覆晶薄膜组件和显示终端

技术领域

本申请涉及显示领域，特别涉及一种覆晶薄膜组件和显示终端。

背景技术

随着显示技术的发展，窄边框技术在显示面板的领域得到飞速发展。通常，在显示面板生产完成之后，需要对覆晶薄膜(chip on film，COF)输出的波形进行检测，并获得检测结果。为了便于对覆晶薄膜的检测，需要在覆晶薄膜的输出通道中预置一定数量的测试点，以便于通过测试点对覆晶薄膜输出的波形进行检测。

参照图1，图1为现有的覆晶薄膜组件的结构示意图，通常，覆晶薄膜组件中，覆晶薄膜1具有输入通道11、控制电路12和输出通道13，输入通道均与控制芯片(可以是PCBA板)连接，控制电路通过输入通道接收控制芯片发送的数据信息，并对接收到的控制芯片发送的数据信息进行处理，获得处理后的数据信息，以及通过输出通道将处理后的数据信息发送至显示单元。

通常，在覆晶薄膜的安装过程中，可以通过弯折覆晶薄膜，以满足普通模组的机构要求，使得使得覆晶薄膜对普通模组机构不会产生干涉；但是，对于窄边框模组机构来说，现有的覆晶薄膜的长度较大，使得覆晶薄膜对窄边框模组机构产生干涉。

相关技术中，为了避免覆晶薄膜对窄边框模组机构产生干涉，提出了一种覆晶薄膜组件，在该覆晶薄膜组件中，覆晶薄膜长度较短，覆晶薄膜不会对窄边框模组机构产生干涉。

但是，采用现有的覆晶薄膜组件，对覆晶薄膜组件中覆晶薄膜输出的波形进行检测时，检测难度较大。

发明内容

本申请的主要目的是提供一种覆晶薄膜组件和显示终端，旨在解决现有技术中采用现有的覆晶薄膜组件，对覆晶薄膜组件中覆晶薄膜输出的波形进行检测时，检测难度较大的技术问题。

为实现上述目的，本申请提出一种覆晶薄膜组件，所述覆晶薄膜组件包括：覆晶薄膜和控制芯片；其中，

所述覆晶薄膜包括测试通道和控制电路，所述控制芯片具有预设测试点；

所述控制电路通过所述测试通道与所述预设测试点连接。

可选的，所述覆晶薄膜还包括输入通道；所述控制电路通过所述输入通道与所述控制芯片连接。

可选的，所述覆晶薄膜组件还包括：显示单元；所述覆晶薄膜还包括输出通道；其中，

所述控制电路通过所述输出通道与所述显示单元连接。

可选的，所述控制芯片具有预设输入点，所述显示单元具有预设接收点；

所述控制电路通过所述输入通道与所述预设输入点连接；

所述控制电路通过所述输出通道与所述预设接收点连接。

可选的，所述预设测试点包括多个，所述测试通道包括多条，一个预设测试点对应一条测试通道。

可选的，所述控制芯片包括基于表面贴装技术的印制电路板或基于双列直插封装技术的印制电路板。

可选的，所述测试通道的数量为2或4。

可选的，所述输入通道的数量为130～150。

可选的，所述输出通道的数量为1110～1150。

此外，为实现上述目的，本申请还提出了一种显示终端，包括如上述任一项所述的覆晶薄膜组件。

本申请技术方案提出了一种覆晶薄膜组件，所述覆晶薄膜组件包括：覆晶薄膜和控制芯片；其中，所述覆晶薄膜包括输出测试通道和控制电路，所述控制芯片具有预设测试点；所述控制电路通过所述测试通道与所述预设测试点连接。现有的覆晶薄膜组件中，在对覆晶薄膜组件中的覆晶薄膜进行测试时，需要在覆晶薄膜的输出通道中设置测试点，但是，现有的覆晶薄膜组件的覆晶薄膜长度较短，覆晶薄膜的面积较小，在覆晶薄膜的输出通道中设置测试点时，设置难度较大，导致对覆晶薄膜输出的波形进行检测时，检测难度较大；而本申请中，覆晶薄膜组件中覆晶薄膜的测试通道与覆晶薄膜组件的控制芯片的预设测试点连接，在对覆晶薄膜输出的波形进行测试时，只需要通过控制芯片的预设测试点，即可获得覆晶薄膜输出的波形，不需要在输出通道中设定测试点，所以，利用本申请的覆晶薄膜组件，在对覆晶薄膜组件中的覆晶薄膜输出的波形进行检测时，检测难度较小。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为现有的覆晶薄膜组件的结构示意图；

