一种测量光轴偏移量的方法、电子设备、系统和存储介质

技术领域

本发明涉及但不限于摄像装置测试及使用校准领域，尤其涉及一种测量拍摄设备的光轴偏移量的方法、电子设备、系统和存储介质。

背景技术

具有变焦镜头的监控摄像机在生产使用中，在镜头变倍时，因为镜头的光轴中心发生偏移，导致广角时拍摄画面的中心与长焦时拍摄画面的中心会发生变化。如图1中长焦下实景图像中标记的成像中心(实线交叉点)和对焦中心(目标物)位置重合，当设备变倍到广角时，如图2所示，成像中心(实线交叉点)不变，但是原长焦中心位置(虚线交叉点)发生了较大偏差。也就是说，当某倍率下处于画面正中心的目标，在镜头变倍放大或缩小后，该目标不再处于画面正中心，而往画面的某一方向出现了偏移，这就是镜头光轴偏移现象。生产应用中，镜头光轴偏移造成成像物体的偏移，影响球机、云台监控设备的3D定位等业务功能，也会影响设备变倍的使用体验。

镜头光轴中心，从镜头的光学设计上来说，理论上不存在偏差，但是实际生产及装配无法实现零偏差，一般镜头会在规格书中标记中心偏移参数，常见参数有5.0％。从整个成像系统上看，一般还与镜头、传感器的装配相关，成像面平面与镜头光轴无法实现完全垂直也会导致镜头光轴偏差被放大。

因此，对于实际生产应用中的可变焦的视频监控设备，如何有效控制及纠正光轴偏差，是提升业务功能、改善设备使用体验的关键步骤。

发明内容

本公开实施例提供一种测量光轴偏移量的方法、电子设备、系统和存储介质，利用测试图进行拍摄设备的部分采样镜头倍率下光轴偏移量的确定，在提高测量准确性的同时减小了测量样本量。依此确定的拍摄设备的光轴偏移量将用于进行实际生产应用中获取拍摄图像时进行光轴偏移补偿，提升输出图像的整体质量。

一方面，本公开实施例提供一种测量光轴偏移量的方法，包括：

从拍摄设备支持的镜头倍率中选择N个采样镜头倍率，N为大于或等于1的整数；

针对每一个采样镜头倍率，分别执行以下步骤确定对应的光轴偏移量：

采用该采样镜头倍率，针对预设的测试图获取采集图像；确定测试图的中心点对应在所述采集图像上的位置，记为测试图中心位置；根据所述测试图中心位置和所述采集图像，确定该采样镜头倍率对应的光轴偏移量。

另一方面，本公开实施例还提供一种电子设备，包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如本公开任一实施例所述的测量光轴偏移量的方法。

另一方面，本公开实施例还提供一种测量光轴偏移量的系统，包括：

测量光轴偏移量的装置、可变焦拍摄设备和平行光管；

所述装置包括：采样镜头倍率确定模块和光轴偏移量确定模块；

其中，所述采样镜头倍率确定模块设置为，从所述可变焦拍摄设备支持的镜头倍率中选择N个采样镜头倍率，N为大于或等于1的整数；

所述光轴偏移量确定模块设置为，针对每一个采样镜头倍率，分别执行以下步骤确定对应的光轴偏移量：

采用该采样镜头倍率，通过所述平行光管的增据透镜，针对所述平行光管中预设的测试图获取采集图像；确定测试图的中心点对应在所述采集图像上的位置，记为侧视图中心位置；根据所述测试图中心位置和所述采集图像，确定该采样镜头倍率对应的光轴偏移量；

所述测试图设置在所述平行光管的背光板内侧面上。

另一方面，本公开实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如本公开任一实施例所述的测量光轴偏移量的方法。

本发明实施例提供的方案，能够快速准确测定拍摄设备的不同镜头倍率所对应的光轴偏移量，进一步配合光轴偏移补偿算法能够解决镜头因光轴偏移带来的业务及变倍效果问题。

在阅读并理解了附图和详细描述后，可以明白其他方面。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1是相关应用场景中存在光轴偏移现象的示意图之一；

