显示面板及其裂纹检测方法、显示装置

【技术领域】

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置。

【背景技术】

在显示面板的工艺制程中，显示面板的边缘容易受损而产生裂纹，裂纹从边缘向内延伸，会造成显示面板内部的金属走线断裂，进而对显示面板的正常显示产生不良影响。尤其是对于柔性显示面板，该类显示面板质地柔软，因而更易产生裂纹。

然而，基于显示面板的现有结构，对其进行裂纹检测时，只能判断显示面板是否存在裂纹，并无法对裂纹的产生位置进行判断，进而难以确认工艺能力及后续的制程解析。

【发明内容】

有鉴于此，本发明实施例提供了一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置，能够对裂纹的产生位置进行准确判断。

一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：

显示区和非显示区；

位于所述非显示区的裂纹检测线，所述裂纹检测线包括主检测线和至少一个辅助检测线，所述主检测线环绕所述显示区，所述辅助检测线包括第一端部和第二端部，所述第一端部和所述第二端部分别与所述主检测线相连。

另一方面，本发明实施例提供了一种显示面板的裂纹检测方法，显示面板包括显示区和非显示区，所述非显示区包括裂纹检测线，所述裂纹检测线包括主检测线和至少一个辅助检测线，所述主检测线环绕所述显示区，所述辅助检测线包括第一端部和第二端部，所述第一端部和所述第二端部分别与所述主检测线相连；

所述裂纹检测方法包括：

获取第一预设电阻，所述第一预设电阻为所述辅助检测线或主走线段发生断裂时所述裂纹检测线所具有的电阻，其中，所述主走线段为所述主检测线中与所述辅助检测线并联设置的部分；

对所述裂纹检测线的实际电阻进行检测，判断所述实际电阻是否与所述第一预设电阻相匹配，若是，则判断出所述显示面板存在裂纹，且裂纹的产生位置为所述辅助检测线或所述主走线段所在的位置。

再一方面，本发明实施例提供了一种显示装置，包括上述显示面板。

上述技术方案中的一个技术方案具有如下有益效果：

在本发明实施例中，通过在主检测线上设置与其电连接的辅助检测线，辅助检测线和主检测线中与其并联的那一部分主走线段会形成一个并联结构，即使并联结构中的辅助检测线或主走线段发生断裂，也仍能保证裂纹检测线整体是连通的。

基于上述结构，并联结构中辅助检测线和主走线段均未发生断裂时裂纹检测线所具有的整体电阻，与并联结构中辅助检测线或主走线段发生断裂时裂纹检测线所具有的整体电阻是不同的，进而可根据该种电阻差异去判断辅助检测线或主走线段是否在裂纹的作用下发生了断裂。例如，可以对并联结构中辅助检测线或主走线段发生断裂时裂纹检测线所应具有的第一预设电阻进行计算，进而后续对裂纹检测线的实际电阻进行检测时，如若该实际电阻与第一预设电阻相匹配，则说明并联结构中的辅助检测线或主走线段发生了断裂，进而可知并联结构所在位置处即为裂纹产生位置处，从而实现了对裂纹产生位置的准确判断。如此一来，就可根据裂纹的产生位置确认工艺能力及后续的制程解析，有助于后续对显示面板进行改善和修复。

