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同轴结构测试座

文献发布时间:2023-06-19 11:57:35


同轴结构测试座

技术领域

本发明涉及测试设备,特别涉及一种同轴结构测试座。

背景技术

同轴结构测试座是通过探针导体将电信号传导到印制电路板进行的。

现有技术中,由于外部的电磁信号对探针导体传导的信号干扰,及相邻探针导体之间的电磁信号串扰。

所以在测试时,外部电磁信号导致探针信号损耗,造成测试数据丢失或失真,而引起测试的结果不良,使得芯片测试不通过,而造成合格品被误判为不良品。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本发明提出一种同轴结构测试座,能够防止外部的电磁信号对探针导体传导的信号干扰,及相邻探针导体之间的电磁信号串扰。

根据本发明的第一方面实施例的一种同轴结构测试座,包括第一针板、第二针板以及探针导体,所述第一针板设置有第一孔,所述第一孔设有第一绝缘件,所述第一针板由金属材料制成;所述第二针板与所述第一针板贴合,所述第二针板设置有与所述第一孔对应的第二孔,第二孔设有第二绝缘件,所述第二针板设置由金属材料制成,所述探针导体与芯片连接,所述探针导体用于导出所述芯片的电信号,所述探针导体包括信号探针以及接地探针,所述信号探针穿过所述第一绝缘件与所述第二绝缘件,所述接地探针电连接所述第一针板和所述第二针板。

第一针板上的第一孔与第二针板上的第二孔均设置有多个,对应的第一绝缘体与第二绝缘体也设置有多个,多个信号探针分别穿过所述第一绝缘件与所述第二绝缘件。

根据本发明实施例的一种同轴结构测试座,至少具有如下有益效果:第一针板与第二针板均由金属材料制成,材质硬度高,使用寿命长;金属第一针板与第二针板包覆探针导体,在探针导体外形成屏蔽罩,使外部电磁信号不能影响信号的传输;第一针板与第二针板能对第一探针进行一对一独立屏蔽,屏蔽相邻件探针导体的干扰;第一针板与第二针板通过没有绝缘件的管壁直接与接地探针导体导通,将第一针板与第二针板上屏蔽的电磁能通过接地探针导体导出于测座,不会因为时间的积累形成高电平而影响探针导体的信号传输;第一针板与第二针板作为相互独立的个体,通过多层结构提高信号屏蔽效果。

根据本发明的一些实施例,所述第一绝缘件与所述第二绝缘件均为塑胶体。

根据本发明的一些实施例,所述第一针板与所述第二针板,其一设置有定位柱,另一设置有与所述定位柱配合的定位槽。

根据本发明的一些实施例,所述第一针板与所述第二针板的外表面均覆盖有绝缘层。

根据本发明的一些实施例,所述信号探针以及所述接地探针相互平行设置。

根据本发明的一些实施例,所述第一针板与所述第二针板螺纹连接。

根据本发明的一些实施例,还包括下压机构,所述下压机构包括压板以及用于驱动所述压板靠近或者远离所述第一针板的动力件。

根据本发明的一些实施例,还包括机壳,所述机壳包括固定座以及用于打开或者封闭所述固定座的盖板,所述固定座上设置有限位支架,所述限位支架用于放置芯片,所述第一针板与所述第二针板安装在所述固定座上,所述下压机构安装在盖板上。

根据本发明的一些实施例,所述固定座与所述盖板绕所述固定座的一端转动连接。

根据本发明的一些实施例,所述盖板与所述机壳,其一设置有卡扣,另一设置有与所述卡扣配合的卡槽。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:

图1为本发明实施例同轴结构测试座的示意图;

图2为本发明实施例同轴结构测试座的打开状态的示意图;

图3为本发明实施例同轴结构测试座的分解示意图;

图4为图3所示出的第一针板与第二针板的示意图;

图5本发明实施例探针导体的剖面示意图。

第一针板100、第一孔110、定位柱130、绝缘层120;

第二针板200、第二孔210;

芯片300、信号探针310、接地探针320;

下压机构400、动力件420;

机壳500、固定座510、限位支架511、盖板520。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例,实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中,需要理解的是,涉及到方位描述,例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中,若干的含义是一个或者多个,多个的含义是两个以上,大于、小于、超过等理解为不包括本数,以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。

本发明的描述中,除非另有明确的限定,设置、安装、连接等词语应做广义理解,所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。

