显示面板以及显示面板的寿命测定方法

技术领域

本公开的实施例涉及一种显示面板以及显示面板的寿命测定方法。

背景技术

随着信息化技术的发展，作为用户和信息之间的连接媒介的显示装置的重要性日益凸显。对应于此，液晶显示装置(Liquid Crystal Display Device)、有机发光显示装置(Organic Light Emitting Display Device)等之类显示装置的使用正在增加。

当显示装置实现为不包括背光单元等结构的自发光显示装置时，显示装置可以包括为了发出光而构成的发光层。若从发光层持续发出光，则发光层的发光效率可能减小。若发光层的发光效率减小，则显示装置的用户可能识别到在相应区域中亮度降低。

在这种技术背景下，不断进行用于客观掌握亮度随显示装置的使用时间而降低多少的尝试。

发明内容

所要解决的技术问题在于，提供一种能够客观掌握显示装置的发光效率的显示面板以及显示面板的寿命测定方法。

所要解决的技术问题在于，提供一种能够考虑构成显示面板的晶体管的特性变化来更加客观掌握显示装置的发光效率的显示面板以及显示面板的寿命测定方法。

可以是，本发明的实施例提供一种显示面板的寿命测定方法，在显示面板的寿命测定方法中，显示面板配置有多个像素，多个像素分别包括发出第一颜色的光的第一子像素，显示面板包括：第一区域，设置有一个以上的像素，像素包括发光的第一子像素；以及第二区域，与第一区域不重叠，并设置有一个以上的像素，显示面板的寿命测定方法包括：第一步骤，位于第一区域的像素的第一子像素发光，位于第二区域的像素的第一子像素在位于第一区域的第一子像素发光的期间不发光；以及第二步骤，用于显示相同的灰度的图像的数据电压施加到位于第一区域的第一子像素和位于第二区域的第一子像素。

可以是，多个像素的每一个包括：第二子像素，发出与第一颜色不同的第二颜色的光；以及第三子像素，发出与第一颜色以及第二颜色不同的第三颜色的光，第一区域包括：白色发光区域，在显示面板以第一步骤工作的时段期间，第一子像素、第二子像素以及第三子像素均发光；第一颜色发光区域，在显示面板以第一步骤工作的时段期间，第一子像素发光，第二子像素以及第三子像素不发光；第二颜色发光区域，在显示面板以第一步骤工作的时段期间，第二子像素发光，第一子像素以及第三子像素不发光；以及第三颜色发光区域，在显示面板以第一步骤工作的时段期间，第三子像素发光，第一子像素以及第二子像素不发光。

可以是，第二区域包括：黑色灰度显示区域，在显示面板以第一步骤工作的时段期间，第一子像素、第二子像素以及第三子像素均不发光；第一颜色的互补色发光区域，在显示面板以第一步骤工作的时段期间，第一子像素不发光，第二子像素以及第三子像素发光；第二颜色的互补色发光区域，在显示面板以第一步骤工作的时段期间，第二子像素不发光，第一子像素以及第三子像素发光；第三颜色的互补色发光区域，在显示面板以第一步骤工作的时段期间，第三子像素不发光，第一子像素以及第二子像素发光。

可以是，第二步骤包括：第2-1步骤，用于显示相同的灰度的图像的数据电压施加到位于白色发光区域的第一子像素以及位于黑色灰度显示区域的第一子像素。

可以是，第二步骤包括：第2-2步骤，用于显示相同的灰度的图像的数据电压施加到位于白色发光区域的第二子像素以及位于黑色灰度显示区域的第二子像素。

可以是，第二步骤包括：第2-3步骤，用于显示相同的灰度的图像的数据电压施加到位于白色发光区域的第三子像素以及位于黑色灰度显示区域的第三子像素。

可以是，在第二步骤中，用于显示相同的灰度的图像的数据电压施加到位于第一颜色发光区域的第一子像素以及位于第一颜色的互补色发光区域的第一子像素。

可以是，在第二步骤中，用于显示相同的灰度的图像的数据电压施加到位于第二颜色发光区域的第二子像素以及位于第二颜色的互补色发光区域的第二子像素。

可以是，在第二步骤中，用于显示相同的灰度的图像的数据电压施加到位于第三颜色发光区域的第三子像素以及位于第三颜色的互补色发光区域的第三子像素。

可以是，第一子像素、第二子像素以及第三子像素的每一个包括：发光元件；第一晶体管，为了驱动发光元件而构成；第二晶体管，驱动时序通过第一扫描信号控制，为了将数据电压向第一晶体管传输而构成；以及第三晶体管，驱动时序通过第二扫描信号控制，为了切换第一晶体管的漏极节点和栅极节点之间的电连接而构成。

可以是，在第一步骤的时段期间，位于白色发光区域的第三晶体管的阈值电压负位移，位于黑色灰度显示区域的第三晶体管的阈值电压负位移。

可以是，位于白色发光区域的第三晶体管的阈值电压负位移的程度大于位于黑色灰度显示区域的第三晶体管的阈值电压负位移的程度。

可以是，形成有第一晶体管、第二晶体管以及第三晶体管的基板是聚酰亚胺基板。

可以是，显示面板包括有机发光层。

可以是，在第二步骤中施加到位于第一区域的第一子像素和位于第二区域的第一子像素的用于显示相同的灰度的图像的数据电压是用于显示255灰度的红色图像的数据电压、用于显示255灰度的绿色图像的数据电压或者用于显示255灰度的蓝色图像的数据电压。

可以是，本发明的实施例提供一种显示面板，包括：基板；多个数据线，位于基板上，并被施加用于显示图像的数据电压；多个扫描线，位于基板上，并被施加扫描信号；以及多个像素，位于多个数据线和多个扫描线交叉的区域，并在进行老化工艺的时段根据预设定的区域被施加预设定的数据电压，在预设定的区域的每一个中设置有包括发出第一颜色的光的第一子像素的一个以上的像素，在老化工艺中的第一步骤的时段中，用于显示不是0(zero)的灰度的图像的数据电压施加到位于预设定的区域中的第一区域的第一子像素，用于显示0灰度的图像的数据电压施加到位于与第一区域不同的第二区域的第一子像素，在老化工艺中的第二步骤的时段中，用于显示相同的灰度的图像的数据电压施加到位于第一区域的第一子像素和位于第二区域的第一子像素。

可以是，多个像素的每一个包括：第二子像素，发出与第一颜色不同的第二颜色的光；以及第三子像素，发出与第一颜色以及第二颜色不同的第三颜色的光，第一区域包括：白色发光区域，在第一步骤的时段期间，第一子像素、第二子像素以及第三子像素均发光；第一颜色发光区域，在第一步骤的时段期间，第一子像素发光，第二子像素以及第三子像素不发光；第二颜色发光区域，在第一步骤的时段期间，第二子像素发光，第一子像素以及第三子像素不发光；以及第三颜色发光区域，在第一步骤的时段期间，第三子像素发光，第一子像素以及第二子像素不发光。

可以是，第二区域包括：低灰度图像显示区域，在第一步骤的时段期间，用于显示预设定的灰度级以下的低灰度级图像的数据电压施加到第一子像素、第二子像素以及第三子像素；第一颜色的互补色发光区域，在第一步骤的时段期间，第一子像素不发光，第二子像素以及第三子像素发光；第二颜色的互补色发光区域，在第一步骤的时段期间，第二子像素不发光，第一子像素以及第三子像素发光；以及第三颜色的互补色发光区域，在第一步骤的时段期间，第三子像素不发光，第一子像素以及第二子像素发光。

可以是，第一子像素、第二子像素以及第三子像素的每一个包括：发光元件；第一晶体管，为了驱动发光元件而构成；第二晶体管，驱动时序通过第一扫描信号控制，为了切换多个数据线中的任一个数据线和第一晶体管之间的电连接而构成；以及第三晶体管，驱动时序通过第二扫描信号控制，为了切换第一晶体管的漏极节点和栅极节点之间的电连接而构成。

