一种芯片测试电路

技术领域

本发明涉及电力电子领域，特别是涉及一种芯片测试电路。

背景技术

为了使显示面板显示相应的画面，现有技术中通常通过驱动芯片接收处理器发送的控制信号，从而通过与显示面板上各个亚像素点连接的输出通道输出相应的驱动电压，以使显示面板上各个亚像素点显示不同的颜色，从而使显示面板显示最终的画面。

由于亚像素点上每个颜色对应的驱动电压不同，为了使显示面板显示的画面与期望画面一致且保证其还原性，需要在对驱动芯片进行CP测试(Chip Probing，圆晶测试)时对其输出的驱动电压进行测试，也即测试驱动芯片输出的各个驱动电压是否满足相应的期望电压值。

在测试时，通常将测试机的CP测试针卡上的探针分别一一对应与驱动芯片上的各个输出通道连接，通过测试驱动芯片上各个输出通道输出的驱动电压是否满足期望电压值，也即驱动芯片输出的驱动电压能否使显示面板显示响应的画面，来判断该驱动芯片是否满足要求。但是，大尺寸的显示面板，例如电视，或者高分辨率的显示面板，例如手机屏和电脑显示屏等，通常需要6颗或者12颗驱动芯片，由于每个驱动芯片的输出通道较多，例如每个驱动芯片可能会设有1026个、966个或960个输出通道，若想对多个芯片的多个输出通道进行测试，对CP测试针卡的要求较高，也即CP测试针卡需要设置多个探针，且各个探针之间的间距需设置在微米级，制造成本也较高；此外，由于多个驱动芯片的输出通道较多，受限于CP测试针卡的探针的数量，每次只能测试一个芯片，测试的效率较低，费用较高。

发明内容

本发明的目的是提供一种芯片测试电路，处理模块无需设置与驱动芯片的输出通道的数量相等的输入端即可对驱动芯片的各个输出通道输出的驱动电压进行测试，降低成本。且当处理模块的输入端的数量大于M时，处理模块可与多个驱动芯片对应的测试通道连接以对多个驱动芯片进行测试，提高测试的效率。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种芯片测试电路，包括：

第一端分别与驱动芯片的N个输出通道一一对应连接，第二端分别与M个测试通道连接的N个开关，用于基于处理器的控制将与自身连接的所述芯片的输出通道和所述测试通道之间的电路导通或关断；M为不小于1的整数，N为大于M的整数；

M个输入端分别与M个所述测试通道一一对应连接，信号输出端分别一一对应与N个所述开关的控制端连接的所述处理模块，用于控制与各个所述测试通道连接的多个所述开关分别按照预设频率依次导通与关断，以使所述驱动芯片的各个输出通道分别按照所述预设频率依次通过与自身对应的所述测试通道输出驱动电压；还用于基于各个所述测试通道输出的所述驱动电压判断所述驱动芯片是否正常工作。

优选地，所述处理模块包括：

信号输出端为所述处理器的信号输出端的处理器，用于控制与各个所述测试通道连接的多个所述开关分别按照预设频率依次导通与关断，以使所述驱动芯片的各个输出通道分别按照所述预设频率依次通过与自身对应的所述测试通道输出驱动电压；

各个输入端分别一一对应为所述处理模块的各个输入端的测试机，用于基于各个所述测试通道输出的所述驱动电压判断所述驱动芯片是否正常工作。

优选地，所述测试机包括：

晶圆CP测试针卡，所述CP测试针卡的各个探针分别一一对应为所述测试机的各个输入端，用于与各个所述测试通道连接，以接收所述驱动芯片的各个输出通道通过所述测试通道输出的驱动电压，使所述测试机基于各个所述测试通道输出的所述驱动电压判断相应的所述驱动芯片是否正常工作。