图2是相关应用场景中存在光轴偏移现象的示意图之二；

图3是本发明实施例中一种测量光轴偏移量的方法的流程图；

图4是本发明实施例中一种星状测试图的示意图；

图5是本发明实施例中一种测试系统的结构示意图；

图6a-6c是本发明实施例中获取的采样图像的示意图；

图7a-7b是本发明实施例中Hough空间转换示意图；

图8是本发明实施例中一种测量光轴偏移量的系统的结构示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

另外，本发明各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

实际生产应用系统中装配的拍摄设备一般均存在一定程度的镜头光轴偏移现象，为了有效识别并准确量化各设备的准确光轴偏移量，以进一步进行光轴偏移补偿，本公开实施例提供一种测量光轴偏移量的方案，在提高测量准确性的同时，可以不必对全部镜头倍率一一测试，减少测量样本数量，提升测量标定效率。

本公开实施例提供一种测量光轴偏移量的方法，如图3所示，包括：

步骤301，从拍摄设备支持的镜头倍率中选择N个采样镜头倍率，N为大于或等于1的整数；

步骤302，针对每一个采样镜头倍率，分别执行以下步骤确定对应的光轴偏移量：

步骤3021，采用该采样镜头倍率，针对预设的测试图获取采集图像；

步骤3022，确定测试图的中心点对应在所述采集图像上的位置，记为测试图中心位置；

步骤3023，根据所述测试图中心位置和所述采集图像，确定该采样镜头倍率对应的光轴偏移量。

一些示例性实施例中，所述测试图为星状测试图，也称为放射状测试图。一些示例性实施例中，所述星状测试图为西门子星状测试图，也称为西门子星图，Chart图，或西门子Chart图，如图4所示。一些示例性实施例中，西门子星状测试图包括不同的型号(形式)，不同的型号对应间距角度、中心区域直径等不同属性。不限于本公开示例的特定形式。

可以看到，一些示例性实施例中选用星状测试图是因为星状测试图中包括的放射线图案能够使得镜头在不同倍率下始终一致，便于后续识别及偏移量确定算法的处理一致性；同时，星状测试图所包含的丰富图形细节也提高了测试过程中获取图像时的聚焦成功率。根据本公开实施例记载的方面，本领域技术人员还可以选取其他形式的星状测试图，不限于本公开实施例所示例的图4的方面。

需要说明的是，本公开实施例方案还可以采用其他类型的测试图，被选用的测试图具有可识别的中心点。在选用其他类型测试图的情况下，根据该测试图获取采集图像后，在采集图像中具体确定该测试图的中心点的方案也需对应调整即可。本公开实施例中，相关实施例以星状测试图为例，并不限定只能采用星状测试图，本领域技术人员根据示例可以知晓采用其他类型测试图时，对应的实施步骤，在此不一一示例。

一些示例性实施例中，所述方法的执行采用如图5所示的测试系统。该系统包括：待测试的拍摄设备(即待测变焦镜头摄像机)、平行光管、测试电脑。其中，平行光管包括：增距透镜和背光板。所述背光板设置在与所述增距透镜相对的底面，所述背光板的内侧面上设置所述星状测试图；所述拍摄设备的镜头通过增距透镜拍摄所述星状测试图以获取对应的采集图像。需要说明的是，本领域技术人员可以采用其他类型的平行光管构建测试系统，不限于图5所示的方面。

一些示例性实施例中，所述方法还包括：

步骤303，根据所述N个采样镜头倍率对应的光轴偏移量，采用插值法，确定所述拍摄设备支持的镜头倍率中所述N个采样镜头倍率以外的其他镜头倍率对应的光轴偏移量。

可以看到，本公开实施例所提供的方案无需针对全部镜头倍率逐一进行拍摄和计算，依据对部分镜头倍率的拍摄计算结果，采用插值法，计算其他未直接拍摄计算的镜头倍率所对应的光轴偏移量。

