指令将多个所述待测样品移动至所述第二目标位置。

在其中一个实施例中，所述根据所述移动补偿值获取第二控制指令包括获取预先设置的预设标准值；将所述移动补偿值与所述预设标准值相加，获取所述第二控制指令。

在其中一个实施例中，所述第一控制指令还包括抓取指令，所述第二控制指令还包括模具移动指令和角度调整指令；所述移动补偿值包括样品移动补偿值、模具移动补偿值、第一样品位置补偿值、第二样品位置补偿值、样品角度补偿值中的任意一种或多种。

在其中一个实施例中，所述根据所述对位图像计算移动补偿值包括获取预先设置的标准图像；将所述对位图像与所述标准图像进行对比，计算所述移动补偿值。

一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项实施例中所述的对位控制方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项实施例中所述的对位控制方法的步骤。

附图说明

为了更清楚地说明本说明书实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明其中一实施例的对位控制装置的结构框图；

图2为本发明其中一实施例的对位控制装置的结构示意图；

图3为本发明其中一实施例中的第一液晶模组和第二液晶模组之间位置偏差的示意图；

图4为本发明其中一实施例中的第一液晶模组和第二液晶模组整体与标准样品组的位置偏差的示意图；

图5为本发明其中一实施例的对位控制方法的方法流程示意图；

图6为本发明其中一实施例的获取第二控制指令的方法流程示意图；

图7为本发明其中一实施例的根据对位图像计算移动补偿值的方法流程示意图；

图8为本发明其中一实施例的计算移动补偿值的方法流程示意图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的优选实施方式。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反的，提供这些实施方式的目的是为了对本发明的公开内容理解得更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”、“上”、“下”、“前”、“后”、“周向”以及类似的表述是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

图1为本发明其中一实施例的对位控制装置的结构框图，在其中一个实施例中，对位控制装置包括运动模块100、图像获取模块200和控制模块300。控制模块300输出第一控制指令至运动模块100。运动模块100根据第一控制指令将多个待测样品10移动至第一目标位置。图像获取模块200获取多个待测样品10在第一目标位置的对位图像，并将对位图像传输至控制模块300。控制模块300根据对位图像计算移动补偿值，并根据移动补偿值输出第二控制指令至运动模块100。运动模块100再根据第二控制指令对多个待测样品10进行调整，并将多个待测样品10移动至第二目标位置，以完成对多个待测样品10的对位操作。

由于液晶模组在从生产区域搬运至测试区域的过程中通常会出现位置偏差，导致运动模块100不能按照预设的位置和角度抓取待测的液晶模组。进一步地，由于位置偏差的存在，可能会导致运动模块100无法顺利将待测的液晶模组放置至目标位置。因此，为了消除液晶模组在从生产区域搬运至测试区域的过程中出现的位置偏差，需要在运动模块100抓取到液晶模组后，对液晶模组进行对位，从而保证运动模块100能够以预设的位置和角度将液晶模组移动至目标位置。

运动模块100既可以对单个待测样品10进行移动、对位，又可以同时对多个待测样品10进行移动、对位，同时对多个待测样品10进行移动、对位可以大大地缩短操作时间。其中，对位过程指的是将运动模块100抓取的待测样品10的位置和角度与预设的标准位置和角度进行比较，根据比较结果对待测样品10的位置和角度进行调整，直至将待测样品10调整至预设的位置和角度的过程。

运动模块100可以包括样品搬运单元110、第一位置调整单元120和第二位置调整单元130。第一控制指令可以包括第一样品移动指令，第二控制指令可以包括第二样品移动指令、第一位置调整指令和第二位置调整指令。第一样品移动指令是一种用于指示样品搬运单元110带动待测样品10移动至第一目标位置的控制指令，而第二样品移动指令则是用于指示样品搬运单元110带动待测样品10移动至第二目标位置的控制指令。

在其中一个实施例中，确定待测样品10的校准位置，各个待测样品10上的校准位置均相同。根据多个待测样品10的校准位置对多个待测样品10进行对位调整。例如，可以将所有待测样品10的左上顶角定义为校准位置，也可以在所有待测样品10上的预设位置设置一个标记图形，将待测样品10上的标记图形定义为校准位置。

