一种测试数据的传输方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本申请涉及半导体测试技术领域，尤其是涉及一种测试数据的传输方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着半导体行业的飞速发展，半导体产业链日渐成熟，市场上对位于半导体产业链下游的半导体测试工作提出了更高的要求。

在传统的半导体测试中，测试机在将测试数据写入到测试报告中这一过程会根据测试数据的大小花费不定量的测试时间，然而实际上此时测试机已经完成对待测芯片的测试工作，并拿到了测试数据，因此，将测试数据写入到测试报告中这一过程严格来说不属于测试工作，但是却消耗和占用了半导体测试的一部分时间，且在传统的半导体测试过程中，若将测试数据写入测试报告这一过程未结束，测试机便不能开启下一轮的测试，因此，导致半导体测试的测试时间延长，并造成了测试流程堵塞和测试效率低下的问题。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种测试数据的传输方法、装置、电子设备及存储介质，实现了在缩短测试时长的同时，提高了测试效率，避免了测试流程的堵塞。

本申请实施例提供了一种测试数据的传输方法，所述测试数据的传输方法包括：

获取主测试线程输出的对待检测半导体的至少一个测试数据；

根据消息中间件，将至少一个所述测试数据写入消息队列；

控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个所述测试数据写入目标测试报告。

进一步的，所述控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个所述测试数据写入目标测试报告，包括：

控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个测试数据按照获取先后规则顺序输入预设消费者进程。

进一步的，在所述控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个所述测试数据写入目标测试报告之前，所述测试数据的传输方法还包括：

建立获取测试数据的消费者进程。

进一步的，在所述控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个所述测试数据写入目标测试报告之后，所述测试数据的传输方法还包括；

在主测试线程发生异常的情况下，将消息数据队列中的至少一个测试数据以预设格式进行存储。

进一步的，通过以下方式进行主测试线程：

获取待检测半导体的位置信息；

根据所述位置信息和预设测试规则，对所述待检测半导体进行封装测试。

或根据所述位置信息和预设测试规则，对所述待检测半导体进行晶圆测试。

本申请实施例还提供了一种测试数据的传输装置，所述测试数据的传输装置包括：

获取模块，用于获取主测试线程输出的对待检测半导体的至少一个测试数据；

第一写入模块，用于根据消息中间件，将至少一个所述测试数据写入消息队列；

第二写入模块，用于控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个所述测试数据写入目标测试报告。

进一步的，所述第二写入模块，具体用于：

控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个测试数据按照获取先后规则顺序输入预设消费者进程。

进一步的，所述测试数据的传输装置还包括：

建立模块，用于建立接收测试数据的预设消费者进程。

本申请实施例还提供一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行如上述的测试数据的传输方法的步骤。

本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行如上述的测试数据的传输方法的步骤。

本申请实施例提供的测试数据的传输方法、装置、电子设备及存储介质，与现有技术中的测试数据写入方法相比，本申请的实施例通过设置消息中间件，将主测试线程输出的对待检测半导体的至少一个测试数据写入消息队列，并通过控制消费者进程从消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个测试数据写入目标测试报告，实现了使用消息中间件将测试数据异步写入测试报告这一过程从主测试线程中抽离出来，进而对传统半导体测试的数据写入工作进行了分担，在缩短测试时长的同时，提高了测试效率，避免了测试流程的堵塞。

为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1示出了本申请实施例所提供的一种测试数据的传输方法的流程图之一；

图2示出了本申请实施例所提供的一种测试数据的传输方法的流程图之二；

图3示出了本申请实施例所提供的一种测试数据的传输方法中半导体测试数据写入的结构图；

图4示出了本申请实施例所提供的一种测试数据的传输装置的结构框图之一；

图5示出了本申请实施例所提供的一种测试数据的传输装置的结构框图之二；

图6示出了本申请实施例所提供的一种测试数据的传输装置的结构框图之三；

图7示出了本申请实施例所提供的一种电子设备的结构示意图。

图中：

400-测试数据的传输装置；410-获取模块；420-第一写入模块；430-第二写入模块；440-建立模块；450-存储模块；700-电子设备；710-处理器；720-存储器；730-总线

