显示数据调试系统和显示数据调试方法

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及显示数据调试技术领域，具体涉及一种显示数据调试系统和显示数据调试系统。

背景技术

显示面板的刷新率、解析度以及尺寸提升后，其内部走线密度长度随之增加，寄生电容及阻容抗(RC delay)愈严重，且高端显示产品的解析度一般要求很高，则每个子像素的充电率不一致，面板显示效果不均匀。

为解决上述问题，各面板厂商采用在时序控制器(Tcon)或片上系统(SOC，System-On-a-Chip)内增加充电补偿功能算法，充电补偿算法开启时需要写入与显示面板设置相应的数据补偿表，以便能对视频讯号进行实时补偿处理，提升屏幕显示画质。

现有充电补偿算法调试系统的工作流程如下：

a)PC(Personal Computer，个人电脑)显卡输出4K(指对应的分辨率)8bits信号通过DP(DisplayPort，显示接口)转接输出，经过DP/DVI(Digital Visual Interface，数字视频接口)治具板转成DVI信号，控制FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)输出4K 8bits LVDS(Low-Voltage Differential Signaling，低电压差分信号)。

b)信号转接板将LVDS转换成V-by-one(专门面向图像传输开发出的数字接口标准)信号传送给C板(C-board)上时序控制器(Tcon IC)，Tcon IC将信号传给数据驱动器(Data IC)，最终在液晶面板显示画面。

c)色彩分析仪进行显示画面的光学量测，量测所得的数据返回给PC。

d)PC进行数据保存及处理，并且显卡再次输出信号重复上述过程，最终实现整个调试动作，产出调试数据表。

由上述工作流程可知，调试系统输出信号的解析度与信号比特深度受限于PC显卡的配置，即前端PC显卡配置为4K 8bits，则显示面板不会显示8K 10bits的画面，所以在实际调试时搭建调试平台必须找到相应解析度的电脑。

其中，DP/DVI转接板的作用是将DP型接口信号转成DVI型接口信号，4K电脑每个DP接口输出信号为2K，在调试4K显示屏充电补偿算法时，则需要2个转接板；同理，进行8K显示屏算法调试时，8K电脑每个DP接口输出2K信号，则需要4个转接板。而且，在实际搭建调试平台时，操作不当极易导致转接板出现损坏。

发明内容

本申请提供一种显示数据调试系统，解决了显示数据调试系统输出的视频信号的位宽依赖于PC显卡的配置，以及需要较多转接板的问题。

第一方面，本申请提供一种显示数据调试系统，其包括上位机、现场可编程逻辑门阵列、待调试显示面板以及色彩分析仪；上位机，用于生成控制指令，和接收并根据色彩数据以输出对应的调试数据表；现场可编程逻辑门阵列，与上位机连接，用于根据控制指令输出对应位宽的视频数据；待调试显示面板，与现场可编程逻辑门阵列连接，用于接收视频数据以显示对应的测试画面；以及色彩分析仪，与待调试显示面板和上位机连接，用于侦测测试画面以获得对应的色彩数据。

基于第一方面，在第一方面的第一种实施方式中，现场可编程逻辑门阵列包括存储单元、位宽转换单元以及控制单元；存储单元，用于存储视频数据；位宽转换单元，用于对视频数据进行位宽转换，以输出对应位宽的视频数据；以及控制单元，与上位机、存储单元以及位宽转换单元连接，用于根据控制指令调用视频数据至位宽转换单元，和指示位宽转换单元进行对应位宽的转换。

基于第一方面的第一种实施方式，在第一方面的第二种实施方式中，位宽为8bits或者10bits。

基于第一方面的第一种实施方式，在第一方面的第三种实施方式中，上位机与控制单元通过二线制串行数据总线连接。

基于第一方面，在第一方面的第四种实施方式中，色彩分析仪的型号为CA310或者CA410。

基于第一方面的第一种实施方式，在第一方面的第五种实施方式中，现场可编程逻辑门阵列设置于PG电路板；PG电路板还设置有信号转接模块；信号转接模块用于将视频信号从LVDS型转换为V-By-One型。