样品搬运单元110与多个待测样品10机械连接，用于根据第一样品移动指令将多个待测样品10移动至第一目标位置，根据第二样品移动指令将多个待测样品10移动至第二目标位置。第一位置调整单元120与多个待测样品10机械连接，用于根据第一位置调整指令同时根据多个待测样品10上的校准位置之间的偏差对多个待测样品10在第一方向上进行调整。第二位置调整单元130与多个待测样品10机械连接，用于根据第二位置调整指令同时根据多个待测样品10上的校准位置之间的偏差对多个待测样品10在第二方向上进行调整。

在其中一个实施例中，还可以将多个待测样品10中的任意一个待测样品10定义为对照样品。例如，可以将上侧边与水平方向夹角最小的待测样品10定义为对照样品。在同时对多个待测样品10进行对位操作时，可以令作为对照样品的待测样品10的位置保持不变，同时其他待测样品10的位置基于对照样品的位置进行调整。第一位置调整单元120可以根据第一位置调整指令对其他待测样品10上的校准位置与对照样品的校准位置之间在第一方向上的偏差进行调整。第二位置调整单元130可以根据第一位置调整指令对其他待测样品10上的校准位置与对照样品的校准位置之间在第二方向上的偏差进行调整。

通过设置对照样品，令其余待测样品10基于对照样品的位置进行调整，可以简化对于多个待测样品10的对位移动操作，从而可以实现节省硬件成本、操作简单的目的。例如，当对两个待测样品10进行对位操作时，只需要对其中一个待测样品10的位置进行调整，大大简化了对位操作流程。

一般地，相关技术中的对位控制系统中（其中，相关技术不是指现有技术），对一枚液晶模组需要用到3套伺服电机来从X、Y方向以及θ方向这3个方向上对液晶模组的位置偏差进行调整。那么，在对两枚液晶模组的位置偏差进行调整时就需要用到6套伺服电机。同时，两枚液晶模组又需要移动到指定治具上，也就是现有的对位控制系统总共需要8套伺服电机才能完成对两枚液晶模组的对位、移动操作，导致增加了操作成本。

而在本实施例中，在对两枚液晶模组进行对位调整时，使用第一位置调整单元120对两个待测样品10上的校准位置之间的偏差在第一方向即X方向上的位置偏差进行精确调整；使用第二位置调整单元130用于对两个待测样品10上的校准位置之间的偏差在第二方向即Y方向上的位置偏差进行精确调整。

例如，将待测样品10的左上顶角定义为校准位置，待测样品10的左上顶角由上侧边和左侧边组成，将水平方向定义为第一方向，将垂直方向定义为第二方向。第一位置调整单元120根据第一位置调整指令对两个待测样品10的上侧边之间在水平方向上的偏差进行调整。第二位置调整单元130根据第二位置调整指令对两个待测样品10的左侧边之间在垂直方向上的偏差进行调整。

另外，将第一待测样品和第二待测样品作为一个整体视为待搬运样品组，还设置有待测样品10搬运伺服电机用于搬运待搬运样品组。

本公开在X方向上和Y方向上都只需要设置一个对位电机就可以完成对两个待测样品10之间的调整，而不需要在X方向上和Y方向上针对两个待测样品10分别设置一个对位电机。本实施例提供的对位控制装置与传统的对位控制装置相比，减少了2套对位伺服电机，既可以实现同时对两个待测样品10进行对位、移动，又可以有效地缩减硬件成本。

图像获取模块200在获取多个待测样品10在第一目标位置处的对位图像后，将其传输至控制模块300。控制模块300可以根据对位图像获取移动补偿值并输出第二控制指令。运动模块100还可以在完成对多个待测样品10的位置调整后，将多个待测样品10准确地移动至第二目标位置。上述对位控制装置通过同时对多个待测样品10进行对位操作来缩短操作时间。同时，根据对位图像只需要对多个待测样品10进行一次对位操作获取一组移动补偿值，即可完成对位操作。对于量产设备可以节省较多的硬件成本，且操作简单、适用范围广。