可以是，多个像素的每一个包括发光元件，发光元件包括有机发光层。

根据本发明的显示面板以及显示面板的寿命测定方法可以提供能够客观掌握显示装置的发光效率的显示面板以及显示面板的寿命测定方法。

根据本发明的显示面板以及显示面板的寿命测定方法提供能够考虑构成显示面板的晶体管的特性变化来更加客观掌握显示装置的发光效率的显示面板以及显示面板的寿命测定方法。

附图说明

图1是根据本公开的实施例的显示装置的系统框图。

图2是示例性示出根据本公开的实施例的像素的图。

图3是示例性示出根据本公开的实施例的子像素的电路图的图。

图4是根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法的一示例。

图5是根据图4的显示面板的寿命测定方法测定的显示面板的亮度变化曲线图。

图6是根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法的另一示例。

图7a是用多个组合示出根据图6的实施例的红色子像素的寿命的表。

图7b是按照图7a中提示的组合示出的红色子像素的寿命曲线图。

图8a是用多个组合示出根据图6的实施例的绿色子像素的寿命的表。

图8b是按照图8a中提示的组合示出的绿色子像素的寿命曲线图。

图9a是用多个组合示出根据图6的实施例的蓝色子像素的寿命的表。

图9b是按照图9a中提示的组合示出的蓝色子像素的寿命曲线图。

图10是根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法的又另一示例。

图11是更加具体地示出图10的第二步骤的图。

图12是示出用于测定第1-1区域、第1-2区域、第2-1区域以及第2-2区域的亮度来获取红色子像素的寿命曲线图的方法的表。

图13是示出用于测定第1-1区域、第1-3区域、第2-1区域以及第2-3区域的亮度来获取绿色子像素的寿命曲线图的方法的表。

图14是示出用于测定第1-1区域、第1-4区域、第2-1区域以及第2-4区域的亮度来获取蓝色子像素的寿命曲线图的方法的表。

(附图标记说明)

100：显示装置 110：显示面板

120：数据驱动电路 130：扫描驱动电路

140：发光驱动电路 150：时序控制器

400、600、1000：显示面板的寿命测定方法

610：第一数据电压 620：第二数据电压

630：第三数据电压

1010：用于显示白色图像的数据电压

1012：用于显示黑色图像的数据电压

1015：用于显示原色图像的数据电压

1020、1025、1110：用于显示红色图像的数据电压

1022：用于显示青绿色图像的数据电压

1030、1035、1120：用于显示绿色图像的数据电压

1032：用于显示品红色图像的数据电压

1040、1045、1130：用于显示蓝色图像的数据电压

1042：用于显示黄色图像的数据电压

具体实施方式

以下，参照所附的附图详细说明本发明的各实施例，以使得本发明所属技术领域中具有通常知识的人能够容易实施。本发明能够以多种不同方式来实现，但并不限于在此说明的实施例。

为了清楚地说明本发明，省略了与说明无关的部分，在说明书全文中针对相同或相似的构成要件标注相同的附图标记。因此，先前说明的附图标记也可以用于其它附图。

另外，附图中示出的各个结构的大小及厚度是为了方便说明而任意示出的，因此本发明并不是必须限定于图示那样的情况。在附图中，为了清楚表达多个层及区域，可以夸张地示出厚度。

另外，说明中表述为“相同”可以意指“实质上相同”。即，可以是具有通常知识的人能够理解为相同的程度的相同。其余的表述也可以是省略“实质上”的表述。

以下，参照所附的附图详细说明本公开的实施例。

图1是根据本公开的实施例的显示装置100的系统框图。

参照图1，根据本公开的实施例的显示装置100可以包括显示面板110、数据驱动电路120、扫描驱动电路130、发光驱动电路140以及时序控制器150等。

显示面板110可以包括基板SUB。显示面板110可以包括配置在基板SUB上的多个数据线DL1、…、DLm。m可以是2以上的自然数。从数据驱动电路120输出的数据电压可以施加到多个数据线DL1、…、DLm。

显示面板110可以包括配置在基板SUB上的多个扫描线S11、…、S1n、S21、…、S2n、S31、…、S3n、S41、…、S4n。n可以是2以上的自然数。从扫描驱动电路130输出的扫描信号可以输入到多个扫描线S11、…、S1n、S21、…、S2n、S31、…、S3n、S41、…、S4n。

显示面板110可以包括配置在基板SUB上的多个发光控制线E1、…、En。从发光驱动电路140输出的发光信号可以输入到多个发光控制线E1、…、En。

作为一例，基板SUB可以是玻璃基板。另外，作为一例，基板SUB可以是能够弯曲以能够提供柔性功能的塑料基板。作为一例，塑料基板可以是聚酰亚胺基板(Polyimide基板；又简称为PI基板)。

数据驱动电路120可以从时序控制器150接收图像数据RGB和数据驱动电路控制信号DCS而生成数据电压，并将生成的数据电压向多个数据线DL1、…、DLm输出。

扫描驱动电路130可以从时序控制器150接收扫描驱动电路控制信号SCS而生成扫描信号，并将生成的扫描信号向多个扫描线S11、…、S1n、S21、…、S2n、S31、…、S3n、S41、…、S4n输出。

发光驱动电路140可以从时序控制器150接收发光驱动电路控制信号ECS而生成发光信号，并将生成的发光信号向多个发光控制线E1、…、En输出。

时序控制器150可以从AP(应用程序处理器；Application Processor)之类外部的主机系统(未示出)通过预先确定的接口接收输入图像数据IRGB以及各种控制信号。作为一例，接口可以使用LVDS(低电压差分信号；Low Voltage Differential Signaling)、SPI(串行外设接口；Serial Peripheral Interface)、I2C、eDP(嵌入式显示接口；embeddedDisplay Port)等。

时序控制器150可以基于输入的输入图像数据IRGB以及输入的控制信号，生成并输出扫描驱动电路控制信号SCS、发光驱动电路控制信号ECS、数据驱动电路控制信号DCS等。时序控制器150可以重新排列输入图像数据IRGB来生成图像数据RGB，并将生成的图像数据RGB向数据驱动电路120输出。

数据驱动电路120可以基于输入的图像数据RGB和数据驱动电路控制信号DCS等，将与图像数据RGB的灰度相对应的电压的数据电压向多个数据线DL1、…、DLm输出。

扫描驱动电路130可以生成导通逻辑电平或者截止逻辑电平的扫描信号，并将生成的扫描信号向多个扫描线S11、…、S1n、S21、…、S2n、S31、…、S3n、S41、…、S4n按照时序输出。作为一例，多个扫描线S11、…、S1n、S21、…、S2n、S31、…、S3n、S41、…、S4n可以包括第一扫描线S11、…、S1n、第二扫描线S21、…、S2n、第三扫描线S31、…、S3n、第四扫描线S41、…、S4n。

另一方面，导通逻辑电平的扫描信号可以是高电平电压或低电平电压。截止逻辑电平的扫描信号可以是低电平电压或高电平电压。

例如，可以是，PMOS(P沟道金属氧化物半导体；P-channel Metal OxideSemiconductor)晶体管的导通逻辑电平是低电平电压，PMOS晶体管的截止逻辑电平是高电平电压。

例如，可以是，NMOS(N沟道金属氧化物半导体；N-channel Metal OxideSemiconductor)晶体管的导通逻辑电平是高电平电压，NMOS晶体管的截止逻辑电平是低电平电压。

参照图1，位于基板SUB上的一个子像素SP可以与一个数据线DLj电连接。j可以是1以上的自然数。子像素SP可以按照输入导通逻辑电平的扫描信号的时序接收施加到与相应子像素SP电连接的数据线DLj的数据电压。

参照图1，位于基板SUB上的一个子像素SP可以与第一扫描线S1i、第二扫描线S2i、第三扫描线S3i以及第四扫描线S4i电连接。i可以是1以上的自然数。与一个子像素SP电连接的扫描线的数量可以根据子像素SP结构的设计而改变。

发光驱动电路140可以生成导通逻辑电平或者截止逻辑电平的发光信号，并将生成的发光信号向多个发光控制线E1、…、En按照时序输出。导通逻辑电平的发光信号可以是高电平电压或低电平电压。截止逻辑电平的发光信号可以是低电平电压或高电平电压。

