一种存储器的测试系统及测试方法

技术领域

本发明涉及存储领域，特别涉及一种存储器的测试系统及测试方法。

背景技术

内嵌式存储器（Embedded Multi Media Card，eMMC）在电视机、机顶盒、平板电脑、手机等电子产品中被广泛应用。eMMC是由ARM CPU作为控制器再加上闪存块（NAND Flash）构成，其中ARM CPU会运行控制器软件，通常称为固件(Firmware)。

eMMC存储器的信号品质越好，其适配性也越好。eMMC存储器的信号品质作为产品的重要参数指标，在出厂前需要确保其符合规范，且要额外设置一定的余量。目前，针对eMMC存储器信号品质的测试，存在测试效率较低的问题。因此，存在待改进之处。

发明内容

本发明的目的在于提供一种存储器的测试系统及测试方法，以提升存储器信号品质测试的测试效率。

为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

本发明提供了一种存储器的测试系统，包括：

测试温箱，被配置为根据预设条件，调节测试的环境温度；

测试板，位于所述测试温箱内，被配置为其上通讯连接有待测存储器，并通讯连接于主机端，以搭建对应的测试环境，所述测试板还被配置为对所述待测存储器进行测试，以获取不同所述环境温度下的信号参数值；以及

主机端，被配置为根据所述信号参数值与对应的预设标准值的比较结果，以生成测试结果。

在本发明一实施例中，所述测试板还被配置为通讯连接温度传感器。

在本发明一实施例中，所述测试板还被配置为在不同的所述环境温度下，对待所述测存储器持续进行读写操作，并实时获取不同的信号值。

在本发明一实施例中，所述测试板还被配置为对所述信号值进行打包解析处理，以生成对应的信号参数值，并将所述信号参数值与对应的所述环境温度实时上传至主机端。

在本发明一实施例中，所述主机端还被配置为根据所述待测存储器的类型选择对应的系统镜像文件烧录至所述待测存储器中。

在本发明一实施例中，所述主机端确定信号参数值符合规范而执行的动作为无需进行处理，并生成所述测试结果。

在本发明一实施例中，所述主机端确定信号参数值不符合规范而执行的动作为优化所述待测存储器上对应的信号参数，直至该所述信号参数值符合规范为止，并生成所述测试结果。

本发明还提供了一种存储器的测试方法，包括：

获取待测存储器，并搭建对应的测试环境；

根据预设条件，调节测试的环境温度，对所述待测存储器进行测试，以获取不同所述环境温度下的信号参数值；

将不同的所述环境温度与对应的所述信号参数值上传至主机端；

根据所述信号参数值与对应的预设标准值的比较结果，以生成测试结果

在本发明一实施例中，所述根据预设条件，调节测试的环境温度，对所述待测存储器进行测试，以获取不同所述环境温度下的信号参数值的步骤包括：

获取测试温控箱的温度调节范围；

根据预设条件，以将所述温度调节范围划分为多个不同的环境温度；

在不同的所述环境温度下，启动测试板，以对所述待测存储器持续进行读写操作，并实时获取不同的信号值；

对所述信号值进行打包解析处理，以生成对应的信号参数值。

在本发明一实施例中，所述根据所述信号参数值与对应的预设标准值的比较结果，以生成测试结果的步骤包括：

将不同的所述信号参数值与对应的预设标准值进行比较，判断所述信号参数值是否符合规范；

若所述信号参数值符合规范，则无需进行处理，并生成测试结果；

若所述信号参数值不符合规范，则优化所述待测存储器上对应的信号参数，直至所述信号参数值符合规范为止，并生成所述测试结果。

如上所述，本发明提供一种存储器的测试系统及测试方法，能够实时监控存储器在不同的环境温度下的信号品质的变化情况，且存储器信号品质测试的测试效率较高，精确度也较高。

当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一实施例中存储器的测试系统的示意图；

图2为本发明一实施例中存储器的测试系统中测试板的示意图；

图3为本发明一实施例中存储器的测试方法的流程图；

图4为图3中步骤S10的流程图；

图5为图3中步骤S20的流程图；

图6为图3中步骤S30的流程图；

图7为图3中步骤S40的流程图。

图中：100、测试板；110、集成电路板；120、处理模块；130、随机存取存储器；140、电源模块；150、通讯模块；200、测试温箱；300、主机端；400、温度传感器；500、待测存储器。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，本发明提供了一种存储器的测试系统，其可用于对不同的内嵌式存储器（Embedded Multi Media Card，eMMC）进行测试。例如可以对应用于手机（Phone）、电视（TV）、机顶盒(OTT）、平板电脑(PAD）等中的内嵌式存储器进行测试，以确保内嵌式存储器在出厂前，其适配性较好。测试系统可以包括测试板100、测试温箱200、主机端300以及温度传感器400。其中，测试板100可以放置于测试温箱200内。测试板100可以与主机端300通讯连接。测试板100上可通讯连接有待测存储器500（eMMC）与温度传感器400。可以通过测试温箱200调节测试板100所处位置的环境温度，以完成待测存储器500信号品质的测试。