在其中一个实施例中，图像获取模块200可以为高精度工业相机。第一目标位置可以位于图像获取模块200的图像采集区域内。在本实施例中，可以预先在图像获取模块200的图像采集区域内选定一个合适的位置作为第一目标位置。在对待测样品10进行对位时，运动模块100根据第一控制指令将待测样品10移动至第一目标位置，以保证图像获取模块200能够采集到多个待测样品10的完整图像信息。在后续对位操作中，根据采集到的图像信息与标准位置信息进行比较，判断待测样品10需要调整的情况。

在其中一个实施例中，第二目标位置可以为待测样品10的模具型腔。在本实施例中，待测样品10为液晶模组。在完成制造过程获取批量的液晶模组后，需要将批量的液晶模组搬运至模具中进行后续的性能检测，因此，可以利用上述对位控制装置将待测样品10搬运至模具型腔中。利用高精度相机对待测样品10进行拍摄，判断待测样品10是否出现了位置偏差，并计算该待测样品10的补偿值来进行对位处理，从而消除液晶模组在从生产区域搬运至测试区域的过程中出现的偏差。

在其中一个实施例中，第一控制指令还可以包括抓取指令。第二控制指令还可以包括模具移动指令和角度调整指令。在本实施例中，模具移动指令用于指示运动模块100带动模具进行移动。角度调整指令用于指示运动模块100在θ方向上对待测样品10进行高精度位置调整，令待测样品10的角度调整至与标准图像中样品的角度一致。

在其中一个实施例中，第二控制指令可以包括第二样品移动指令、第一位置调整指令、第二位置调整指令、模具移动指令、角度调整指令中的任意一个或多个。例如，当多个待测样品10的位置与对位图像中对应的多个标准样品的位置不存在偏差时，第二控制指令可以只包括第二样品移动指令，从而可以达到简化运算的目的。

图2为本发明其中一实施例的对位控制装置的结构示意图，在其中一个实施例中，运动模块100还包括模具搬运单元140、角度调整单元150。模具搬运单元140与模具20机械连接，用于根据模具移动指令移动模具20。角度调整单元150与多个待测样品10机械连接，用于根据角度调整指令对多个待测样品10的角度进行调整。

在本实施例中，角度调整单元150可以包括第一角度调整电机151和第二角度调整电机152。利用第一角度调整电机151对第一待测样品在θ方向上的位置偏差进行精确调整。利用第二角度调整电机152对第二待测样品在θ方向上的位置偏差进行精确调整。模具搬运单元140则用于搬运模具。

对两枚液晶模组进行对位操作时，在控制模块300根据相应的算法，可以给出两个液晶模组的各个方向上以及搬运距离的6个移动补偿值X1/θ1/Y1/θ2/X2/Y2。

请参见图3，图3为本发明其中一实施例中的第一液晶模组和第二液晶模组之间位置偏差的示意图。补偿值X1用于对第一液晶模组上的校准位置和第二液晶模组上的校准位置之间在X方向上的偏差，相对于预设的标准位置中第一液晶模组上的校准位置和第二液晶模组上的校准位置之间在X方向上间隔的位置偏差ΔX1进行补偿。补偿值Y1用于对第一液晶模组上的校准位置和第二液晶模组上的校准位置之间在Y方向上的偏差，相对于预设的标准位置中第一液晶模组上的校准位置和第二液晶模组上的校准位置之间在Y方向上间距的位置偏差ΔY1进行补偿。补偿值θ1用于对第一液晶模组在θ方向上相对于预设的标准位置中第一液晶模组的角度偏差Δθ1进行补偿。θ2用于对第二液晶模组在θ方向上相对于预设的标准位置中第二液晶模组的角度偏差Δθ2进行补偿。

请参见图4，图4为本发明其中一实施例中的第一液晶模组和第二液晶模组整体与标准样品组的位置偏差的示意图。在本实施例中为了更好地对位置偏差ΔX2和位置偏差ΔY2进行说明，图4中展示的是将位置偏差ΔX1、位置偏差ΔY1、角度偏差Δθ1和角度偏差Δθ2调整完成后的第一液晶模组和第二液晶模组相对于标准样品组的位置偏差示意图，在实际应用中，控制模块300可以同时计算获取6个移动补偿值X1/θ1/Y1/θ2/X2/Y2。

