成像系统中光源畸变的检测

发明技术领域

本发明总体涉及数字成像，并且更具体地涉及使用光谱传感器与基于干涉的滤波器补偿光源畸变。

数字成像一直对相机技术的质量和可用性具有深刻的影响。同时，相机消费者的期待变得越来越高，尤其是对于嵌入于现代智能手机中相机。例如，自动化白平衡通过补偿各种光源对相机输出的扭曲影响，提高了相机成像的质量。

在一些数字成像应用中，光源畸变源自具有基本上可定义的时间光调制或周期性强度变化(诸如闪烁)的人工照明源。光畸变的检测和分类可以用于提高数字成像系统的性能。

图1示出了根据本发明的具有按行和列配置的像素的示例性图像传感器阵列；

图2示出了根据本发明的具有按行和列配置的像素的示例性双模态图像传感器阵列；

图3A和图3B示出了根据本发明的图像传感器中的示例性闪烁检测操作的序列和时序。

图4A示出了根据本发明的图像传感器中的示例性闪烁检测方法的概览；

图4B示出了根据本发明的图像传感器中的闪烁检测引起的相位不连续性；

图4C示出了根据本发明的图像传感器中的示例性闪烁检测方法的概览；

图4D示出了根据本发明的来自图像传感器中的闪烁检测输出；

图4E示出了根据本发明的图像传感器的使用2D快速傅里叶变换方法的闪烁检测输出；

图4F示出了根据本发明的图像传感器的使用2D快速傅里叶变换方法的另一闪烁检测输出；

图5A提供了根据本发明的闪烁源的示例性光谱；

图5B提供了根据本发明的闪烁源的来自图像的示例性提取光谱；并且

图6示出了根据本发明的具有按行和列配置的两种类型的像素(光敏元件)的示例性图像传感器阵列。

具体实施方式

在各种实施例中，小规模数字成像系统可以适配于在可以受益于对照明异常的校正的应用中使用。此类应用的示例包括但不限于智能手机、高分辨率相机、摄像机、安全相机、校准系统、检查系统和某些工业应用。

白炽灯、荧光灯和发光二极管(LED)各自会扭曲数字成像系统捕捉的光线。其他光源(诸如钠路灯)会扭曲图像传感器的输出，足以导致大多数颜色难以区分。另外地，用于LIDAR检测和数字显示器的人工照明源(诸如白炽灯、荧光灯、LED、脉冲VCSELS和激光器)可以具有可定义的时间光调制或周期性强度变化，诸如闪烁。在示例中，闪烁可以源自例如电源的AC分量或者源自数字成像器或显示器的固有刷新率。在各种实施例中，闪烁用作用以识别和/或分类数字成像应用中的照明源的区别性特征。在一些实施例中，与闪烁相关的信息可以用于提供对相机图像的校正，诸如颜色和/或白平衡校正。

图1示出了具有按行和列配置的像素(光敏元件)的示例性图像传感器阵列10。在该示例中，图像传感器阵列10包括行1至行N和列1至列M的像素以提供总共N×M个像素。在示例中，成像传感器阵列10对来自N×M个光敏元件的信号进行采样以捕捉来自场景的空间区域的光。成像传感器的示例性帧率在30-100Hz的范围内，这可能不足以检测来自人工照明源的闪烁。在示例中，光源畸变可以包括伪影，诸如条带、图像质量和畸变问题。

再次参考图1，成像传感器的光敏元件形成行(作为行和列的像素阵列的一部分)。在示例中，成像传感器可以配置成在闪烁检测模式下操作。在具体示例中，闪烁检测模式可以是图像传感器的主要操作。在实施方式和操作的具体示例中，每行光学传感器可以配置成顺序地对场景进行采样以实现在足以检测闪烁的范围内(例如在千赫兹(kHz)和兆赫兹(MHz)的范围内)的行采样率。在示例中，逐行采样可以称为使用“卷帘快门”。在具体示例中，成像系统可以配置成使用卷帘快门捕捉图像，同时并行地检测与该图像相关联的闪烁源。在相关示例中，用卷帘快门操作的成像系统可以配置成在捕捉图像之前和/或之后的预定时间段内检测闪烁源。

在示例中，图像传感器阵列10的不同行(诸如不同行R1-RN)的采样可以配置成重叠，但是至少一些行具有在不同时间戳处的开始和/或停止时间。在示例中，在闪烁检测模式下的图像传感器样本的读出可以作为行图像序列来执行，其中完整或部分图像帧由连续行图像构造。