一些示例性实施例中，在步骤302之前，所述方法包括：

步骤3011，采用所述拍摄设备的最大镜头倍率，调整拍摄设备使其成像中心与所述测试图的中心对准。

可以看到，以星状测试图为例，在对N个采样镜头倍率逐一进行图像获取并确定光轴偏移量之前，先对拍摄设备的成像中心与星状测试图的中心调教对准。采用最大镜头倍率进行调教对准。需要说明的是，因为拍摄设备最大镜头倍率(长焦)下视场角小，当星状测试图的中心在最大镜头倍率(长焦)时就在拍摄画面中心，那么其他倍率下拍摄画面中一定会有星状测试图的中心。一些示例性实施例中，步骤3011可以采用手动方式进行对准；可选地，还可以采用电动三维云台的装置为镜头底座，手动或自动方式控制云台的电机，将拍摄设备的成像中心与星状测试图的中心自动对准。本领域技术人员根据本公开实施例所例举的方面，可以采用其他方式进行对准，不限于本公开实施例所示例的方面。

一些示例性实施例中，步骤3021中所述采用该采样镜头倍率，针对预设的测试图获取采集图像，包括：

采用该采样镜头倍率，针对所述测试图获取原始图像；

在所述原始图像不符合设定的图像范围要求的情况下，对所述原始图像进行裁剪后得到满足所述图像范围要求的图像作为所述采集图像；

在所述原始图像符合设定的图像范围要求的情况下，以所述原始图像作为所述采集图像。

一些示例性实施例中，设定的图像范围要求包括：图像中不包含测试图中一个或多个特征图形或线条。

一些示例性实施例中，所述测试图为星状测试图，设定的图像范围要求包括：图像中不包含星状测试图边缘的圆形弧线。则相应地，所述原始图像如果包括了星状测试图边缘的圆形弧线，则该原始图像不符合设定的图像范围要求；如果不包括星状测试图边缘的圆形弧线，则该原始图像符合设定的图像范围要求。以西门子Chart为例，如果原始图像如图6a，6b所示，则不符合设定的图像范围要求；如果原始图像如图6c所示，则符合设定的图像范围要求。

一些示例性实施例中，裁剪前后的图像中心不变，即裁剪前后画面中心不变。

一些示例性实施例中，所述对所述原始图像进行裁剪后得到满足所述图像范围要求的图像作为所述采集图像，包括：

以所述原始图像的画面中心为基准中心，按照原始图像的宽高比例对所述原始图像进行等比例裁剪，得到满足所述图像范围要求的图像作为所述采集图像。

一些示例性实施例中，所述对所述原始图像进行裁剪后得到满足所述图像范围要求的图像作为所述采集图像，包括：

以所述原始图像的画面中心为基准中心，绘制一个新的设定形状的区域进行裁决，得到满足所述图像范围要求的图像作为所述采集图像。

其中，所述新的设定形状的区域，可以是矩形区域，其宽高比例与原始图像等比例或不等比例；也可以是设定半径的圆形区域；还可以是其他设定形状的区域，不限于本公开实施例示例的方面。

一些示例性实施例中，对原始图像进行裁剪后确定的采集图像如图6c所示。

需要说明的是，根据上述实施例，在不满足设定的图像范围要求的情况下，对采集到的原始图像进行裁剪，使得后续进行识别和计算的采集图像一致性较高，干扰因素较少，提高了确定采集图像的测试图中心位置的准确性。根据上述示例，可以知晓，如果采用其他类型的测试图，或其他形式的星状测试图，则相应设定的图像范围要求对应调整。

一些示例性实施例中，所述测试图为星状测试图，则步骤3022中确定测试图的中心点对应在所述采集图像上的位置，包括：

对所述采集图像进行放射状图形的边缘检测，得到边缘图；

对所述边缘图进行直线检测，得到所述边缘图所包括的多条直线；

根据所述多条直线确定一个交点，以所述交点在所述采集图像中的位置作为所述测试图中心位置，也称为星状中心位置。

一些示例性实施例中，采用Canny边缘检测算法对所述采集图像进行放射状图形的边缘检测，得到所述边缘图。可选地，还可以采用其他边缘检测算法对所述采集图像进行边缘检查，以得到所述边缘图。