参照图1，位于基板SUB上的一个子像素SP可以与发光控制线Ei电连接。与一个子像素SP电连接的发光控制线的数量可以根据子像素SP结构的设计而改变。

数据驱动电路120可以位于显示面板110的一侧(例：上侧或者下侧)，也可以位于显示面板110的两个以上的侧面(例：上侧以及下侧)。

扫描驱动电路130可以位于显示面板110的一侧(例：左侧或者右侧)，也可以位于显示面板110的两个以上的侧面(例：左侧以及右侧)。

发光驱动电路140可以位于显示面板110的一侧(例：右侧或者左侧)，也可以位于显示面板110的两个以上的侧面(例：左侧以及右侧)。

多个数据线DL1、…、DLm可以在第一方向上延伸。多个扫描线S11、…、S1n、S21、…、S2n、S31、…、S3n、S41、…、S4n可以在与第一方向不同的第二方向上延伸。多个发光控制线E1、…、En可以在所述第二方向上延伸。

作为一例，第一方向可以是纵向方向(又称为列方向、上下方向、垂直方向)，第二方向可以是横向方向(又称为行方向、左右方向、水平方向)，但本发明不限于此。

图1所示的数据驱动电路120、扫描驱动电路130、发光驱动电路140以及时序控制器150是用于驱动显示面板110的功能上的分类。上述的结构也可以分别以单独的集成电路实现，上述的结构中的两个以上的结构也可以整合为一个集成电路来实现。

参照图1，根据本公开的实施例的显示装置100可以还包括电源管理电路(未示出)，所述电源管理电路用于供应用于驱动显示面板110的第一电源电压VDD、第二电源电压VSS、第三电源电压VINT1(又称为第一初始化电压)、第四电源电压VINT2(又称为第二初始化电压)。

根据本公开的实施例的显示装置100可以是不包括背光单元等而自行发光的自发光显示装置。

当根据本公开的实施例的显示装置100是自发光显示装置时，子像素SP可以包括发光元件。作为一例，发光元件可以是包括有机发光层的有机发光元件或包括无机发光层的无机发光元件。

图2是示例性示出根据本公开的实施例的像素PX的图。

参照图2，根据本公开的实施例的像素PX可以包括两个以上的子像素SP。

例如，一个像素PX可以包括第一子像素SP1、第二子像素SP2以及第三子像素SP3。

第一子像素SP1、第二子像素SP2以及第三子像素SP3可以分别发出原色光以能够构成光的三原色。

第一子像素SP1可以是发出第一颜色的光的子像素SP。第二子像素SP2可以是发出与第一颜色不同的第二颜色的光的子像素SP。第三子像素SP3可以是发出与第一颜色以及第二颜色不同的第三颜色的光的子像素SP。

作为一例，第一颜色可以是属于红色(Red)波段的颜色。作为一例，第二颜色可以是属于绿色(Green)波段的颜色。作为一例，第三颜色可以是属于蓝色(Blue)波段的颜色。

例如，第一子像素SP1可以发出属于约630nm～750nm的波段的光。例如，第二子像素SP2可以发出属于约495nm～570nm的波段的光。例如，第三子像素SP3可以发出属于约450nm～495nm的波段的光。

与前述的情况不同，第一子像素SP1也可以发出属于绿色波段或者蓝色波段的光，第二子像素SP2也可以发出属于蓝色波段或者红色波段的光，第三子像素SP3也可以发出属于红色波段或者绿色波段的光。

以下，为了便于说明，说明为第一子像素SP1假设为发出红色光的子像素SP，第二子像素SP2假设为发出绿色光的子像素SP，第三子像素SP3假设为发出蓝色光的子像素SP，但本发明不限于此。

一个像素PX可以包括一个以上的第一子像素SP1。一个像素PX可以包括一个以上的第二子像素SP2。一个像素PX可以包括一个以上的第三子像素SP3。

参照图2，在一个像素PX中可以包括相同数量的第一子像素SP1、第二子像素SP2以及第三子像素SP3。例如，在一个像素PX中可以包括一个第一子像素SP1、一个第二子像素SP2以及一个第三子像素SP3。

与此不同，包括在一个像素PX中的第一子像素SP1、第二子像素SP2以及第三子像素SP3中的任一个子像素的数量可以与另外两个子像素的数量不同。例如，包括在一个像素PX中的第一子像素SP1的数量可以与第二子像素SP2的数量不同，并与第三子像素SP3的数量不同。

参照图2，包括在一个像素PX中的第一子像素SP1、第二子像素SP2以及第三子像素SP3的发光的发光面的面积可以彼此相同。

与此不同，包括在一个像素PX中的第一子像素SP1、第二子像素SP2以及第三子像素SP3中的任一个子像素的发光面的面积可以与另外两个子像素的发光面的面积彼此不同。

参照图2，包括在一个像素PX中的第一子像素SP1、第二子像素SP2以及第三子像素SP3可以在横向方向上并排排列。

与此不同，包括在一个像素PX中的第一子像素SP1、第二子像素SP2以及第三子像素SP3可以根据设计在纵向方向上并排排列、或以

根据输入到子像素SP的数据电压的电平，包括相应子像素SP的一个像素PX所显示的图像的灰度可以改变。

图3是示例性示出根据本公开的实施例的子像素SP的电路图的图。

在图3中，为了便于说明，以位于第i个水平线(或者第i个像素行)且接通到第j个数据线DLj的子像素SP为例进行说明。

参照图3，根据本公开的实施例的子像素SP可以包括发光元件LE、第一至第七晶体管T1～T7以及储存电容器Cst等。

发光元件LE可以包括与第四节点N4电连接的第一电极和与供应第二电源电压VSS的第二电源线PL2电连接的第二电极。发光元件LE的第一电极可以是阳极电极或者阴极电极。发光元件LE的第二电极可以是阴极电极或者阳极电极。发光元件LE可以对应于从第一晶体管T1供应的电流量(或者驱动电流)而生成(或者发出)预定亮度的光。

在一实施例中，发光元件LE可以是包括有机发光层的有机发光二极管。在另一实施例中，发光元件LE可以是包括无机物质的无机发光元件。在另一实施例中，发光元件LE也可以是无机物质以及有机物质复合构成的发光元件。或者，发光元件LE也可以具有多个无机发光元件并联和/或串联连接在第二电源线PL2和第四节点N4之间的形式。

参照图3，第一晶体管T1的栅极电极电连接于第一节点N1。第一晶体管T1的第一电极(源极电极或者漏极电极)电连接于第二节点N2。第一晶体管T1的第二电极(漏极电极或者源极电极)电连接于第三节点N3。

第一晶体管T1可以作为为了向发光元件LE供应驱动电流而构成的驱动晶体管发挥功能。根据施加到第一节点N1的电压的电平，施加到第一晶体管T1的栅极电极的电压的电平改变。

驱动电流从被施加与第一电源电压VDD实质上相同的电压的第二节点N2经由第一晶体管T1和发光元件LE向朝向被施加第二电源电压VSS的第二电源线PL2的方向流动。由此，第一电源电压VDD的电压电平可以设定为高于第二电源电压VSS的电压电平。

第二晶体管T2可以为了切换第j个数据线DLj(以下，简称为数据线DLj)和第二节点N2之间的电连接而构成。第二晶体管又称为开关晶体管。第二晶体管T2的栅极电极可以与第i个第一扫描线S1i(以下，简称为第一扫描线S1i)电连接。第二晶体管T2可以在导通电平的第一扫描信号GW[i]施加到第一扫描线S1i时导通。若第二晶体管T2导通，则数据线DLj和第二节点N2可以电连接。

第三晶体管T3可以为了切换第一晶体管T1的第二电极和第一晶体管T1的栅极电极之间的电连接而构成。第三晶体管T3又称为补偿晶体管。第三晶体管T3电连接于第一晶体管T1的第二电极和第三节点N3。第三晶体管T3电连接于第一晶体管T1的栅极电极和第一节点N1。

第三晶体管T3的栅极电极可以与第i个第二扫描线S2i(以下，简称为第二扫描线S2i)电连接。第三晶体管T3可以在导通电平的第二扫描信号GC[i]供应到第二扫描线S2i时导通。若第三晶体管T3导通，则第一晶体管T1的第二电极和栅极电极电连接。若第三晶体管T3导通，则第一晶体管T1以二极管形式接通。

