一种SF6/CF4密度继电器低温补偿量的测试方法

技术领域

本发明属于电气工程领域，具体涉及一种SF

背景技术

SF

传统的密度继电器的校验方法中，将密度继电器所处的环境温度作为测试温度，以20℃作为基准温度，将该测试温度下密度继电器的压力值折算到20℃后，用于评估密度继电器的性能。近年来，常温下对SF

SF

内蒙古属北方寒冷地区，部分地区冬季室外温度约为-40℃，所运行的SF

就SF

发明内容

本发明提供了一种SF

本发明的目的是这样实现的。本发明提供了一种SF

步骤1，确定温度测试允许范围

将待测试的SF

查阅SF

将待测继电器的温度测试允许范围记为H，设定如下：

若T

若T

步骤2，确定温度测试点

将40℃作为最高温度测试点，温度由高到低，相应测试步长按照下述规则设定：

在温度≥0℃的区间，测试步长为10℃；

在温度<0℃的区间，测试步长为5℃；

温度测试点按照下述规则确定：

首先，按照规定的测试步长在温度测试允许范围H内设立N个普通温度测试点，将其中任意一个记为普通测试点t

其次，若出现1℃＜T

将N个普通测试点t

步骤3，标定压力基准值

将装有SF

利用全温度SF

测试结束后，全温度SF

步骤4，配置SF

利用一个气体配置装置配置SF

配置完成后，调整气体配置装置的输出端，令其输出的SF

步骤5，测试混合压力值

连接气体配置装置的输出端与全温度SF

利用全温度SF

步骤6，计算补偿压力值

将测试点t

δ

步骤7，绘制温度-压力曲线

以测试温度T

优选地，所述全温度SF

优选地，步骤3所述基准压力测试和步骤5所述混合压力测试时，所有测试温度的保持时间不小于2小时，并在全温度SF

与现有技术相比，本发明的有益效果为：

1、本发明提出了一种SF

2、不同的SF

3、本发明给出了SF

4、本发明中，首先测试了SF

附图说明

图1为一种SF

图2为本发明实施例中步骤5的SF

具体实施方式

图1为本发明所提出的一种SF

步骤1，确定温度测试允许范围

将待测试的SF

查阅SF

将待测继电器的温度测试允许范围记为H，设定如下：

若T

若T

在具体实施中，某些待测继电器表盘上只给出了SF

在本实施例中，所述的查阅SF

步骤2，确定温度测试点

将40℃作为最高温度测试点，温度由高到低，相应测试步长按照下述规则设定：

在温度≥0℃的区间，测试步长为10℃；

在温度<0℃的区间，测试步长为5℃。

温度测试点按照下述规则确定：

首先，按照规定的测试步长在温度测试允许范围H内设立N个普通温度测试点，将其中任意一个记为普通测试点t

其次，若出现1℃＜T

将N个普通测试点t

本实施例中，所述全温度SF

本实施例中，基于全温度SF

但是，如果T

步骤3，标定压力基准值

将装有SF

利用全温度SF

测试结束后，全温度SF

在本实施例中，所述全温度SF

在本实施例中，所使用的全温度SF

步骤4，配置SF

利用一个气体配置装置配置SF

配置完成后，调整气体配置装置的输出端，令其输出的SF

步骤5，测试混合压力值

连接气体配置装置的输出端与全温度SF

利用全温度SF

在本实施例中，步骤3所述基准压力测试和步骤5所述混合压力测试时，所有测试温度的保持时间不小于2小时，并在全温度SF

图2为本发明实施例中步骤5的SF

步骤6，计算补偿压力值

将测试点t

δ

所述压力补偿值δ

步骤7，绘制温度-压力曲线

以测试温度T

本实施例中，开展了两款不同压力比的SF

本实施例中，额定压力比f