PCB三防漆涂覆厚度检测方法、装置及存储介质

技术领域

本申请涉及三防漆涂覆检测领域，尤其涉及一种PCB三防漆涂覆厚度检测方法、装置及存储介质。

背景技术

目前三防漆涂覆检测技术使用紫外光成像技术，利用参杂着荧光粉的三防漆在紫外灯照射下会形成荧光效果这一原理对PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)进行三防漆涂覆的视觉检测。具体可以利用紫外光源在灯箱中进行打光，通过工业相机采集PCB图像，对采集的PCB图像进行颜色通道分割、二值化等处理，并将处理后的PCB图像与标准涂覆的PCB图像进行对比，以此得到有没有多涂/少涂区域的三防漆涂覆质量检测结果。

但是，当前的三防漆涂覆检测技术只能进行PCB中三防漆涂覆区域的检测，而不能实现涂覆厚度的检测，导致当前PCB三防漆涂覆质量的检测效率低下。

发明内容

本申请旨在至少解决相关技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种PCB三防漆涂覆厚度检测方法，可以实现PCB三防漆涂覆厚度的检测，以此提高PCB三防漆涂覆质量的检测效率。

本申请还提出一种PCB三防漆涂覆厚度检测装置、电子设备、存储介质和计算机程序产品。

根据本申请第一方面实施例的PCB三防漆涂覆厚度检测方法，包括：

确定待检测PCB三防漆涂覆图像的第一空间灰度直方图；

基于所述第一空间灰度直方图与标准PCB三防漆涂覆图像的第二空间灰度直方图进行像素差分，得到第一空间灰度差分图像；所述标准PCB三防漆涂覆图像为均匀涂覆有预设厚度三防漆的PCB的图像；

基于所述第一空间灰度差分图像确定第一灰度差分直方图；

基于所述第一灰度差分直方图确定所述待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果。

根据本申请实施例的PCB三防漆涂覆厚度检测方法，通过将待检测PCB三防漆涂覆图像的第一空间灰度直方图，与标准PCB三防漆涂覆图像的第二空间灰度直方图进行像素差分得到第一空间灰度差分图像，并通过第一空间灰度差分图像确定出第一灰度差分直方图，使得可以根据第一灰度差分直方图进行分析得到三防漆涂覆厚度检测结果，实现涂覆厚度的检测，由此提高PCB三防漆涂覆质量的检测效率。

根据本申请的一个实施例，所述基于所述第一空间灰度差分图像确定第一灰度差分直方图，包括：

对所述第一空间灰度差分图像中异常的像素差值进行数据清洗，将异常像素差值清洗后所述第一空间灰度差分图像中剩余的像素差值确定为目标像素差值；

对所述目标像素差值进行频次统计，根据频次统计结果生成第一灰度差分直方图。

根据本申请的一个实施例，所述对所述第一空间灰度差分图像中异常的像素差值进行数据清洗，包括：

确定所述第一空间灰度差分图像中所有像素差值的平均值以及所述第一空间灰度差分图像中所有像素差值的标准差；

基于三西格玛准则结合所述第一空间灰度差分图像中所有像素差值的平均值、所述第一空间灰度差分图像中所有像素差值的标准差与所述第一空间灰度差分图像中的所有像素差值，从所述第一空间灰度差分图像的所有像素差值中确定异常的像素差值；

对所述异常的像素差值进行数据清洗。

根据本申请的一个实施例，所述PCB三防漆涂覆厚度检测方法还包括：

对未涂覆三防漆的PCB图像的第三空间灰度直方图与标准PCB三防漆涂覆图像的第二空间灰度直方图进行像素差分，得到第二空间灰度差分图像；

基于所述第二空间灰度差分图像确定第二灰度差分直方图；

将所述第二灰度差分直方图中所有像素差值的频次的平均值确定为厚度检测阈值。

根据本申请的一个实施例，所述基于所述第一灰度差分直方图确定所述待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果，包括：