优选地，N个所述开关的第二端均与一个测试通道连接，M为1。

优选地，还包括：

与所述处理模块的输出端连接的提示模块，用于基于所述处理模块的判断结果对用户进行相应的提示。

优选地，所述提示模块为声音提示模块和/或显示提示模块。

优选地，所述声音提示模块为蜂鸣器。

优选地，所述显示提示模块为指示灯。

本申请提供了一种芯片测试电路，包括设置于驱动芯片的N个输出通道与M个测试通道之间的N个开关和处理模块，处理模块控制各个开关的导通与关断。由于M是小于N的整数，驱动芯片的多个输出通道可依次通过一个测试通道输出驱动电压，处理模块无需与驱动芯片所有输出通道连接，仅与相应的测试通道连接即可接收驱动芯片的各个输出通道输出的驱动电压，以判断驱动芯片是否正常工作。本申请中的处理模块无需设置与驱动芯片的输出通道的数量相等的输入端即可对驱动芯片的各个输出通道输出的驱动电压进行测试，降低成本。且当处理模块的输入端的数量大于M时，处理模块可与多个驱动芯片对应的测试通道连接以对多个驱动芯片进行测试，提高测试的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明提供的一种芯片测试电路的结构示意图；

图2为现有技术中的一种显示屏的驱动电路的结构示意图；

图3为现有技术中驱动芯片的输出通道的示意图；

图4为本发明提供的一种驱动芯片的输出通道和开关之间连接的示意图；

图5为本发明提供的一种开关的控制实时序示意图。

具体实施方式

本发明的核心是提供一种芯片测试电路，处理模块无需设置与驱动芯片的输出通道的数量相等的输入端即可对驱动芯片的各个输出通道输出的驱动电压进行测试，降低成本。且当处理模块的输入端的数量大于M时，处理模块可与多个驱动芯片对应的测试通道连接以对多个驱动芯片进行测试，提高测试的效率。

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参照图1，图1为本发明提供的一种芯片测试电路的结构示意图，该电路包括：

第一端分别与驱动芯片1的N个输出通道一一对应连接，第二端分别与M个测试通道连接的N个开关2，用于基于处理器的控制将与自身连接的芯片的输出通道和测试通道之间的电路导通或关断；M为不小于1的整数，N为大于M的整数；

M个输入端分别与M个测试通道一一对应连接，信号输出端分别一一对应与N个开关2的控制端连接的处理模块3，用于控制与各个测试通道连接的多个开关2分别按照预设频率依次导通与关断，以使驱动芯片1的各个输出通道分别按照预设频率依次通过与自身对应的测试通道输出驱动电压；还用于基于各个测试通道输出的驱动电压判断驱动芯片1是否正常工作。

为了使显示面板显示相应的画面，现有技术中通常通过驱动芯片1接收处理器发送的控制信号，从而通过与显示面板上各个亚像素点连接的输出通道输出相应的驱动电压，以使显示面板上各个亚像素点显示不同的颜色，从而使显示面板显示最终的画面，请参照图2，图2为现有技术中的一种显示屏的驱动电路的结构示意图，图中的TCON(TimingControl Register，时序控制器)向驱动芯片1发送控制信号，驱动芯片1将控制信号转换为LCD(Liquid Crystal Display panel，液晶面板)，即显示屏的各个亚像素点的驱动电压，通过输出通道SD1至SDn输出至显示屏上，以使各个亚像素点显示相应的颜色。

本实施例中，申请人考虑到现有技术中在对驱动芯片1进行测试时，通常将测试机上CP测试针卡的各个探针与驱动芯片1的各个输出通道连接，请参照图3，图3为现有技术中驱动芯片的输出通道的示意图，图中的Y1至Yn即为驱动芯片1的各个输出通道，通过检测各个输出通道的驱动电压实现对驱动芯片1的检测。具体地，驱动芯片1通过各个输出通道输出的驱动电压不同时，显示屏上与驱动芯片1的输出通道连接的亚像素点显示的颜色遍不同，例如，当驱动芯片1的一个输出通道输出的驱动电压与黄色对应，则显示屏上与该输出通道连接的亚像素点显示为黄色，因此，为了使显示屏显示的画面对期望画面的还原度，需要对驱动芯片1的各个输出通道输出的驱动电压进行检测，判断各个输出通道输出的驱动电压能否使显示屏显示准确的画面。但是，每个驱动芯片1可能会设有1026个、966个或960个输出通道，且对分辨率要求更高或显示屏更大时需要设置的驱动芯片1的数量更多，为了对驱动芯片1的每一个输出通道输出的驱动电压进行检测，需要在CP测试针卡上设置多个探针，从而与驱动芯片1的各个输出通道一一对应连接，因此，CP测试针卡的设计要求较高，探针之间的间距在微米级，且制造成本也较高，即便每个CP测试针卡上能够设置多个探针，但是其能够设置的探针的数量也是有限的，因此，每个CP测试针卡每次只能连接一个驱动芯片1，从而只能对一个驱动芯片1进行测试，测试的效率也较低，费用较高。