在示例中，图像传感器可以用聚焦透镜来实现。在具体示例中，透镜首先处于离焦位置，以便场景的空间分辨率是模糊的，以帮助闪烁检测。在该示例中，然后将透镜实施在聚焦位置以对图像进行采样。在另一个示例中，当闪烁频率是帧率的倍数时，闪烁检测可能会受到负面影响。在实施方式和操作的具体示例中，图像传感器系统可以适配成使得帧率可以在一系列图像中变化，从而允许闪烁检测与给定的帧率解耦。

在示例中，闪烁可以通过将来自图像传感器的行的输出评估为时间的函数来检测。因此，当场景中的诸如光源或光源的反射等元件造成闪烁时，图像传感器的不同行可能会受到来自闪烁源的不同强度的影响。在示例中，这可能是由于在逐渐不同的时间点的每行采样造成的。在示例中，每行可以用于在时间间隔期间对闪烁源进行“采样”。在实施方式的具体示例中，可以检测来自一个或多个照明(光)源的闪烁，其中通过使用诸如快速傅里叶变换(FFT)、离散傅里叶变换(DFT)或其他频时算法等信号处理方法分析跨越时间的行输出来计算光源的频率。在示例中，通过在二维中组织来自逐行采样的数据以及应用二维快速傅里叶变换(2D-FFT)，可以简化给定的分析。

图2示出了具有按行和列配置的像素(光敏元件)的示例性双模态图像传感器阵列。在该示例中，双模态图像传感器阵列100配置成光学传感器行102和光学传感器列104，使得来自所采样的场景的入射光106可以由双模态图像传感器阵列100进行采样。在示例性配置中，当双模态图像传感器阵列100在闪烁检测模式下操作时，可以以顺序方式对光学传感器行102 1-4进行采样。在示例中，当双模态图像传感器阵列100在正常或图像捕捉模式下操作时，双模态图像传感器阵列100可以配置成在“全局快门”模式下对来自场景的入射光106进行采样，其中整个帧基本上是在同一时刻捕捉的。在具体示例中，双模态图像传感器阵列100联接到控制机构，诸如处理器、状态机或可以在双模态图像传感器阵列100的操作模式之间交替的另一机构。在具体的相关示例中，双模态图像传感器阵列100可以配置成以基本上连续的方式在闪烁检测模式下操作，直到准备好捕捉图像，此时双模态图像传感器阵列100可以在图像捕捉期间切换到全局快门模式。

图3A和图3B示出了用于图像感测的示例性闪烁检测操作的序列和时序。在示例中，读取/复位窗口包括一行光谱传感器(“x”方向)中的光谱传感器，其中该读取/复位窗口在一段时间内从行到行(“y”方向)转变。在示例中，读取/复位窗口以读取线(沿x方向延伸的点虚线)开始，并且以复位线(沿x方向延伸的短划线)复位。图3B示出了使用诸如图3A的读取/复位窗口等复位序列(标识为复位序列130，其中该复位序列包括灰色传感器和暗色传感器之间的所有传感器)随时间逐行采样的多行传感器。在具体示例中，帧时间开始于第1行中的复位序列的结束并且结束于在第n行中的复位序列的开始。在另一个示例中，读取/复位窗口包括一行(“x”方向)光谱传感器中的光谱传感器。

在实施方式的具体示例中，可以对传感器的时间行值执行离散傅里叶变换(DFT)，同时可以使用DFT的频率来表示闪烁源(F

图4A示出了图像传感器中的示例性闪烁检测方法的概览。在该示例中，在顶部示出了作为时间的函数的闪烁源的幅度，而下面示出了若干采样帧的示例性图像传感器逐行积分。在示例中，离散傅里叶变换(DFT)可以配置成针对给定的闪烁源提供所得到的基于频率的峰值。

图4B示出了适配成补偿基于时间的不连续性的示例性闪烁检测方法的概览。在示例中，针对闪烁确定信号按时间对采样传感器的不同帧的行值进行组织，当使用频时算法使用信号来确定闪烁频率时，信号中的不连续性可以表现为伪影。在图4B的示例中，当组装帧1-n时，样本强度在帧边界150-1至150-n处不连续。