基于第一方面的第五种实施方式，在第一方面的第六种实施方式中，待测试显示面板包括位于C电路板上的时序控制器；信号转接模块与时序控制器以V-By-One信号形式传输视频信号。

基于第一方面的第六种实施方式，在第一方面的第七种实施方式中，待测试显示面板还包括X电路板和数据驱动IC；C电路板的输出端通过MINI-LVDS接口或者P2P接口与X电路板的输入端连接；X电路板的输出端与数据驱动IC的输入端连接。

基于第一方面的第六种实施方式，在第一方面的第八种实施方式中，C电路板上还设置有用于提供灰阶信号的灰阶电路、提供电位信号的电位转换电路以及直流转换电路。

第二方面，本申请提供一种显示数据调试方法，其包括：上位机输出对应的控制指令；现场可编程逻辑门阵列根据控制指令输出对应位宽的视频数据；待调试显示面板根据接收的视频数据显示对应的测试画面；色彩分析仪根据侦测到的测试画面输出对应的色彩数据；以及上位机保存及处理色彩数据，并输出下一轮的控制指令，直至上位机根据至少一轮的色彩数据生成待显示面板的调试数据表。

本申请提供的显示数据调试系统及显示数据调试方法，通过上位机发出的控制指令控制现场可编程逻辑门阵列输出对应位宽的视频数据，解除PC显卡对视频数据的位宽限制，且减少了转接板的使用数量，使显示数据的调试更加便捷高效。

附图说明

下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。

图1为本申请实施例提供的显示数据调试系统的第一种结构示意图。

图2为本申请实施例提供的显示数据调试系统的第二种结构示意图。

图3为本申请实施例提供的显示数据调试方法的流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

如图1所示，本实施例提供了一种显示数据调试系统，其包括上位机100、现场可编程逻辑门阵列200、待调试显示面板300以及色彩分析仪400；上位机100，用于生成控制指令，和接收并根据色彩数据以输出对应的调试数据表；现场可编程逻辑门阵列200，与上位机100连接，用于根据控制指令输出对应位宽的视频数据；待调试显示面板300，与现场可编程逻辑门阵列200连接，用于接收视频数据以显示对应的测试画面；以及色彩分析仪400，与待调试显示面板300和上位机100连接，用于侦测测试画面以获得对应的色彩数据。

可以理解的是，本实施例中的待调试显示面板300为显示数据调试系统的调试对象，并不包括在本显示数据调试系统中，仅仅是为了描述方便，更加清楚的体现本显示数据调试系统中的信号走向关系。其中，显示数据调试系统可以但不限于为液晶面板，也可以是其他的自发光显示面板，例如，OLED显示面板，或者mini-LED显示面板，或者micro-LED显示设备等。

可以理解的是，在本实施例的工作过程中，上位机100仅需向现场可编程逻辑门阵列200发出对应的控制指令即可，节省了视频数据从上位机100至现场可编程逻辑门阵列200的转换过程，即节省了对应转接板的使用；而且，现场可编程逻辑门阵列200可以根据控制指令输出对应位宽的视频数据，解除了传统技术方案依赖于PC显卡配置的问题，使得任意显卡配置的PC输出控制指令，控制FPGA产生所需解析度与比特深度的画面，即调试系统不要求PC显卡配置为4K或8K，也不需要DP/DVI转接板，这极大简化了调试平台，提升了调试系统的适用性，并且节省资源，尤其重要的是该种设计为8K，10bit或更高要求的面板与信号的数据补偿提供了调试可能，同时也为其他调试系统开发提供了参考思想。

如图2所示，在其中一个实施例中，现场可编程逻辑门阵列200包括存储单元210、位宽转换单元230以及控制单元220；存储单元210，用于存储视频数据；位宽转换单元230，用于对视频数据进行位宽转换，以输出对应位宽的视频数据；以及控制单元220，与上位机100、存储单元210以及位宽转换单元230连接，用于根据控制指令调用视频数据至位宽转换单元230，和指示位宽转换单元230进行对应位宽的转换。