为了解决上述技术问题，本申请中将驱动芯片1的每个输出通道均设置了一个开关2，每个输出通道的开关2的第二端均与测试通道连接，且多个输出通道对应的开关2的第二端与一个测试通道连接，具体为N个输出通道通过N个开关2与M个测试通道连接，请参照图4，图4为本发明提供的一种驱动芯片的输出通道和开关之间连接的示意图，图中以四个输出通道，即Y1至Y4通过四个开关2，即SW1至SW4与一个测试通道连接，图中将输出通道Y1服用为测试通道。处理模块3的输入端分别一一对应与各个测试通道连接，通过控制与各个测试通道连接的多个开关2分别按照预设频率依次导通与关断，从而使驱动芯片1的各个测试通道分别按照预设频率依次从与自身连接的测试通道输出驱动电压，以便控制模块基于驱动电压对驱动芯片1进行测试。请参照图5，图5为本发明提供的一种开关的控制实时序示意图，开关2的控制信号，即CSW<4:1>分时的控制这些开关，可以将图4中的4个输出通道的驱动电压均通过在测试通道Y1上输出，并由CP测试针卡检测，从而进行CP测试筛选。根据输出通道的总体规模，可以设计成16个输出通道为一组，即16个输出通道通过一个测试通道输出，需要的CP测试针卡的探针数只有原来的1/16，探针的数量减小同时间距拉大，CP测试针卡制造的复杂度降低。而且可以在CP针卡探针数不变的情况下，同时测试多个驱动芯片1，提高测试效率，降低测试费用。

此外，当驱动芯片1正常工作时，开关SW1闭合，开关SW2、开关SW3和开关SW4断开，从而不影响各个输出通道正常输出驱动电压。驱动芯片1开始测试时，按照现有技术中的方式由TCON输入控制信号，驱动芯片1正常输出驱动电压后，启动开关2控制信号。开关2控制时序请参照图5，SW1至SW4交替闭合或断开，其中ts为驱动芯片1输出驱动信号的建立时间，tt为CP测试针卡的探针的信号采样时间。ts和tt均为微秒级别，通过4次信号采样后，一次测试完成，且开关的切换时间为微秒级，相对整体测试时间可以忽略不计，测试的效率较高。

此外，需要说明的是，本申请中的处理模块3的输出端与CP测试针卡的探针对应，当处理模块3的输出端设置为和测试通道相应的数量时，相应地，CP测试针卡的探针数量也会减少，从而降低成本，芯片测试电路的规模也较小，控制逻辑容易实现，驱动芯片1的面积增加的也较小。

需要说明的是，当测试通道输出的驱动电压满足要求时，可认为驱动芯片1可正常工作，当驱动电压不满足要求，也即无法使显示屏准确地显示画面时，则认为驱动芯片1无法正常工作。

综上，本申请中的处理模块3无需设置与驱动芯片1的输出通道的数量相等的输入端即可对驱动芯片1的各个输出通道输出的驱动电压进行测试，降低成本。且当处理模块3的输入端的数量大于M时，处理模块3可与多个驱动芯片1对应的测试通道连接以对多个驱动芯片1进行测试，提高测试的效率。

