VI源供电控制方法、装置、半导体测试机及存储介质

技术领域

本申请涉及电源管理技术领域，特别是涉及VI源供电控制方法、装置、半导体测试机及存储介质。

背景技术

高压VI源主要应用在各类半导体测试设备中，一般是指输出电压能力200V以上的电压电流源。高压VI源应用于200V以上的分立器件的耐压以及漏电测试，还可以应用于集成了分立器件的集成电路芯片测试。

由于高压VI源带有高压，高压VI源的高压供电电源与低压供电电源同时上电，在高压供电电源与低压供电电源同时上电时，上电启动电流大，容易引起相关测试设备的总线电源故障；同时，高压供电电源与低压供电电源同时上电，高压VI源对应的反馈系统在上电时没有完整建立，相关测试设备的高压信号线路初始状态不稳定，易造成损坏高压信号线路和线路器件。

目前，针对相关技术中半导体测试机上电启动电流大、高低压电源同时启动而造成线路器件损坏的问题，尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种VI源供电控制方法、装置、半导体测试机及存储介质，以至少解决相关技术中半导体测试机上电启动电流大、高低压电源同时启动而造成线路器件损坏的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种VI源供电控制方法，应用于半导体测试机的控制单元，包括：

在所述控制单元启动后，获取低压供电电源在预设低压上电阶段内的第一供电信息，其中，所述第一供电信息用于表征所述低压供电电源在所述预设低压上电阶段内的上电状态；

根据所述第一供电信息，判断所述低压供电电源在所述预设低压上电阶段内是否正常上电；

在判断到所述低压供电电源在所述预设低压上电阶段内正常上电的情况下，初始化高压VI线路，并控制高压供电电源为完成初始化的所述高压VI线路供电；

检测所述高压VI线路在预设高压上电阶段内的线路状态信息，并根据所述线路状态信息确定VI源供电结果。

在其中一些实施例中，所述低压供电电源包括第一低压电源和第二低压电源，所述第一低压电源电连接所述控制单元，根据所述第一供电信息，判断所述低压供电电源在所述预设低压供电阶段内是否正常上电包括：

检测所述第一低压电源的供电状态，并根据所述第一低压电源的供电状态启停所述第二低压电源上电；

在所述第二低压电源启动上电后，检测所述第二低压电源的供电状态，并判断所述第二低压电源的供电状态是否包括第二预设供电状态，其中，所述第二预设供电状态包括所述第二低压电源按预设电压和预设电流进行供电；

在判断到所述第二低压电源的供电状态包括所述预设供电状态的情况下，确定所述低压供电电源在所述预设低压供电阶段内正常上电。

在其中一些实施例中，检测所述第一低压电源的供电状态，并根据所述第一低压电源的供电状态启停所述第二低压电源上电包括：

检测所述第一低压电源的供电状态对应的第一电压和第一电流；

分别判断所述第一电压和所述第一电流是否不大于对应的第一预设阈值；

在判断到所述第一电压不大于对应的第一预设阈值和所述第一电流不大于对应的第一预设阈值的情况下，确定所述第一低压电源正常供电，并启动所述第二低压电源上电；

在判断到所述第一电压大于对应的第一预设阈值和所述第一电流大于预设阈值的情况下，确定所述第一低压电源供电异常，并结束VI源上电进程。

在其中一些实施例中，判断所述第二低压电源的供电状态是否包括第二预设供电状态包括：

检测所述第二低压电源的供电状态对应的第二电压和第二电流；

分别对所述第二电压与所述预设电压、所述第二电流与所述预设电流进行比较；

在比较到所述第二电压不大于所述预设电压和所述第二电流不大于所述预设电流的情况下，确定所述第二低压电源的供电状态包括第二预设供电状态；

在判断到所述第二电压大于所述预设电压，和/或判断到所述第二电流大于所述预设电流的情况下，确定所述第二低压电源供电异常，并结束VI源上电进程。

在其中一些实施例中，在所述控制单元启动之前，所述方法包括：所述第一低压电源在总线电源上电后上电，并为所述控制单元供电。

在其中一些实施例中，所述线路状态信息包括所述高压VI线路对应的初始化状态信息，检测所述高压VI线路在预设高压上电阶段内的线路状态信息，并根据所述线路状态信息确定VI源供电结果包括：