第四晶体管T4可以为了切换第一晶体管T1的栅极电极和第一初始化电压线VINTL1之间的电连接而构成。第四晶体管T4又称为第一初始化晶体管。第四晶体管T4可以电连接于第一晶体管T1的栅极电极和第一节点N1。第四晶体管T4可以电连接于第三晶体管T3和第一节点N1。

第四晶体管T4的栅极电极可以与第i个第三扫描线S3i(以下，简称为第三扫描线S3i)电连接。第四晶体管T4可以在导通电平的第三扫描信号GI[i]供应到第三扫描线S3i时导通。若第四晶体管T4导通，则第一节点N1的电压(或者第一晶体管T1的栅极电极的电压)可以初始化为第一初始化电压VINT1。

第五晶体管T5可以为了切换第一电源线PL1和第一晶体管T1的第一电极之间的电连接而构成。第五晶体管T5又称为第一发光控制晶体管。第一晶体管T1和第五晶体管T5可以电连接于第二节点N2。

第五晶体管T5的栅极电极可以与第i个发光控制线Ei(以下，简称为发光控制线Ei)电连接。第五晶体管T5可以在导通电平的发光信号EM[i]供应到发光控制线Ei时导通。若第五晶体管T5导通，则第一电源电压VDD可以施加到第二节点N2。

第六晶体管T6可以为了切换第一晶体管T1的第二电极和发光元件LE的第一电极之间的电连接而构成。第六晶体管T6可以电连接于第一晶体管T1的第二电极和第三节点N3。第六晶体管T6可以电连接于发光元件LE的第一电极和第四节点N4。第六晶体管T6又称为第二发光控制晶体管。

参照图3，第六晶体管T6的栅极电极可以与发光控制线Ei电连接。第六晶体管T6可以在导通电平的发光信号EM[i]供应到发光控制线Ei时导通。即，第六晶体管T6和第五晶体管T5可以由相同的发光信号EM[i]控制工作时序。由此，第六晶体管T6和第五晶体管T5可以在实质上相同的时序中导通或截止。

另一方面，虽然示出为第六晶体管T6和第五晶体管T5电连接于相同的发光控制线Ei，但其是示例性的。第六晶体管T6和第五晶体管T5也可以由通过彼此不同的发光控制线供应的发光信号控制工作时序。

第七晶体管T7可以为了切换发光元件LE的第一电极和第二初始化电压线VINTL2之间的电连接而构成。第七晶体管T7又称为第二初始化晶体管。第七晶体管T7和发光元件LE的第一电极可以电连接于第四节点N4。

第七晶体管T7的栅极电极可以与第四扫描线S4i电连接。第七晶体管T7可以在导通电平的第四扫描信号GB[i]供应到第四扫描线S4i时导通。若第七晶体管T7导通，则第四电源电压VINT2可以施加到第四节点N4。若第四电源电压VINT2施加到第四节点N4，则施加到发光元件LE的第一电极的电压可以初始化为第四电源电压VINT2。

储存电容器Cst可以包括与第一电源线PL1电连接的一端和电连接于第一节点N1的另一端。储存电容器Cst可以存储从施加到第一电源线PL1的第一电源电压VDD和施加到第一节点N1的数据电压VDATA中减去第一晶体管T1的绝对值阈值电压的电压之间的差电压。

参照图3，根据本公开的实施例的子像素SP的第一至第七晶体管T1～T7中的一个以上的晶体管可以是包括多晶硅(Polycrystalline Silicon；又简称为Polysilicon)的半导体层的多晶硅晶体管。作为一例，多晶硅晶体管可以是包括低温多晶硅(LTPS：LowTemperature Polycrystalline Silicon)的半导体层的晶体管。与包括非晶硅(AmorphousSilicon；又简称为a-Si)的半导体层的非晶硅晶体管相比，多晶硅晶体管具有高的电子迁移率。由此，与非晶硅晶体管相比，多晶硅晶体管可以具有快的驱动特性。

第一晶体管T1、第二晶体管T2、第五晶体管T5、第六晶体管T6以及第七晶体管T7可以分别是PMOS晶体管或NMOS晶体管。

第三晶体管T3以及第四晶体管T4可以是包括由氧化物半导体(oxidesemiconductor)实现的半导体层的氧化物半导体晶体管。

与非晶硅晶体管相比，氧化物半导体晶体管具有高的电子迁移率。与多晶硅晶体管相比，氧化物半导体晶体管可以具有低的电子迁移率。与多晶硅晶体管相比，氧化物半导体晶体管的截止状态时的泄漏电流量可以更小。

第三晶体管T3以及第四晶体管T4可以分别是NMOS晶体管或PMOS晶体管。

以下，假设说明为根据本公开的实施例的子像素SP包括由PMOS晶体管实现的第一晶体管T1、第二晶体管T2、第五晶体管T5、第六晶体管T6以及第七晶体管T7和由NMOS晶体管实现的第三晶体管T3以及第四晶体管T4，但本发明不限于此。

另一方面，第一至第七晶体管T1～T7可以形成在基板SUB(参照图1)上，这种基板SUB可以是聚酰亚胺基板。

当光流入到聚酰亚胺基板时，可能发生从聚酰亚胺基板向晶体管方向诱导负电荷(-电荷)的现象。这种现象又称为“聚酰亚胺基板充电(或者PI基板充电)现象”。

若发生聚酰亚胺基板充电现象，位于发生相应现象的区域上的晶体管的驱动特性可能会变化。作为一例，驱动特性的变化可能是晶体管的阈值电压(threshold voltage；又称为Vth)的变动。

参照图3，若由于聚酰亚胺基板充电现象而第一晶体管T1的阈值电压发生变动，则流向发光元件LE的电流的电流量可能发生改变。发光元件LE的亮度由流向发光元件LE的电流的电流量控制，因此，发光元件LE的亮度可能由于第一晶体管T1的阈值电压变动而发生改变。

另外，参照图3，若由于聚酰亚胺基板充电现象而第一晶体管T1的阈值电压发生变动，则施加到第一节点N1的电压发生改变。由此，施加到储存电容器Cst的另一端的电压发生改变而施加到第一晶体管T1的栅极电极的电压的电平发生改变。根据施加到第一晶体管T1的栅极电极的电压发生改变，流向第一晶体管T1的电流的电流量可能发生改变，此时，流向发光元件LE的电流的电流量可能发生改变。

根据上述情况，若由于光而发生聚酰亚胺基板充电现象，则位于发生聚酰亚胺基板充电现象的区域周边的发光元件LE的亮度可能发生改变。

引起聚酰亚胺基板充电现象的光可能是从显示面板110(参照图1)的外部入射到基板SUB(参照图1)的光(即，外部光)，也可能是子像素SP发光而从显示面板110内部入射到基板SUB(参照图1)的光(即，内部光)。

聚酰亚胺基板充电现象又称为薄膜晶体管引起性亮度减少(又称为“TFT引起性亮度减少”)，若去除(或者减少)由于光导致的影响，则可以容易缓解相应现象。在这方面，聚酰亚胺基板充电现象区别于随着由于发光元件LE的劣化导致的发光元件LE的发光效率减少而亮度降低的残像识别现象(又称为“Sticking现象”)。

由于发光元件LE的劣化导致的残像识别现象可能在发光元件LE包括有机发光层的情况下发生。由于发光元件LE的劣化导致的残像识别现象可能不容易缓解或者根据情况永久地发生。

随之，随着时间测定发光元件LE的亮度变化来测定发光元件LE的亮度按照预设定的比率减少所需的时间，从而将测定的时间可以定义为“显示面板的寿命”。

但是，在测定显示面板的寿命时，难以区分由于聚酰亚胺基板充电现象导致的发光元件LE的亮度减少和由于发光元件LE的劣化导致的发光元件LE的亮度减少的效果，因此，实际情况是，需要客观的显示面板的寿命测定方法。

图4是根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法400的一示例。

参照图4，根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法400可以包括第一步骤(STEP 1)和第二步骤(STEP 2)。

参照图4，显示面板110可以包括第一区域(REGION 1)和与第一区域(REGION 1)不重叠的第二区域(REGION 2)。在第一区域(REGION 1)和第二区域(REGION 2)中可以分别包括一个以上的像素PX。