在上述实施例的基础上：

作为一种优选的实施例，处理模块3包括：

信号输出端为处理器的信号输出端的处理器，用于控制与各个测试通道连接的多个开关2分别按照预设频率依次导通与关断，以使驱动芯片1的各个输出通道分别按照预设频率依次通过与自身对应的测试通道输出驱动电压；

各个输入端分别一一对应为处理模块3的各个输入端的测试机，用于基于各个测试通道输出的驱动电压判断驱动芯片1是否正常工作。

本实施例中的处理模块3包括两部分，一个是控制开关2的导通与关断的处理器，另一个是对从测试通道输出的驱动电压进行测试的测试机，从而实现控制与各个测试通道连接的多个开关2分别按照预设频率依次导通与关断，以使驱动芯片1的各个输出通道分别按照预设频率依次通过与自身对应的测试通道输出驱动电压，并基于各个测试通道输出的驱动电压判断驱动芯片1是否正常工作。

作为一种优选的实施例，测试机包括：

晶圆CP测试针卡，CP测试针卡的各个探针分别一一对应为测试机的各个输入端，用于与各个测试通道连接，以接收驱动芯片1的各个输出通道通过测试通道输出的驱动电压，使测试机基于各个测试通道输出的驱动电压判断相应的驱动芯片1是否正常工作。

从本实施例中可知，处理模块3的输入端即为测试机的CP测试针卡的探针，设计的处理模块3的输入端的数量较少时，也即CP测试针卡的探针数较少，从而能够降低CP测试针卡的制造成本，且当每个驱动芯片1对应的测试通道的数量小于所设计的CP测试针卡的探针数量时，一个CP测试针卡，也即一个测试机可连接多个驱动芯片1的测试通道，从而能够同时对多个驱动芯片1进行测试，提高测试的效率。

作为一种优选的实施例，N个开关2的第二端均与一个测试通道连接，M为1。

本实施例提供了一种开关2和测试通道的对应设置关系，即一个驱动芯片1的N各开关2均连接一个测试通道，通过设置该驱动芯片1中各个输出通道与测试通道之间的各个开关2的导通次序和频率，能够使各个输出通道一次通过一个测试通道输出驱动电压，从而使处理模块3对驱动芯片1进行检测，进一步减少了处理模块3的输入端的数量，也同时使处理模块3能够同时连接多个驱动芯片1，从而同时对多个驱动芯片1进行测试。

作为一种优选的实施例，还包括：

与处理模块3的输出端连接的提示模块，用于基于处理模块3的判断结果对用户进行相应的提示。

本实施例中，考虑到处理模块3检测到驱动芯片1无法正常工作时需要及时告知工作人员进行处理，因此，加入了提示模块。处理模块3检测到驱动芯片1无法正常工作后，控制提示模块发出提示，以提示工作人员对驱动芯片1进行处理。

作为一种优选的实施例，提示模块为声音提示模块和/或显示提示模块。

本实施例中，提示模块包括声音提示模块或显示提示模块。声音提示模块可以发出声音的提示，显示提示模块可以发出灯光的提示。

具体地，提示模块可以仅包括声音提示模块或显示提示模块，提示模块还可以同时包括声音提示模块和显示提示模块。其中，在提示模块可以同时包括声音提示模块和显示提示模块时，较为嘈杂的工作环境下，工作人员听不到声音的提示，但是可以通过显示提示模块得知处理模块3检测到驱动芯片1无法正常工作；当工作人员视野范围内看不到显示提示模块时，可以通过声音提示模块得知处理模块3检测到存储模块正常工作，以便更快地对待测芯片进行处理。

作为一种优选的实施例，声音提示模块为蜂鸣器。

本实施例中，选用蜂鸣器作为声音提示模块，蜂鸣器能够实现声音的提示。

此外，蜂鸣器还具有成本低，灵敏度高的特点。

作为一种优选的实施例，显示提示模块为指示灯。

本实施例中，选用指示灯作为显示提示模块，指示灯能够实现灯光的提示。

此外，发光二极管还具有成本低的优点，可以和蜂鸣器共用一个控制口。

当然，本申请中显示提示模块并不限定选用指示灯，还可以选用发光二极管。

还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。