可以理解的是，当前的现场可编程逻辑门阵列200可以进行的位宽转换是可以满足显示数据的位宽转换的，毕竟当前的显示数据的位宽转换使用较多的为转换为8bits的显示数据，较为高端的需求是转换为10bits的显示数据，当然，随着相关领域的技术发展，现场可编程逻辑门阵列200可以进行的位宽转换也有可能得到进一步提升，同时，显示数据的位宽转换需求也会出现更为高端的需求。

在其中一个实施例中，位宽可以但不限于为8bits或者10bits，也可以为12bits，或者14bits，或者16bits及其以上位宽的。

在其中一个实施例中，上位机100与控制单元220可以但不限于通过二线制串行数据总线连接，也可以是全双工同步串行总线。

在其中一个实施例中，色彩分析仪400的型号可以但不限于为CA310或者CA410，也可以是其他可以实现显示画面的亮度和色彩采集的光学仪器。

在其中一个实施例中，现场可编程逻辑门阵列200设置于PG电路板；PG电路板还设置有信号转接模块；信号转接模块用于将视频信号从LVDS型转换为V-By-One型。

可以理解的是，现场可编程逻辑门阵列200、信号转接模块设置于同一PG电路板上，可以降低显示数据调试系统的占用空间，增加显示数据调试系统的便携性。

在其中一个实施例中，待测试显示面板包括位于C电路板上的时序控制器；信号转接模块与时序控制器以V-By-One信号形式传输视频信号。

在其中一个实施例中，待测试显示面板还包括X电路板和数据驱动IC；C电路板的输出端通过MINI-LVDS接口或者P2P接口与X电路板的输入端连接；X电路板的输出端与数据驱动IC的输入端连接。

在其中一个实施例中，C电路板上还设置有用于提供灰阶信号的灰阶电路、提供电位信号的电位转换电路以及直流转换电路。

可以理解的是，电位转换电路输出的电位信号包括用于薄膜晶体管开启的高电位信号和/或低电位信号。直流转换电路用于为相关电性单元提供适配的直流电压。

可以理解的是，时序控制器、灰阶电路、电位转换电路以及直流转换电路均集成于C电路板上，可以减少相互间的走线，压缩其占用空间。

可以理解的是，本公开提供的显示数据调试系统的工作过程如下：

1)、PC通过USB转IIC治具板发出控制指令控制FPGA输出8/10bits的LVDS信号。

2)、信号转接板将LVDS转成V-by-one信号传送给C-board上的Tcon IC，Tcon IC将信号传给Data IC，最终液晶面板显示画面。

3)、色彩分析仪400CA310/CA410进行显示画面的光学量测，量测所得的色彩数据返回给PC。

4)、PC进行数据保存及处理，并再次下指令控制FPGA输出对应的LVDS信号，重复上述过程，最终实现整个调试动作，产出调试数据表。

本方案可实现原有调试平台的简化，保证调试功能的同时进行成本降低(costdown)，该设计也适用于其他需要产生高解析度、高信号bits的调试平台。

如图3所示，在其中一个实施例中，本申请提供一种显示数据调试方法，其包括以下步骤：

步骤S10：上位机100输出对应的控制指令。

步骤S20：现场可编程逻辑门阵列200根据控制指令输出对应位宽的视频数据。

步骤S30：待调试显示面板300根据接收的视频数据显示对应的测试画面。

步骤S40：色彩分析仪400根据侦测到的测试画面输出对应的色彩数据。

以及步骤S50：上位机100保存及处理色彩数据，并输出下一轮的控制指令，直至上位机100根据至少一轮的色彩数据生成待显示面板的调试数据表。

可以理解的是，本实施例提供的显示数据调试方法对PC显卡设置无要求且不需DVI&DP转接板，提升了调试的适用性，并且可以节省资源。

可以理解的是，本公开提供的显示数据调试方法或者显示数据调试系统均可以简化充电补偿算法的现有调试平台，在保证调试功能的同时实现低成本(cost down)，其亦适用于其它需要产生类似信号的调试或光学量测平台。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

以上对本申请实施例所提供的显示数据调试系统进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。