【附图说明】

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本发明实施例所提供的显示面板的一种俯视图；

图2为本发明实施例所提供的显示面板的另一种俯视图；

图3为本发明实施例所提供的显示面板的再一种俯视图；

图4为图3沿F1-F2方向的一种剖视图；

图5为图2沿A1-A2方向的一种剖视图；

图6为本发明实施例所提供的显示面板的又一种俯视图；

图7为图6沿B1-B2方向的一种剖视图；

图8为本发明实施例所提供的主检测线和辅助检测线的一种膜层位置示意图；

图9为本发明实施例所提供的主检测线和辅助检测线的另一种膜层位置示意图；

图10为本发明实施例所提供的主检测线和辅助检测线的再一种膜层位置示意图；

图11为本发明实施例所提供的主检测线和辅助检测线的又一种膜层位置示意图；

图12为本发明实施例所提供的主检测线和辅助检测线的又一种膜层位置示意图；

图13为本发明实施例所提供的主检测线和辅助检测线的又一种膜层位置示意图；

图14为本发明实施例所提供的显示面板的又一种俯视图；

图15为本发明实施例所提供的显示面板的又一种俯视图；

图16为本发明实施例所提供的显示面板的又一种俯视图；

图17为本发明实施例所提供的显示面板的又一种俯视图；

图18为图17沿C1-C2方向的一种剖视图；

图19为本发明实施例所提供的显示面板的又一种俯视图；

图20为图19沿D1-D2方向的一种剖视图；

图21为图19沿D1-D2方向的另一种剖视图；

图22为本发明实施例所提供的显示面板的又一种俯视图；

图23为本发明实施例所提供的显示面板的局部示意图；

图24为本发明实施例所提供的裂纹检测方法的一种流程图；

图25为本发明实施例所提供的裂纹检测方法的另一种流程图；

图26为本发明实施例所提供的显示装置的一种结构示意图。

【具体实施方式】

为了更好的理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。

应当明确，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。

应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

本发明实施例提供了一种显示面板，如图1和图2所示，图1为本发明实施例所提供的显示面板的一种俯视图，图2为本发明实施例所提供的显示面板的另一种俯视图，显示面板包括显示区1、非显示区2和位于非显示区2的裂纹检测线3，裂纹检测线3包括主检测线4和至少一个辅助检测线5。

其中，主检测线4环绕显示区1，例如，主检测线4可对显示区1进行不封闭的环绕，主检测线4在下边框处留有开口，以便于下边框的布线设计。辅助检测线5包括第一端部6和第二端部7，第一端部6和第二端部7分别与主检测线4相连。

在现有技术中，显示面板中的裂纹检测线仅为环绕显示区的主检测线，在该种结构中，无论哪个位置产生裂纹都会导致裂纹检测线断路，使其电阻变为无限大。因而在进行裂纹检测时，仅能根据裂纹检测线的电阻判断显示面板是否产生了裂纹，但无法对裂纹的产生位置进行判断。

而在本发明实施例中，通过在主检测线4上设置与其电连接的辅助检测线5，辅助检测线5和主检测线4中与其并联的那一部分主走线段8会形成一个并联结构，即使并联结构中的辅助检测线5或主走线段8发生断裂，也仍能保证裂纹检测线3整体是连通的。

基于上述结构，并联结构中辅助检测线5和主走线段8均未发生断裂时裂纹检测线3所具有的整体电阻，与并联结构中辅助检测线5或主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的整体电阻是不同的，进而可根据该种电阻差异去判断辅助检测线5或主走线段8是否在裂纹的作用下发生了断裂。例如，可以对并联结构中辅助检测线5或主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所应具有的第一预设电阻进行计算，进而后续对裂纹检测线3的实际电阻进行检测时，如若该实际电阻与第一预设电阻相匹配，则说明并联结构中的辅助检测线5或主走线段8发生了断裂，进而可知并联结构所在位置处即为裂纹产生位置处，从而实现了对裂纹产生位置的准确判断。如此一来，就可根据裂纹的产生位置确认工艺能力及后续的制程解析，有助于后续对显示面板进行改善和修复。

而且，在本发明实施例中，在进行裂纹检测时，仅需获取裂纹检测线3的实际电阻即可判断裂纹的产生位置，无需进行画面点亮或是在显示面板内设置位置检测器等操作，检测方式更加简便且检测成本也更低。

此外，还需要说明的是，在本发明实施例中，参见图1，裂纹检测线3可以仅包括一条辅助检测线5，例如，可以仅在最容易产生裂纹的位置设置一条辅助检测线5，从而对该位置进行重点监测。或者，参见图2，裂纹检测线3也可以包括多条辅助检测线5，以形成多个位置检测点，从而对裂纹的产生位置进行更加精确的判断。

在一种可行的实施方式中，再次参见图1和图2，辅助检测线5位于主检测线4远离显示区1的一侧。

由于裂纹多在显示面板的边缘产生且由外向内延伸，因此，当辅助检测线5位于主检测线4靠近面板边缘的一侧时，辅助检测线5会最先感知裂纹而发生断裂，即，上述结构是基于辅助检测线5是否断裂来对裂纹的产生位置进行检测的。

当裂纹检测线3包括多个辅助检测线5时，多条辅助检测线5可以沿着主检测线4的延伸方向间隔排列，并且，不同辅助检测线5的电阻可以不同，此时，不同辅助检测线5的电阻对裂纹检测线3的整体电阻的影响程度不同，因而在不同辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻也是不同的。

