掌桥专利:专业的专利平台
掌桥专利
首页

测量拓扑绝缘体Bi2Te3中拉莫进动引起的磁致光电流的方法

文献发布时间:2023-06-19 11:11:32


测量拓扑绝缘体Bi2Te3中拉莫进动引起的磁致光电流的方法
相关技术
  • 测量拓扑绝缘体Bi2Te3中拉莫进动引起的磁致光电流的方法
  • 一种获得拓扑绝缘体硒化铋反常线偏振光电流的方法
技术分类

06120112838470