图2为本申请覆晶薄膜组件第一实施例的结构示意图；

图3为本申请覆晶薄膜组件第二实施例的结构示意图。

本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明，本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

另外，若本申请实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义，包括三个并列的方案，以“A和/或B”为例，包括A方案、或B方案、或A和B同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。

参照图1，图1为现有的覆晶薄膜组件的结构示意图，现有的覆晶薄膜组件中，覆晶薄膜1具有输入通道11、控制电路12和输出通道13，输入通道均与控制芯片(可以是PCBA板)连接，输入通道用于接收控制芯片发送的数据信息，控制电路用于对控制芯片发送的数据信息进行处理，获得处理后的数据信息，输出通道用于将处理后的数据信息发送至显示单元。

在图1中，覆晶薄膜还具有孔14，通常利用孔14的数量来表示覆晶薄膜的长度；现有的覆晶薄膜的长度通常为8孔，覆晶薄膜长度较大；在覆晶薄膜的安装过程中，可以通过弯折覆晶薄膜，以满足普通模组的机构要求，使得使得覆晶薄膜对普通模组机构不会产生干涉；但是，对于窄边框模组机构来说，现有的覆晶薄膜的长度较大，使得覆晶薄膜对窄边框模组机构产生干涉。

同时，现有的覆晶薄膜组件中，在输出通道中会设置测试点15，以通过测试点输出的波形对覆晶薄膜组件中的覆晶薄膜进行测试，通常测试点设置在多个输出通道中的靠近两侧的测试通道。例如，覆晶薄膜包括1130个输出通道，参照图1，从右到左将测试通道标记为1号-1130号，当测试点的数量为2时，通常1号和1130号输出通道分别设置一个测试点(图1中只示出一部分)；当测试点的数量为4时，1号、2号、1129号和1130号输出通道分别设置一个测试点。

相关技术中，为了避免覆晶薄膜(COF)对窄边框模组机构产生干涉，提出了一种覆晶薄膜组件，在该覆晶薄膜组件中，覆晶薄膜长度较短，覆晶薄膜孔数为6，覆晶薄膜不会对窄边框模组机构产生干涉。

但是，覆晶薄膜长度较短，在覆晶薄膜的输出通道中设置测试点时，设置难度较大，导致对覆晶薄膜输出的波形进行检测时，检测难度较大。

参照图2，图2为本申请覆晶薄膜组件第一实施例的结构示意图。

所述覆晶薄膜组件包括：覆晶薄膜2和控制芯片3；其中，

所述覆晶薄膜2包括测试通道21和控制电路22，所述控制芯片3具有预设测试点31；

所述控制电路22通过所述测试通道21与所述预设测试点31连接。

需要说明的是，在该实施例中，预设测试点的数量为2个，对应的测试通道的数量也为2。参照图2，所述覆晶薄膜还包括输入通道23；所述控制电路22通过所述输入通道23与所述控制芯片3连接。

通常，输入通道的数量为定值，输入通道的数量通常为130～150，较优的，输入通道包括140个输入通道，同时，测试通道设置于输入通道的两侧。例如，输入通道从左到右依次为1号-140号输入通道，当测试通道包括2个时，1号输入通道的左侧和140号输入通道的右侧分别设置一个测试通道，两条测试通道分别与控制芯片中的两个预设测试点连接；当测试通道为4个时，1号输入通道的左侧和140号输入通道的右侧分别设置二个测试通道。其中，在图2中，预设测试点的数量为2，对应的测试通道的数量也为2。