基于此，本发明实施例在预先计算裂纹检测线3的第一预设电阻时，所计算的第一预设电阻可以包括其中任意i个辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻，i依次取值1、2、3、…、x，x为裂纹检测线3所包括的辅助检测线5的数量。以x＝3为例，第一预设电阻可以包括：第1个辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第2个辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第3个辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第1个和第2个辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第2个和第3个辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第1个和第3个辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、3个辅助检测线5全部发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻。

在对裂纹进行检测时，通过将检测到的裂纹检测线3的实际电阻与预先计算出的第一预设电阻进行比对，当实际电阻与其中某一个第一预设电阻相匹配时，则可根据匹配到的第一预设电阻获知是哪一个还是哪几个辅助检测线5发生了断裂，进而即可获知裂纹的产生位置。

在本发明实施例中，辅助检测线5可以理解为相对于主检测线4额外增设的结构，当基于辅助检测线5是否断裂来对裂纹的产生位置进行检测时，仅对不同辅助检测线5的电阻进行调整即可，而无需改变主检测线4设计参数，这样对裂纹检测线3整体设计参数的调整程度较小，且调整方式也更加灵活。

在一种可行的实施方式中，如图3所示，图3为本发明实施例所提供的显示面板的再一种俯视图，辅助检测线5的线宽k1小于或等于主检测线4的线宽k2。例如，在本发明实施例的一种设置方式中，辅助检测线5的线宽k1小于主检测线4的线宽k2。

其中，辅助检测线5的线宽是指：在垂直于显示面板所在平面的方向上，辅助检测线5的正投影在垂直其延伸方向上的宽度。主检测线4的线宽是指：在垂直于显示面板所在平面的方向上，主检测线4的正投影在垂直其延伸方向上的宽度。

在该种设置方式中，辅助检测线5比较细，当辅助检测线5位于主检测线4靠近面板边缘的一侧时，辅助检测线5更易在裂纹的作用下发生断裂，使得辅助检测线5对裂纹的感知更为敏感，从而对裂纹检测的准确性也就更高。

在一种可行的实施方式中，如图4所示，图4为图3沿F1-F2方向的一种剖视图，本发明实施例还可将辅助检测线5的膜厚p1设置为小于主检测线4的膜厚p2，尤其是在辅助检测线5的线宽小于或等于主检测线4的线宽时，可以更大程度的增大辅助检测线5对裂纹的感知度，使其更易在裂纹的作用下发生断裂。

其中，辅助检测线5的膜厚是指辅助检测线5在垂直于显示面板所在平面的方向上的厚度，主检测线4的膜厚是指主检测线4在垂直于显示面板所在平面的方向上的厚度。

在一种可行的实施方式中，如图2、图5～图7所示，图5为图2沿A1-A2方向的一种剖视图，图6为本发明实施例所提供的显示面板的又一种俯视图，图7为图6沿B1-B2方向的一种剖视图，显示面板包括衬底9，沿垂直于衬底9所在平面的方向，辅助检测线5与衬底9之间的距离d2小于或等于主检测线4与衬底9之间的距离d1。

例如，在本发明实施例的一种设置方式中，参见图5，辅助检测线5与衬底9之间的距离d2等于主检测线4与衬底9之间的距离d1，此时，辅助检测线5和主检测线4可同层设置。在该种结构中，辅助检测线5和主检测线4与衬底9之间可间隔有至少一层绝缘层12。

在本发明实施例的另一种设置方式中，参见图6和图7，辅助检测线5与衬底9之间的距离d2小于主检测线4与衬底9之间的距离d1，此时，辅助检测线5和主检测线4可以异层设置，辅助检测线5的第一端部6与主检测线4通过第一过孔10电连接，辅助检测线5的第二端部7与主检测线4通过第二过孔11电连接。在该种结构中，辅助检测线5与衬底9之间间隔有至少一层绝缘层12，辅助检测线5与主检测线4与衬底9之间也间隔有至少一层绝缘层12。

在上述结构中，辅助检测线5与衬底9之间的距离较小，尤其是辅助检测线5与衬底9之间的距离小于主检测线4与衬底9之间的距离时，相较于主检测线4，辅助检测线5与衬底9相距更近。由于裂纹多在衬底9上产生，因而辅助检测线5对裂纹的感知更加敏感，更易在裂纹的作用下发生断裂。当辅助检测线5位于主检测线4靠近面板边缘的一侧，需要基于辅助检测线5是否断裂来对裂纹的产生位置进行判断时，该种结构可以提高裂纹检测的准确性。