一些示例性实施例中，采用霍夫Hough直线检测算法对所述边缘图进行直线检测，得到所述多条直线。可选地，还可以采用其他直线检测算法对所述边缘图进行直线检测，以得到所述多条直线。

一些示例性实施例中，所述根据所述多条直线确定一个交点，包括：

根据所述多条直线两两计算交点，得到至少一个直线交叉点；

根据所述至少一个直线交叉点计算交叉点质心；

以所述交叉点质心作为所述一个交点。

一些示例性实施例中，根据所述至少一个直线交叉点计算交叉点质心，包括：

对两两计算交点得到的至少一个直线交叉点进行异常过滤，得到过滤后的至少一个直线交叉点；

根据过滤后的至少一个直线交叉点计算交叉点质心。

一些示例性实施例中，对两两计算交点得到的至少一个直线交叉点进行异常过滤，包括：

确定所述至少一个直线交叉点的平均位置，过滤掉所述至少一个直线交叉点中交叉点位置距离所述平均位置大于所述偏移阈值的交叉点。

即根据数据均值和偏移阈值来进行异常数据过滤。

一些示例性实施例中，确定所述至少一个直线交叉点的平均位置，包括：

根据全部交叉点的横坐标和纵坐标，分别计算平均值，得到横坐标平均值和纵坐标平均值，该横坐标平均值和纵坐标平均值确定所述平均位置。

一些示例性实施例中，所述偏移阈值包括：横坐标偏移阈值和纵坐标偏移阈值；

相应地，过滤掉所述至少一个直线交叉点中交叉点位置距离所述平均位置大于所述偏移阈值的交叉点，包括：

过滤掉所述至少一个直线交叉点中交叉点的横坐标与横坐标平均值的差值大于横坐标偏移阈值的交叉点；或者，过滤掉所述至少一个直线交叉点中交叉点的纵坐标与纵坐标平均值的差值大于纵坐标偏移阈值的交叉点。

一些示例性实施例中，根据(过滤后的)至少一个直线交叉点计算交叉点质心，包括：根据所述至少一个直线交叉点的横坐标和纵坐标，分别求平均值，得到所述交叉点质心的横坐标和纵坐标。

例如，执行边缘检测再进行直线检测后，识别出边缘图中的直线，记为Line(j)，Line(j)＝{L1,L2,L3,…,Lm}j＝(1,2,3,…,m)；

计算直线交点，对所有的直线Line(j)两两交叉计算交点，记为Point(k)，交点信息包含有P

Point(k)＝{P1,P2,P3,…,Pa}k＝(1,2,3,…,a)

对计算得到的交点数据进行异常值过滤得到最终的有效数据，如常见的均值方差数据统计方法，有效数据记为ValidPoint(p)，

ValidPoint(p)＝{P’1,P’2,P’3,..,P’b}p＝(1,2,3,…,b)

其中，b小于或等于a。

计算有效直线交点数据的质心，可选方案为求数据点的平均值，计算方式如下，得到中心坐标：Center

一些示例性实施例中，所述测试图为星状测试图，所述确定测试图的中心点对应在所述采集图像上的位置，包括：

对所述采集图像进行放射状图形的边缘检测，得到边缘图；

对所述边缘图进行霍夫Hough变换，确定变换后正弦曲线经过最多的直线参数点；

根据所述正弦曲线经过最多的直线参数点进行Hough反变换，得到所述测试图中心位置，也称为星状中心位置。

需要说明的是，对边缘图像进行Hough变换后，获取到边缘图的Hough空间信息Hough(ρ,θ)。根据Hough变换原理，边缘检测的图像上一点在变换到Hough空间后，是一条正弦曲线，如图7a所示，边缘检测的图像上是一条直线，转化到Hough空间下就是众多正弦曲线经过同一个交点，如图7b。该交点(ρ