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的每个其他实施例，都属于本申请保护的范围。

首先，对本申请可适用的应用场景进行介绍。本申请可应用于半导体测试技术领域。

经研究发现，在传统的半导体测试中，测试机在将测试数据写入到测试报告中这一过程会根据测试数据的大小花费不定量的测试时间，然而实际上此时测试机已经完成对待测芯片的测试工作，并拿到了测试数据，因此，将测试数据写入到测试报告中这一过程严格来说不属于测试工作，但是却消耗和占用了半导体测试的一部分时间，且在传统的半导体测试过程中，若将测试数据写入测试报告这一过程未结束前，测试机便不能开启下一轮的测试，因此，导致半导体测试的测试时间延长，并造成了测试流程堵塞和测试效率低下的问题。

基于此，本申请实施例提供了一种测试数据的传输方法、装置、电子设备及存储介质，实现了在缩短测试时长的同时，提高了测试效率，避免了测试流程的堵塞。

请参阅图1，图1为本申请实施例所提供的一种测试数据的传输方法的流程图之一。所如图1中所示，本申请实施例提供的测试数据的传输方法，包括以下步骤：

S101、获取主测试线程输出的对待检测半导体的至少一个测试数据。

该步骤中，主测试线程通过将待检测半导体放到指定的位置，然后对待测芯片按照事先编写好的测试程序进行测试，控制机器完成对待测半导体的测试并拿到测试数据后，控制主测试线程输出的对待检测半导体的至少一个测试数据。

这里，待测半导体包括但不限制于晶圆，待测半导体可以根据不同的应用场景进行自定义的选择。

其中，主测试线程可以根据不同的应用场景进行自定义的选择本申请提供的主测试线程可以但不限制于包括晶圆测试)和封装测试。

可选的，通过以下子步骤进行主测试线程：

子步骤1011、获取待检测半导体的位置信息。

该步骤中，通过对待检测半导体进行定位和固定来获取待检测半导体的位置信息。

子步骤1012、根据所述位置信息和预设测试规则，对所述待检测半导体进行封装测试，或根据所述位置信息和预设测试规则，对所述待检测半导体进行晶圆测试。

该步骤中，预设测试规则靠背椅具体但不限制为按照事先编写好的测试程序进行测试。

S102、根据消息中间件，将至少一个所述测试数据写入消息队列。

该步骤中，控制消息中间件将至少一个不用立即处理的缓存的测试数据写入消息队列，进而实现不阻塞主测试线程的继续进行。

这里，消息中间件具有异步处理，降低耦合、可靠投递、广播、流量控制以及最终一致性等一系列功能，本申请的实施例借用消息中间件提供的消息传递和消息队列，来实现对测试数据的异步处理机制。

其中，本申请的实施例提供的消息中间件主要用于精简待检测半导体(芯片或晶圆)的测试过程。

S103、控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个所述测试数据写入目标测试报告。

该步骤中，主测试线程中的至少一个所述测试数据可以不停的先放入到消息队列中，等时间合适或者有消费者进程创建后，再去消费并处理消息队列中缓存的至少一个所述测试数据，进而最终完成对至少一个所述测试数据的异步整传输和写入工作。

可选的，所述控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个所述测试数据写入目标测试报告，包括：

控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个测试数据按照获取先后规则顺序输入预设消费者进程。

这里，消息队列中的缓存机制具有“先进先出”的特点，也就是说，测试数据按照什么顺序进入到消息队列，最终还会按照进入队列时候的获取先后规则顺序从消息队列中出来，再输入预设消费者进程，从而可以保证测试数据的顺序正确性。而且在没有消费者去消费消息队列中的测试数据时，这些测试数据一直会保存在消息队列中，从而也保证了进入消息队列的测试数据不会丢失。

其中，消息队列是一种先进先出的队列型数据结构,实际上是系统内核中的一个内部链表。消息被顺序插入队列中,其中发送进程将消息添加到队列末尾,接受进程从队列头读取消息。2、多个进程可同时向一个消息队列发送消息,也可以同时从一个消息队列中接收消息。发送进程把消息发送到队列尾部,接受进程从消息队列头部读取消息,消息一旦被读出就从队列中删除。

