一种控制器芯片测试装置

技术领域

本发明涉及电力电子技术领域，特别是涉及一种控制器芯片测试装置。

背景技术

在汽车控制器产品的研发过程中，需要对控制器中的芯片管脚进行功能验证，以保证产品功能开发的正确性，因此，HSI(Hardware Software Interface)测试是产品开发过程中的重要测试环节。

现有技术中在进行HSI测试时，通常是在芯片选型完成，根据芯片进行电路设计，且电路结构已经硬件制作完成后进行HSI测试，而产品选型至硬件制作完成的过程耗时较长，在这期间无法进行HSI测试，且若HSI测试结果为芯片存在异常，则需对硬件电路进行修改或者重新设计，导致控制器生产周期较长。又由于不同的控制器中通常会选择不同的芯片做电路设计，这就使得HSI测试时需要根据芯片以及芯片连接的不同的外围电路设计测试工具，测试工具的复用性较低，导致测试成本较高。

发明内容

本发明的目的是提供一种控制器芯片测试装置，在待测芯片选型后但未连接外围电路时边进行测试，且通过开关控制电路的控制，不同的待测芯片均进行不同测试功能的测试，降低测试装置的设计成本，且若测试结果为待测芯片故障可直接维修更换，以提高控制器的生产效率。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种控制器芯片测试装置，包括待测芯片、开关控制电路以及多个功能测试芯片，所述待测芯片为控制器设计过程中芯片选型后确定的芯片；

所述开关控制电路连接于所述待测芯片和各个所述功能测试芯片之间，用于控制所述待测芯片的输入引脚和/或输出引脚和所述功能测试芯片之间的电路导通；

所述功能测试芯片用于在与所述待测芯片之间的电路导通时向所述待测芯片的输入引脚注入输入测试信号或者接收所述待测芯片的输出引脚输出的实际输出信号，并根据接收到的实际输出信号和所述输出测试信号确定所述待测芯片的输出引脚的状态；

所述待测芯片用于基于接收到的实际输入信号和所述输入测试信号确定所述待测芯片的输入引脚的状态。

优选地，所述开关控制电路包括连接线，用于基于用户的控制将所述待测芯片和个所述功能测试芯片之间的电路连接，以使所述待测芯片的输入引脚和/或输出引脚和所述功能测试芯片之间的电路导通。

优选地，所述开关控制电路包括分别设置于所述待测芯片和各个所述功能测试芯片之间的多个开关，用于在导通时控制所述待测芯片的输入引脚和/或输出引脚和所述功能测试芯片之间的电路导通。

优选地，所述开关控制电路包括开关电路和处理器；

所述处理器用于在检测到所述开关电路的第一端与所述待测芯片的输入引脚和/或输出引脚连接，并且第二端与所述功能测试芯片连接后，控制所述开关电路导通，以使所述待测芯片的输入引脚或输出引脚与所述功能测试芯片之前的电路导通。

优选地，所述功能测试芯片具体用于在所述待测芯片中下载了开发软件后，在与所述待测芯片之间的电路导通时基于所述开发软件的功能向所述待测芯片的输入引脚注入输入测试信号或者接收所述待测芯片的输出引脚输出的实际输出信号，并根据接收到的实际输出信号和所述输出测试信号确定所述待测芯片的输出引脚的状态。

优选地，所述功能测试芯片具体用于在与所述待测芯片之间的电路导通时向所述待测芯片的输入引脚注入输入测试信号或者接收所述待测芯片的输出引脚输出的实际输出信号，并在接收到的实际输出信号和所述输出测试信号一致时确定所述待测芯片的输出引脚为正常状态。

优选地，所述待测芯片具体用于当接收到的所述实际输入信号和所述输入测试信号一致时确定所述待测芯片的输入引脚为正常状态。

优选地，所述功能测试芯片还用于在确定所述待测芯片的输出引脚为异常状态时，向用户进行输出异常提示。

优选地，所述待测芯片还用于在确定所述待测芯片的输入引脚为异常状态时，向用户进行输入异常提示。

优选地，多个所述功能测试芯片包括输入功能测试芯片和输出功能测试芯片；

所述输入功能测试芯片用于在与所述待测芯片的输入引脚之间的电路导通时向所述待测芯片的输入引脚注入输入测试信号；

所述输出功能测试芯片用于在与所述待测芯片的输出引脚之间的电路导通时接收所述待测芯片的输出引脚输出的实际输出信号，并根据接收到的实际输出信号和所述输出测试信号确定所述待测芯片的输出引脚的状态。