在第一步骤(STEP 1)中，用于显示低灰度图像的数据电压可以输入到位于第一区域(REGION 1)的像素PX。

作为一例，低灰度图像可以包括预设定的灰度级以下的图像。在本发明中的预设定的灰度级可以是包括对周边子像素不引起聚酰亚胺基板充电现象或者以极小水平引起聚酰亚胺基板充电现象的程度的灰度级的概念。

作为一例，用于显示低灰度图像的数据电压可以是用于显示黑色图像的数据电压BLACK。以下，为了便于说明，将用于显示黑色图像的数据电压BLACK施加到第一区域(REGION 1)的情况作为例子进行说明，但本发明不限于此。

黑色图像可以是红色子像素、绿色子像素以及蓝色子像素均不发光的图像。例如，当包括在一个像素中的红色子像素、绿色子像素以及蓝色子像素的每一个以0～255灰度为基准显示0(zero)灰度的图像时，相应像素可以显示黑色图像。

用于显示黑色图像的数据电压BLACK可以意指用于显示施加到红色子像素的0灰度的图像的数据电压、用于显示施加到绿色子像素的0灰度的图像的数据电压以及用于显示施加到蓝色子像素的0灰度的图像的数据电压。

参照图4，在第一步骤(STEP 1)中，用于显示白色图像的数据电压WHITE可以输入到第二区域(REGION 2)。作为一例，用于显示白色图像的数据电压WHITE可以意指用于显示施加到红色子像素的255灰度的图像的数据电压、用于显示施加到绿色子像素的255灰度的图像的数据电压以及用于显示施加到蓝色子像素的255灰度的图像的数据电压。

由此，在第一步骤(STEP 1)中，位于第一区域(REGION 1)的像素PX不发光。随之，位于第一区域(REGION 1)的像素PX不发生发光元件LE(参照图3)的劣化。

另外，位于第一区域(REGION 1)的像素PX是，位于周边的像素PX不发光，从而由于内部光导致的影响可能极小。随之，位于第一区域(REGION 1)的像素PX也几乎不发生由于内部光导致的聚酰亚胺基板充电现象。

与此相反，位于第二区域(REGION 2)的像素PX发光。随之，位于第二区域(REGION2)的像素PX发生发光元件LE的劣化。

另外，位于第二区域(REGION 2)的像素PX是，位于周边的像素PX发光，从而由于内部光导致的影响可能大。随之，位于第二区域(REGION 2)的像素PX可能发生由于内部光导致的聚酰亚胺基板充电现象。

在第二步骤(STEP 2)中用于显示白色图像的数据电压WHITE可以输入到位于第一区域(REGION 1)和第二区域(REGION 2)的像素PX。

在第二步骤(STEP 2)中，位于第一区域(REGION 1)和第二区域(REGION 2)的像素PX是，由于发光元件LE(参照图3)的劣化以及聚酰亚胺基板充电现象的有无，即使接收了实质上相同的数据电压，也可以以彼此不同的亮度发光。

在第二步骤(STEP 2)中，可以比较位于第二区域(REGION 2)的像素PX的亮度和位于第一区域(REGION 1)的像素PX的亮度来算出位于第二区域(REGION 2)的像素PX的亮度相对减少的比率。

在第二步骤(STEP 2)中，可以在比较位于第一区域(REGION 1)的像素PX的亮度和位于第二区域(REGION 2)的像素PX的亮度之后，返回到第一步骤(STEP 1)。

即，第一步骤(STEP 1)是引起像素PX的亮度变化的步骤。这种亮度变化可能是由于子像素的发光导致的发光层的发光效率减少造成的变化。另外，这种亮度变化可能是由于随着一个像素PX中位于周边的子像素发光而发生的聚酰亚胺充电现象引起的变化。

第二步骤(STEP 2)是测定经过第一步骤(STEP 1)的像素PX的变化的亮度的步骤。为了测定像素PX的变化的亮度，用于显示白色图像的数据电压WHITE可以输入到像素PX。

通过重复其，根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法400可以算出显示面板110的寿命。

上述的第一步骤(STEP 1)和第二步骤(STEP 2)与测定显示面板110的耐久性的工艺相对应，这种工艺又称为老化工艺。

参照图4，第二区域(REGION 2)示出为显示面板110中的第一区域(REGION 1)的其余区域的全部，但本发明不限于此。例如，在显示面板110中可以存在除了第一区域(REGION1)和第二区域(REGION 2)之外的其余区域。第一区域(REGION 1)和第二区域(REGION 2)可以不相接而彼此相隔。此时，可以在第一区域(REGION 1)和第二区域(REGION 2)之间存在中间区域(未示出)。

显示面板110的第一区域(REGION 1)和第二区域(REGION 2)的面积可以相同。

图5是根据图4的显示面板的寿命测定方法400测定的显示面板的亮度变化曲线图。

参照图5，亮度变化曲线图是将时间(TIME)为x轴且将亮度的比率(LUMINANCERATIO)为y轴的曲线图。

在此，亮度的比率(LUMINANCE RATIO)是将随着时间推移测定的第二区域(REGION2)(参照图4)的亮度值(LUMINANCE OF REGION 2)除以在相应时间测定的第一区域(REGION1)的亮度值(LUMINANCE OF REGION 1)的值。

参照图5，时间是0时是出现发光元件的劣化以及聚酰亚胺基板的充电现象之前，算出的亮度的比率是1。在此，1相当于初始值(INITIAL)。

参照图5，从初始时间点到第一时间点t1的时段定义为第一时段P1。在第一时段P1期间，发光元件的劣化和聚酰亚胺基板的充电均进行。由此，亮度的比率可以急剧减小。聚酰亚胺基板的充电在第一时间点t1处达到最大值，可能不会再进行。

从第一时间点t1到第二时间点t2的时段定义为第二时段P2。在第二时段P2期间，发光元件的劣化可能持续地进行。由此，在第二时段P2期间，亮度的比率可以随着时间减小。然而，第二时段P2是聚酰亚胺基板的充电结束之后的时段，与第一时段P1相比，亮度的比率减小的斜率可能更小。

从第二时间点t2到第三时间点t3的时段定义为第三时段P3。第三时段P3可以是为了初始化聚酰亚胺基板的充电现象而构成的时段。

例如，在第三时段P3中可以还向前述的第一步骤(STEP 1)(参照图4)的第二区域(REGION 2)输入用于显示黑色图像的数据电压BLACK(参照图4)。由此，可以在第三时段P3期间缓解由于内部光导致的影响。

第四时段P4定义为从第三时间点t3到第四时间点t4的时段。第四时段P4可以包括聚酰亚胺基板的充电和发光元件的劣化均进行的时段。在第四时段P4之后可以还存在用于缓解聚酰亚胺基板的充电现象的时段(即，发挥第三时段P3的功能的时段)。

参照图5，亮度的比率可以在除了第三时段P3之外的第一时段P1、第二时段P2以及第四时段P4期间减小。

可以将亮度的比率从初始值(INITIAL)达到目标值(TARGET)所需的时间定义为“显示面板的寿命”。

参照图5，作为一例，达到目标值(TARGET)的时间点可以是第四时间点t4。

图5中所示的目标值(TARGET)是0.93，其将亮度的比率从初始值(INITIAL)减小7％为止所需的时间定义为“显示面板的寿命”。目标值(TARGET)可以定为与此不同的值。

“显示面板的寿命”可以定义为将第一时段P1、第二时段P2、第三时段P3以及第四时段P4的长度相加的值。或者，仅考虑显示面板110(参照图1)实质上发光的时段，从而“显示面板的寿命”也可以定义为将第一时段P1、第二时段P2以及第四时段P4的长度相加的值。

参照前述的图4和图5，根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法400是排除暂时发生的聚酰亚胺基板的充电现象来测定显示面板的寿命的方法，可以客观地获知显示面板110(参照图1)的寿命。

图6是根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法600的另一示例。

图6中所示的显示面板的寿命测定方法600与前述的图4中所示的显示面板的寿命测定方法400有类似部分，因此，主要说明两个方法之间的区别点，省略一部分共同的说明。

参照图6，根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法600包括第一步骤(STEP 1)和第二步骤(STEP 2)。

在第一步骤(STEP 1)中，第一数据电压610施加到位于第一区域(REGION 1)的像素PX，第二数据电压620施加到位于第二区域(REGION 2)的像素PX。