进一步地，如图8～图10所示，图8为本发明实施例所提供的主检测线4和辅助检测线5的一种膜层位置示意图，图9为本发明实施例所提供的主检测线4和辅助检测线5的另一种膜层位置示意图，图10为本发明实施例所提供的主检测线4和辅助检测线5的再一种膜层位置示意图，显示面板包括半导体层13和第一金属层14，第一金属层14位于半导体层13与衬底9之间，辅助检测线5位于第一金属层14。此时，辅助检测线5位于最靠近衬底9一侧的金属层，辅助检测线5与衬底9相距很近，对裂纹的感知也就更敏感。

此外，还需要说明的是，再次参见图8和图9，显示面板还包括位于第一金属层14与半导体层13之间的缓冲层15、位于半导体层13背向衬底9一侧的栅极绝缘层16、位于栅极绝缘层16背向衬底9一侧的第二金属层17、位于第二金属层17背向衬底9一侧的第一层间绝缘层18、位于第一层间绝缘层18背向衬底9一侧的第三金属层19、位于第三金属层19背向衬底9一侧的第二层间绝缘层20、位于第二层间绝缘层20背向衬底9一侧的第四金属层21。

可以理解的是，再次参见图8和图9，显示面板包括晶体管22和存储电容23，其中，半导体层13包括晶体管22的有源层p，第二金属层17包括晶体管22的栅极g和存储电容23的第一电极c1，第三金属层19包括存储电容23的第二电极c2，第四金属层21包括晶体管22的第一极s和第二极d。

在本发明实施例中，辅助检测线5可位于第一金属层14、第二金属层17、第三金属层19或第四金属层21中的一层，主检测线4也可位于第一金属层14、第二金属层17、第三金属层19或第四金属层21中的一层。

例如，当辅助检测线5和主检测线4同层设置时，在一种设置方式中，参见图8，辅助检测线5和主检测线4均位于第一金属层14。或者，在另一种设置方式中，如图11所示，图11为本发明实施例所提供的主检测线4和辅助检测线5的又一种膜层位置示意图，辅助检测线5和主检测线4均位于第二金属层17。再或者，在另一种设置方式中，如图12所示，图12为本发明实施例所提供的主检测线4和辅助检测线5的又一种膜层位置示意图，辅助检测线5和主检测线4均位于第三金属层19。

当辅助检测线5和主检测线4异层设置时，在一种设置方式中，参见图9，辅助检测线5位于第一金属层14，主检测线4位于第三金属层19，或者，参见图10，辅助检测线5位于第一金属层14，主检测线4位于第二金属层17。再或者，在另一种设置方式中，如图13所示，图13为本发明实施例所提供的主检测线4和辅助检测线5的又一种膜层位置示意图，辅助检测线5位于第二金属层17，主检测线4位于第三金属层19，此时，辅助检测线5和主检测线4所在的两个金属层相邻，辅助检测线5和主检测线4之间未间隔其它的金属层，也未间隔半导体层13，结合图6，此时可以减小辅助检测线5和主检测线4之间的第一过孔10和第二过孔11的打孔深度，提高二者的连接可靠性。

此外，还需要说明的是，一般情况下，不同的金属层所采用的金属材料可以不同，因此，当主检测线4和辅助检测线5异层设置时，也可以利用二者所采用的金属材料的电阻率差异来调节主检测线4和辅助检测线5的电阻。

在一种可行的实施方式中，如图14所示，图14为本发明实施例所提供的显示面板的又一种俯视图，辅助检测线5包括并联设置的至少两条子辅助线25，其中，相邻两条子辅助线25在显示面板所在平面上的正投影之间的距离大于0。

在上述设置方式中，辅助检测线5自身也构成了一个并联结构。在辅助检测线5中，子辅助线25均未发生断裂、子辅助线25中一个或多个发生断裂、子辅助线25全部发生断裂时，辅助检测线5的整体电阻不同，因而对裂纹检测线3的整体电阻的影响程度也不同。

