显示装置

技术领域

本发明涉及一种显示技术，特别涉及一种显示装置。

背景技术

显示装置的基板上的像素驱动电路在制造过程中可能因为金属残留与蚀刻过多等等因素导致基板异常。发光元件诸如微发光二极管的制造过程复杂导致成本较高。此外，现行像素驱动电路中的电流可能受开关特性及/或电流路径上的电阻值的影响而使显示器的亮度不均匀。因此，要如何发展能够克服上述问题的相关技术为本领域重要的课题。

发明内容

本发明实施例包含一种显示装置，包括串联耦接的多个像素驱动电路。多个像素驱动电路中的一像素驱动电路包括数据写入单元、发光单元及补偿单元。数据写入单元用以将数据信号写入第一节点，且包含第一电容及第二电容。第一电容的第一端耦接第一节点，第一电容的第二端耦接第二节点。第二电容的第一端耦接第一节点。发光单元用以依据数据信号产生电流，且包括第一开关及发光元件。第一开关用以接收电流，第一开关的控制端耦接第二节点，第一开关的第一端耦接第二电容的第二端。发光元件用以依据电流发光。补偿单元用以调整第二节点的电压电平，且包括第二开关。第二开关的第一端耦接第二节点，第二开关的第二端耦接第一开关的第二端。

附图说明

图1为根据本公开的一实施例所示出的显示器的示意图。

图2为根据本公开的一实施例所示出的显示装置中的像素驱动电路的电路图。

图3为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路进行驱动操作所示出的时序图。

图4为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路进行驱动操作所示出的时序图。

图5为根据本公开的一实施例所示出的显示装置中的像素驱动电路的电路图。

图6为根据本公开的一实施例所示出的显示装置中的像素驱动电路的电路图。

图7为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路进行检测操作所示出的时序图。

图8为根据本公开的一实施例所示出的显示装置中的像素驱动电路的电路图。

图9为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路进行检测操作所示出的时序图。

图10为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路进行检测操作所示出的时序图。

附图标记说明：

100：显示器

110：显示装置

120：扫描装置

130：数据输入装置

140：发光控制装置

SL(0)～SL(n)：扫描线

S(n-2)、S(n-1)、S(n)：扫描信号

DL(1)～DL(m)：数据线

DT：数据信号

EL(1)～EL(n)：发光线

EM：发光信号

DV(1)～DV(n)、112、200、500、600、800：像素驱动电路

L2、L5、L6、L8：发光元件

210：重置单元

220：数据写入单元

230：补偿单元

240：发光单元

250：稳压单元

VSS、VDD、SLT、AT：电压信号

VC：控制信号

N21～N25、N51～N53、N55、N56、N61～N63、N65～N68、N81～N84、N88、N89：节点

V

VRF1、VRF2：参考信号

P31～P34、P41～P44、P71～P74、P91～P94、P101～P103：期间

VGH：禁能电压电平

VGL：致能电压电平

DD、SS、RF1、RF2、VDT：电压电平

VGS、VLED、VT27：电压电平差

I2、I61、I62、I81、I82：电流

T21～T28、T51～T59、T61～T68、T81～T89：开关

SP6、SP8：容置空间

C21、C22、C51、C52、C61、C62、C81、C82：电容

CV21、CV22：电容值

K：常数

电流电平：ILV

具体实施方式

于本文中，当一元件被称为“连接”或“耦接”时，可指“电性连接”或“电性耦接”。“连接”或“耦接”亦可用以表示二或多个元件间相互搭配操作或互动。此外，虽然本文中使用“第一”、“第二”、…等用语描述不同元件，该用语仅是用以区别以相同技术用语描述的元件或操作。除非上下文清楚指明，否则该用语并非特别指称或暗示次序或顺位，亦非用以限定本发明。

除非另有定义，本文使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有与本发明所属领域的普通技术人员通常理解的相同的含义。将进一步理解的是，诸如在通常使用的字典中定义的那些术语应当被解释为具有与它们在相关技术和本发明的上下文中的含义一致的含义，并且将不被解释为理想化的或过度正式的意义，除非本文中明确地这样定义。