在实施方式和操作的具体示例中，通过将不同帧的行值堆叠成二维(2D)矩阵来分离它们，然后对分离的行值执行2D快速傅里叶变换(FFT)或离散傅里叶变换(DFT)函数，可以消除或减弱不连续性伪影。在示例中，闪烁的影响可以与由帧变化不连续性引入的伪影分离。

图4C和图4D示出了跨多个帧(图4C)的逐行闪烁检测与图4D的所得到的图像之间的相关性。在该示例中，图像闪烁在每帧中表现为周期函数。在示例中，闪烁与帧率不同步，因此闪烁在帧与帧之间移动相位。在示例中，闪烁偏移反映为倾斜角下的周期函数。

图4E示出了二维(2D)快速傅里叶变换(FFT)中的闪烁。在示例中，闪烁的影响在非零频率的2D FFT中表现为峰值。在该示例中，一旦消除了DC分量，就可以确定闪烁频率。在示例中，2D傅里叶变换包括通过首先变换每行(即用其1D傅里叶变换替换每行)来实现的多个一维傅里叶变换。在示例中，第一步骤产生中间“图片”，其中水平轴是频率f并且垂直轴是帧，诸如图3B中所示的帧。第二步骤是对中间图像的垂直线单独应用1D傅里叶变换。该新图像将是初始图像的2D傅里叶变换。

图4F示出了使用2D FFT确定的闪烁频率。在该示例中，由2D FFT产生的峰值频率然后可以用于减弱或消除图像传感器捕捉的图像的闪烁。在另一个示例中，由2D FFT产生的峰值频率可以用于消除或减弱图像传感器本身的闪烁。

图5A提供了闪烁源的示例性采样光谱。在该示例中，采样光谱具有由谐波产生的各种频率下测量幅度的峰值。在该示例中，F

图5B提供了闪烁源(诸如图5A中提供的闪烁源)的示例性提取光谱。在该示例中，来自图像的提取光谱在m*F

在实施方式和操作的具体示例中，可以将RGB传感器的红、绿和蓝(RGB)像素分离以用于闪烁检测。在该示例中，可以单独分析来自每个红色、绿色和蓝色像素的样本，以提供用于给定的光源的检测和分类的附加信息。参考图2，在示例中，图像传感器(诸如双模态图像传感器阵列100)可以配置为光谱传感器，用于提供关于光源的附加光谱信息，从而允许更多信息用于检测和分类。在具体示例中，双模态图像传感器阵列100可以是高光谱图像传感器。

再次参考图1和图2，在实施方式的具体示例中，可以对给定的行中的所有像素求和以提供用于基本上完整的图像的闪烁分析的信息。在另一替代性的示例中，图像中的感兴趣区域中的像素可以用于提供用于闪烁分析和/或用于确定图像中的一个或多个闪烁源的空间位置的信息。

在实施方式和操作的具体示例中，来自光感测元件的未处理的或“原始”数据可以用于闪烁分析。在替代性的示例中，可以对原始数据进行预处理以允许时间变化(诸如图像捕捉期间的移动)和/或可以在预处理图像或图像中感兴趣区域前消除基于频率的空间异常(诸如条带和线条图案)。在相关示例中，可以在减法过程中处理行的两个实例，以消除不需要的空间信息。在另一相关示例中，两个连续时间图像可以经历减法过程以消除空间异常。

在另一示例中，图像传感器可以配置成包括读出模式，该读出模式可操作以消除加扰过程中的不相关和/或不期望的频率。在相关示例中，图像传感器配置成首先从传感器顶部逐行读取，然后从传感器底部逐行读取，以剔除不相关和/或不期望的频率。在相关示例中，可以使用滤波操作来从读出中提取相关/期望的频率。

在操作的具体示例中，图像传感器配置成以100帧每秒(fps)操作，用10kHz的线速率来检测以49Hz发生的闪烁。在相关示例中，检测到的闪烁频率(例如49Hz)可以用于对从图像传感器输出的图像的校正。在另一示例中，检测到的闪烁频率可以用于调整适配成提供可变帧率的图像传感器，从而允许图像传感器减弱或消除闪烁源的影响。在另一示例中，检测到的闪烁可以用于调整图像的幅度或图像的受影响部分。在又一示例中，检测到的闪烁可以用于调整图像处理器中的颜色平衡算法。在再一示例中，可以基于闪烁源的确定的空间位置来针对空间效果对图像进行调整。在另一示例中，可以基于闪烁源的波长范围进行调整，以便调整仅限于受闪烁源影响的相关颜色。在实施方式的示例中，处理器包括在成像系统中以计算闪烁影响，然后校正图像和/或像素输出。