基于此，本发明实施例在预先计算裂纹检测线3的第一预设电阻时，还可以进一步计算出各辅助检测线5中不同子辅助线25发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻。当裂纹检测线3的实际电阻与某个辅助检测线5中一个子辅助线25发生断裂时对应的第一预设电阻相匹配时，说明裂纹的产生位置为该辅助检测线5所在的位置，且裂纹仅向内延伸了较短距离，裂纹与显示区1相距稍远。当裂纹检测线3的实际电阻与某个辅助检测线5中两个子辅助线25发生断裂时对应的第一预设电阻相匹配时，说明裂纹的产生位置为该辅助检测线5所在的位置，且裂纹已经向内延伸了较大距离，裂纹与显示区1相距较近。这样不仅可以对裂纹的产生位置进行判断，还可以对裂纹向内的延伸距离进行判断，进而可以获知裂纹更多的信息，进而可制定更完善的制程解析。

此外，还需要说明的是，辅助检测线5中的子辅助线25可以同层设置，也可以异层设置。例如，辅助检测线5中的子辅助线25位于至少两个金属层，且与主检测线4相距最远的子辅助线25更加靠近衬底9。

在一种可行的实施方式中，如图15所示，图15为本发明实施例所提供的显示面板的又一种俯视图，辅助检测线5位于主检测线4靠近显示区1的一侧。

由于裂纹多在显示面板的边缘产生且由外向内延伸，因此，当主检测线4位于辅助检测线5远离显示区1的一侧时，主检测线4会最先感知裂纹而发生断裂，即，上述结构是通过基于与主走线段8是否断裂来对裂纹的产生位置进行检测的。

当裂纹检测线3包括多个主走线段8时，裂纹检测线3相应包括多个辅助检测线5。

在本发明实施例的一种设置方式中，不同主走线段8的电阻不同，而不同辅助检测线5的电阻可以相同。例如，在设计主走线段8时，不同主走线段8采用同一构图工艺形成，此时可以使不同主走线段8的膜厚相同、线宽相同，而使不同主走线段8的长度彼此不同，以使得不同主走线段8的电阻不同。在设计辅助检测线5时，当不同辅助检测线5的长度固定时，可以通过调整不同辅助检测线5的线宽和/或膜厚来使得不同辅助检测线5的电阻相同。此时，不同主走线段8的电阻对裂纹检测线3的整体电阻的影响程度不同，不同主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻是不同的。

或者，在本发明实施例的另一种设置方式中，不同主走线段8的电阻相同，但不同辅助检测线5的电阻不同。例如，不同主走线段8长度相同，以使得不同主走线段8的电阻相同，而不同辅助检测线5的长度相同但线宽和/或膜厚不同，以使得不同辅助检测线5的电阻不同。此时，当某一位置的主走线段8发生断裂时，其所在的并联结构中仅剩了辅助检测线5，该辅助检测线5视为与其它并联结构串联连接，由于不同辅助检测线5的电阻不同，因而不同辅助检测线5进行串联时裂纹检测线3所具有的整体电阻是不同的，也即不同主走线段8断裂时裂纹检测线3所具有的整体电阻不同。

基于此，本发明实施例在预先计算裂纹检测线3的预设电阻时，所计算的第一预设电阻可以包括其中任意i个主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻，i依次取值1、2、3、…、x，x为裂纹检测线3所包括的主走线段8的数量。以x＝3为例，第一预设电阻可以包括：第1个主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第2个主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第3个主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第1个和第2个主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第2个和第3个主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第1个和第3个主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、3个主走线段8全部发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻。

在对裂纹进行检测时，通过将检测到的裂纹检测线3的实际电阻与预先计算出的第一预设电阻进行比对，当实际电阻与其中某一个第一预设电阻相匹配时，则可根据匹配到的第一预设电阻获知是哪一个还是哪几个主走线段8发生了断裂，进而即可获知裂纹的产生位置。

在本发明实施例中，辅助检测线5和与其并联的主走线段8的电阻还可以相同，但不同辅助检测线5之间的电阻彼此不同。此时，在辅助检测线5和主走线段8所构成的并联结构中，无论是辅助检测线5发生断裂还是主走线段8发生断裂，对裂纹检测线3整体电阻的影响都是一致的，这样对辅助检测线5的设置位置可更灵活，例如可以根据非显示区的布线设计，将部分辅助检测线5设置在主检测线4靠近显示区1的一侧，而将其余部分辅助检测线5设置在主检测线4远离显示区1的一侧。