获取所述高压VI线路对应的初始化状态信息，其中，所述初始化状态信息包括所述高压VI线路初始化后的初始状态；

在所述初始化状态信息中提取所述高压VI线路初始化后的初始状态，并检测所述高压VI线路的所述初始状态是否正常，得到检测结果；

在所述检测结果包括所述高压VI线路的初始状态正常的情况下，确定VI源正常供电，并结束VI源上电进程。

在其中一些实施例中，在所述检测结果包括所述高压VI线路的初始状态异常的情况下，所述方法包括：控制所述高压供电电源下电，并结束VI源上电进程。

第二方面，本申请实施例提供了一种VI源供电控制装置，包括：

获取模块，用于在控制单元启动后，获取低压供电电源在预设低压上电阶段内的第一供电信息，其中，所述第一供电信息用于表征所述低压供电电源在所述预设低压上电阶段内的上电状态；

判断模块，用于根据所述第一供电信息，判断所述低压供电电源在所述预设低压上电阶段内是否正常上电；

控制模块，用于在判断到所述低压供电电源在所述预设低压上电阶段内正常上电的情况下，初始化高压VI线路，并控制高压供电电源为完成初始化的所述高压VI线路供电；

处理模块，用于检测所述高压VI线路在预设高压上电阶段内的线路状态信息，并根据所述线路状态信息确定VI源供电结果。

第三方面，本申请实施例提供一种半导体测试机，包括：控制单元、VI源电源模块及高压VI线路；其中，所述控制单元通过BUS-PCIE受控连接于终端设备，所述控制单元分别电连接所述VI源电源模块和所述高压VI线路，所述高压VI线路还电连接所述VI源电源模块的高压供电电源；所述控制单元用于执行如上述第一方面所述的VI源供电控制方法；所述VI源电源模块用于为所述半导体测试机供电。

第四方面，本申请实施例提供了一种电子装置，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述第一方面所述的VI源供电控制方法。

第五方面，本申请实施例提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上述第一方面所述的VI源供电控制方法。

相比于相关技术，本申请实施例提供的VI源供电控制方法、装置、电子装置、半导体测试机及存储介质，通过在控制单元启动后，获取低压供电电源在预设低压上电阶段内的第一供电信息；根据第一供电信息，判断低压供电电源在预设低压上电阶段内是否正常上电；在判断到低压供电电源在预设低压上电阶段内正常上电的情况下，初始化高压VI线路，并控制高压供电电源为完成初始化的高压VI线路供电；检测高压VI线路在预设高压上电阶段内的线路状态信息，并根据线路状态信息确定VI源供电结果，解决相关技术中半导体测试机上电启动电流大、高低压电源同时启动而造成线路器件损坏的问题，实现了分阶段上电、控制上电电流，保护半导体测试机器件及信号链路不受损坏的有益效果。

本申请的一个或多个实施例的细节在以下附图和描述中提出，以使本申请的其他特征、目的和优点更加简明易懂。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1是本申请实施例的VI源供电控制方法的终端的硬件结构框图；

图2是根据本申请实施例的VI源供电控制方法的流程图；

图3是根据本申请优选实施例的VI源供电控制方法的流程图；

图4是根据本申请实施例的VI源供电控制装置的结构框图；

图5是根据本申请实施例的半导体测试机的控制框图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行描述和说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。基于本申请提供的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些示例或实施例，对于本领域的普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图将本申请应用于其他类似情景。此外，还可以理解的是，虽然这种开发过程中所作出的努力可能是复杂并且冗长的，然而对于与本申请公开的内容相关的本领域的普通技术人员而言，在本申请揭露的技术内容的基础上进行的一些设计，制造或者生产等变更只是常规的技术手段，不应当理解为本申请公开的内容不充分。

