芯片测试结果数据的自动抓取与分析方法

技术领域

本发明属于半导体测试技术领域，具体涉及一种芯片测试结果数据的自动抓取与分析方法。

背景技术

现有技术在芯片测试完成后，需要向客户提供整体测试报告，报告内容包括良率、测试fail对应的bin别、芯片点废情况体现等等。对于这个测报的编写，是由PE工程师到服务器手动抓取测试结果数据，然后分析，最后写成excel表形式的测试报告发给客户。在此期间，是通过人工操作，在大量的测试数据文件中抓取数据，由于数据量庞大，容易视觉疲劳，极易抓错数据；另外由于人工方式对数据分析和计算时，也容易产生疏忽性错误；而且做测试报告会耗费PE工程师大量的时间和精力，工作效率较低有待提高。

发明内容

本发明解决的技术问题：提供一种测报工作的效率和正确性的芯片测试结果数据的自动抓取与分析方法。

技术方案：为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案如下：

一种芯片测试结果数据的自动抓取与分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：选择测试服务器的测试结果数据所要存储的路径；

S2：确定测试报告表的关键属性，测报程序根据关键属性信息，自动地从大批量测试结果数据中，采用一定的算法，获得所要的测试数据；

S3：根据不同的测试芯片的产品类型，选择对应的测试模板，生成测试报告。

进一步地，步骤1中，在DataServerPath处输入测试服务器的测试结果数据所在路径。

进一步地，测试报告表的关键属性包括来料编号、客户批号、片号、产品号和测试程序版本。

进一步地，步骤3中，生成测试报告的操作步骤如下：

S30：自动从服务器盘获取测试数据；把从ShiffPE得到的已解压的sm，txt，excel数据放入文件夹下；

S31：自动生成测报文件夹并导入模板excel文件，自动运行AutoInk，自动导入sm，sum，map，txt，excel文件到对应文件夹；

S32：自动修改模板excel名称，从CPX excel文件夹获取各excel，拷贝到模板CPXexcel的RawData页；

打开CPX excel的RawData页，拷贝此页所有行，右击黏贴为数值。到CPX页，拷贝所有行内容，黏贴为数值，保存；把RawData和AutoRun页删除，保存，再关闭CPX excel文件；

S33：检查在sum、BinMap、excel文件中的测试程序是否一致，检查CP1或者CP2-excel中的BIN1+BIN2＝sum中的TotalPassed.可修改excel或等待AutoInk完成，或者可直接把AutoInk好的打包文件结果放入点废文件夹中，直接运行下一步；

S34：在点废map文件夹中解压zip文件，然后删除此zip文件。自动取出map以及CP3_A或者CP2_A文件夹中CPx-txt中子批号，检查外部CP3或2-excel中的BIN1+BIN2+外观不良数＝sum中的TotalPassed，检查各CPx中的TotalPassed，拷贝外部的CP3或2-excel放入到点废文件夹中，把AutoInk后的txt文件中的A值给BIN1，BIN2清零，调整其他数值：数据搬移到新版测报文件夹中。

有益效果：与现有技术相比，本发明具有以下优点：

本发明的芯片测试结果数据的自动抓取与分析方法，可以自动远程获取服务器网盘上，对应测试批次/片号的海量的芯片测试数据；可自动创建测报文件夹以及各子文件夹；测报界面有具体的操作步骤说明，在此指导下可非常方便地完成测报工作；自动拷贝excel表的数据到模板excel文件中，由模板excel自动生成所需数据；然后对文件打包或解包；可自动调用第三方数据分析程序使其执行，进而可利用第三方程序得到的结果，随后再写入相关文件中；可自动分析计算数据并检查出错误数据、提示错误所在的文件位置，方便用户及时确认修改；自动生成最终交付给客户的且符合客户数据格式的测试报告。