在实施方式和操作的另一具体示例中，成像系统可以配置有两个成像传感器，这两个成像传感器可操作以提供并行成像和闪烁校正。在示例中，两个成像传感器中的第一成像传感器配置成在闪烁检测模式下操作，而第二成像传感器配置成在成像模式下操作。在该示例中，由第一成像传感器生成的闪烁信息可以用于校正第二成像传感器的图像获取。在相关示例中，由第一成像传感器生成的闪烁信息可以用于调整第二成像传感器的设置，以减弱或消除所得到的捕捉图像中的闪烁的不期望的影响。在又一示例中，在闪烁或成像模式下使用多个成像传感器以进一步改进闪烁校正。在具体示例中，多个成像传感器中的第一成像传感器可以配置成具有比包括多个成像传感器的成像系统中的一个或多个其他成像传感器更高的空间分辨率。

在示例中，图像感测系统包括聚焦透镜。在该示例中，聚焦透镜在离焦模式下使用，以便场景的空间分辨率是模糊的以帮助闪烁的检测。在相关示例中，聚焦透镜在聚焦模式下使用以捕捉图像。

在实施方式的具体示例中，成像系统配置成使用成像传感器中的行的一部分来执行闪烁检测。在替代性的示例中，成像系统配置成使用成像传感器中的所有行来执行闪烁检测。在示例中，成像传感器配置成实施闪烁检测模式，该模式首先使用所有行，并且然后使用顺序地读取的行的子集，从而允许kHz-MHz范围内的采样率，同时保留一些空间信息。在该示例中，闪烁模式允许确定呈现闪烁的光源的频率和位置两者。在相关示例中，可以通过采用数字信号处理技术来找到不同的闪烁源。在实施方式的另一示例中，成像系统配置成使用多个行速率来优化提供期望的闪烁频率检测分辨率所需的测量时间。

当闪烁频率是所选帧率的倍数时，闪烁检测可能会受到不利影响。在实施方式的示例中，成像系统配置成包括用于一系列捕捉图像的可变帧率。在相关示例中，当给定的闪烁频率是帧率的倍数时，这可能不利于闪烁检测。在另一相关示例中，可以使用多个帧率来防止与场景或图像相关联的空间频率被错误地检测为光源的闪烁频率的情况。

在实施方式的具体示例中，成像系统包括集成电路上的多个光学传感器，其中该多个光学传感器布置成阵列，并且该阵列包括多个行和多个列。在该示例中，处理模块可操作地联接到多个光学传感器中的每个光学传感器，并且当在成像系统内可操作时，处理模块配置成在第一模式下对图像进行采样并且在第二模式下以预定采样率在逐行的基础上顺序地对该图像的至少一部分进行采样以产生逐行样本输出，其中该处理模块进一步配置成使用不同时间戳对多个行中的至少一些行发起采样。

在示例中，成像系统包括接口、存储操作指令的存储器以及可操作地联接到该接口和该存储器的第二处理模块，其中当基于操作指令在成像系统内可操作时，该第二处理模块配置成确定与图像相关联的光源的周期性强度变化，其中周期性强度变化是通过基于不同时间戳分析多个逐行样本输出确定的，并且其中分析是使用频时算法执行的。在示例中，频时算法基于快速傅里叶变换(FFT)和离散傅里叶变换(DFT)中的至少一种。在操作的具体示例中，可以将频时算法的结果与已知的闪烁源进行比较，以用于分类目的和/或闪烁源的减弱。

当受光源照射时，光敏元件(例如光电二极管)可以在光敏元件的耗尽区中必然产生光电子(光子电子)和光空穴(光子空穴)。示例性图像传感器常规配置成通过收集光敏元件中产生的光子电子来对光进行测量。虽然光敏元件中产生的光子空穴可以疏散到电路的接地端，但相关联的空穴电流也代表收集到的光子电子。在示例中，图像传感器配置成以便将图像传感器或图像传感器的一部分中的光敏元件的基本上所有空穴电流收集在一起并且随时间连续进行测量。在该示例中，所得到的时间测量可以包括全图像照明以及闪烁分量。在示例中，成像系统可以配置成执行集合的空穴电流的频率分析以提供闪烁频率。在相关示例中，由于光敏元件仍然能够基于单独收集的光电流来检测图像，所以图像传感器的正常功能的性能不受影响。在实施方式的具体示例中，图像传感器中的光电二极管中的每个光电二极管可以包括连接到用于测量一组光电二极管的空穴电流的读出电路的光子空穴侧端子。在相关示例中，每个光电二极管的光子电子侧可以连接到读出电路以为每个单独的光电二极管提供信号。