可选的，在所述控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个所述测试数据写入目标测试报告之前，所述测试数据的传输方法还包括：

建立获取测试数据的消费者进程。

这里，从功能上来讲，消费者进程分担了主测试进程的一部分工作，并将实现这部分工作的代码从主测试进程中解耦到消费者进程中，加快了主测试进程中对待检测半导体法人测试节奏，缓解了主测试进程的测试压力，提升测试效率。

本申请实施例提供的测试数据的传输方法，与现有技术中的测试数据的写入方法相比，本申请实施例通过设置消息中间件，将主测试线程输出的对待检测半导体的至少一个测试数据写入消息队列，并通过控制消费者进程从消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个测试数据写入目标测试报告，实现了使用消息中间件将测试数据异步写入测试报告这一过程从主测试线程中抽离出来，进而对传统半导体测试的数据写入工作进行了分担，在缩短测试时长的同时，提高了测试效率，避免了测试流程的堵塞。

即本申请实施例提供的测试数据的传输方法增加了专门用于处理测试数据和生成目标测试报告的消费者进程，以及缓存测试数据的消费中间件。

请参阅图2，图2为本申请一实施例提供的测试数据的传输方法的流程图之二。如图2中所示，本申请实施例提供的测试数据的传输方法，包括以下步骤：

S201、获取主测试线程输出的对待检测半导体的至少一个测试数据。

S202、根据消息中间件，将至少一个所述测试数据写入消息队列。

S203、控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个所述测试数据写入目标测试报告。

S204、在主测试线程发生异常的情况下，将消息数据队列中的至少一个测试数据以预设格式进行存储。

该步骤中，在主测试线程的测试机发生关机或突然中断等异常的情况后，消息数据队列中缓存的至少一个测试数据会以预设格式进行存储，保证测试诗句不会丢失，并且在主测试线程的测试机重新回复正常运行后，将存储的全部测试数据重新恢复至消息数据队列中。

这里，预设格式可以根据不同的应用场景、不同的需求以及不同类型的消息中间件进行自定义的设置，例如本申请的实施例提供的预设格式是以文件的形式进行存储。

其中，本申请的实施例提供的消息中间件类型包括但不限制于使用ActiveMQ，Kafka，RabbitMQ，RocketMQ，ZeroMQ,以及Redis类型的中间件。

其中，S201至S203的描述可以参照S101至S103的描述，并且能达到相同的技术效果，对此不做赘述。

下面列举一个实施例说明本申请出了本申请实施例所提供的一种测试数据的传输方法中半导体测试数据写入的方法，如图3所示，图3示出了本申请实施例所提供的一种测试数据的传输方法中半导体测试数据写入的结构图：

首选，主测试进程：

控制机控制操作者将待检测芯片放到指定位置。

对待检测芯片进行测试。

获取测试数据。

异步发送测试数据至消息中间件的消息队列中。

然后，消费者进程对待检测半导体进行拿去以及写入，消费者进程具体为：

从消息队列获取测试数据。

将测试数据写入目标测试报告。

本申请实施例提供的测试数据的传输方法，与现有技术中的测试数据的写入方法相比，本申请实施例通过设置消息中间件，将主测试线程输出的对待检测半导体的至少一个测试数据写入消息队列，并通过控制消费者进程从消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个测试数据写入目标测试报告，实现了使用消息中间件将测试数据异步写入测试报告这一过程从主测试线程中抽离出来，进而对传统半导体测试的数据写入工作进行了分担，在缩短测试时长的同时，提高了测试效率，避免了测试流程的堵塞。

请参阅图4、图5以及图6，图4为本申请实施例所提供的一种测试数据的传输装置的结构示意图之一，图5为本申请实施例所提供的种测试数据的传输装置的结构示意图之二，图6为本申请实施例所提供的种测试数据的传输装置的结构示意图之三。如图4中所示，所述测试数据的传输装置400包括：