在此，第一数据电压610可以是前述的用于显示白色图像的数据电压WHITE(参照图4)。

由此，在第一步骤(STEP 1)中，在位于第一区域(REGION 1)的各个像素PX中均可能发生发光元件的劣化现象和由于内部光的影响导致的聚酰亚胺基板的充电现象。

与此不同，第一数据电压610可以是用于仅使位于第一区域(REGION 1)的红色子像素发光的电压、用于仅使位于第一区域(REGION 1)的绿色子像素发光的电压或者用于仅使位于第一区域(REGION 1)的蓝色子像素发光的电压。

例如，第一数据电压610可以是使红色子像素以255灰度发光且分别以0灰度显示绿色子像素和蓝色子像素的电压。

例如，第一数据电压610可以是使绿色子像素以255灰度发光且分别以0灰度显示红色子像素和蓝色子像素的电压。

例如，第一数据电压610可以是使蓝色子像素以255灰度发光且分别以0灰度显示红色子像素和绿色子像素的电压。

由此，在第一步骤(STEP 1)中，在各个像素PX中发生发光元件的劣化现象但相邻的子像素不发光，从而可以不发生由于内部光的影响导致的聚酰亚胺基板的充电现象。

综上所述，为了测定位于第一区域(REGION 1)中的子像素的寿命，可以分为有内部光的影响的情况和没有内部光的影响的情况来测定亮度变化。

另一方面，第二数据电压620可以是前述的用于显示黑色图像的数据电压BLACK(参照图4)。

由此，在第一步骤(STEP 1)中，在位于第二区域(REGION 2)的各个像素PX中可以均不发生发光元件的劣化现象和由于内部光的影响导致的聚酰亚胺基板的充电现象。

与此不同，第二数据电压620可以是用于显示红色的互补色(即，青绿色(cyan))图像的电压、用于显示绿色的互补色(即，品红色(magenta))图像的电压或者用于显示蓝色的互补色(即，黄色(yellow))图像的电压。

例如，第二数据电压620可以是以0灰度显示红色子像素且使绿色子像素和蓝色子像素分别以255灰度发光的电压。

例如，第二数据电压620可以是以0灰度显示绿色子像素且使红色子像素和蓝色子像素分别以255灰度发光的电压。

例如，第二数据电压620可以是以0灰度显示蓝色子像素且使红色子像素和绿色子像素分别以255灰度发光的电压。

由此，在第一步骤(STEP 1)中，不发生子像素(例：红色子像素)的发光元件的劣化现象，但相邻的子像素(例：绿色子像素以及蓝色子像素)发光，从而可能发生内部光的影响导致的聚酰亚胺基板的充电现象。

即，第一步骤(STEP 1)是引起子像素的亮度变化的步骤。这种亮度变化可能是由于子像素的发光导致的发光层的发光效率减少造成的变化。另外，这种亮度变化可能是由于随着一个像素PX中位于周边的子像素发光而发生的聚酰亚胺充电现象引起的变化。

第二步骤(STEP 2)是测定经过第一步骤(STEP 1)的子像素的变化的亮度的步骤。为了测定子像素的变化的亮度，第三数据电压630可以施加到子像素。在第二步骤(STEP 2)中施加的第三数据电压630可以是在第一区域(REGION 1)以及第二区域(REGION 2)中用于仅使红色子像素发光的电压、用于仅使绿色子像素发光的电压或者用于仅使蓝色子像素发光的电压。

综上所述，为了测定位于第二区域(REGION 2)中的子像素的寿命，可以分为有内部光的影响的情况和没有内部光的影响的情况来测定亮度变化。

因此，根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法600可以组合发光元件的劣化的有无以及内部光的影响的有无来更加客观地获知按照子像素的颜色的寿命。

以下，更加具体地说明测试按照子像素的颜色的寿命的方法。

图7a是用多个组合示出根据图6的实施例的红色子像素的寿命的表。

参照图7a，用表来示出了根据发光元件的劣化的有无以及内部光的影响的有无而用第一组合至第四组合(CASE 1～CASE 4)的四种组合评价红色子像素的寿命的方法。

另一方面，图7a是用于评价红色子像素的寿命的方法，因此，在第二步骤(STEP 2)中第一组合至第四组合(CASE 1～CASE 4)均可以仅使红色子像素发光。例如，在第二步骤(STEP 2)中可以施加用于使红色子像素以255灰度发光的数据电压，并施加用于以0灰度显示绿色子像素和蓝色子像素的数据电压(以下，称为“RED”)。

第一组合(CASE 1)在第一步骤(STEP 1)中，在第一区域(REGION 1)中施加用于显示白色图像的数据电压WHITE，在第二区域(REGION 2)中施加用于显示青绿色图像的数据电压。在此，用于显示青绿色图像的数据电压可以是用于使绿色子像素和蓝色子像素分别以255灰度发光的数据电压以及用于以0灰度显示红色子像素的数据电压(以下，称为“CYAN”)。

即，第一组合(CASE 1)是在第一区域(REGION 1)中有内部光的影响且在第二区域(REGION 2)中有内部光的影响的情况。

第二组合(CASE 2)在第一步骤(STEP 1)中，在第一区域(REGION 1)中施加用于显示白色图像的数据电压WHITE，在第二区域(REGION 2)中施加用于显示黑色图像的数据电压BLACK。

即，第二组合(CASE 2)是在第一区域(REGION 1)中有内部光的影响且在第二区域(REGION 2)中没有内部光的影响的情况。

第三组合(CASE 3)在第一步骤(STEP 1)中，在第一区域(REGION 1)中施加用于显示红色图像的数据电压RED，在第二区域(REGION 2)中施加用于显示青绿色图像的数据电压CYAN。

即，第三组合(CASE 3)是在第一区域(REGION 1)中没有内部光的影响且在第二区域(REGION 2)中有内部光的影响的情况。

第四组合(CASE 4)在第一步骤(STEP 1)中，在第一区域(REGION 1)中施加用于显示红色图像的数据电压RED，在第二区域(REGION 2)中施加用于显示黑色图像的数据电压BLACK。

即，第四组合(CASE 4)是在第一区域(REGION 1)中没有内部光的影响且在第二区域(REGION 2)中没有内部光的影响的情况。

观察第一组合至第四组合(CASE 1～CASE 4)的亮度比率，当在各种条件下显示图像时，可以客观地获知红色子像素的寿命。

根据实验结果，当红色子像素以第二组合(CASE 2)工作时，红色子像素的寿命最长，当红色子像素以第一组合(CASE 1)或者第四组合(CASE 4)工作时，红色子像素的寿命是中间程度，当红色子像素以第三组合(CASE 3)工作时，红色子像素的寿命最短。

图7b是按照图7a中提示的组合示出的红色子像素的寿命曲线图。

图7b所示的曲线图可以在根据图6中说明的显示面板的寿命测定方法600用图7a中的组合测定亮度时获取。

因此，根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法600可以客观地确认红色子像素的寿命。

图8a是用多个组合示出根据图6的实施例的绿色子像素的寿命的表。

参照图8a，用表来示出了根据发光元件的劣化的有无以及内部光的影响的有无而用第一组合至第四组合(CASE 1～CASE 4)的四种组合评价绿色子像素的寿命的方法。

另一方面，图8a是用于评价绿色子像素的寿命的方法，因此，在第二步骤(STEP 2)中第一组合至第四组合(CASE 1～CASE 4)均可以仅使绿色子像素发光。例如，在第二步骤(STEP 2)中可以施加用于使绿色子像素以255灰度发光的数据电压以及用于以0灰度显示红色子像素和蓝色子像素的数据电压(以下，称为“GREEN”)。

第一组合(CASE 1)在第一步骤(STEP 1)中，在第一区域(REGION 1)中施加用于显示白色图像的数据电压WHITE，在第二区域(REGION 2)中施加用于显示品红色图像的数据电压。在此，用于显示品红色图像的数据电压可以是用于使红色子像素和蓝色子像素分别以255灰度发光的数据电压以及用于以0灰度显示绿色子像素的数据电压(以下，称为“MAGENTA”)。

即，第一组合(CASE 1)是在第一区域(REGION 1)中有内部光的影响且在第二区域(REGION 2)中有内部光的影响的情况。

第二组合(CASE 2)在第一步骤(STEP 1)中，在第一区域(REGION 1)中施加用于显示白色图像的数据电压WHITE，在第二区域(REGION 2)中施加用于显示黑色图像的数据电压BLACK。