进行Hough变换后，得到各直线图Hough记录表，如表1所示；

表1-Hough直线记录表

所有直线之间的交点在转换到Hough空间下为一条正弦曲线，该直线交点同时为其他直线上的一点。因此，所有Hough直线参数(ρ

一些示例性实施例中，在采用其他类型的测试图的情况下，确定测试图的中心点对应在所述采集图像上的位置，则根据所选用的测试图的特征，采用对应的中心点识别方案，以确定在所述采集图像上该测试图的中心点位置。

一些示例性实施例中，步骤301包括：

在所述拍摄设备的变焦电机的总步进数行程内，从长焦到广角的变焦行程中，按照设定的步进数间隔选取N个采样镜头倍率；

其中，所述设定的步进数间隔从长焦到广角逐渐变大。

需要说明的是，变焦镜头其变焦电机行程较大，如果对每一个电机步进数都进行一次光轴偏移量检测则效率比较低。因此，从变焦电机总步进数行程中，选择其中部分为关键点，记为Zoom(i)，作为需要测试的倍率节点，即作为测试的采样镜头倍率。选取这些关键点方法可选的有，长焦附近因为视场角变化小对于中心偏移比较敏感可以小间隔选择Zoom点，广角附近视场角大对于中心偏移敏感程度小可以较大间隔选择Zoom点。可选地，也可以根据一致的步进数间隔从行程起点到终点，均匀选择N个关键点，对应确定N个采样镜头倍率。根据跟公开实施例所例举的方面，本领域技术人员可以采用其他选择方法，选择最具代表性的N个采样镜头倍率，不限于特定形式。

可以看到，通过上述方案选择部分镜头倍率进行实际拍摄测试，能够有效收敛测试样本的数量。对于大型生产应用系统，涉及大量拍摄设备的系统交付工作而言，采用该方案可以大幅度提高测试效率。

一些示例性实施例中，所述光轴偏移量包括：

第一方向光轴偏移量和第二方向光轴偏移量。

一些示例性实施例中，第一方向为水平方向；第二方向为竖直方向。即光轴偏移量包括水平方向光轴偏移量和竖直方向光轴偏移量。

一些示例性实施例中，步骤302中根据所述测试图中心位置和所述采集图像，确定该采样镜头倍率对应的光轴偏移量，包括：

根据所述测试图中心位置，和所述采集图像的宽和高，确定该采样镜头倍率对应的光轴偏移量。

一些示例性实施例中，所述测试图为星状测试图，所述测试图中心位置又称为星状中心位置，该采样镜头倍率对应的光轴偏移量为AxisOffset

xOffset

yOffset

其中，xOffset

需要说明的是，一些实施例中，在执行了步骤3011但并未完全对齐的情况下，可能出现最长焦(最大倍率)的偏移量数据不为0，则可以通过平移数据的方法将长焦(最大倍率)的偏移量数据归0，并对各采样镜头倍率对应的光轴偏移量进行对应的平移调整。

一些示例性实施例中，所述N个采样镜头倍率包括所述拍摄设备支持的最大镜头倍率；

在所述最大镜头倍率对应的光轴偏移量不为零的情况下，所述方法还包括：

将所述最大镜头倍率对应的光轴偏移量进行平移归零；

针对除最大镜头倍率以外的每一个采样镜头倍率，分别执行以下步骤调整所述光轴偏移量：

根据该采样镜头倍率对应的焦距、所述最大镜头倍率对应的焦距和所述最大镜头倍率对应的归零前的光轴偏移量，对该采样镜头倍率对应的光轴偏移量进行平移调整。

例如，N个采样镜头倍率对应的规格焦距为：

Focal(i)＝{Focal

调整后光轴偏移量AxisOffset'