获取模块410，用于获取主测试线程输出的对待检测半导体的至少一个测试数据。

可选的，通过以下方式进行主测试线程：

获取待检测半导体的位置信息。

根据所述位置信息和预设测试规则，对所述待检测半导体进行封装测试。

或根据所述位置信息和预设测试规则，对所述待检测半导体进行晶圆测试。

第一写入模块420，用于根据消息中间件，将至少一个所述测试数据写入消息队列。

第二写入模块430，用于控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个所述测试数据写入目标测试报告。

可选的，述第二写入模块430，具体用于：

控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个测试数据按照获取先后规则顺序输入预设消费者进程。

本申请实施例提供的测试数据的传输装置400，与现有技术中的测试数据写入装置相比，本申请的实施例通过设置消息中间件，将主测试线程输出的对待检测半导体的至少一个测试数据写入消息队列，并通过控制消费者进程从消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个测试数据写入目标测试报告，实现了使用消息中间件将测试数据异步写入测试报告这一过程从主测试线程中抽离出来，进而对传统半导体测试的数据写入工作进行了分担，在缩短测试时长的同时，提高了测试效率，避免了测试流程的堵塞。

进一步的，如图5所示，所述测试数据的传输装置400包括：

获取模块410，用于获取主测试线程输出的对待检测半导体的至少一个测试数据。

第一写入模块420，用于根据消息中间件，将至少一个所述测试数据写入消息队列。

第二写入模块430，用于控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个所述测试数据写入目标测试报告。

建立模块440，用于建立接收测试数据的预设消费者进程。

本申请实施例提供的测试数据的传输装置400，与现有技术中的测试数据写入装置相比，本申请的实施例通过设置消息中间件，将主测试线程输出的对待检测半导体的至少一个测试数据写入消息队列，并通过控制消费者进程从消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个测试数据写入目标测试报告，实现了使用消息中间件将测试数据异步写入测试报告这一过程从主测试线程中抽离出来，进而对传统半导体测试的数据写入工作进行了分担，在缩短测试时长的同时，提高了测试效率，避免了测试流程的堵塞。

进一步的，如图6所示，所述测试数据的传输装置400包括：

获取模块410，用于获取主测试线程输出的对待检测半导体的至少一个测试数据。

第一写入模块420，用于根据消息中间件，将至少一个所述测试数据写入消息队列。

第二写入模块430，用于控制消费者进程从所述消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个所述测试数据写入目标测试报告。

建立模块440，用于建立接收测试数据的预设消费者进程。

存储模块450，用于在主测试线程发生异常的情况下，将消息数据队列中的至少一个测试数据以预设格式进行存储。

本申请实施例提供的测试数据的传输装置400，与现有技术中的测试数据写入装置相比，本申请的实施例通过设置消息中间件，将主测试线程输出的对待检测半导体的至少一个测试数据写入消息队列，并通过控制消费者进程从消息队列中获取至少一个所述测试数据，并将至少一个测试数据写入目标测试报告，实现了使用消息中间件将测试数据异步写入测试报告这一过程从主测试线程中抽离出来，进而对传统半导体测试的数据写入工作进行了分担，在缩短测试时长的同时，提高了测试效率，避免了测试流程的堵塞。

请参阅图7，图7为本申请实施例所提供的一种电子设备的结构示意图。如图7中所示，所述电子设备700包括处理器710、存储器720和总线730。

所述存储器720存储有所述处理器710可执行的机器可读指令，当电子设备700运行时，所述处理器710与所述存储器720之间通过总线730通信，所述机器可读指令被所述处理器710执行时，可以执行如上述图1、图2及图3所示方法实施例中的测试数据的传输方法的步骤，具体实现方式可参见方法实施例，在此不再赘述。

本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时，可以执行如上述图1、图2及图3所示方法实施例中的测试数据的传输方法的步骤，具体实现方式可参见方法实施例，在此不再赘述。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本申请的具体实施方式，用以说明本申请的技术方案，而非对其限制，本申请的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请实施例技术方案的精神和范围，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。