即，第二组合(CASE 2)是在第一区域(REGION 1)中有内部光的影响且在第二区域(REGION 2)中没有内部光的影响的情况。

第三组合(CASE 3)在第一步骤(STEP 1)中，在第一区域(REGION 1)中施加用于显示绿色图像的数据电压GREEN，在第二区域(REGION2)中施加用于显示品红色图像的数据电压MAGENTA。

即，第三组合(CASE 3)是在第一区域(REGION 1)中没有内部光的影响且在第二区域(REGION 2)中有内部光的影响的情况。

第四组合(CASE 4)在第一步骤(STEP 1)中，在第一区域(REGION 1)中施加用于显示绿色图像的数据电压GREEN，在第二区域(REGION 2)中施加用于显示黑色图像的数据电压BLACK。

即，第四组合(CASE 4)是在第一区域(REGION 1)中没有内部光的影响且在第二区域(REGION 2)中没有内部光的影响的情况。

观察第一组合至第四组合(CASE 1～CASE 4)的亮度比率，当在各种条件下显示图像时，可以客观地获知绿色子像素的寿命。

根据实验结果，当绿色子像素以第二组合(CASE 2)工作时，绿色子像素的寿命最长，当绿色子像素以第一组合(CASE 1)或者第四组合(CASE 4)工作时，绿色子像素的寿命是中间程度，当绿色子像素以第三组合(CASE 3)工作时，绿色子像素的寿命最短。

图8b是按照图8a中提示的组合示出的绿色子像素的寿命曲线图。

图8b所示的曲线图可以在根据图6中说明的显示面板的寿命测定方法600用图8a中的组合测定亮度时获取。

因此，根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法600可以客观地确认绿色子像素的寿命。

图9a是用多个组合示出根据图6的实施例的蓝色子像素的寿命的表。

参照图9a，用表来示出了根据发光元件的劣化的有无以及内部光的影响的有无而用第一组合至第四组合(CASE 1～CASE 4)的四种组合评价蓝色子像素的寿命的方法。

另一方面，图9a是用于评价蓝色子像素的寿命的方法，因此，在第二步骤(STEP 2)中第一组合至第四组合(CASE 1～CASE 4)均可以仅使蓝色子像素发光。例如，在第二步骤(STEP 2)中可以施加用于使蓝色子像素以255灰度发光的数据电压，并施加用于以0灰度显示红色子像素和绿色子像素的数据电压(以下，称为“BLUE”)。

第一组合(CASE 1)在第一步骤(STEP 1)中，在第一区域(REGION 1)中施加用于显示白色图像的数据电压WHITE，在第二区域(REGION2)中施加用于显示黄色图像的数据电压。在此，用于显示黄色图像的数据电压可以是用于使红色子像素和绿色子像素分别以255灰度发光的数据电压以及用于以0灰度显示蓝色子像素的数据电压(以下，称为“YELLOW”)。

即，第一组合(CASE 1)是在第一区域(REGION 1)中有内部光的影响且在第二区域(REGION 2)中有内部光的影响的情况。

第二组合(CASE 2)在第一步骤(STEP 1)中，在第一区域(REGION 1)中施加用于显示白色图像的数据电压WHITE，在第二区域(REGION 2)中施加用于显示黑色图像的数据电压BLACK。

即，第二组合(CASE 2)是在第一区域(REGION 1)中有内部光的影响且在第二区域(REGION 2)中没有内部光的影响的情况。

第三组合(CASE 3)在第一步骤(STEP 1)中，在第一区域(REGION 1)中施加用于显示蓝色图像的数据电压BLUE，在第二区域(REGION 2)中施加用于显示黄色图像的数据电压YELLOW。

即，第三组合(CASE 3)是在第一区域(REGION 1)中没有内部光的影响且在第二区域(REGION 2)中有内部光的影响的情况。

第四组合(CASE 4)在第一步骤(STEP 1)中，在第一区域(REGION 1)中施加用于显示蓝色图像的数据电压BLUE，在第二区域(REGION 2)中施加用于显示黑色图像的数据电压BLACK。

即，第四组合(CASE 4)是在第一区域(REGION 1)中没有内部光的影响且在第二区域(REGION 2)中没有内部光的影响的情况。

观察第一组合至第四组合(CASE 1～CASE 4)的亮度比率，当在各种条件下显示图像时，可以客观地获知蓝色子像素的寿命。

根据实验结果，当蓝色子像素以第二组合(CASE 2)工作时，蓝色子像素的寿命最长，当蓝色子像素以第一组合(CASE 1)或者第四组合(CASE 4)工作时，蓝色子像素的寿命是中间程度，当蓝色子像素以第三组合(CASE 3)工作时，蓝色子像素的寿命最短。

图9b是按照图9a中提示的组合示出的蓝色子像素的寿命曲线图。

图9b所示的曲线图可以在根据图6中说明的显示面板的寿命测定方法600用图9a中的组合测定亮度时获取。

因此，根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法600可以客观地确认蓝色子像素的寿命。

参照前述的图6至图9b，根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法600可以客观地确认各个子像素的寿命。

图10是根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法1000的又另一示例。

参照图10，显示面板的寿命测定方法1000包括第一步骤(STEP 1)和第二步骤(STEP 2)。

显示面板的寿命测定方法1000可以适用于包括第一区域(REGION 1)和第二区域(REGION 2)的显示面板110。第一区域(REGION 1)可以包括第1-1区域(REGION 1-1)、第1-2区域(REGION 1-2)、第1-3区域(REGION 1-3)以及第1-4区域(REGION 1-4)。第二区域(REGION 2)可以包括第2-1区域(REGION 2-1)、第2-2区域(REGION 2-2)、第2-3区域(REGION 2-3)以及第2-4区域(REGION 2-4)。

在第一步骤(STEP 1)中，用于显示白色图像的数据电压1010可以施加到第1-1区域(REGION 1-1)。用于显示白色图像的数据电压1010可以与图4中前述的“WHITE”相同。

在第一步骤(STEP 1)中，用于显示红色图像的数据电压1020可以施加到第1-2区域(REGION 1-2)。用于显示红色图像的数据电压1020可以与图7a中前述的“RED”相同。

在第一步骤(STEP 1)中，用于显示绿色图像的数据电压1030可以施加到第1-3区域(REGION 1-3)。用于显示绿色图像的数据电压1030可以与图8a中前述的“GREEN”相同。

在第一步骤(STEP 1)中，用于显示蓝色图像的数据电压1040可以施加到第1-4区域(REGION 1-4)。用于显示蓝色图像的数据电压1040可以与图9a中前述的“BLUE”相同。

在第一步骤(STEP 1)中，用于显示黑色图像的数据电压1012可以施加到第2-1区域(REGION 2-1)。用于显示黑色图像的数据电压1012可以与图4中前述的“BLACK”相同。

在第一步骤(STEP 1)中，用于显示青绿色图像的数据电压1022可以施加到第2-2区域(REGION 2-2)。用于显示青绿色图像的数据电压1022可以与图7a中前述的“CYAN”相同。

在第一步骤(STEP 1)中，用于显示品红色图像的数据电压1032可以施加到第2-3区域(REGION 2-3)。用于显示品红色图像的数据电压1032可以与图8a中前述的“MAGENTA”相同。

在第一步骤(STEP 1)中，用于显示黄色图像的数据电压1042可以施加到第2-4区域(REGION 2-4)。用于显示黄色图像的数据电压1042可以与图9a中前述的“YELLOW”相同。

在第二步骤(STEP 2)中，用于显示红色图像的数据电压1025可以施加到第1-2区域(REGION 1-2)和第2-2区域(REGION 2-2)。用于显示红色图像的数据电压1025可以与图7a中前述的“RED”相同。

在第二步骤(STEP 2)中，用于显示绿色图像的数据电压1035可以施加到第1-3区域(REGION 1-3)和第2-3区域(REGION 2-3)。用于显示绿色图像的数据电压1035可以与图8a中前述的“GREEN”相同。

在第二步骤(STEP 2)中，用于显示蓝色图像的数据电压1045可以施加到第1-4区域(REGION 1-4)和第2-4区域(REGION 2-4)。用于显示蓝色图像的数据电压1045可以与图9a中前述的“BLUE”相同。