请参阅图1，在本发明的一个实施例中，测试板100的数量可以为至少一个。测试板100可以通讯连接于主机端300。主机端300能够向不同的测试板100下发不同的指令，以完成不同的待测存储器500信号品质的测试。

请参阅图1及图2，在本发明的一个实施例中，测试板100可以包括集成电路板110（Signal Processing）、处理模块120（CPU）、随机存取存储器130（DRAM）、电源模块140（POWER）以及通讯模块150（USB）。其中，处理模块120可以作为中央处理器，并电性连接于集成电路板110上，以控制集成电路板110进行工作。随机存取存储器130可通讯连接于集成电路板110上。随机存取存储器130可以作为操作系统或其他正在运行中的程序的临时数据存储介质，并与处理模块120直接交换数据。电源模块140可以作为电源，以向集成电路板110、处理模块120、随机存取存储器130等进行供电。通讯模块150可以通讯连接于处理模块120，并设置在集成电路板110上。

请参阅图1及图2，在本发明的一个实施例中，处理模块120可通过通讯模块150与主机端300通讯连接，进而通过通讯模块150实现测试板100与主机端300之间的通讯连接。集成电路板110上还可设置有多个通讯接口，每个通讯接口上都可通讯连接对应的待测存储器500，进而能够对多个待测存储器500进行同步测试，以提升测试效率。集成电路板110上还可安装有温度传感器400（TMP Sensor），温度传感器400可通讯连接于处理模块120，并通过电源模块140进行供电。温度传感器400可用以实时检测测试板100所处位置的温度，并获取对应的环境温度。

请参阅图1，在本发明的一个实施例中，测试板100可被配置为搭建对应的测试环境。其中，测试环境可以表示为调节测试温箱200内的环境温度，通过搭建测试环境完成对待测存储器500的测试。具体地，测试温箱200可被配置为根据预设条件，调节测试的环境温度。例如，测试板100或主机端300可以通讯连接于测试温箱200，可通过测试板100上的处理模块120或主机端300控制测试温箱200进行工作，以调节测试的环境温度。

在本发明的一个实施例中，当需要测试温箱200内环境温度进行调节时，可通过测试板100上的处理模块120或主机端300预先获取测试温箱200内的可调温度范围。处理模块120或主机端300可按照预设条件对可调温度范围进行划分，以获取不同的环境温度。预设条件可以为每间隔一个固定温度为一个档位。在其他实施例中，也可直接通过测试温箱200调节其内部的环境温度，测试温箱200上也可直接预设不同的档位，以将可调温度范围划分为连续的环境温度。

在本发明的一个实施例中，以测试温箱200的可调温度范围可以为-40℃~105℃，预设条件可以为每间隔5℃为一个档位为例进行说明。将可调温度范围划分为多个档位。例如，可以划分为-40℃、-35℃、-30℃、-25℃、-20℃、......、95℃、100℃、105℃等多个档位。当然，预设条件也可以为每间隔其他固定数值的温度为一个档位。

在本发明的一个实施例中，测试板100还可被配置为在不同的环境温度下，对待测存储器500持续进行读写操作，并实时获取不同的信号值。其中，集成电路板110可以用以采集待测存储器500的所有信号引脚上的信号值。信号引脚可以包括VCC引脚、VCCQ引脚、CMD引脚、Clock引脚、RST_N引脚、DATA0~DATA7引脚、DS引脚等。其中，VCC引脚和VCCQ引脚是电源线，用以提供电源。CMD引脚是存储器与主板之间的命令传输线，用以传输主板发送的命令。Clock引脚是时钟线，用以提供时钟信号，控制数据传输速度。RST_N引脚是复位线，用以复位存储器。DATA0~DATA7引脚是数据传输线，用以传输数据。DS引脚是数据总线，用以控制数据的传输。在本实施例中，当对待测存储器500持续进行读写操作过程中，可对不同的信号引脚进行监控，以获取对应的信号值。例如获取VCC信号值、VCCQ信号值、CMD信号值、Clock信号值、RST_N信号值、DATA0~DATA7信号值、DS信号值等。

在本发明的一个实施例中，测试板100还可被配置为对信号值进行打包解析处理，以生成对应的信号参数值，并将信号参数值与对应的环境温度实时上传至主机端300。具体地，当获取到信号值后，可以对信号值进行解析处理，以提取出符合JEDEC规范定义的信号参数值。在不同的环境温度下，会生成多个不同的信号参数值。因此测试板100可以将在某一环境温度下的所有的信号参数值与对应的环境温度进行打包处理，以实时上传至主机端300中。