这里使用的术语仅仅是为了描述特定实施例的目的，而不是限制性的。如本文所使用的，除非内容清楚地指示，否则单数形式“一”、“一个”和“该”旨在包括多个形式，包括“至少一个”。“或”表示“及/或”。如本文所使用的，术语“及/或”包括一个或多个相关所列项目的任何和所有组合。还应当理解，当在本说明书中使用时，术语“包括”及/或“包含”指定所述特征、区域、整体、步骤、操作、元件的存在及/或部件，但不排除一个或多个其它特征、区域整体、步骤、操作、元件、部件及/或其组合的存在或添加。

以下将以附图公开本公开的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本公开。也就是说，在本公开内容部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化附图起见，一些现有惯用的结构与元件在附图中将以简单示意的方式示出的。

图1为根据本公开的一实施例所示出的显示器的示意图。请参照图1，显示器100包括显示装置110、扫描装置120、数据输入装置130与发光控制装置140。扫描装置120通过扫描线SL(0)～SL(n)提供多个扫描信号，例如图2所示的扫描信号S(n-2)、S(n-1)及S(n)，至显示装置110。数据输入装置130通过数据线DL(1)～DL(m)提供多个数据信号，例如图2所示的数据信号DT，至显示装置110。发光控制装置140通过发光线EL(1)～EL(n)提供多个发光信号，例如图2所示的发光信号EM，至显示装置110。其中n与m皆为正整数。在一些实施例中，显示器100可以由玻璃基板或塑胶基板所制成，但不限于此。

如图1所示，显示装置110包含多级彼此串接的像素驱动电路DV(1)～DV(n)，其中包含像素驱动电路112。在一些实施例中，显示装置110中的像素驱动电路112依据扫描装置120、数据输入装置130与发光控制装置140提供的信号进行发光操作。

举例来说，图2所示的像素驱动电路200为像素驱动电路112的一实施例。如图2所示，像素驱动电路200通过扫描装置120提供的扫描信号S(n-2)、S(n-1)及S(n)重置像素驱动电路200，并且写入由数据输入装置130提供的数据信号DT，其中数据信号DT的电压电平决定了发光元件L2的发光强度，最后通过发光控制装置140提供的发光信号EM控制发光元件L2的发光时间长度。

在一些实施例中，扫描信号S(n-1)与扫描信号S(n)分别通过扫描线SL(n-1)与扫描线SL(n)传输至像素驱动电路112，数据信号DT通过数据线DL(m)传输至像素驱动电路112，发光信号EM通过发光线EL(n)传输至像素驱动电路112，但本发明实施例不限于此，通过其他各种导线传输扫描信号S(n-1)、扫描信号S(n)、数据信号DT与发光信号EM至像素驱动电路112的方式亦在本发明思及范围内。

图2为根据本公开的一实施例所示出的显示装置110中的像素驱动电路200的电路图。像素驱动电路200为显示装置110中的像素驱动电路112的一种实施例。

如图2所示，像素驱动电路200包括重置单元210、数据写入单元220、补偿单元230、发光单元240及稳压单元250。

如图2所示，重置单元210用以依据扫描信号S(n-2)进行重置操作，以重置节点N21及节点N22的电压电平。在一些其他的实施例(例如如图4所示的实施例)中，重置单元210更用以依据电压信号SLT进行重置操作。

如图2所示，数据写入单元220用以依据扫描信号S(n)进行数据写入操作，以将数据信号DT写入至节点N21。

如图2所示，补偿单元230用以依据扫描信号S(n-1)调整节点N22的电压电平。举例来说，补偿单元230将临界电压电平V

如图2所示，发光单元240用以依据发光信号EM进行发光操作，并依据节点N22的电压电平产生电流I2，且依据电流I2的电流电平发光。

如图2所示，稳压单元250用以依据控制信号VC传输参考信号VRF2至节点N23，以重置节点N23的电压电平以及稳压节点N21的电压电平。

在一些实施例中，像素驱动电路200为显示器100中的多个像素驱动电路的第n级像素驱动电路DV(n)。对应地，扫描信号S(n)为第n级扫描信号，扫描信号S(n-1)为第(n-1)级扫描信号，且扫描信号S(n-2)为第(n-2)级扫描信号。显示器100中的多个像素驱动电路的第(n-1)级像素驱动电路DV(n-1)用以依据扫描信号S(n-1)进行数据写入操作，且显示器100中的第(n-2)级像素驱动电路用以依据扫描信号S(n-2)进行数据写入操作。