在本申请中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域普通技术人员显式地和隐式地理解的是，本申请所描述的实施例在不冲突的情况下，可以与其它实施例相结合。

除非另作定义，本申请所涉及的技术术语或者科学术语应当为本申请所属技术领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本申请所涉及的“一”、“一个”、“一种”、“该”等类似词语并不表示数量限制，可表示单数或复数。本申请所涉及的术语“包括”、“包含”、“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含；例如包含了一系列步骤或模块(单元)的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可以还包括没有列出的步骤或单元，或可以还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。本申请所涉及的“连接”、“相连”、“耦接”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电气的连接，不管是直接的还是间接的。本申请所涉及的“多个”是指两个或两个以上。“和/或”描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“A和/或B”可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。本申请所涉及的术语“第一”、“第二”、“第三”等仅仅是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序。

本申请中描述的各种技术可用于半导体测试机进行耐压和漏电测试过程的不同电源上电时序的控制。

在对本申请的实施例进行描述和说明之前，先对本申请中使用的相关技术进行说明如下：

高压VI源，从电源结构上看，主要包括总线电源、共地低压电源、浮动低压电源以及浮动高压电源，共同为高压VI源线路完成供电。

本实施例提供的VI源供电控制方法实施例可以在终端、计算机或者类似的测试平台中执行。以运行在终端上为例，图1是本发明实施例的VI源供电控制方法的终端的硬件结构框图。如图1所示，终端可以包括一个或多个(图1中仅示出一个)处理器102(处理器102可以包括但不限于微处理器MCU或可编程逻辑器件FPGA等的处理装置)和用于存储数据的存储器104，可选地，上述终端还可以包括用于通信功能的传输设备106以及输入输出设备108。本领域普通技术人员可以理解，图1所示的结构仅为示意，其并不对上述终端的结构造成限定。例如，终端还可包括比图1中所示更多或者更少的组件，或者具有与图1所示不同的配置。

存储器104可用于存储计算机程序，例如，应用软件的软件程序以及模块，如本发明实施例中的VI源供电控制方法对应的计算机程序，处理器102通过运行存储在存储器104内的计算机程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，即实现上述的方法。存储器104可包括高速随机存储器，还可包括非易失性存储器，如一个或者多个磁性存储装置、闪存、或者其他非易失性固态存储器。在一些实例中，存储器104可进一步包括相对于处理器102远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至终端。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

传输设备106用于经由一个网络接收或者发送数据。上述的网络具体实例可包括终端的通信供应商提供的无线网络。在一个实例中，传输设备106包括一个网络适配器(Network Interface Controller，简称为NIC)，其可通过基站与其他网络设备相连从而可与互联网进行通讯。在一个实例中，传输设备106可以为射频(Radio Frequency，简称为RF)模块，其用于通过无线方式与互联网进行通讯。

本实施例提供了一种VI源供电控制方法，图2是根据本申请实施例的VI源供电控制方法的流程图，如图2所示，该流程包括如下步骤：

步骤S201，在控制单元启动后，获取低压供电电源在预设低压上电阶段内的第一供电信息，其中，第一供电信息用于表征低压供电电源在预设低压上电阶段内的上电状态。

在本实施例中，执行本申请实施例的VI源供电控制方法的主体为半导体测试机的控制单元，在具体实施例中，控制单元为半导体测试机的嵌入式控制单元；在本实施例中，VI源供电控制是指对半导体测试机的各个电源模块的上电及上电时序进行控制。

在本实施例中，低压供电电源包括为控制单元供电的电源以及为其他功能模块进行供电的电源，在具体实施例中，为控制单元供电的电源界定为共地低压电源，为其他功能模块进行供电的电源界定为浮动低压电源，因为其他功能模块会根据不同的负载而造成功率及电压变化，因此，界定为其他功能模块进行供电的电源界定为浮动低压电源；在本实施例中，在执行本实施例的VI源供电控制方法之前，半导体测试的总线电源需要先进行上电。

在本实施例中，预设低压上电阶段包括控制单元上电后初始化及对应的电源检测、其他功能模块对应的供电电源的上电及自检的阶段；第一供电信息包括控制单元供电是否正常、其他功能模块供电是否正常的状态信息，其中，供电是否正常至少包括供电电压和供电电流是否正常。