在本发明的一个实施例中，主机端300可被配置为根据待测存储器500的类型选择对应的系统镜像文件（SOC Image）烧录至待测存储器500中。具体地，可在主机端300的UI界面，根据待测存储器500的类型选择对应的系统镜像文件进行烧录，将其烧录到待测存储器500中，以使待测存储器500能够完成持续进行读写操作，进而完成测试。

在本发明的一个实施例中，主机端300还可被配置为根据信号参数值与对应的预设标准值的比较结果，以生成测试结果。其中，预设标准值可以表示为JEDEC规范定义的信号参数值的正常范围。主机端300可判断信号参数值是否在对应的预设标准值的范围之内。当主机端300确定信号参数值符合JEDEC规范而执行的动作为无需进行处理，并生成测试结果。当主机端300确定信号参数值不符合JEDEC规范而执行的动作为优化待测存储器500上对应的信号参数，直至该信号参数值符合规范为止，并生成测试结果。

在本发明的一个实施例中，当然，在主机端300的UI界面上，可以显示Image信息、Download信息、Temperature信息以及Status信息。其中，Image信息可以表示为选择的Image文件的信息。Download信息可以表示为进行烧录的系统镜像文件的信息。Temperature信息可以表示为当前的环境温度。Status信息可以表示为当前的待测存储器500的信号测试的状态。

在本发明的一个实施例中，测试结果可以以表格的形式进行表示。例如，可以在主机端300的UI界面上，显示相应的测试表格。对于不同的环境温度，可以生成不同的测试表格。例如，在-40℃的情况下，可以生成一个测试表格，该测试表格的序号可以为1。又例如，在-35℃的情况下，可以生成另一个测试表格，该测试表格的序号可以为2。在本实施例中，测试表格中可以包括参数Parameter、符号Symbol、最小值Min、最大值Max、单位Unit、测量值Measure、结果Result等参数。测试表格上可以显示当前温度、不同的信号参数值、测试结果、测试时间等参数。对于某一信号参数值，当其符合规范时，测试结果可以表示为PASS，当其不符合规范时，测试结果可以表示为FALL。可以把实际的信号参数值填在Measure处，并根据信号参数值与预设标准值进行比较，生成最后的测量结果Pass/Fail。当测试完成后，可将多个表格进行汇总，以保存于主机端300的数据库中，便于后续历史数据的追溯及查询。

表1：主机端UI界面的测试表格。

请参阅图3，本发明还提供了一种存储器的测试方法，该测试方法可以应用于上述测试系统中，以对不同的待测存储器进行测试。该测试方法与上述实施例中测试系统一一对应，测试方法可以包括如下步骤：

步骤S10、获取待测存储器，并搭建对应的测试环境；

步骤S20、根据预设条件，调节测试的环境温度，对待测存储器进行测试，以获取不同环境温度下的信号参数值；

步骤S30、将不同的环境温度与对应的信号参数值上传至主机端；

步骤S40、根据信号参数值与对应的预设标准值的比较结果，以生成测试结果。

请参阅图4，在本发明的一个实施例中，当执行步骤S10时，具体地，步骤S10可包括如下步骤：

步骤S11、将待测存储器与温度传感器通讯连接到测试板上，将测试板通讯连接到主机端上；

步骤S12、对测试板进行供电，根据待测存储器的类型选择对应的系统镜像文件烧录至待测存储器中；

步骤S13、将测试板放置于测试温箱内，以搭建对应的测试环境。

请参阅图5，在本发明的一个实施例中，当执行步骤S20时，具体地，步骤S20可包括如下步骤：

步骤S21、获取测试温箱的温度调节范围；

步骤S22、根据预设条件，以将温度调节范围划分为多个不同的环境温度；

步骤S23、在不同的环境温度下，启动测试板，以对待测存储器持续进行读写操作，并实时获取不同的信号值；

步骤S24、对信号值进行打包解析处理，以生成对应的信号参数值。

请参阅图6，在本发明的一个实施例中，当执行步骤S30时，具体地，步骤S30可包括如下步骤：

步骤S31、在不同的环境温度下，实时获取对应的信号参数值；

步骤S32、实时将环境温度与对应的信号参数值上传至主机端。

请参阅图7，在本发明的一个实施例中，当执行步骤S40时，具体地，步骤S40可包括如下步骤：

步骤S41、将不同的信号参数值与对应的预设标准值进行比较，判断信号参数值是否符合规范；

步骤S42、若信号参数值符合规范，则无需进行处理，并生成测试结果；

步骤S43、若信号参数值不符合规范，则需要优化待测存储器上对应的信号参数，直至该信号参数值符合规范为止，并生成测试结果。

可见，在上述方案中，能够实时监控存储器在不同的环境温度下的信号品质的变化情况，且存储器信号品质测试的测试效率较高，精确度也较高。

以上公开的本发明实施例只是用于帮助阐述本发明。实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。