在一种可行的实施方式中，再次参见图2，辅助检测线5包括第一辅助检测线26和第二辅助检测线27，第一辅助检测线26和第二辅助检测线27的电阻不同。

以辅助检测线5位于主检测线4远离显示区1的一侧，利用辅助检测线5对裂纹位置进行判断为例，当第一辅助检测线26和第二辅助检测线27的电阻不同时，第一辅助检测线26和第二辅助检测线27的电阻对裂纹检测线3的整体电阻的影响程度不同，因而在预先计算裂纹检测线3的第一预设电阻时，第一辅助检测线26断裂时对应的第一预设电阻、第二辅助检测线27断裂时第一预设电阻、第一辅助检测线26和第二辅助检测线27均断裂时第一预设电阻之间会具有明显差异，因而在将裂纹检测线3的实际电阻与多个第一预设电阻进行比对时，就可以准确获知裂纹是产生于第一辅助检测线26所在位置处，还是产生于第二辅助检测线27所在位置处，还是同时产生于第一辅助检测线26和第二辅助检测线27所在位置处。

进一步地，再次参见图2，第一辅助检测线26和第二辅助检测线27的长度不同，从而在线宽、膜厚等参数条件不变时，可以利用第一辅助检测线26和第二辅助检测线27的长度差异来调整第一辅助检测线26和第二辅助检测线27的电阻，进而使第一辅助检测线26和第二辅助检测线27具有不同的电阻。

和/或，如图16所示，图16为本发明实施例所提供的显示面板的又一种俯视图，第一辅助检测线26的线宽与第二辅助检测线27的线宽不同，从而在长度、膜厚等参数条件不变时，可以利用第一辅助检测线26和第二辅助检测线27的线宽差异来调整第一辅助检测线26和第二辅助检测线27的电阻，进而使第一辅助检测线26和第二辅助检测线27具有不同的电阻。

和/或，如图17和图18所示，图17为本发明实施例所提供的显示面板的又一种俯视图，图18为图17沿C1-C2方向的一种剖视图，第二辅助检测线27的膜厚与第二辅助检测线27的膜厚不同，在长度、线宽等参数条件不变时，可以利用第一辅助检测线26和第二辅助检测线27的膜厚差异来调整第一辅助检测线26和第二辅助检测线27的电阻，进而使第一辅助检测线26和第二辅助检测线27具有不同的电阻。

此外，还需要说明的是，当通过调整第一辅助检测线26和第二辅助检测线27的线宽和/或膜厚来使二者具有电阻差异时，参见图17，第一辅助检测线26和第二辅助检测线27可以均可具有较小长度，进而在主检测线4长度一定时，可以在主检测线4上设置更多数量的辅助检测线5，进而可以对裂纹的产生位置进行更加精确的判断。

在一种可行的实施方式中，如图19～图21所示，图19为本发明实施例所提供的显示面板的又一种俯视图，图20为图19沿D1-D2方向的一种剖视图，图21为图19沿D1-D2方向的另一种剖视图，显示面板还包括裂纹阻隔结构28，在垂直于显示面板所在平面的方向上，裂纹阻隔结构28位于辅助检测线5和主检测线4之间。

在一种设置方式中，参见图20，辅助检测线5和主检测线4朝向衬底9一侧的绝缘层12和裂纹阻隔结构28连通设置，此时可以通过刻蚀工艺将该绝缘层12和裂纹阻隔结构28采用同一构图工艺形成。或者，在另一种设置方式中，参见图21，裂纹阻隔结构28与绝缘层12彼此独立，裂纹阻隔结构28可以由额外的构图工艺单独形成。

通过在辅助检测线5和主检测线4之间设置裂纹阻隔结构28，当显示面板存在裂纹时，裂纹阻隔结构28不仅可以有效阻挡裂纹朝显示区1进一步延伸，而且还可以降低辅助检测线5和主检测线4同时断裂的风险，提高裂纹检测的可靠性。

进一步地，裂纹阻隔结构28可以包括无机材料，以使得裂纹阻隔结构28具有较优的隔裂纹效果。

在一种可行的实施方式中，参见图2，裂纹检测线3包括多个辅助检测线5，多个辅助检测线5沿主检测线4的延伸方向间隔排列，且相邻两个辅助检测线5在沿其排列方向上所具有的距离d大于或等于2μm，进而避免因工艺精度等原因造成的相邻辅助检测线5接触相连的情况，提高对裂纹位置检测的准确性。

在一种可行的实施方式中，如图22所示，图22为本发明实施例所提供的显示面板的又一种俯视图，非显示区2包括直线区域29和拐角区域30，拐角区域30与直线区域29连通，部分辅助检测线5位于拐角区域30。