另一方面，在第二步骤(STEP 2)中，用于显示原色图像的数据电压1015可以施加到第1-1区域(REGION 1-1)和第2-1区域(REGION 2-1)。

用于显示原色图像的数据电压1015可以包括用于显示红色图像的数据电压1025、用于显示绿色图像的数据电压1035以及用于显示蓝色图像的数据电压1045。在图11中更加详细地说明用于显示原色图像的数据电压1015。

根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法1000，可以在一个显示面板110中容易地测试前述的图7a、图8a以及图9a的表中所示的组合。

由此，根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法1000，可以客观地确认显示面板110的寿命，同时可以大大缩短测定显示面板110的寿命所需的时间。

图11是更加具体地示出图10的第二步骤(STEP 2)的图。

参照图11，第二步骤(STEP 2)可以包括第2-1步骤(STEP 2-1)、第2-2步骤(STEP2-2)以及第2-3步骤(STEP 2-3)。

在第2-1步骤(STEP 2-1)中，用于显示红色图像的数据电压1110可以施加到第1-1区域(REGION 1-1)和第2-1区域(REGION 2-1)。

施加到第1-1区域(REGION 1-1)和第2-1区域(REGION 2-1)的用于显示红色图像的数据电压1110可以与施加到第1-2区域(REGION 1-2)和第2-2区域(REGION 2-2)的用于显示红色图像的数据电压1025实质上相同。

在第2-2步骤(STEP 2-2)中，用于显示绿色图像的数据电压1120可以施加到第1-1区域(REGION 1-1)和第2-1区域(REGION 2-1)。

施加到第1-1区域(REGION 1-1)和第2-1区域(REGION 2-1)的用于显示绿色图像的数据电压1120可以与施加到第1-3区域(REGION 1-3)和第2-3区域(REGION 2-3)的用于显示绿色图像的数据电压1035实质上相同。

在第2-3步骤(STEP 2-3)中，用于显示蓝色图像的数据电压1130可以施加到第1-1区域(REGION 1-1)和第2-1区域(REGION 2-1)。

施加到第1-1区域(REGION 1-1)和第2-1区域(REGION 2-1)的用于显示蓝色图像的数据电压1130可以与施加到第1-4区域(REGION 1-4)和第2-4区域(REGION 2-4)的用于显示蓝色图像的数据电压1045实质上相同。

根据第二步骤(STEP 2)包括第2-1步骤(STEP 2-1)、第2-2步骤(STEP 2-2)以及第2-3步骤(STEP 2-3)，根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法1000(参照图10)可以表达前述的图7a、图8a以及图9a中提示的12种组合的全部。

图12是示出用于测定第1-1区域(REGION 1-1)、第1-2区域(REGION 1-2)、第2-1区域(REGION 2-1)以及第2-2区域(REGION 2-2)的亮度来获取红色子像素的寿命曲线图的方法的表。

参照图12，示出了可以根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法1000(参照图10)来获取图7a中提示的四种组合的方法。

参照图12，根据第一组合(CASE 1)的红色子像素的寿命曲线图可以通过在第一步骤(STEP 1)和第2-1步骤(STEP 2-1)中分别测定第1-1区域(REGION 1-1)的亮度和第2-2区域(REGION 2-2)的亮度来获取。

参照图12，根据第二组合(CASE 2)的红色子像素的寿命曲线图可以通过在第一步骤(STEP 1)和第2-1步骤(STEP 2-1)中分别测定第1-1区域(REGION 1-1)的亮度和第2-1区域(REGION 2-1)的亮度来获取。

参照图12，根据第三组合(CASE 3)的红色子像素的寿命曲线图可以通过在第一步骤(STEP 1)和第2-1步骤(STEP 2-1)中分别测定第1-2区域(REGION 1-2)的亮度和第2-2区域(REGION 2-2)的亮度来获取。

参照图12，根据第四组合(CASE 4)的红色子像素的寿命曲线图可以通过在第一步骤(STEP 1)和第2-1步骤(STEP 2-1)中分别测定第1-2区域(REGION 1-2)的亮度和第2-1区域(REGION 2-1)的亮度来获取。

由此，根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法1000(参照图10)，可以获取红色子像素的寿命曲线图(例如，如图7b所示的曲线图)。

图13是示出用于测定第1-1区域(REGION 1-1)、第1-3区域(REGION 1-3)、第2-1区域(REGION 2-1)以及第2-3区域(REGION 2-3)的亮度来获取绿色子像素的寿命曲线图的方法的表。

参照图13，示出了可以根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法1000(参照图10)来获取图8a中提示的四种组合的方法。

参照图13，根据第一组合(CASE 1)的绿色子像素的寿命曲线图可以通过在第一步骤(STEP 1)和第2-2步骤(STEP 2-2)中分别测定第1-1区域(REGION 1-1)的亮度和第2-3区域(REGION 2-3)的亮度来获取。

参照图13，根据第二组合(CASE 2)的绿色子像素的寿命曲线图可以通过在第一步骤(STEP 1)和第2-2步骤(STEP 2-2)中分别测定第1-1区域(REGION 1-1)的亮度和第2-1区域(REGION 2-1)的亮度来获取。

参照图13，根据第三组合(CASE 3)的绿色子像素的寿命曲线图可以通过在第一步骤(STEP 1)和第2-2步骤(STEP 2-2)中分别测定第1-3区域(REGION 1-3)的亮度和第2-3区域(REGION 2-3)的亮度来获取。

参照图13，根据第四组合(CASE 4)的绿色子像素的寿命曲线图可以通过在第一步骤(STEP 1)和第2-2步骤(STEP 2-2)中分别测定第1-3区域(REGION 1-3)的亮度和第2-1区域(REGION 2-1)的亮度来获取。

由此，根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法1000(参照图10)，可以获取绿色子像素的寿命曲线图(例如，如图8b所示的曲线图)。

图14是示出用于测定第1-1区域(REGION 1-1)、第1-4区域(REGION 1-4)、第2-1区域(REGION 2-1)以及第2-4区域(REGION 2-4)的亮度来获取蓝色子像素的寿命曲线图的方法的表。

参照图14，示出了可以根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法1000(参照图10)来获取图9a中提示的四种组合的方法。

参照图14，根据第一组合(CASE 1)的蓝色子像素的寿命曲线图可以通过在第一步骤(STEP 1)和第2-3步骤(STEP 2-3)中分别测定第1-1区域(REGION 1-1)的亮度和第2-4区域(REGION 2-4)的亮度来获取。

参照图14，根据第二组合(CASE 2)的蓝色子像素的寿命曲线图可以通过在第一步骤(STEP 1)和第2-3步骤(STEP 2-3)中分别测定第1-1区域(REGION 1-1)的亮度和第2-1区域(REGION 2-1)的亮度来获取。

参照图14，根据第三组合(CASE 3)的蓝色子像素的寿命曲线图可以通过在第一步骤(STEP 1)和第2-3步骤(STEP 2-3)中分别测定第1-4区域(REGION 1-4)的亮度和第2-4区域(REGION 2-4)的亮度来获取。

参照图14，根据第四组合(CASE 4)的蓝色子像素的寿命曲线图可以通过在第一步骤(STEP 1)和第2-3步骤(STEP 2-3)中分别测定第1-4区域(REGION 1-4)的亮度和第2-1区域(REGION 2-1)的亮度来获取。

由此，根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法1000(参照图10)，可以获取蓝色子像素的寿命曲线图(例如，如图9b所示的曲线图)。

综合在图10至图14中前述的情况，根据本公开的实施例的显示面板的寿命测定方法1000可以考虑内部光的影响来确认按照子像素的颜色的寿命。

由此，具有可以在短时间内客观地获知与显示面板110的寿命有关的信息的效果。

到目前为止参照的附图和记载的发明的详细说明仅仅是本发明的示例，其仅仅为了说明本发明而使用，并非为了限定含义或限制权利要求书中记载的本发明的范围而使用。因此，只要是本技术领域的具有一般知识的人就可以理解可以基于此实施各种变形以及等同的其它实施例。因此，本发明的真正的技术保护范围应由所附的权利要求书的技术构思而定。