在实施方式和操作的具体示例中，一种由成像系统的一个或多个处理模块执行的方法包括：从多个光学传感器对图像进行采样，其中该多个光学传感器布置成阵列；以及在预定时间段内，对该多个光学传感器中的至少一些光学传感器的光电流(光子电子或光子空穴)进行采样以产生针对该多个光学传感器中的至少一些光学传感器所确定的光电流，其中该采样包括对多个光学传感器中的至少一些光学传感器中的每个光学传感器的光空穴电流进行采样。该方法继续基于多个光学传感器中的至少一些光学传感器的所确定的光电流来确定与图像相关联的光源的周期性强度变化，其中该周期性强度变化是通过对多个光学传感器中的至少一些光学传感器在预定时间段内的光电流进行时频分析确定的。

图6示出了具有按行和列配置的两种类型的像素(光敏元件)的示例性图像传感器阵列。在该示例中，交错的图像传感器阵列200配置成光学传感器行102和光学传感器列104，使得来自所采样的场景的入射光106可以由交错的图像传感器阵列200进行采样。在示例中，交错的图像传感器阵列200包括至少两种类型的传感器：配置成用于图像采集的第一传感器类型和配置成用作闪烁传感器的第二传感器类型(闪烁传感器216)。

在示例中，闪烁传感器216在交错的图像传感器阵列200中交错在常规传感器之间。在示例中，闪烁传感器216可以配置有用于交错的图像传感器阵列200的特定读出操作。在替代性的示例中，闪烁传感器216可以配置在具有图像传感器的交错的成像传感器阵列200的正常采样期间进行读出。在示例中，闪烁传感器216配置成提供优化的性能，诸如例如以适应增加的动态范围。

在示例中，闪烁传感器216可以用于闪烁读出，并且基于逐行的快速傅里叶变换(FFT)可以用于提取闪烁分量。在示例中，闪烁传感器216设置为没有光学滤波器(即，它们是“透明”传感器)。在另一示例中，闪烁传感器216使用特定于预期闪烁源的目标波长范围的一个或多个光学滤波器。

在示例中，图像传感器包括标准或普通传感器的阵列以及针对图像中的闪烁分量的检测而优化的多个闪烁传感器。在示例中，闪烁传感器交错在标准传感器之间。在具体示例中，闪烁传感器适配成以比正常传感器读出速率(F

在实施方式和操作的示例中，成像系统包括：集成电路上的多个第一光学传感器，其中该多个第一光学传感器布置成阵列；以及集成电路上的多个第二光学传感器，并且其中该多个第二光学传感器散布在该多个第一光学传感器之间。在示例中，处理模块可操作地联接到多个第一光学传感器和多个第二光学传感器中的每个光学传感器，并且当在成像系统内可操作时，该处理模块配置成使用该多个第一光学传感器以第一频率对场景进行采样以产生第一图像以及使用该多个第二光学传感器以第二频率对该场景进行采样以产生该多个第二光学传感器的多个基于时间的样本，其中该第二频率高于该第一频率。在操作的示例中，多个第二光学传感器的多个基于时间的样本可以用于减弱或消除第一图像的光源畸变。

在实施方式和操作的另一示例中，成像系统包括：集成电路上的多个第一光学传感器，其中该多个第一光学传感器布置成阵列；以及集成电路上的多个第二光学传感器，其中该多个第二光学传感器散布在该多个第一光学传感器之间，并且该多个第二光学传感器布置成多个行和列。在示例中，处理模块可操作地联接到多个第一光学传感器和多个第二光学传感器中的每个光学传感器，并且当在成像系统内可操作时，该处理模块配置成使用该多个第一光学传感器以第一频率对场景进行采样以产生第一图像以及使用多个第二光学传感器顺序地在逐行的基础上以预定采样率对该场景进行采样以产生逐行样本输出，其中该处理模块进一步配置成使用不同时间戳对多个行中的至少一些行发起采样。