基于所述厚度检测阈值确定厚度检测范围；

将所述第一灰度差分直方图中目标像素差值的频次最大值与所述厚度检测范围进行比较，得到比较结果；

根据所述比较结果，确定所述待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果。

根据本申请的一个实施例，所述确定待检测PCB三防漆涂覆图像的第一空间灰度直方图，包括：

确定待检测PCB三防漆涂覆图像中的待检测区域；

根据所述待检测区域的像素信息，确定所述待检测PCB三防漆涂覆图像的第一空间灰度直方图。

根据本申请的一个实施例，所述确定待检测PCB三防漆涂覆图像中的待检测区域，包括：

确定待检测PCB三防漆涂覆图像中的标记点；所述标记点是基于所述待检测PCB三防漆涂覆图像对应的PCB中的标识确定的；

根据所述标记点确定待检测PCB三防漆涂覆图像中的待检测区域。

根据本申请第二方面实施例的PCB三防漆涂覆厚度检测装置，包括：

第一确定模块，用于确定待检测PCB三防漆涂覆图像的第一空间灰度直方图；

差分模块，用于基于所述第一空间灰度直方图与标准PCB三防漆涂覆图像的第二空间灰度直方图进行像素差分，得到第一空间灰度差分图像；所述标准PCB三防漆涂覆图像为均匀涂覆有预设厚度三防漆的PCB的图像；

第二确定模块，用于基于所述第一空间灰度差分图像确定第一灰度差分直方图；

第三确定模块，用于基于所述第一灰度差分直方图确定所述待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果。

根据本申请第三方面实施例的电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述PCB三防漆涂覆厚度检测方法。

根据本申请第四方面实施例的计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述PCB三防漆涂覆厚度检测方法。

根据本申请第五方面实施例的计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述PCB三防漆涂覆厚度检测方法。

本申请实施例中的上述一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果之一：

通过将待检测PCB三防漆涂覆图像的第一空间灰度直方图，与标准PCB三防漆涂覆图像的第二空间灰度直方图进行像素差分得到第一空间灰度差分图像，并通过第一空间灰度差分图像确定出第一灰度差分直方图，使得可以根据第一灰度差分直方图进行分析得到三防漆涂覆厚度检测结果，实现涂覆厚度的检测，由此提高PCB三防漆涂覆质量的检测效率。

本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测方法的流程示意图之一；

图2是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测方法的高对比度打光方案示意图；

图3是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测方法的流程示意图之二；

图4是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测方法的流程示意图之三；

图5是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测方法的流程示意图之四；

图6是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测方法的流程示意图之五；

图7是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测方法的流程示意图之六；

图8是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测装置的结构示意图；

图9是本申请提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请的实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本申请，但不能用来限制本申请的范围。

在本申请实施例的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请实施例的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本申请实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请实施例中的具体含义。

在本申请实施例中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请实施例的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

本申请提供一种PCB三防漆涂覆厚度检测方法；图1是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测方法的流程示意图之一，如图1所示，该PCB三防漆涂覆厚度检测方法包括：

步骤110，确定待检测PCB三防漆涂覆图像的第一空间灰度直方图。

需要说明的是，本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测方法的执行主体可以是计算机设备，例如手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、车载电子设备、可穿戴设备、超级移动个人计算机(ultra-mobile personal computer，UMPC)、上网本或者个人数字助理(personal digital assistant，PDA)等。

其中，待检测PCB三防漆涂覆图像可以为在线检测的涂覆有三防漆的PCB的图像。

空间灰度直方图是根据图像中各像素的像素值及各像素的坐标构建的。

可以理解地，本申请中可以设置有一种高对比度的打光方案，使得可以在该打光方案下获取PCB三防漆涂覆图像。

参照图2，图2是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测方法的高对比度打光方案示意图，如图2所示，本申请的高对比度打光方案包括相机1、PCB2、紫外条形光源3。其中，相机1用于拍摄PCB三防漆涂覆图像。