步骤S202，根据第一供电信息，判断低压供电电源在预设低压上电阶段内是否正常上电。

在本实施例中，在第一供电信息对应的供电电压和供电电流均在预设阈值范围内，则确定低压供电电源在预设低压上电阶段内正常上电。

在本实施例中，若低压供电电源在预设低压上电阶段内上电异常，异常的低压供电电源下电，半导体测试机的VI源上电失败，VI源上电进程结束。

步骤S203，在判断到低压供电电源在预设低压上电阶段内正常上电的情况下，初始化高压VI线路，并控制高压供电电源为完成初始化的高压VI线路供电。

在本实施例中，在预设低压上电阶段内所有低压供电电源均正常上电，并沿预设的供电电流及供电电压上电后，低压供电阶段结束，开始进入设定的高压供电阶段；进入高电压上电阶段后，先初始化高压VI线路，以使满足后续高压供电电源能够正常进行供电；初始化完高压VI线路后，开始由高压供电电源为高压VI线路进行供电；在具体实施例中，高压VI线路至少连接半导体测试机需要高压电源进行供电的功能模块，例如：进行耐压测试的功能模块，同时，由于不同的负载，使得对应的需求的高压电源的功率不同，从而造成在不同应用场景下，高压供电电源的输出的供电电压和供电电流是浮动的，因而，在具体实施例中，高压供电电源可以界定为浮动高压电源。

步骤S204，检测高压VI线路在预设高压上电阶段内的线路状态信息，并根据线路状态信息确定VI源供电结果。

在本实施例中，高压供电电源开始进行供电后，通过检查在预设的高压上电阶段内的高压VI线路的线路状态，在本实施例中，检测高压VI线路在接受高压供电电源供电后，高压VI线路初始状态是否正常，若高压VI线路的初始状态正常，说明高压供电电路正常供电，高压供电电源正常上电，半导体测试机VI源上电进程结束，若高压VI线路的初始状态异常，对应的先控制高压供电电源停止供电，也即高压供电电源下电，同时，半导体测试VI源的完整上电失败，上电进程结束。

通过上述步骤S201至步骤S204，采用在控制单元启动后，获取低压供电电源在预设低压上电阶段内的第一供电信息；根据第一供电信息，判断低压供电电源在预设低压上电阶段内是否正常上电；在判断到低压供电电源在预设低压上电阶段内正常上电的情况下，初始化高压VI线路，并控制高压供电电源为完成初始化的高压VI线路供电；检测高压VI线路在预设高压上电阶段内的线路状态信息，并根据线路状态信息确定VI源供电结果，解决相关技术中半导体测试机上电启动电流大、高低压电源同时启动而造成线路器件损坏的问题，实现了分阶段上电、控制上电电流，保护半导体测试机器件及信号链路不受损坏的有益效果。

需要说明的是，本申请实施例的VI源供电控制方法也适用于集成了分立器件的集成电路芯片的测试设备中，解决相关技术中对高压VI源的高压与低压的电压一同上电所造成的存在安全隐患、损坏线路器件的问题。

在其中一些实施例中，低压供电电源包括第一低压电源和第二低压电源，第一低压电源电连接控制单元，根据第一供电信息，判断低压供电电源在预设低压供电阶段内是否正常上电包括如下步骤：

步骤1，检测第一低压电源的供电状态，并根据第一低压电源的供电状态启停第二低压电源上电。

在本实施例中，通过检查第一低压电源的供电状态，从而验证第一低压电源是否正常供电，从而确定控制单元处于正常工作状态，如此，使控制单元能控制其他的低压供电电源和高压供电电源的上电。

步骤2，在第二低压电源启动上电后，检测第二低压电源的供电状态，并判断第二低压电源的供电状态是否包括第二预设供电状态，其中，第二预设供电状态包括第二低压电源按预设电压和预设电流进行供电。