将待测的第一液晶模组和第二液晶模组作为一个整体视为待搬运样品组，将预设的标准位置处的第一液晶模组和第二液晶模组作为一个整体视为标准运样品组。补偿值X2既可以对液晶模组搬运伺服电机搬运待搬运样品组时的移动距离进行补偿，又可以对待搬运样品组整体位置在X方向上，相对于标准样品组的位置偏差ΔX2进行补偿。补偿值Y2既可以对模具搬运伺服电机搬运模具时的移动距离进行补偿，又可以对待搬运样品组整体位置在Y方向上，相对于标准样品组的位置偏差ΔY2进行补偿。

即，对于待搬运样品组的整体位置在X方向上，相对于标准样品组的位置偏差ΔX2，借助液晶模组搬运伺服电机在搬运待搬运样品组时进行补偿，而不需要额外再设置一个用于补偿位置偏差ΔX2的伺服电机。同样地，对于待搬运样品组的整体位置在Y方向上，相对于标准样品组的位置偏差ΔY2，利用模具搬运伺服电机在搬运模具时进行补偿，而不需要额外设置一个用于补偿位置偏差ΔY2的伺服电机。

可见，在本实施例中只用需要6台伺服电机就可以完成整体的对位、移动操作。本实施例提供的对位控制装置与传统的对位控制装置相比，减少了2套对位伺服电机，既可以实现同时对两枚液晶模组进行对位、移动，又可以有效地缩减硬件成本。

下面以运动模块100同时对两枚液晶模组进行操作为例进行说明，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。样品搬运单元110、第一位置调整单元120、第二位置调整单元130和角度调整单元150均与两枚液晶模组机械连接，模具搬运单元140与模具20机械连接。其中，样品搬运单元110为液晶模组搬运伺服电机，模具搬运单元140为模具搬运伺服电机，角度调整单元150包括第一角度调整电机151和第二角度调整电机152。

本实施例提供的对位控制装置在对液晶模组的对位过程中，只需要进行一次对位补偿，与现有装置的两次对位过程相比，节省了一次对位的时间。控制模块300发送第一样品移动指令至样品搬运单元110。样品搬运单元110将两枚液晶模组搬运至第一目标位置。图像获取模块200获取位于第一目标位置的两枚液晶模组的对位图像，并传输至控制模块300。控制模块300根据相应的算法，给出的两个液晶模组的6个移动补偿值X1/θ1/Y1/θ2/X2/Y2。6个移动补偿值X1/θ1/Y1/θ2/X2/Y2分别为第一位置调整单元120、第一角度调整电机151、第二位置调整单元130、第二角度调整电机152、液晶模组搬运伺服电机和模具搬运伺服电机的补偿值。

控制模块300将6个伺服电机的移动补偿值对应地与预先设置好的标准值相加，得到6个伺服电机的目标位置并输出第二控制指令，第二控制指令包括第二样品移动指令、模具移动指令、位置调整指令和角度调整指令。预先设置好的标准值指的是，当两枚液晶模组处于预设的标准位置处时，运动模块100中各伺服电机同时配合将两枚液晶模组移动至第二目标位置过程中，各伺服电机的移动标准值。当两枚液晶模组与预设的标准位置存在偏差时，根据预先设置好的标准值可能无法顺利地将两枚液晶模组移动至第二目标位置，因此需要根据两枚液晶模组相对于预设的标准位置的偏差，对各伺服电机的移动标准值进行补偿。

根据上述实施例中的方法可以获取6个伺服电机对应的6个移动补偿值X1/θ1/Y1/θ2/X2/Y2。将6个移动补偿值对应地与6个伺服电机的标准值相加，即可获得修正后针对目前存在位置偏差的两枚液晶模组的移动指令。此时，6个伺服电机将根据对应的第二控制指令同时动作，即可将两枚液晶模组精准地移动到第二目标位置去放料。

在其中一个实施例中，运动模块100还包括样品抓取单元160。样品抓取单元160用于根据抓取指令抓取多个待测样品10。在本实施例中，样品抓取单元160可以设置为抓手或吸盘等承载装置，根据抓取指令的控制抓取多个待测样品10。