本申请中使用两条紫外条形光源安装在PCB两测上方，高度略高于PCB板的顶部表面即可，例如高于PCB板的顶部表面10厘米。

两条紫外条形光源发光面平行对射，发光面垂直于PCB版面；

这种对射型的平行低角度打光方法能让涂有荧光三防漆的区域呈现正常的荧光效果进而产生光亮区域，而未涂有三防漆的区域则形成一个暗场，使图像处理算法更易于区分涂覆区域和判断涂覆厚度。本打光方案对核心技术点中的标准图像的像素分布和图像处理有积极的影响，在该打光方案下，未涂覆的PCB区域形成的暗场图像有利于灰度直方图的像素统计与数据清洗，而涂覆的区域形成的高亮面使得标准灰度图更好进行阈值区分设置，区分出厚度是否达标。

因此，本申请可以在高对比度打光方案下获取待检测的PCB三防漆涂覆图像，并根据图像中各像素的像素值及各像素的坐标构建空间灰度直方图，将构建的空间灰度直方图确定为第一空间灰度直方图。

步骤120，基于第一空间灰度直方图与标准PCB三防漆涂覆图像的第二空间灰度直方图进行像素差分，得到第一空间灰度差分图像。

本申请中的第二空间灰度直方图是基于标准PCB三防漆涂覆图像确定的。

具体地，可以根据标准PCB三防漆涂覆图像中各像素的像素值及各像素的坐标构建第二空间灰度直方图。

标准PCB三防漆涂覆图像为均匀涂覆有预设厚度三防漆的PCB的图像。

其中，预设厚度为可以根据实际需求设置与调整的数值。

基于第一空间灰度直方图与第二空间灰度直方图进行像素差分可以为对第一空间灰度直方图与第二空间灰度直方图做差，将做差得到的空间灰度差分图确定为第一空间灰度差分图像。

对第一空间灰度直方图与第二空间灰度直方图做差可以通过如下公式实现：

其中，(x,y)表示图像坐标，A表示待检测区域，区域A为若干小区域A1、A2……的集合，V’、V分别为待检测PCB三防漆涂覆图像的像素值和标准PCB三防漆涂覆图像的像素值。

步骤130，基于第一空间灰度差分图像确定第一灰度差分直方图。

本申请中可以对第一空间灰度差分图像中的像素差值进行数据清洗，剔除波动较大的像素差值，并对剩余的像素差值进行频次统计，根据统计的频次信息构建一个灰度差分直方图，并确定为第一灰度差分直方图。

步骤140，基于所述第一灰度差分直方图确定所述待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果。

本申请可以根据第一灰度差分直方图中各像素差值的频次信息与厚度检测阈值进行对比分析，确定出待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果。

其中，厚度检测阈值可以为根据标准PCB三防漆涂覆图像与未涂覆三防漆的PCB图像确定的像素差值的频次均值，也可以为根据人工经验总结或预测得到的像素差值的频次值。

三防漆涂覆厚度检测结果可以为涂覆过厚、涂覆过薄、涂覆正常等。

根据本申请实施例的PCB三防漆涂覆厚度检测方法，通过将待检测PCB三防漆涂覆图像的第一空间灰度直方图，与标准PCB三防漆涂覆图像的第二空间灰度直方图进行像素差分得到第一空间灰度差分图像，并通过第一空间灰度差分图像确定出第一灰度差分直方图，使得可以根据第一灰度差分直方图进行分析得到三防漆涂覆厚度检测结果，实现涂覆厚度的检测，由此提高PCB三防漆涂覆质量的检测效率。

图3是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测方法的流程示意图之二，如图3所示，上述步骤110包括：

步骤111，确定待检测PCB三防漆涂覆图像中的待检测区域；

本申请可以预先在PCB中设置用于后续进行区域检测的标识，标识的内容本申请不进行具体限定，其中，标识的数量大于或等于2。各标识在PCB中可以形成一个或多个待检测区域。