如图2所示，重置单元210包括开关T25及T26。开关T26的控制端用以接收扫描信号S(n-2)，开关T26的一端耦接节点N22，开关T26的另一端用以接收参考信号VRF1。开关T25的一端耦接节点N21，开关T25的另一端用以接收参考信号VRF1。在不同的实施例中，开关T25的控制端用以接收扫描信号S(n-2)(对应图3所示的实施例)或电压信号SLT(对应图4所示的实施例)。

如图2所示，数据写入单元220包括开关T21、电容C21及C22。开关T21的控制端用以接收扫描信号S(n)，开关T21的一端用以接收数据信号DT，开关T21的另一端耦接节点N21。电容C21的一端耦接节点N21，电容C21的另一端耦接节点N22。电容C22的一端耦接节点N21，电容C22的另一端耦接节点N23。

如图2所示，补偿单元230包括开关T24。开关T24的控制端用以接收扫描信号S(n-1)，开关T24的一端耦接节点N22，开关T24的另一端耦接发光单元240于节点N24。

如图2所示，发光单元240包括发光元件L2、开关T22、T23及T27。开关T22的控制端耦接节点N22，开关T22的一端耦接节点N24，且开关T22的另一端耦接节点N23。开关T23的控制端用以接收发光信号EM，开关T23的一端耦接节点N24，且开关T23的另一端用以接收电压信号VSS。开关T27的控制端用以接收发光信号EM，开关T27的一端耦接发光元件L2于节点N25，且开关T27的另一端耦接节点N23。发光元件L2的一端耦接节点N25，发光元件L2的另一端用以接收电压信号VDD。在一些实施例中，发光元件L2用以接收流经开关T22的电流I2，并用以依据电流I2发光。

如图2所示，稳压单元250包括开关T28。开关T28的控制端用以接收控制信号VC，开关T28的一端耦接节点N23，且开关T26的另一端用以接收参考信号VRF2。

在不同的实施例中，发光元件L2可以是微发光二极管(mLED)或其他不同类型的发光元件。在不同的实施例中，开关T21～-T28可以是P型金属氧化物半导体场效晶体管(PMOS)、N型金属氧化物半导体场效晶体管(NMOS)、薄膜晶体管(TFT)或其他不同类型的开关元件。

图3为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路200进行驱动操作所示出的时序图。图3所示出的时序图按序包括期间P31～P34。在一些实施例中，图3所示出的时序图对应图2所示的不同信号，例如扫描信号S(n)、S(n-1)、S(n-2)、发光信号EM、数据信号DT及控制信号VC的操作。在图3所示的实施例中，开关T25的控制端用以接收扫描信号S(n-2)。

如图3所示，在期间P31，扫描信号S(n-2)及控制信号VC具有致能电压电平VGL，使得开关T25、T26及T28导通。此时开关T25及T26分别提供具有电压电平RF1的参考信号VRF1至节点N21及N22，使得节点N21及N22具有电压电平RF1。开关T28提供具有电压电平RF2的参考信号VRF2至节点N23，使得节点N23具有电压电平RF2。

在一些实施例中，电压电平RF1为致能电压电平，使得开关T22依据节点N21的电压电平RF1导通。在一些实施例中，电容C21用以存储节点N21的电荷以在开关T26关闭后维持节点N21的电压电平，使得开关T22在开关T26关闭后(例如在期间P32)持续导通。

在一些实施例中，在期间P31，节点N21、N22及N23的电压电平被参考信号VRF1及VRF2重置，使得像素驱动电路200可以准备接收数据信号DT，因此期间P31被称为重置期间。

在期间P32，扫描信号S(n-1)与控制信号VC具有致能电压电平VGL，使得开关T24及开关T28导通。扫描信号S(n-2)具有禁能电压电平VGH，使得开关T25及T26关闭。开关T28提供参考信号VRF2至节点N23，使得节点N23具有电压电平RF2。电容C21在期间P31存储的电荷使得节点N22在期间P32时仍然具有致能电压电平，因此开关T22在期间P32时导通。在一些实施例中，参考信号VRF2的电压电平RF2高于节点N22的电压电平RF1，使得电流由节点N23按序通过开关T22及T24流向节点N22。此时参考信号VRF2按序通过开关T28、T22及T24写入节点N22，使得节点N22的电压电平被拉至(RF2-|V