图5为本发明其中一实施例的对位控制方法的方法流程示意图，在其中一个实施例中，对位控制方法包括步骤S100至步骤S700。

步骤S100：根据第一控制指令将多个待测样品10移动至第一目标位置；第一控制指令包括第一样品移动指令。

控制模块300输出第一控制指令，运动模块100根据第一控制指令抓取一个或多个待测样品10，并将多个待测样品10移动至第一目标位置。运动模块100既可以对单枚液晶模组进行对位，又可以同时对多个待测样品10进行移动、对位，同时对多个待测样品10进行移动、对位可以大大地缩短操作时间。第一样品移动指令是一种用于指示样品搬运单元110带动待测样品10移动至第一目标位置的控制指令。

步骤S200：获取多个待测样品10在第一目标位置处的对位图像。

在本实施例中，第一目标位置位于图像获取模块200的图像采集区域内。将待测样品10移动至第一目标位置后，利用图像获取模块200获取多个待测样品10在第一目标位置处的对位图像，并将其传输至控制模块300。

步骤S300：根据对位图像计算移动补偿值。

控制模块300根据图像获取模块200获取的对位图像计算移动补偿值。

步骤S400：根据移动补偿值获取第二控制指令；第二控制指令包括第二样品移动指令、第一位置调整指令和第二位置调整指令。

控制模块300根据移动补偿值输出第二控制指令至运动模块100。其中，第二控制指令包括第二样品移动指令、第一位置调整指令和第二位置调整指令。第二样品移动指令用于指示样品搬运单元110带动待测样品10移动至第二目标位置的控制指令。

第一位置调整指令用于指示第一位置调整单元120在第一方向上对两个待测样品10上的校准位置之间的偏差进行高精度位置调整，在第一方向上将两个待测样品10上的校准位置之间的偏差调整至与标准图像中两个标准样品在第一方向上之间的位置一致。

第二位置调整指令用于指示第二位置调整单元130在第二方向上对两个待测样品10上的校准位置之间的偏差进行高精度位置调整，在第二方向上将两个待测样品10上的校准位置之间的偏差调整至与标准图像中两个标准样品在第二方向上之间的位置一致。

步骤S500：根据第一位置调整指令对多个待测样品10上的校准位置之间的偏差在第一方向上进行调整。

使用第一位置调整单元120对多个待测样品10上的校准位置之间的偏差在第一方向即X方向上的位置偏差进行精确调整。

步骤S600：根据第二位置调整指令对多个待测样品10上的校准位置之间的偏差在第二方向上进行调整。

使用第二位置调整单元130用于对多个待测样品10上的校准位置之间的偏差在第二方向即Y方向上的位置偏差进行精确调整。

标准S700：根据第二样品移动指令将多个待测样品10移动至所述第二目标位置。

另外，将多个待测样品10作为一个整体视为待搬运样品组，利用待测样品10搬运伺服电机对待搬运样品组进行搬运。

上述对位控制方法既可以对单枚液晶模组进行对位，也可以同时对多个待测样品10进行对位。同时对多个待测样品10进行对位，既可以大大地缩短操作时间。同时，使用本申请提供的对位控制方法根据获取到的对位图像，只需要对一个或多个待测样品10进行一次对位操作获取一组移动补偿值，即可完成对位操作，节省对位所需的时间。对于量产设备可以节省较多的硬件成本，且操作简单、适用范围广。

图6为本发明其中一实施例的获取第二控制指令的方法流程示意图，在其中一个实施例中，根据移动补偿值获取第二控制指令包括如下步骤S410至S420。

步骤S410：获取预先设置的预设标准值。

根据模具的位置，预先在控制模块300中设置一个预设标准值，运动模块100可以根据预设标准值将待测样品10移动至第二目标位置附近。根据移动补偿值对预设标准值进行调整对位后，运动模块100可以精准地将待测样品10移动至第二目标位置。

步骤S420：将移动补偿值与预设标准值相加，获取第二控制指令。

当运动模块100同时将两枚液晶模组移动至第一目标位置时，图像获取模块200获取的对位图像中包括了两枚液晶模组的图像信息。控制模块300根据相应算法可以计算出第一位置调整单元120、第一角度调整电机151、第二位置调整单元130、第二角度调整电机152、液晶模组搬运伺服电机和模具搬运伺服电机，这6个对位伺服电机分别对应的移动补偿值。