本申请中由于PCB中设置有标识，因此待检测PCB三防漆涂覆图像中也将存在标识。

基于此，可以通过对待检测PCB三防漆涂覆图像进行标识识别，进而根据识别结果确定出待检测PCB三防漆涂覆图像中的待检测区域。

步骤112，根据待检测区域的像素信息，确定待检测PCB三防漆涂覆图像的第一空间灰度直方图。

在得到待检测区域后，可以获取待检测区域中各像素的坐标与像素值等像素信息，并根据各像素的像素值与坐标构建一个空间灰度直方图，将构建的空间灰度直方图确定为第一空间灰度直方图。

基于上述实施例，上述步骤111包括：

步骤1111，确定待检测PCB三防漆涂覆图像中的标记点；

本申请中可以通过标记点定位算法对待检测PCB三防漆涂覆图像中的标识进行定位，将各标识对应的点确定为待检测PCB三防漆涂覆图像中的标记点。

本申请中的标记点定位算法可以为基于人工智能的图像识别算法或其他能够完成标识定位的算法，本申请中不进行具体限定。

步骤1112，根据标记点确定待检测PCB三防漆涂覆图像中的待检测区域。

可以理解地，本申请中可以将标记点的坐标信息与PCB的一个或多个待检测区域进行数据关联。

因此，本申请中可以获取各标记点的坐标信息，并根据标记点的坐标信息查找待检测PCB三防漆涂覆图像中相关联的待检测区域。

需要说明的是，目前的三防漆涂覆检测技术大多使用PCB图像匹配进行定位，而未涂覆和涂覆的PCB图像成像外观差异大，从识别匹配的角度看，匹配成功率低，实际应用中算法识别并不稳定。并且区域定位是图像预处理的关键步骤，本实施例中可以从不同的图像中定位出PCB的待检测区域，为后续的厚度检测做准备。以实现涂覆厚度的检测，并可以根据三防漆涂覆厚度检测结果确定待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆质量检测结果，由此提高PCB三防漆涂覆质量的检测效率。

图4是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测方法的流程示意图之三，如图4所示，上述步骤130包括：

步骤131，对第一空间灰度差分图像中异常的像素差值进行数据清洗，将异常像素差值清洗后第一空间灰度差分图像中剩余的像素差值确定为目标像素差值；

本申请中可以提取第一空间灰度差分图像中的各像素差值，并识别各像素差值中是否存在异常的像素差值，若存在异常像素差值，则对异常像素差值进行清洗，并在异常像素差值清洗完成后，将剩余的像素差值确定为目标像素差值。

步骤132，对目标像素差值进行频次统计，根据频次统计结果生成第一灰度差分直方图。

进一步的，对目标像素差值中的各像素差值进行频次统计，以确定各像素差值出现的次数，得到频次统计结果。

进一步地，可以根据频次统计结果中各像素差值及对应的频次，构建一个灰度差分直方图，并将构建的灰度差分直方图确定为第一灰度差分直方图。

基于上述实施例，上述步骤131包括：

步骤1311，确定所述第一空间灰度差分图像中所有像素差值的平均值以及所述第一空间灰度差分图像中所有像素差值的标准差；

步骤1312，基于三西格玛准则结合所述第一空间灰度差分图像中所有像素差值的平均值、所述第一空间灰度差分图像中所有像素差值的标准差与所述第一空间灰度差分图像中的所有像素差值，从所述第一空间灰度差分图像的所有像素差值中确定异常的像素差值；

步骤1313，对所述异常的像素差值进行数据清洗。

其中，三西格玛准则又称为拉依达准则，它是先假设一组检测数据只含有随机误差，对其进行计算处理得到标准偏差，按一定概率确定一个区间，认为凡超过这个区间的误差，就不属于随机误差而是粗大误差，含有该误差的数据应予以剔除。

在正态分布中σ代表标准差,μ代表均值。x＝μ即为图像的对称轴。

3σ原则为：

数值分布在(μ-σ,μ+σ)中的概率为0.6826；

数值分布在(μ-2σ,μ+2σ)中的概率为0.9545；

数值分布在(μ-3σ,μ+3σ)中的概率为0.9973。

因此，本申请中可以计算第一空间灰度差分图像中所有像素差值的平均值以及第一空间灰度差分图像中所有像素差值的标准差，并分别确定各像素差值是否处于(μ-3σ,μ+3σ)之间，若是则保留该像素差值，若否则将该像素差值确定为异常像素差值并进行清洗。