在本实施例中，通过检测第二低压电源是否正常供电，从而验证整个预设低压供电阶段的上电情况；同时，通过检测第二低压电源是否正常供电，确定VI源供电是否是继续进行还是直接结束VI源供电的进程，当确定第二低压电源正常供电，籍以验证到预设的低压供电阶段低压供电电源均正常上电，从而确定后续电源及高压VI线路能进行上电及初始化工作。

步骤3，在判断到第二低压电源的供电状态包括预设供电状态的情况下，确定低压供电电源在预设低压供电阶段内正常上电。

通过上述步骤中的检测第一低压电源的供电状态，并根据第一低压电源的供电状态启停第二低压电源上电；在第二低压电源启动上电后，检测第二低压电源的供电状态，并判断第二低压电源的供电状态是否包括第二预设供电状态；在判断到第二低压电源的供电状态包括预设供电状态的情况下，确定低压供电电源在预设低压供电阶段内正常上电，实现对预设低压供电阶段所有的低压供电电源是否正常上电的检查。

在其中一些实施例中，检测第一低压电源的供电状态，并根据第一低压电源的供电状态启停第二低压电源上电包括如下步骤：

步骤1，检测第一低压电源的供电状态对应的第一电压和第一电流。

步骤2，分别判断第一电压和第一电流是否不大于对应的第一预设阈值。

步骤3，在判断到第一电压不大于对应的第一预设阈值和第一电流不大于对应的第一预设阈值的情况下，确定第一低压电源正常供电，并启动第二低压电源上电。

步骤4，在判断到第一电压大于对应的第一预设阈值和第一电流大于预设阈值的情况下，确定第一低压电源供电异常，并结束VI源上电进程。

通过上述步骤中的检测第一低压电源的供电状态对应的第一电压和第一电流；分别判断第一电压和第一电流是否不大于对应的第一预设阈值；在判断到第一电压不大于对应的第一预设阈值和第一电流不大于对应的第一预设阈值的情况下，确定第一低压电源正常供电，并启动第二低压电源上电；在判断到第一电压大于对应的第一预设阈值和第一电流大于预设阈值的情况下，确定第一低压电源供电异常，并结束VI源上电进程，实现根据第一低压电源的供电状态，启停第二低压电源上电的检测判断。

在其中一些实施例中，判断第二低压电源的供电状态是否包括第二预设供电状态包括如下步骤：

步骤1，检测第二低压电源的供电状态对应的第二电压和第二电流。

步骤2，分别对第二电压与预设电压、第二电流与预设电流进行比较。

步骤3，在比较到第二电压不大于预设电压和第二电流不大于预设电流的情况下，确定第二低压电源的供电状态包括第二预设供电状态。

步骤4，在判断到第二电压大于预设电压，和/或判断到第二电流大于预设电流的情况下，确定第二低压电源供电异常，并结束VI源上电进程。

通过上述步骤中的检测第二低压电源的供电状态对应的第二电压和第二电流；分别对第二电压与预设电压、第二电流与预设电流进行比较；在比较到第二电压不大于预设电压和第二电流不大于预设电流的情况下，确定第二低压电源的供电状态包括第二预设供电状态；在判断到第二电压大于预设电压，和/或判断到第二电流大于预设电流的情况下，确定第二低压电源供电异常，并结束VI源上电进程，实现了对第二低压电源的供电状态的判断，以及对VI源上电进程的控制。

在其中一些实施例中，在控制单元启动之前，还实施如下步骤：第一低压电源在总线电源上电后上电，并由第一低压电源为控制单元供电。

需要说明的是，在本申请实施例中的VI源供电控制方法是在总线电源上电之后进行的，并且，总线电源和第一低压电源依次上电。

在其中一些实施例中，线路状态信息包括高压VI线路对应的初始化状态信息，检测高压VI线路在预设高压上电阶段内的线路状态信息，并根据线路状态信息确定VI源供电结果包括如下步骤：