控制模块300将6个伺服电机的移动补偿值对应地与预先设置好的预设标准值相加，得到6个伺服电机的目标位置并输出第二控制指令。第二控制指令包括第二样品移动指令、模具移动指令、第一位置调整指令、第二位置调整指令和角度调整指令。6个伺服电机可以根据对应的第二控制指令同时动作，将两枚液晶模组移动到第二目标位置去精准放料。

当运动模块100将一枚液晶模组移动至第一目标位置时，图像获取模块200获取的对位图像中只包括了一枚液晶模组的图像信息。控制模块300根据相应算法可以计算出第一角度调整电机151、第二角度调整电机152、液晶模组搬运伺服电机和模具搬运伺服电机这3个对位伺服电机中的一个或多个电机对应的移动补偿值。

控制模块300将3个伺服电机的移动补偿值对应地与预先设置好的预设标准值相加，得到3个伺服电机的目标位置并输出第二控制指令。第二控制指令包括第二样品移动指令、模具移动指令和角度调整指令。3个伺服电机可以根据对应的第二控制指令同时动作，将液晶模组移动到第二目标位置去精准放料。

在本实施例中，在X方向和Y方向上分别只设置一个对位伺服电机，利用第一位置调整单元120、第二位置调整单元130、液晶模组搬运伺服电机和模具搬运伺服电机配合完成对第一液晶模组和第二液晶模组位置偏差的调整。而传统的对位装置中，在X方向上需要分别对两个液晶模组设置两个对位伺服电机，在Y方向上也需要分别对两个液晶模组设置两个对位伺服电机。可见，本申请相比于传统的对位装置可以节省两套伺服电机，实现同时对两枚液晶模组进行对位的目的，还可以节约硬件成本。

在其中一个实施例中，第一控制指令包括抓取指令和第一样品移动指令，第二控制指令包括第二样品移动指令、模具移动指令、位置调整指令和角度调整指令。移动补偿值包括样品移动补偿值、模具移动补偿值、样品位置补偿值、样品角度补偿值中的任意一种或多种。例如，当多个待测样品10的位置与对位图像中对应的多个标准样品的位置不存在角度偏差时，移动补偿值可以只包括样品移动补偿值、模具移动补偿值、样品位置补偿值，从而可以达到简化运算的目的。

控制模块300将移动补偿值与预设标准值中的样品移动值相加，得到第二样品移动指令；将模具移动补偿值与预设标准值中的模具移动值相加，得到模具移动指令；将第一样品位置补偿值与预设标准值中的第一样品位置值相加，得到第一位置调整指令；将第二样品位置补偿值与预设标准值中的第二样品位置值相加，得到第二位置调整指令；将样品角度补偿值与预设标准值中的样品角度值相加，得到角度调整指令。

样品搬运单元110根据第一样品移动指令将多个待测样品10移动至第一目标位置，还可以根据第二样品移动指令将多个待测样品10移动至第二目标位置。模具搬运单元140根据模具移动指令移动模具20。角度调整单元150根据角度调整指令对多个待测样品10的角度进行调整。

现有的对位控制装置需要8套伺服电机才能完成对两枚液晶模组的对位操作，导致增加了操作成本。而在本实施例中，对两枚液晶模组进行对位操作时，只用需要6台伺服电机就可以完成对位操作。可见，本实施例提供的对位控制装置与传统的对位控制装置相比，减少了2套对位伺服电机，有效地缩减了硬件成本。

图7为本发明其中一实施例的根据对位图像计算移动补偿值的方法流程示意图，在其中一个实施例中，根据所述对位图像计算移动补偿值包括如下步骤S310至S320。

步骤S310：获取预先设置的标准图像。

在本实施例中，可以在控制模块300中预先输入标准的对位图像，作为待测样品10的位置、角度调试标准。

步骤S320：将对位图像与标准图像进行对比，计算移动补偿值。

控制模块300将图像获取模块200获取的对位图像与标准图像进行对比，通过相应算法计算出各个位置的对位伺服电机的移动补偿值。

上述对位控制方法既可以对单枚液晶模组进行对位，也可以同时对多个待测样品10进行对位。同时对多个待测样品10进行对位，既可以大大地缩短操作时间。同时，使用本申请提供的对位控制方法根据获取到的对位图像，只需要对多个待测样品10进行一次对位操作获取一组移动补偿值，即可完成对位操作，节省对位所需的时间。对于量产设备可以节省较多的硬件成本，且操作简单、适用范围广。

