掌桥专利:专业的专利平台
掌桥专利
首页

一种倒装芯片的电迁移可靠性有限元分析方法

文献发布时间:2023-06-19 10:11:51


一种倒装芯片的电迁移可靠性有限元分析方法
相关技术
  • 一种倒装芯片的电迁移可靠性有限元分析方法
  • 电迁移可靠性测试结构及电迁移可靠性测试方法
技术分类

06120112456495