本实施例可以对第一空间灰度差分图像进行异常像素差值清洗，避免异常数据的干扰，使得根据第一空间灰度差分图像中剩余像素差值的频次统计结果生成的第一灰度差分直方图更加准确，进而使得基于第一灰度差分直方图确定的三防漆涂覆质量检测结果更准确。

图5是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测方法的流程示意图之四，如图5所示，所述PCB三防漆涂覆厚度检测方法还包括：

步骤510，对未涂覆三防漆的PCB图像的第三空间灰度直方图与标准PCB三防漆涂覆图像的第二空间灰度直方图进行像素差分，得到第二空间灰度差分图像；

本申请中可以在高对比度打光方案下获取未涂覆三防漆的PCB图像，并根据图像中各像素的像素值及各像素的坐标构建空间灰度直方图，将构建的空间灰度直方图确定为第三空间灰度直方图。

进一步地，可以对第三空间灰度直方图与标准PCB三防漆涂覆图像的第二空间灰度直方图做差，将做差得到的空间灰度差分图确定为第二空间灰度差分图像。具体过程可参照上述基于第一空间灰度直方图与第二空间灰度直方图进行像素差分，得到第一空间灰度差分图像的过程。

步骤520，基于第二空间灰度差分图像确定第二灰度差分直方图；

在得到第二空间灰度差分图像后，可以对第二空间灰度差分图像进行数据清洗，剔除波动较大的异常像素差值，并对剩余的像素差值进行频次统计，根据统计的频次信息构建灰度差分直方图，并确定为第二灰度差分直方图。

步骤530，将所述第二灰度差分直方图中所有像素差值的频次的平均值确定为厚度检测阈值。

在得到第二灰度差分直方图后，可以计算第二灰度差分直方图中各像素差值的出现频次的平均值，并将出现频次的平均值确定为厚度检测阈值。

例如：若第二灰度差分直方图中10、15、20、25等像素差值的出现频次分别为10、15、15、20，则厚度检测阈值为15。

本实施例可以根据未涂覆三防漆的PCB图像的空间灰度直方图与标准PCB三防漆涂覆图像的空间灰度直方图确定出厚度检测阈值，使得可以根据第一灰度差分直方图与厚度检测阈值进行三防漆涂覆厚度检测，实现涂覆厚度的检测，由此提高PCB三防漆涂覆质量的检测效率。

图6是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测方法的流程示意图之五，如图6所示，上述步骤140包括：

步骤141，基于厚度检测阈值确定厚度检测范围；

本申请在得到厚度检测阈值后，可以根据厚度检测阈值与预设浮动值形成厚度检测范围。

其中，预设浮动值为可以根据工艺需求和品质需求共同设置与调整的值。

例如：若厚度检测阈值为15，预设浮动值为±2或±3，则厚度检测范围可以为13-17或12-18。

可以理解地，本申请中还可以根据多张不同涂覆厚度的标准PCB三防漆涂覆图像，确定出确定厚度检测范围。

具体地，可以通过上述步骤确定第一张标准PCB三防漆涂覆图像与第二张标准PCB三防漆涂覆图像之间各像素差值出现频次的平均值，以及确定第三张标准PCB三防漆涂覆图像与第二张标准PCB三防漆涂覆图像之间各像素差值出现频次的平均值。将两平均值分别作为确定厚度检测范围的上限与下限。

步骤142，将第一灰度差分直方图中目标像素差值的频次最大值与厚度检测范围进行比较，得到比较结果；

在得到第一灰度差分直方图与厚度检测范围后，本申请可以提取第一灰度差分直方图的各目标像素差值对应频次中的频次最大值。

进一步地，将频次最大值与厚度检测范围进行比较，以此确定频次最大值与厚度检测范围之间的大小关系，并得到频次最大值处于厚度检测范围之间、频次最大值小于厚度检测范围的最小值或频次最大值大于厚度检测范围的最大值的比较结果。