图8为本发明其中一实施例的计算移动补偿值的方法流程示意图，在其中一个实施例中，标准图像包括第一标准图像和第二标准图像，将对位图像与标准图像进行对比，计算移动补偿值包括如下步骤S321至S322。

步骤S321：当对位图像中包括一个待测样品10时，将对位图像与第一标准图像进行对比，计算一个待测样品10的样品角度补偿值、样品移动补偿值和模具移动补偿值。

第一标准图像是用于在对一个待测样品10进行对位、移动时，用于校准一个待测样品10的位置偏差的图像，第一标准图像中只包括一个标准样品的标准位置信息。当图像获取模块200获取的对位图像中只有一个待测样品10时，则将对位图像与第一标准图像进行对比。通过将对位图像中的一个待测样品10与第一标准图像中一个标准样品的标准位置进行对比，可以获知待测样品10需要调整的位置偏差。由于在对一个待测样品10进行对位、移动时不需要考虑待测样品10之间的相对位置关系，因此，获得待测样品10的样品角度补偿值、样品移动补偿值和模具移动补偿值，即可完成对一个待测样品10位置偏差的补偿。

利用对位伺服电机根据样品角度补偿值θ1/θ2，对待测样品10在θ方向上的位置偏差进行精确调整。同时，样品移动补偿值X2既可以在液晶模组搬运伺服电机搬运待测样品10时对移动距离进行补偿，又可以对待测样品10在X方向上相对于标准样品的位置偏差进行补偿。同样地，模具移动补偿值Y2既可以在模具搬运伺服电机搬运模具时对移动距离进行补偿，又可以对待测样品10在Y方向上相对于标准样品的位置偏差进行补偿。

步骤S322：当对位图像中包括两个待测样品10时，将对位图像与第二标准图像进行对比，计算两个待测样品10的样品位置补偿值、样品角度补偿值、样品移动补偿值和模具移动补偿值。

第二标准图像则是用于在对两个待测样品10进行对位、移动时，用于校准两个待测样品10的位置偏差的图像，第二标准图像中包括两个标准样品的相对标准位置信息。当图像获取模块200获取的对位图像中包括两个待测样品10时，则将对位图像与第二标准图像进行对比。由于在对两个待测样品10进行对位、移动时，不仅可以考虑两个待测样品10分别相对于两个标准样品的位置偏差，还可以考虑两个待测样品10之间的相对位置偏差，因此，在计算两个待测样品10的移动补偿值时可以获得样品位置补偿值、样品角度补偿值、样品移动补偿值和模具移动补偿值。

利用样品位置补偿值对第一液晶模组和第二液晶模组之间在X、Y方向上的间距，相对于第二标准图像中第一液晶模组和第二液晶模组之间在X、Y方向上间距的位置偏差进行补偿。利用样品角度补偿值补对第一液晶模组和第二液晶模组分别在θ方向上相对于预设的标准位置中第一液晶模组和第二液晶模组的角度偏差进行补偿。

同时，样品移动补偿值X2既可以在液晶模组搬运伺服电机搬运待测样品10时对移动距离进行补偿，又可以对待测样品10在X方向上相对于标准样品的位置偏差进行补偿。同样地，模具移动补偿值Y2既可以在模具搬运伺服电机搬运模具时对移动距离进行补偿，又可以对待测样品10在Y方向上相对于标准样品的位置偏差进行补偿。

在其他实施例中，还可以设置更多图像中包括不同个数标准样品的标准位置图像，从而在对不同个数的待测样品10同时进行对位、移动时，可以通过将对位图像与相应个数的标准图像进行对比，来精确地获取各个待测样品10的移动补偿值，从而能够保证对各个待测样品10的移动补偿精度。

应该理解的是，虽然图5-图8的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图5-图8中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项实施例中所述的对位控制方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项实施例中所述的对位控制方法的步骤。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其他介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器（Read-Only Memory，ROM）、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器（Static Random Access Memory，SRAM）或动态随机存取存储器（Dynamic Random Access Memory，DRAM）等。

在本说明书的描述中，参考术语“有些实施例”、“其他实施例”、“理想实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特征包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性描述不一定指的是相同的实施例或示例。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。