参照图1至图5,根据本发明的第一方面实施例的一种同轴结构测试座,包括第一针板100、第二针板200以及探针导体,第一针板100设置有第一孔110,第一孔110设有第一绝缘件,第一针板100由金属材料制成;第二针板200与第一针板100贴合,第二针板200设置有与第一孔110对应的第二孔210,第二孔210设有第二绝缘件,第二针板200设置由金属材料制成,探针导体与芯片300连接,探针导体用于导出芯片300的电信号,探针导体包括信号探针310以及接地探针320,信号探针310穿过第一绝缘件与第二绝缘件,接地探针320电连接第一针板100和第二针板200。

金属材料可以是不锈钢或者洋白铜,其中洋白铜是一种金属屏蔽材料,本身具有导电性,且能够防止电磁干扰,对印刷电路板上的元件起屏蔽作用。

根据本发明实施例的一种同轴结构测试座,至少具有如下有益效果:第一针板100与第二针板200均由金属材料制成,材质硬度高,使用寿命长;金属第一针板100与第二针板200包覆探针导体,在探针导体外形成屏蔽罩,使外部电磁信号不能影响信号的传输;第一针板100与第二针板200能对第一探针进行一对一独立屏蔽,屏蔽相邻件探针导体的干扰;第一针板100与第二针板200通过没有绝缘件的管壁直接与接地探针320导体导通,将第一针板100与第二针板200上屏蔽的电磁能通过接地探针320导体导出测座,不会因为时间的积累形成高电平而影响探针导体的信号传输;第一针板100与第二针板200作为相互独立的个体,通过多层结构提高信号屏蔽效果。

在本发明的一些实施例中,第一绝缘件与第二绝缘件均为塑胶体。在第一针板100及第二针板200制作芯片300信号引脚所需要的第一孔110或者第二孔210,再将绝缘胶注入第一孔110或者第二孔210,绝缘胶凝固成塑胶体,并在塑胶体上制作出能够安装信号探针310的孔,将信号探针310安装在塑胶体上。塑胶体具有绝缘性质,能够防止信号探针310与第一针板100或者第二针板200电连接,从而导致信号探针310之间相互干扰。

在本发明的一些实施例中,第一针板100与第二针板200,其一设置有定位柱130,另一设置有与定位柱130配合的定位槽。定位柱130与定位孔的配合,使第一针板100与第二针板200能够快速配合,并且使第一孔110与第二孔210一一对应,提高安装精度。

在本发明的一些实施例中,第一针板100与第二针板200的外表面均覆盖有绝缘层120。绝缘层120可以是氧化膜,对第一针板100与与第二针板200进行表面氧化处理,使第一针板100与第二针板200具有防锈、防导电的功能。绝缘层120也可以是胶质层,在第一针板100与第二针板200覆盖有胶质材料,使第一针板100与第二针板200具有防锈、防导电的功能。

在本发明的一些实施例中,信号探针310以及接地探针320相互平行设置。

在本发明的一些实施例中,第一针板100与第二针板200螺纹连接。将直纹螺母与探针导体安装入第一针板100/第二针板200,再盖上第二针板200/第一针板100,锁入紧固螺丝,第一针板100与第二针板200组装完成。使第一针板100与第二针板200能够快速紧固,相互配合。

在本发明的一些实施例中,还包括下压机构400,下压机构400包括压板以及用于驱动压板靠近或者远离第一针板100的动力件420。动力件420可以是螺栓,螺栓与压板上的螺纹孔连接,通过旋转来驱动压板靠近或者远离第一针板100;动力件420可以是伸缩气缸,通过伸缩气缸的活塞驱动压板靠近或者远离第一针板100。下压机构400主要是为芯片300提供稳定的下压力,保证了探针上下针头在弹力的支持下,能够与芯片300上的引脚和印刷电路板上的引脚接触良好,保证信号导通稳定性。

在本发明的一些实施例中,还包括机壳500,机壳500包括固定座510以及用于打开或者封闭固定座510的盖板520,固定座510上设置有限位支架511,限位支架511用于放置芯片300,第一针板100与第二针板200安装在固定座510上,下压机构400安装在盖板520上。固定座510与盖板520均由金属材料制成,具有屏蔽外部电磁干扰的作用;限位支架511设置有限位槽,限位槽与芯片300的结构相适应,使芯片300能够快速放置在限位支架511上;下压机构400安装在盖板520上,当盖板520封闭固定座510时,下压机构400的压板与芯片300接触,减少下压机构400安装的步骤。

在本发明的一些实施例中,固定座510与盖板520绕固定座的一端转动连接。盖板520与机壳500,其一设置有卡扣,另一设置有与卡扣配合的卡槽。卡扣与卡槽的配合使盖板520和机壳500能够快速闭合,给芯片300提供良好的测试环境。

上面结合附图对本发明实施例作了详细说明,但是本发明不限于上述实施例,在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。

相关技术
  • 同轴结构测试座
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技术分类

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