步骤143，根据比较结果，确定待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果。

进一步地，若比较结果为频次最大值处于厚度检测范围之间，则确定待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果为涂覆正常。

若比较结果为频次最大值小于厚度检测范围的最小值，则确定待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果为涂覆过薄。

若比较结果为频次最大值大于厚度检测范围的最大值，则确定待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果为涂覆过厚。

本实施例可以将第一灰度差分直方图中目标像素差值的频次最大值与厚度检测范围进行比较，并根据比较结果准确地确定出待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果，实现涂覆厚度的检测，由此提高PCB三防漆涂覆质量的检测效率。

可以理解地，在得到三防漆涂覆质量检测结果后，还可以在对三防漆的工艺参数进行标准化测试后，使用标准测厚分析仪，得到厚度与差分灰度图的对应关系，可以设置对应阈值准确测算出实际厚度。

其中，工艺参数可以包括三防漆的组分及配比等。

图7是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测方法的流程示意图之六，如图7所示，本申请中可以分别确定未涂覆PCB图像的空间灰度直方图与标准涂覆PCB图像的空间灰度直方图，并对两空间灰度直方图进行像素差分，得到一个空间灰度差分图像。

进一步地，对上述空间灰度差分图像进行数据清洗分析，并根据数据清洗分析结果构建标准差分灰度直方图。

进一步地，根据标准差分灰度直方图中像素差值的频次信息设置阈值。

进一步地，可以获取在线检测的PCB图像的空间灰度直方图，并对在线检测的PCB图像的空间灰度直方图与标准涂覆PCB图像的空间灰度直方图进行像素差分，得到一个空间灰度差分图像，对该空间灰度差分图像进行数据清洗分析，并根据数据清洗分析结果构建灰度差分直方图。

进一步地，将灰度差分直方图中像素差值的频次最大值与上述步骤设置的阈值进行比较分析，得到在线检测的PCB图像的三防漆涂覆厚度的检测结果。

图8是本申请实施例提供的PCB三防漆涂覆厚度检测装置的结构示意图，如图8所示，该PCB三防漆涂覆厚度检测装置，包括：

第一确定模块810，用于确定待检测PCB三防漆涂覆图像的第一空间灰度直方图；

差分模块820，用于基于所述第一空间灰度直方图与标准PCB三防漆涂覆图像的第二空间灰度直方图进行像素差分，得到第一空间灰度差分图像；所述标准PCB三防漆涂覆图像为均匀涂覆有预设厚度三防漆的PCB的图像；

第二确定模块830，用于基于所述第一空间灰度差分图像确定第一灰度差分直方图；

第三确定模块840，用于基于所述第一灰度差分直方图确定所述待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果。

根据本申请实施例的PCB三防漆涂覆厚度检测装置，通过将待检测PCB三防漆涂覆图像的第一空间灰度直方图，与标准PCB三防漆涂覆图像的第二空间灰度直方图进行像素差分得到第一空间灰度差分图像，并通过第一空间灰度差分图像确定出第一灰度差分直方图，使得可以根据第一灰度差分直方图进行分析得到三防漆涂覆厚度检测结果，实现涂覆厚度的检测，由此提高PCB三防漆涂覆质量的检测效率。