由于，覆晶薄膜的材质通常为一层结构，测试通道最好是首尾拉出的测试通道，即，测试通道设置于输入通道的两侧。另外，在该实施例中，覆晶薄膜的长度对应的孔数为6。

在本实施例中，提出了一种覆晶薄膜组件，所述覆晶薄膜组件包括：覆晶薄膜和控制芯片；其中，所述覆晶薄膜包括输出测试通道和控制电路，所述控制芯片具有预设测试点；所述控制电路通过所述测试通道与所述预设测试点连接。现有的覆晶薄膜组件中，在对覆晶薄膜组件中的覆晶薄膜进行测试时，需要在覆晶薄膜的输出通道中设置测试点，但是，现有的覆晶薄膜组件的覆晶薄膜长度较短，覆晶薄膜的面积较小，在覆晶薄膜的输出通道中设置测试点时，设置难度较大，导致对覆晶薄膜输出的波形进行检测时，检测难度较大；而本申请中，覆晶薄膜组件中覆晶薄膜的测试通道与覆晶薄膜组件的控制芯片的预设测试点连接，在对覆晶薄膜输出的波形进行测试时，只需要通过控制芯片的预设测试点，即可获得覆晶薄膜输出的波形，不需要在输出通道中设定测试点，所以，利用本申请的覆晶薄膜组件，在对覆晶薄膜组件中的覆晶薄膜输出的波形进行检测时，检测难度较小。

进一步的，参照图2，所述覆晶薄膜组件还包括：显示单元4；所述覆晶薄膜还包括输出通道24；其中，

所述控制电路22通过所述输出通道24与所述显示单元4连接。

具体应用中，在本申请的覆晶薄膜组件中，覆晶薄膜的输入通道均与控制芯片(可以是PCBA板)连接，控制电路通过输入通道接收控制芯片发送的数据信息，并对接收到的控制芯片发送的数据信息进行处理，获得处理后的数据信息，以及通过输出通道将处理后的数据信息发送至显示单元，以使显示单元显示对应的画面。

在本申请中，显示面板主要是窄边框显示面板；为了保证覆晶薄膜不会对窄边框模组机构产生干涉，覆晶薄膜的长度较短；通常，覆晶薄膜的长度利用覆晶薄膜的孔25的数量表示，在本申请中，覆晶薄膜的长度对应的孔数为6。

进一步的，参照图2，所述控制芯片3具有预设输入点32，所述显示单元4具有预设接收点41；

所述控制电路22通过所述输入通道23与所述预设输入点32连接；

所述控制电路22通过所述输出通道24与所述预设接收点41连接。

通常，一个输入通道对应一个预设输入点，一个输出通道对应一个预设接收点。

进一步的，所述预设测试点包括多个，所述测试通道包括多条，一个预设测试点对应一条测试通道。

具体应用中，所述测试通道的数量为2或4，对应的，预设测试点的数量也为2或4。

进一步的，所述控制芯片包括基于表面贴装技术(SMT)的印制电路板或基于双列直插封装技术(DIP)的印制电路板。

具体应用中，所述输入通道的数量为130～150，较优的，输入通道数量为140；所述输出通道的数量为1110～1150，较优的，输出通道数量为1130。

参照图3，图3为本申请覆晶薄膜组件第二实施例的结构示意图。

所述覆晶薄膜组件包括：覆晶薄膜2、控制芯片3和显示单元4；其中，

所述覆晶薄膜2包括测试通道21、控制电路22、输出通道24和输入通道23，所述控制芯片3具有预设测试点31；

所述控制电路22通过所述测试通道21与所述预设测试点31连接，所述控制电路22通过所述输入通道23与所述控制芯片的所述所述预设输入点32连接；所述控制电路22通过所述输出通道24与所述控制芯片的所述预设接收点41连接。

需要说明的是，在该实施例中，预设测试点的数量为4个；覆晶薄膜的长度利用覆晶薄膜的孔25的数量表示，在该实施例中，覆晶薄膜长度对应的孔数为6。

此外本申请实施例还提出一种显示终端，该显示终端比如可以为手机、平板电脑或便携式电子设备等移动终端，也可以为PC终端，该显示终端可以包括上述实施例所述的覆晶薄膜组件，其实现显示控制的基本原理，请参照上述各实施例，在此不再赘述。

以上所述仅为本申请的可选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是在本申请的申请构思下，利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本申请的专利保护范围内。