应注意，如本文可以使用的术语，如位流、流、信号序列等(或其等效物)已被互换地用于描述内容对应于多个期望的类型(例如，数据、视频、语音、文本、图形、音频等，其中的任何一个总体上可以被称为‘数据’)中的任何一种的数字信息。

如本文中可使用，术语“大体上”和“大致”为其相应的术语和/或项目之间的相关性提供工业上可接受的容差。对于一些行业，行业接受的容差小于百分之一，而对于其它行业，行业接受的容差为百分之10或更高。行业接受的容差范围的其它实例在不到百分之一到百分之五十的范围内。行业接受的容差对应于但不限于分量值、集成电路工艺变化、温度变化、上升和下降时间、热噪声、尺寸、传信误差、丢弃的数据包、温度、压力、材料组成和/或性能度量。在行业内，可接受容差的容差变化可以大于或小于某一百分比水平(例如，尺寸容差小于+/-1％)。项目之间的某一相对性可介于小于一个百分比水平的差异到几个百分比之间。项目之间的其它相对性可介于几个百分比的差异到巨大差异之间。

如本文中还可使用，术语“被配置成”、“可操作地联接到”、“联接到”和/或“联接”包含项目之间的直接联接和/或项目之间经由中间项目(例如，项目包含但不限于分量、元件、电路和/或模块)的间接联接，其中对于间接联接的实例，中间项目不修改信号的信息但可调整其电流电平、电压电平和/或功率电平。如本文中可进一步使用，推断联接(即，其中一个元件据推断联接到另一元件)包含以与“联接到”相同的方式进行的两个项目之间的直接和间接联接。

如本文可以更进一步使用，术语“被配置成”、“可操作以”、“联接到”或“可操作地联接到”指示项目包含电源连接、输入、输出等中的一个或多个，以用于在激活时执行一个或多个其相应功能，并且可进一步包含到一个或多个其它项目的推断联接。如本文中还可进一步使用，术语“与...相关联”包含单独项目的直接和/或间接联接，和/或一个项目嵌入在另一项目中。

如本文可使用，术语“有利地比较”指示两个或两个以上项目、信号等之间的比较提供了所要关系。例如，当所要关系是信号1具有比信号2更大的量值时，则当信号1的量值大于信号2的量值或者当信号2的量值小于信号1的量值时，可实现有利的比较。如本文中可使用，术语“不利地比较”指示两个或两个以上项目、信号等之间的比较未能提供所要关系。

如本文可使用，一个或多个权利要求可包含此通用形式短语“a、b和c中的至少一个”或此通用形式“a、b或c中的至少一个”的具体形式，具有比“a”、“b”和“c”多或少的元素。在任何一种措辞中，短语的解释都是相同的。具体地，“a、b和c中的至少一个”等效于“a、b或c中的至少一个”，并且均意指a、b和/或c。作为实例，其意指：“仅a”、“仅b”、“仅c”、“a”和“b”、“a”和“c”、“b”和“c”和/或“a”、“b”和“c”。

如本文还可使用，术语“处理模块”、“处理电路”、“处理器”、“处理电路系统”和/或“处理单元”可以是单个处理装置或多个处理装置。此处理装置可以是微处理器、微控制器、数字信号处理器、微计算机、中央处理单元、现场可编程门阵列、可编程逻辑装置、状态机、逻辑电路系统、模拟电路系统、数字电路系统，和/或基于电路系统和/或操作指令的硬译码来操纵信号(模拟和/或数字)的任何装置。处理模块、模块、处理电路、处理电路系统和/或处理单元可以是或进一步包含存储器和/或集成存储器元件，其可以是单个存储器装置、多个存储器装置，和/或另一处理模块、模块、处理电路、处理电路系统和/或处理单元的嵌入式电路系统。此存储器装置可以是只读存储器、随机存取存储器、易失性存储器、非易失性存储器、静态存储器、动态存储器、快闪存储器、高速缓冲存储器和/或存储数字信息的任何装置。应注意，如果处理模块、模块、处理电路、处理电路系统和/或处理单元包含一个以上处理装置，则处理装置可以居中定位(例如，经由有线和/或无线总线结构直接联接在一起)或者可以分布式地定位(例如，经由局域网和/或广域网间接联接的云计算)。还应注意，如果处理模块、模块、处理电路、处理电路系统和/或处理单元经由状态机、模拟电路系统、数字电路系统和/或逻辑电路系统实施其一个或多个功能，则存储相应操作指令的存储器和/或存储器元件可嵌入在包括所述状态机、模拟电路系统、数字电路系统和/或逻辑电路系统的电路系统内或外部。还应注意，存储器元件可存储，且处理模块、模块、处理电路、处理电路系统和/或处理单元执行，对应于一个或多个图中所示的至少一些步骤和/或功能的硬译码和/或操作指令。此存储器装置或存储器元件可以包含在制品中。