本发明采用自动脚本程序设计，提供了丰富的功能，可以自动地从测试服务器上获取对应片号的sum和map等海量数据、且提供具体操作日志Log、还可给用户相关错误提示等，相比较人工处理，不会出错、效率可提高30～50倍、节省大量时间和精力，所以大大提高了测报工作的效率和正确性。

附图说明

图1是本发明的PUY测试报告的文件结构；

图2是本发明的测试数据收集的文件结构；

图3是本发明的测试报告操作界面；

图4是本发明的根据客户要求，提供给客户的测试报告文件结构实例图；

图5是采用本发明的方法的实例图一；

图6是采用本发明的方法的实例图二；

图7是采用本发明的方法的实例图三；

图8是采用本发明的方法的实例图四；

图9是采用本发明的方法的实例图五；

图10是采用本发明的方法的实例图六。

具体实施方式

下面结合具体实施例，进一步阐明本发明，实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施，应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。

本申请的芯片测试结果数据的自动抓取与分析方法，包括以下步骤：

S1：确定测试服务器的测试结果数据所要存储的路径。

如图3，在DataServerPath处输入测试服务器的测试结果数据所在路径。

S2：确定测试报告表的关键属性，对于测试报告表的关键属性，如来料编号、客户批号、片号、产品号、测试程序版本等，可以输入到对应框中，图3中所示。测报程序可以根据这些信息，自动地从大批量测试结果数据中，通过抓取关键字，获得所要的测试数据。

S3：根据不同的测试芯片的产品类型，可以选择对应的测试模板，图3所示，模板选择框。根据以下操作步骤生成测试报告：生成测试报告的操作步骤如图3所示，具体如下：

S30：自动从15盘获取测试数据(sum，map)；把从ShiftPE得到的已解压的sm，txt，excel数据放入D：NPUY测报NShiftPE_Mes数据N批次片号文件夹下；

S31：自动生成测报文件夹并导入模板excel文件，自动运行AutoInk，自动导入sm，sum，map，txt，excel文件到对应文件夹。

S32：自动修改模板excel名称，从CPX excel文件夹获取各excel，拷贝到模板CPXexcel的RawData页；

打开CPX excel的RawData页，拷贝此页所有行，右击黏贴为数值。到CPX页，拷贝所有行内容，黏贴为数值，保存。把RawData和AutoRun页删除，保存，再关闭CPX excel文件。

S33：检查在sum、BinMap、excel文件中的测试程序是否一致，检查CP1或者CP2-excel中的BIN1+BIN2＝sum中的TotalPassed.可修改excel或等待AutoInk完成，或者可直接把AutoInk好的打包文件结果放入点废文件夹中，直接运行下一步。

S34：在点废map文件夹中解压zip文件，然后删除此zip文件。自动取出map以及CP3_A或者CP2_A文件夹中CPx-txt中子批号，检查外部CP3或2-excel中的BIN1+BIN2+外观不良数＝sum中的TotalPassed，检查各CPx中的TotalPassed，拷贝外部的CP3或2-excel放入到点废文件夹中，把AutoInk后的txt文件中的A值给BIN1，BIN2清零，调整其他数值：数据搬移到新版测报文件夹中。

删除测试报告的生成步骤可以显示在软件界面上，即使对于新员工，也可以根据这个可视化的操作步骤，快速掌握生成测试报告。

另外，如图3所示。软件页面设置log区，这里的Log区会记录所有操作的具体细节，方便测试报告操作人员了解、查找之前所作的操作。

图1右侧所示为测报文件夹结构，其中“AutoINK_50颗连续_8分”为自动点废功能的第三方程序，最后生成的报告在“PUY测报给客户”文件夹中。上图为测报文件夹结构，其中“AutoINK_50颗连续_8分”为自动点废功能的第三方程序，最后生成的报告在“PUY测报给客户”文件夹中。

本发明将主要操作步骤通过可视化的测报界面显示，不必记忆繁琐的操作步骤，而引导操作人员只要点击对应按钮，就可顺利完成测报。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。