其中，xOffset′

可以看到，针对采样镜头倍率执行302之前，在拍摄画面的成像中心与所述测试图的中心未严格对齐的情况下，通过上述数据平移处理的方式消除因为最长焦没有完全对准带来的偏移量，能够降低测试操作难度，提高测试效率。

一些示例性实施例中，302之后，保存N个采样镜头倍率的光轴偏移量。例如，采用下表保存：

表2-镜头倍率光轴偏移量记录表

相应地步骤303根据上表数据，采用插值法，计算得到其他镜头倍率对应的光轴偏移量。最终得到全部镜头倍率对应的光轴偏移量。

所述方法执行后，全部镜头倍率对应的光轴偏移量保存在拍摄设备中。实际生产应用中，拍摄设备启动后，加载保存的全部镜头倍率对应的光轴偏移量数据，在成像时，根据成像时采用的镜头倍率，查找对应的光轴偏移量，通过相关算法补偿光轴偏差，能够使得最终成像时光轴中心在各个镜头倍率下保持一致。

可选地，N个采样镜头倍率对应的光轴偏移量保存在拍摄设备中。实际生产应用中，拍摄设备启动后，加载保存的N个镜头倍率对应的光轴偏移量数据，并通过插值法计算得到其他镜头倍率对应的光轴偏移量，最终构成全部镜头倍率对应的光轴偏移量，在成像时，根据成像时采用的镜头倍率，查找对应的光轴偏移量，通过相关算法补偿光轴偏差，能够使得最终成像时光轴中心在各个镜头倍率下保持一致。

需要说明的是，在拍摄设备性能足够的情况下，可以在拍摄设备上执行本公开实施例所提供的测量光轴偏移量的方法；可选地，也可以采用上位机控制拍摄设备，执行所述测量光轴偏移量的方法。不限于本公开实施例所记载的特定方面。

还需要说明的是，本公开实施例方案提供测量光轴偏移量的方法，为拍摄设备进行光轴偏移补偿提供了准确的数据基础。进一步进行光轴偏移补偿的方面，本领域技术人员根据相关方案实施，不限于特定方案。具体方面不属于本公开实施例所申请保护和限定的方面。

本公开实施例还提供一种测量光轴偏移量的系统，如图8所示，包括：

测量光轴偏移量的装置801、可变焦拍摄设备802和平行光管803；

所述装置801包括：采样镜头倍率确定模块8011和光轴偏移量确定模块8012；

其中，所述采样镜头倍率确定模块8011设置为，从所述可变焦拍摄设备802支持的镜头倍率中选择N个采样镜头倍率，N为大于或等于1的整数；

所述光轴偏移量确定模块8012设置为，针对每一个采样镜头倍率，分别执行以下步骤确定对应的光轴偏移量：

采用该采样镜头倍率，通过所述平行光管803的增据透镜，针对所述平行光管803中预设的测试图获取采集图像；确定测试图的中心点对应在所述采集图像上的位置，记为测试图中心位置；根据所述测试图中心位置和所述采集图像，确定该采样镜头倍率对应的光轴偏移量；

所述测试图设置在所述平行光管803的背光板内侧面上。

本公开实施例还提供一种电子设备，包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如上述实施例中任一所述的测量光轴偏移量的方法。

本公开实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器实现如上述实施例中任一所述的测量光轴偏移量的方法。

可以看到，本公开实施例提供的测量光轴偏移量的方案，将拍摄设备在特定的测试设备环境下配合测量镜头光轴偏移量的算法，实现测量镜头光轴偏移量的功能。一些实施例中，通过获取当前拍摄设备在平行光管环境下西门子星图的图像，对该图像进行边缘检测处理，进而对边缘检测图像中心进行识别，最终获取图像的中心坐标(例如，星状中心位置)。图像中心坐标与当前画面正中心坐标计算差值即为对应镜头倍率下水平垂直的光轴偏移量。基于本公开实施例提供的测量光轴偏移量的方法，准确高效地确定各拍摄设备各镜头倍率下的光轴偏移量，为后续生产应用中进行光轴偏移补偿奠定了基础。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。