以上已经借助于说明指定功能的执行及其关系的方法步骤描述了一个或多个实施例。为了便于描述，本文任意地限定这些功能构建块和方法步骤的边界和顺序。可限定替代的边界和顺序，只要指定功能及关系被适当地执行即可。因此，任何此类替代边界或顺序都在权利要求书的范围和精神内。此外，为了便于描述，任意地限定这些功能构建块的边界。可限定替代边界，只要某些重要功能被适当地执行即可。类似地，本文中也可能任意地限定了流程图块以说明某些重要功能性。

在使用的范围内，流程图块边界和顺序可用其它方式限定，并且仍然执行某些重要功能性。因此，功能构建块和流程图块及顺序的此替代限定都在权利要求书的范围和精神内。所属领域的普通技术人员还将认识到，本文中的功能构建块和其它说明性块、模块和组件可如图所示的那样实施，或由离散组件、专用集成电路、执行适当软件等的处理器或其任何组合来实施。

另外，流程图可包含“开始”和/或“继续”指示。“开始”和“继续”指示反映所呈现的步骤可以任选地并入在一个或多个其它例程中或以其它方式与其结合使用。另外，流程图可包含“结束”和/或“继续”指示。“结束”和/或“继续”指示反映所呈现的步骤可如所描述和展示的那样结束，或者任选地并入在一个或多个其它例程中或以其它方式与其结合使用。在该上下文中，“开始”指示开始所呈现的第一步骤，并且其前面可以是未具体展示的其它活动。此外，“继续”指示反映所呈现的步骤可多次执行，和/或可以后跟着未具体展示的其它活动。此外，尽管流程图指示步骤的特定次序，但是其它次序同样是可能的，只要维持因果关系原则即可。

本文使用一个或多个实施例来说明一个或多个方面、一个或多个特征、一个或多个概念和/或一个或多个实例。设备、制品、机器和/或过程的物理实施例可包含参考本文所论述的实施例中的一个或多个实施例描述的方面、特征、概念、实例等中的一个或多个。此外，贯穿各图，实施例可并入有可使用相同或不同参考标号的相同或类似名称的功能、步骤、模块等，并且，由此，所述功能、步骤、模块等可为相同或类似的功能、步骤、模块等或并不相同。

除非特定地陈述为相反情况，否则到达、来自本文呈现的任何图的图中元件的信号和/或元件之间的信号可以是模拟或数字的、连续时间或离散时间以及单端或差分的。例如，如果信号路径展示为单端路径，则其还表示差分信号路径。类似地，如果信号路径展示为差分路径，则其还表示单端信号路径。尽管本文描述了一个或多个特定架构，但同样可以实施其它架构，其它架构使用未明确展示的一个或多个数据总线、元件之间的直接连接和/或如本领域的普通技术人员所了解的其它元件之间的间接联接。

术语“模块”在实施例的一个或多个的描述中使用。模块经由例如处理器或其它处理装置或其它硬件等装置实施一个或多个功能，所述装置可包含存储操作指令的存储器或与之相关联地操作。模块可独立地和/或结合软件和/或固件操作。还如本文所使用，模块可含有一个或多个子模块，每个子模块可以是一个或多个模块。

如本文可以进一步使用的，计算机可读存储器包含一个或多个存储器元件。存储器元件可以是单独的存储器装置、多个存储器装置或存储器装置内的一组存储器位置。此存储器装置可以是只读存储器、随机存取存储器、易失性存储器、非易失性存储器、静态存储器、动态存储器、快闪存储器、高速缓冲存储器和/或存储数字信息的任何装置。存储器装置可以是固态存储器、硬盘驱动器存储器、云存储器、随身盘、服务器存储器、计算装置存储器和/或用于存储数字信息的其它物理介质的形式。

尽管本文已明确地描述了所述一个或多个实施例的各种功能和特征的特定组合，但这些特征和功能的其它组合同样是可能的。本公开不受本文所公开的特定实例限制，并且明确并入有这些其它组合。