本申请提供了一种控制器芯片测试装置，涉及电力电子技术领域，待测芯片为控制器设计过程中芯片选型后确定的芯片，通过开关控制电路使功能测试芯片在与待测芯片之间的电路导通时向待测芯片的输入引脚注入输入测试信号或者接收待测芯片的输出引脚输出的输出测试信号，并根据接收到的实际输出信号和输出测试信号确定待测芯片的输出引脚的状态，而由待测芯片基于接收到的实际输入信号和输入测试信号确定待测芯片的输入引脚的状态。在待测芯片选型后但未连接外围电路时边进行测试，且通过开关控制电路的控制，不同的待测芯片均进行不同测试功能的测试，降低测试装置的设计成本，且若测试结果为待测芯片故障可直接维修更换，以提高控制器的生产效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明提供的一种控制器芯片测试装置的结构示意图；

图2为本发明提供的一种控制器芯片测试装置具体的结构示意图。

具体实施方式

本发明的核心是提供一种控制器芯片测试装置，在待测芯片选型后但未连接外围电路时边进行测试，且通过开关控制电路的控制，不同的待测芯片均进行不同测试功能的测试，降低测试装置的设计成本，且若测试结果为待测芯片故障可直接维修更换，以提高控制器的生产效率。

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参照图1，图1为本发明提供的一种控制器芯片测试装置的结构示意图，该装置包括待测芯片1、开关控制电路2以及多个功能测试芯片3，待测芯片1为控制器设计过程中芯片选型后确定的芯片；

开关控制电路2连接于待测芯片1和各个功能测试芯片3之间，用于控制待测芯片1的输入引脚和/或输出引脚和功能测试芯片3之间的电路导通；

功能测试芯片3用于在与待测芯片1之间的电路导通时向待测芯片1的输入引脚注入输入测试信号或者接收待测芯片1的输出引脚输出的实际输出信号，并根据接收到的实际输出信号和输出测试信号确定待测芯片1的输出引脚的状态；

待测芯片1用于基于接收到的实际输入信号和输入测试信号确定待测芯片1的输入引脚的状态。

考虑到现有技术中在控制器设计过程中，通常为芯片选型，也即根据控制器的功能需要选择对应的芯片，芯片选型后根据芯片的结构，以及控制器的功能需要进行芯片外围电路的设计，外围电路设计完成后，完成对芯片和外围电路的硬件电路的连接后再进行HSI测试，具体是根据芯片和外围电路的硬件结构设计HSI测试电路，因此，设计的HSI测试电路仅可针对一种芯片和外围电路的硬件结构中的芯片进行测试，若更换芯片，或者外围电路不同，则需要重新设计HSI测试电路，也即HSI测试电路复用性较差；且若测试结果存在异常，需重新选型芯片或者重新设计并连接外围电路，导致控制器设计周期增长，且设计成本增加。

为了解决上述技术问题，首先本申请中的待测芯片1并非外围电路设计并连接完成后的芯片，而是在芯片选型后并未连接外围电路的芯片，通过对还未连接外围电路的芯片进行测试，若测试结果存在异常，则仅对待测芯片1进行维护或者更换待测芯片1即可，无需更换待测芯片1和外围电路构成的整个硬件电路，提高了控制器设计效率。

在对待测芯片1进行测试时，本实施例中提供了开关控制电路2和多个功能测试芯片3，其中，开关控制电路2通过控制待测芯片1和功能测试芯片3之间的电路导通，能够使功能测试芯片3向待测芯片1的输入引脚注入输入测试信号或者接收待测芯片1的输出引脚的实际输出信号。具体地，开关控制电路2可根据控制器的功能需求，控制待测芯片1的输入引脚和输出引脚分别与相应的功能测试芯片3连接，如需测试待测芯片1的输入引脚是否可正常接收正弦信号，则开关控制电路2可控制待测芯片1的输入引脚与输入功能测试芯片3连接，输入功能测试芯片3基于用户或者上位机的控制输出期望频率和期望幅值的正弦信号作为输入测试信号注入待测芯片1的输入引脚，待测芯片1根据期望接收的输入测试信号和实际接收的实际输入信号判断自身的输入引脚是否正常；如需测试待测芯片1的输出引脚是否可正常接收正弦信号，则开关控制电路2可控制待测芯片1的输出引脚与输出功能测试芯片3连接，待测芯片1中的开发软件从输出引脚输出相应的输出测试信号，输出功能测试芯片3根据期望接收的输出测试信号和实际接收的实际输出信号判断待测芯片1的输出引脚是否正常。当然，开关控制电路2可控制待测芯片1的输出引脚和输出功能测试芯片3连接的同时控制待测芯片1的输入引脚和输入功能测试芯片3连接，以同时实现待测芯片1的输入引脚和输出引脚的测试。