对显示面板进行3D贴合等工艺流程时，相较于直线区域29，拐角区域30更易存在应力变化不均的情况，因此拐角区域30更易产生裂纹。对此，本发明实施例通过在拐角区域30内也设置辅助检测线5，可以对拐角区域30是否产生裂纹、以及裂纹的产生位置进行检测，进而有助于确认拐角区域30的工艺能力及后续的制程解析，优化拐角区域30的性能。

进一步地，如图23所示，图23为本发明实施例所提供的显示面板的局部示意图，辅助检测线5包括位于直线区域29的第一类辅助检测线31和位于拐角区域30的第二类辅助检测线32。在直线区域29中，至少两个第一类辅助检测线31沿主检测线4的延伸方向间隔排列，在拐角区域30中，至少两个第二类辅助检测线32沿主检测线4的延伸方向间隔排列。相邻两个第二类辅助检测线32在沿其排列方向上所具有的最小距离h1小于相邻两个第一类辅助检测线31在沿其排列方向上所具有的最小距离h2。

通常，拐角区域30内所设置的金属走线数量较多，例如，下边框的拐角区域30需设置大量的扇出走线，因此，如若拐角区域30产生裂纹，就可能有更多的金属走线发生断裂。对此，本发明实施例通过将拐角区域30中的辅助检测线5的排布的更密一些，可以对拐角区域30内的裂纹的产生位置进行更加精确的检测，进而有助于后续对拐角区域30制定更加全面的制程解析。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示面板的裂纹检测方法，结合图1和图2，显示面板包括显示区1和非显示区2，非显示区2包括裂纹检测线3，裂纹检测线3包括主检测线4和至少一个辅助检测线5，主检测线4环绕显示区1，辅助检测线5包括第一端部6和第二端部7，第一端部6和第二端部7分别与主检测线4相连。

如图24所示，图24为本发明实施例所提供的裂纹检测方法的一种流程图，裂纹检测方法包括：

步骤S1：获取第一预设电阻，第一预设电阻为辅助检测线5或主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻，其中，主走线段8为主检测线4中与辅助检测线5并联设置的部分。

步骤S2：对裂纹检测线3的实际电阻进行检测，判断实际电阻是否与第一预设电阻相匹配，若是，则判断出显示面板存在裂纹，且裂纹的产生位置为辅助检测线5或主走线段8所在的位置。

结合前述分析，采用本发明实施例所提供的裂纹检测方法，在进行裂纹检测时，通过将检测得到的裂纹检测线3的实际电阻，与预先获取的辅助检测线5或主走线段8断裂时裂纹检测线3所应具有的第一预设电阻进行比对，即可判断出辅助检测线5或主走线段8所在的位置处是否发生了断裂，如若判断出发生了断裂，则辅助检测线5或主走线段8所在位置即为裂纹的产生位置，从而实现对裂纹的产生位置进行准确判断，后续就可根据裂纹的产生位置确认工艺能力及后续的制程解析，有助于后续对显示面板进行改善和修复。

在一种可行的实施方式中，结合图2，裂纹检测线3包括x个辅助检测线5，x个辅助检测线5均位于主检测线4远离显示区1的一侧。其中，x个辅助检测线5的电阻可以彼此不同。

基于此，第一预设电阻包括其中任意i个辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻，i依次取值1、2、…、x。

上述检测方法是基于辅助检测线5是否断裂来对裂纹的产生位置进行检测的。以x＝3为例，第一预设电阻可以包括：第1个辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第2个辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第3个辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第1个和第2个辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第2个和第3个辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第1个和第3个辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、3个辅助检测线5全部发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻。

上述方式将任意部分辅助检测线5发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻均进行预先计算，因而，即使显示面板存在多条裂纹导致多个辅助检测线5断裂，均可在预设的多个第一预设电阻中匹配到一个与实际电阻相对应的，进而根据该第一预设电阻即可获知辅助检测线5的断裂情况，进而获知裂纹的产生数量及产生位置。

进一步地，如图25所示，图25为本发明实施例所提供的裂纹检测方法的另一种流程图，步骤S1具体可以包括：

步骤S11：根据辅助检测线5的设计参数和工艺参数，获取辅助检测线5的电阻范围。其中，设计参数可以包括辅助检测线5的膜厚、线宽、长度等理论设计参数，工艺参数可以包括工艺精度，如对位误差等参数。