步骤1，获取高压VI线路对应的初始化状态信息，其中，初始化状态信息包括高压VI线路初始化后的初始状态。

步骤2，在初始化状态信息中提取高压VI线路初始化后的初始状态，并检测高压VI线路的初始状态是否正常，得到检测结果。

步骤3，在检测结果包括高压VI线路的初始状态正常的情况下，确定VI源正常供电，并结束VI源上电进程。

通过上述步骤中的获取高压VI线路对应的初始化状态信息；在初始化状态信息中提取高压VI线路初始化后的初始状态，并检测高压VI线路的初始状态是否正常，得到检测结果；在检测结果包括高压VI线路的初始状态正常的情况下，确定VI源正常供电，并结束VI源上电进程，实现了基于高压VI线路在预设高压上电阶段内的线路状态信息对高压供电电源正常上电的判断。

在其中一些实施例中，检测高压VI线路在预设高压上电阶段内的线路状态信息，并根据线路状态信息确定VI源供电结果包括如下步骤：

步骤1，获取高压VI线路对应的初始化状态信息，其中，初始化状态信息包括高压VI线路初始化后的初始状态。

步骤2，在初始化状态信息中提取高压VI线路初始化后的初始状态，并检测高压VI线路的初始状态是否正常，得到检测结果。

步骤3，在检测结果包括高压VI线路的初始状态异常的情况下,控制高压供电电源下电，并结束VI源上电进程。

通过上述步骤中的获取高压VI线路对应的初始化状态信息；在初始化状态信息中提取高压VI线路初始化后的初始状态，并检测高压VI线路的初始状态是否正常，得到检测结果；在检测结果包括高压VI线路的初始状态异常的情况下,控制高压供电电源下电，并结束VI源上电进程，实现了基于高压VI线路在预设高压上电阶段内的线路状态信息对高压供电电源异常上电的判断。

图3是根据本申请优选实施例的VI源供电控制方法的流程图，如图3所示，该流程包括如下步骤：

步骤S301，总线电源上电。

步骤S302，第一低压电源上电并为控制单元供电。

步骤S303，控制单元初始化并对第一低压电源进行检测。

步骤S304，判断第一低压电源是否正常供电，如果是，执行步骤S305，否则，执行步骤S312。

步骤S305，第二低压电源上电并自检，之后，执行步骤S306。

步骤S306，判断第二低压电源是否正常供电，如果是，执行步骤S307，否则，执行步骤S312。

步骤S307，高压VI线路初始化，之后，执行步骤S308。

步骤S308，高压供电电源上电，之后，执行步骤S309。

步骤S309，执行对高压VI线路进行检测，之后，执行步骤S310。

步骤S310，判断高压VI线路的线路状态是否正常，如果否，执行步骤S311，否则，执行步骤S312。

步骤S311，高压供电电源下电。

步骤S312，VI源上电进程结束。

需要说明的是，在上述流程中或者附图的流程图中示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

本实施例还提供了一种VI电源控制装置，该装置用于实现上述实施例及优选实施方式，已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的，术语“模块”、“单元”、“子单元”等可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。

图4是根据本申请实施例的VI电源控制装置的结构框图，如图4所示，该装置包括：

获取模块41，用于在控制单元启动后，获取低压供电电源在预设低压上电阶段内的第一供电信息，其中，第一供电信息用于表征低压供电电源在预设低压上电阶段内的上电状态；

判断模块42，与获取模块41耦合连接，用于根据第一供电信息，判断低压供电电源在预设低压上电阶段内是否正常上电；

控制模块43，与判断模块42耦合连接，用于在判断到低压供电电源在预设低压上电阶段内正常上电的情况下，初始化高压VI线路，并控制高压供电电源为完成初始化的高压VI线路供电；

处理模块44，与控制模块43耦合连接，用于检测高压VI线路在预设高压上电阶段内的线路状态信息，并根据线路状态信息确定VI源供电结果。

在其中一些实施例中，低压供电电源包括第一低压电源和第二低压电源，第一低压电源电连接控制单元，判断模块42用于检测第一低压电源的供电状态，并根据第一低压电源的供电状态启停第二低压电源上电；在第二低压电源启动上电后，检测第二低压电源的供电状态，并判断第二低压电源的供电状态是否包括第二预设供电状态，其中，第二预设供电状态包括第二低压电源按预设电压和预设电流进行供电；在判断到第二低压电源的供电状态包括预设供电状态的情况下，确定低压供电电源在预设低压供电阶段内正常上电。