基于上述任一实施例，第一确定模块810具体用于：

确定待检测PCB三防漆涂覆图像中的待检测区域；

根据所述待检测区域的像素信息，确定所述待检测PCB三防漆涂覆图像的第一空间灰度直方图。

基于上述任一实施例，第一确定模块810包括第一确定单元，所述第一确定单元用于：

确定待检测PCB三防漆涂覆图像中的标记点；所述标记点是基于所述待检测PCB三防漆涂覆图像对应的PCB中的标识确定的；

根据所述标记点确定待检测PCB三防漆涂覆图像中的待检测区域。

基于上述任一实施例，第二确定模块830具体用于：

对所述第一空间灰度差分图像中异常的像素差值进行数据清洗，将异常像素差值清洗后所述第一空间灰度差分图像中剩余的像素差值确定为目标像素差值；

对所述目标像素差值进行频次统计，以根据频次统计结果生成第一灰度差分直方图。

基于上述任一实施例，第二确定模块830包括清洗单元，所述清洗单元具体用于：

确定所述第一空间灰度差分图像中所有像素差值的平均值以及所述第一空间灰度差分图像中所有像素差值的标准差；

基于三西格玛准则结合所述第一空间灰度差分图像中所有像素差值的平均值、所述第一空间灰度差分图像中所有像素差值的标准差与所述第一空间灰度差分图像中的所有像素差值，从所述第一空间灰度差分图像的所有像素差值中确定异常的像素差值；

对所述异常的像素差值进行数据清洗。

基于上述任一实施例，该PCB三防漆涂覆厚度检测装置还包括第二确定单元，所述第二确定单元用于：

对未涂覆三防漆的PCB图像的第三空间灰度直方图与标准PCB三防漆涂覆图像的第二空间灰度直方图进行像素差分，得到第二空间灰度差分图像；

基于所述第二空间灰度差分图像确定第二灰度差分直方图；

将所述第二灰度差分直方图中所有像素差值的频次的平均值确定为厚度检测阈值。

基于上述任一实施例，第三确定模块840具体用于：

基于所述厚度检测阈值确定厚度检测范围；

将所述第一灰度差分直方图中目标像素差值的频次最大值与所述厚度检测范围进行比较，得到比较结果；

根据所述比较结果，确定所述待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果。

图9示例了一种电子设备的实体结构示意图，如图9所示，该电子设备可以包括：处理器(processor)910、通信接口(Communications Interface)920、存储器(memory)930和通信总线940，其中，处理器910，通信接口920，存储器930通过通信总线940完成相互间的通信。处理器910可以调用存储器930中的逻辑指令，以执行如下方法：确定待检测PCB三防漆涂覆图像的第一空间灰度直方图；

基于所述第一空间灰度直方图与标准PCB三防漆涂覆图像的第二空间灰度直方图进行像素差分，得到第一空间灰度差分图像；所述标准PCB三防漆涂覆图像为均匀涂覆有预设厚度三防漆的PCB的图像；

基于所述第一空间灰度差分图像确定第一灰度差分直方图；

基于所述第一灰度差分直方图确定所述待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果。

此外，上述的存储器930中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对相关技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

另一方面，本申请实施例公开一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，计算机能够执行上述各方法实施例所提供的方法，例如包括：确定待检测PCB三防漆涂覆图像的第一空间灰度直方图；

基于所述第一空间灰度直方图与标准PCB三防漆涂覆图像的第二空间灰度直方图进行像素差分，得到第一空间灰度差分图像；所述标准PCB三防漆涂覆图像为均匀涂覆有预设厚度三防漆的PCB的图像；

基于所述第一空间灰度差分图像确定第一灰度差分直方图；

基于所述第一灰度差分直方图确定所述待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果。

又一方面，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述各实施例提供的方法，例如包括：确定待检测PCB三防漆涂覆图像的第一空间灰度直方图；

基于所述第一空间灰度直方图与标准PCB三防漆涂覆图像的第二空间灰度直方图进行像素差分，得到第一空间灰度差分图像；所述标准PCB三防漆涂覆图像为均匀涂覆有预设厚度三防漆的PCB的图像；

基于所述第一空间灰度差分图像确定第一灰度差分直方图；

基于所述第一灰度差分直方图确定所述待检测PCB三防漆涂覆图像的三防漆涂覆厚度检测结果。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对相关技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。

最后应说明的是，以上实施方式仅用于说明本申请，而非对本申请的限制。尽管参照实施例对本申请进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，对本申请的技术方案进行各种组合、修改或者等同替换，都不脱离本申请技术方案的精神和范围，均应涵盖在本申请的权利要求范围中。