步骤S12：根据辅助检测线5的电阻范围，获取第一预设电阻的数值范围。

在辅助检测线5的工艺制程中，受到工艺精度等因素的影响，辅助检测线5的线宽、膜厚等实际数值可能会与其理论上的设计数值存在差别，进而导致辅助检测线5的实际电阻与理论设计电阻存在差异。对此，本发明实施例通过综合辅助检测线5的设计参数和工艺参数计算得出了辅助检测线5的电阻所可能具有的一个数值范围，进而根据该数值范围将第一预设电阻也扩大到一个数值范围。当后续检测出的实际电阻处于第一预设电阻的数值范围内时，即可判断实际电阻与该第一预设电阻相匹配，这样可以降低因工艺误差等因素导致的实际电阻与第一预设电阻无法匹配的风险。

进一步地，结合图2，辅助检测线5包括第一辅助检测线26和第二辅助检测线27。

第一辅助检测线26断裂时，所获取到的第一预设电阻的数值范围的最小值为r1、最大值为r2，第二辅助检测线27断裂时，所获取到的第一预设电阻的数值范围的最小值为r3、最大值为r4，第一辅助检测线26和第二辅助检测线27均断裂时，所获取到的第一预设电阻的数值范围的最小值为r5、最大值为r6。其中，r1＞r4，r5＞r2。

即，第一辅助检测线26断裂时对应的第一预设电阻在r1～r2之间，第二辅助检测线27断裂时对应的第一预设电阻在r3～r4之间，第一辅助检测线26和第二辅助检测线27均断裂时对应的第一预设电阻在r5～r6之间。通过使r1＞r4，r5＞r2，可以使r1～r2、r3～r4和r5～r6三个数值范围不存在交叠区间。进而使实际电阻仅至多位于某一个第一预设电阻的数值范围内，避免出现实际电阻与两个第一预设电阻的数值范围相匹配的情况。

在一种可行的实施方式中，结合图15，裂纹检测线3包括x个辅助检测线5，x个辅助检测线5均位于主检测线4靠近显示区1的一侧。其中，x个辅助检测线5的电阻可以彼此不同。

基于此，第一预设电阻包括其中任意i个主走线段8发生断裂时裂纹检测线3的电阻，i依次取值1、2、…、x。

上述检测方法是基于主走线段8是否断裂来对裂纹的产生位置进行检测的。以x＝3为例，第一预设电阻可以包括：第1个主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第2个主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第3个主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第1个和第2个主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第2个和第3个主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、第1个和第3个主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻、3个主走线段8全部发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻。

上述方式将任意部分主走线段8发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻均进行了预先计算，因而，即使显示面板存在多条裂纹导致多个主走线段8断裂，均可在预设的多个第一预设电阻中匹配到一个与实际电阻相对应的，进而根据该第一预设电阻即可获知主走线段8的断裂情况，进而获知裂纹的产生数量及产生位置。

在一种可行的实施方式中，裂纹检测方法还包括：获取第二预设电阻，第二预设电阻为辅助检测线5和主走线段8均未发生断裂时裂纹检测线3所具有的电阻；在检测到裂纹检测线3的实际电阻时，判断实际电阻是否与第二预设电阻相匹配，若是，则判断出显示面板不存在裂纹。

通过获取第二预设电阻以及比对实际电阻与第二预设电阻是否匹配，还可以对辅助检测线5和主走线段8均未发生断裂的情况进行鉴定，对裂纹的检测结果更加全面。

需要说明的是，在本发明实施例中，第二预设电阻也可以为一个数值范围。例如，可以根据辅助检测线5的设计参数和工艺参数，获取辅助检测线5的电阻的数值范围，进而再根据该数值范围获取第二预设电阻的数值范围。

进一步地，第二预设电阻的数值范围与任意一个第一预设电阻的数值范围不交叠，例如，第二预设电阻的数值范围的最小值为r7、最大值为r8，可以使r3＞r8，以使得r1～r2、r3～r4、r5～r6和r7～r8这四个数值范围均不存在交叠区间。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，如图26所示，图26为本发明实施例所提供的显示装置的一种结构示意图，显示装置包括上述显示面板100。其中，显示面板100的具体结构已经在上述实施例中进行了详细说明，此处不再赘述。当然，图26所示的显示装置仅仅为示意说明，该显示装置可以是例如手机、平板计算机、笔记本电脑、电纸书或电视机等任何具有显示功能的电子设备。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。