在其中一些实施例中，判断模块42还用于检测第一低压电源的供电状态对应的第一电压和第一电流；分别判断第一电压和第一电流是否不大于对应的第一预设阈值；在判断到第一电压不大于对应的第一预设阈值和第一电流不大于对应的第一预设阈值的情况下，确定第一低压电源正常供电，并启动第二低压电源上电；在判断到第一电压大于对应的第一预设阈值和第一电流大于预设阈值的情况下，确定第一低压电源供电异常，并结束VI源上电进程。

在其中一些实施例中，判断模块42还用于检测第二低压电源的供电状态对应的第二电压和第二电流；分别对第二电压与预设电压、第二电流与预设电流进行比较；在比较到第二电压不大于预设电压和第二电流不大于预设电流的情况下，确定第二低压电源的供电状态包括第二预设供电状态；在判断到第二电压大于预设电压，和/或判断到第二电流大于预设电流的情况下，确定第二低压电源供电异常，并结束VI源上电进程。

在其中一些实施例中，线路状态信息包括高压VI线路对应的初始化状态信息，处理模块44用于获取高压VI线路对应的初始化状态信息，其中，初始化状态信息包括高压VI线路初始化后的初始状态；在初始化状态信息中提取高压VI线路初始化后的初始状态，并检测高压VI线路的初始状态是否正常，得到检测结果；在检测结果包括高压VI线路的初始状态正常的情况下，确定VI源正常供电，并结束VI源上电进程。

在其中一些实施例中，在检测结果包括高压VI线路的初始状态异常的情况下，装置用于控制高压供电电源下电，并结束VI源上电进程。

需要说明的是，上述各个模块可以是功能模块也可以是程序模块，既可以通过软件来实现，也可以通过硬件来实现。对于通过硬件来实现的模块而言，上述各个模块可以位于同一处理器中；或者上述各个模块还可以按照任意组合的形式分别位于不同的处理器中。

图5是根据本申请实施例的半导体测试机的控制框图，如图5所示，该半导体测试机包括：控制单元501、VI源电源模块502及高压VI线路503；其中，控制单元501通过BUS-PCIE受控连接于终端设备504，在本实施例中，终端设备504包括但不限于电脑，控制单元501分别电连接VI源电源模块502和高压VI线路503，高压VI线路503还电连接VI源电源模块502的高压供电电源505；控制单元501用于执行如上述中的VI源供电控制方法；VI源电源模块502用于为半导体测试机供电。

本实施例还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，该存储器中存储有计算机程序，该处理器被设置为运行计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。

可选地，上述电子装置还可以包括传输设备以及输入输出设备，其中，该传输设备和上述处理器连接，该输入输出设备和上述处理器连接。

可选地，在本实施例中，上述处理器可以被设置为通过计算机程序执行以下步骤：

S1，在控制单元启动后，获取低压供电电源在预设低压上电阶段内的第一供电信息，其中，第一供电信息用于表征低压供电电源在预设低压上电阶段内的上电状态。

S2，根据第一供电信息，判断低压供电电源在预设低压上电阶段内是否正常上电。

S3，在判断到低压供电电源在预设低压上电阶段内正常上电的情况下，初始化高压VI线路，并控制高压供电电源为完成初始化的高压VI线路供电。

S4，检测高压VI线路在预设高压上电阶段内的线路状态信息，并根据线路状态信息确定VI源供电结果。

需要说明的是，本实施例中的具体示例可以参考上述实施例及可选实施方式中所描述的示例，本实施例在此不再赘述。

另外，结合上述实施例中的VI源供电控制方法，本申请实施例可提供一种存储介质来实现。该存储介质上存储有计算机程序；该计算机程序被处理器执行时实现上述实施例中的任意一种VI源供电控制方法。

本领域的技术人员应该明白，以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。