需要说明的是，虽然待测芯片1为还未进行硬件电路构建的芯片，但是待测芯片1中已经下载了控制器所需的开发软件，也即待测芯片1若测试结果无问题，则待测芯片1可直接投入使用，无需更改或调试。

又由于不同的待测芯片1的输入引脚和输出引脚在测试时，实际为根据待测芯片1的功能，确定待测芯片1需输出或输入何种信号，从而向待测芯片1输入一些信号或者接收待测芯片1输出的一些信号，因此，功能测试芯片3可在测试不同的待测芯片1时进行复用，如某功能测试芯片3为测试待测芯片1的输出引脚是否可正常输出固定频率的方波，则该功能测试芯片3为针对待测芯片1是否可输出固定频率方波的芯片，该功能测试芯片3可测试不同的待测芯片1是否可输出固定频率的方波，实现功能测试芯片3在不同待测芯片1下的复用，降低测试电路的设计成本。

本申请中的待测芯片1可以但不限定为MCU(Micro Controller Unit，微控制单元)。

可见，由于待测芯片1为控制器设计过程中芯片选型后确定的芯片，通过开关控制电路2使功能测试芯片3在与待测芯片1之间的电路导通时向待测芯片1的输入引脚注入输入测试信号或者接收待测芯片1的输出引脚输出的实际输出信号，并根据接收到的实际输出信号和输出测试信号确定待测芯片1的输出引脚的状态，而由待测芯片1基于接收到的实际输入信号和输入测试信号确定待测芯片1的输入引脚的状态。在待测芯片1选型后但未连接外围电路时边进行测试，且通过开关控制电路2的控制，不同的待测芯片1均进行不同测试功能的测试，降低测试装置的设计成本，且若测试结果为待测芯片1故障可直接维修更换，以提高控制器的生产效率。

在上述实施例的基础上：

作为一种优选的实施例，开关控制电路2包括连接线，用于基于用户的控制将待测芯片1和个功能测试芯片3之间的电路连接，以使待测芯片1的输入引脚和/或输出引脚和功能测试芯片3之间的电路导通。

本实施例中的开关控制电路2在具体实现时，可以但不限限定为通过连接线实现，也即用户可手动通过连接线将待测芯片1和各个功能测试芯片3进行连接，这种方式操作简便，且成本较低。

作为一种优选的实施例，开关控制电路2包括分别设置于待测芯片1和各个功能测试芯片3之间的多个开关，用于在导通时控制待测芯片1的输入引脚和/或输出引脚和功能测试芯片3之间的电路导通。

开关控制电路2还可以通过多个开关实现，各个开关可安装于PCB板上，当待测芯片1插入PCB板上，以和开关控制电路2连接时，用户可控制开关导通，以将待测芯片1和功能测试芯片3之间的电路导通。这种方式不仅操作简便，成本较低，还能够保证待测芯片1和功能测试芯片3的稳定连接，避免因手动接触不良导致无法正常连接。

作为一种优选的实施例，开关控制电路2包括开关电路和处理器；

处理器用于在检测到开关电路的第一端与待测芯片1的输入引脚和/或输出引脚连接，并且第二端与功能测试芯片3连接后，控制开关电路导通，以使待测芯片1的输入引脚或输出引脚与功能测试芯片3之前的电路导通。

本实施例中的开关控制电路2还可以通过开关电路和处理器实现，具体地，开关电路可安装于PCB板上，处理器通过检测待测芯片1是否插入PCB板上，也即开关电路是否和待测芯片1连接，以控制开关电路的导通与关断，实现对开关电路的自动控制，节省人工资源，且操作较为简便，能够保证待测芯片1和功能测试芯片3的稳定连接。

请参照图2，图2为本发明提供的一种控制器芯片测试装置具体的结构示意图。为了进一步进行说明，本申请中的图2给出了一种测试装置的结构示意图，其中，A板为待测芯片1，B板和C板为功能测试芯片3，D板开包括处理器和开关电路的开关控制电路2，在测试时，A板、B板和C板同时插入D板，D板在检测到A板的插入后，控制A板的引脚1、引脚2和引脚3与B板的B1～B3之间的电路导通，控制A板的引脚4、引脚5和引脚6与C板的C4～C6之间的电路导通，以使B板对A板的引脚1、引脚2和引脚3进行测试，C板对A板的引脚4、引脚5和引脚6进行测试。若需要更换功能测试芯片3，则将D板上已插入的B班或C板拔下，插入期望的功能测试芯片3即可。

作为一种优选的实施例，功能测试芯片3具体用于在待测芯片1中下载了开发软件后，在与待测芯片1之间的电路导通时基于开发软件的功能向待测芯片1的输入引脚注入输入测试信号或者接收待测芯片1的输出引脚输出的实际输出信号，并根据接收到的实际输出信号和输出测试信号确定待测芯片1的输出引脚的状态。

本实施例中，由于待测芯片1为下载了开发软件的芯片，则功能测试芯片3可根据开发软件的功能向待测芯片1的输入引脚输入输入测试信号，或者根据开发软件的功能确定待测芯片1的输出测试信号，例如，开发软件的功能需求为基于接收到的正弦信号进行控制，则可向待测芯片1的输入引脚注入正弦信号，以使待测芯片1中的开发软件根据接收到的实际输入信号和期望接收到的输入测试信号确定输入引脚的状态；并且根据待测芯片1中的开发软件确定待测芯片1的输出引脚期望输出的输出测试信号，以根据输出测试信号和实际输出信号确定输出信号的状态。

作为一种优选的实施例，功能测试芯片3具体用于在与待测芯片1之间的电路导通时向待测芯片1的输入引脚注入输入测试信号或者接收待测芯片1的输出引脚输出的实际输出信号，并在接收到的实际输出信号和输出测试信号一致时确定待测芯片1的输出引脚为正常状态。

本实施例中，在确定待测芯片1的输出引脚是否为正常状态时，具体是根据实际接收到的实际输出信号和期望接收到的输出测试信号是否一致进行判断，若一致，则说明输出引脚可正常输出。

作为一种优选的实施例，待测芯片1具体用于当接收到的实际输入信号和输入测试信号一致时确定待测芯片1的输入引脚为正常状态。

而待测芯片1在确定自身的输入引脚是否为正常状态时，具体是根据实际接收到的实际输入信号和期望接收到的输入测试信号是否一致进行判断，若一致，则说明输入引脚可正常输入。

若待测芯片1的输入引脚和输出引脚均正常，则该待测芯片1的HSI测试结果正常，可直接投入设计使用，而若待测芯片1的输入引脚或者输出引脚异常，又或者输入引脚和输出引脚均异常，则该待测芯片1需要对输入引脚和/或输出引脚进行维护，或者直接更换待测芯片1，节省控制器设计成本和时间。

作为一种优选的实施例，功能测试芯片3还用于在确定待测芯片1的输出引脚为异常状态时，向用户进行输出异常提示。

本实施例中，为了保证及时对异常的待测芯片1进行处理，在检测到待测芯片1的输出引脚异常时，向用户输出异常提示，以便用户及时对芯片引脚进行维护或者更换芯片。

作为一种优选的实施例，待测芯片1还用于在确定待测芯片1的输入引脚为异常状态时，向用户进行输入异常提示。

相应地若待测芯片1的输入引脚异常，则同相提示用户待测芯片1的输入引脚异常，以便用户及时对芯片引脚进行维护或者更换芯片。

需要说明的是，在对用户进行输入引脚的异常提示或者进行输出引脚的异常提示时，具体可通过提示装置的不同进行区分，例如输入引脚的异常提示为灯管提示，输出引脚的异常提示为声音提示，或者输入引脚的异常提示和进行输出引脚的异常提示之间的区别在于提示装置的提示颜色不同或者声音不同，本申请对此不作限定。

作为一种优选的实施例，多个功能测试芯片3包括输入功能测试芯片3和输出功能测试芯片3；

输入功能测试芯片3用于在与待测芯片1的输入引脚之间的电路导通时向待测芯片1的输入引脚注入输入测试信号；

输出功能测试芯片3用于在与待测芯片1的输出引脚之间的电路导通时接收待测芯片1的输出引脚输出的实际输出信号，并根据接收到的实际输出信号和输出测试信号确定待测芯片1的输出引脚的状态。

本实施例中，功能测试芯片3具体可分为输入功能测试芯片3和输出功能测试芯片3，其中输入功能测试芯片3对待测芯片1的输入引脚进行测试，输出功能测试芯片3对待测芯片1的输出引脚进行测试，不同的输入功能测试芯片3输出的输入测试信号可不同，例如输出正弦信号或者方波信号灯；不同的输出功能测试芯片3接收的输出测试芯片可不同，具体根据待测芯片1的开发软件的功能而定。

又或者待测芯片1不同的输入引脚的功能不同，还需要针对不同的输入引脚连接不同的输入功能测试芯片3。

还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。