如图2所示，电容C21及C22彼此串联。在期间P32，通过电容串联公式可计算出节点N21具有电压电平(RF1+((RF2-|V

在一些实施例中，在期间P32，通过参考信号VRF2以及开关T22的临界电压电平V

在一些先前的作法中，用以补偿的电压信号受到像素驱动电路的电路元件的内部电阻的影响而造成压降(IR drop)，使得像素驱动电路中节点的电压电平不稳定。

相较于上述的作法，在本发明实施例中，开关T28将不受压降影响的参考信号VRF2传输至节点N23，并通过电容C22进一步稳定节点N21的电压电平。

在期间P33，扫描信号S(n)与控制信号VC具有致能电压电平VGL，使得开关T21及开关T28导通。扫描信号S(n-1)具有禁能电压电平VGH，使得开关T24关闭。开关T28提供参考信号VRF2至节点N23，使得节点N23具有电压电平RF2。此时开关T21将具有电压电平VDT的数据信号DT写入节点N21，使得节点N21的电压电平从电压电平RF1被拉至电压电平VDT。电容C21将节点N21的电压电平VDT写入节点N22，将节点N22的电压电平拉至(RF2-|V

在一些实施例中，在期间P33，开关T21及电容C21将数据信号DT写入节点N22。因此期间P33被称为数据写入期间。

在期间P34，发光信号EM具有致能电压电平VGL，使得开关T23与开关T27导通。扫描信号S(n)及控制信号VC具有禁能电压电平VGL，使得开关T21及T28关闭。此时具有电压电平DD的电压信号VDD通过发光元件L2及开关T27将节点N23的电压电平拉至(DD-VLED-VT27)，其中电压电平差VLED及VT27分别对应电压信号VDD通过发光元件L2及开关T27时产生的电压电平差。对应地，通过电容C21及C22，节点N22的电压电平被拉至(VDT-RF1-|V

在期间P34，电流I2按序流经发光元件L2、开关T27、T22及T23，使得发光元件L2依据电流I2的电流电平发光。在一些实施例中，电流I2的电流电平决定发光元件L2的发光强度。

在一些实施例中，电流I2的电流电平取决于开关T22的栅极与源极之间的电压电平差，也就是节点N22及N23的电压电平差VGS。通过电子学中的公式可得知通过开关T22的电流I2的电流电平为K×(VGS+|V

在一些实施例中，在期间P34，像素驱动电路200中的发光元件L2发光，因此期间P34被称为发光期间。

在一些先前的作法中，电流通过显示器中的不同路径时，不同路径上不同的电阻值会造成不同的电压降，此外，开关的临界电压电平也会造成电压降，使得流经发光元件的电流难以控制，造成显示器的亮度不均匀的结果。

相较于上述的作法，在本发明实施例中，电压电平VDT与电压电平RF1是取决于使用者。如此一来，流经发光元件L2的电流I2可以被使用者调整，而不被电流路径或是像素驱动电路200的元件特性，例如开关T22的临界电压电平V

在一些其他的实施例中，像素驱动电路200也可以不补偿开关T22的临界电压电平V

图4为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路200进行驱动操作所示出的时序图。图4所示出的时序图按序包括期间P41～P44。在一些实施例中，图4所示出的时序图对应图2所示的不同信号，例如扫描信号S(n)、S(n-1)、S(n-2)、发光信号EM、电压信号SLT、数据信号DT及控制信号VC的操作。在图4所示的实施例中，开关T25的控制端用以接收电压信号SLT。

请参照图3及图4，像素驱动电路200在期间P41～P44的操作类似于在期间P31～P34的操作，因此重复之处不再赘述。

如图4所示，在期间P41，电压信号SLT具有致能电压电平VGL，使得开关T25导通。此时开关T25提供具有电压电平RF1的参考信号VRF1至节点N21，使得节点N21具有电压电平RF1。

在期间P42，电压信号SLT、扫描信号S(n-1)与控制信号VC具有致能电压电平VGL，使得开关T25、T24及开关T28导通。扫描信号S(n-2)具有禁能电压电平VGH，使得开关T26关闭。开关T28提供参考信号VRF2至节点N23，使得节点N23具有电压电平RF2且节点N22具有电压电平(RF2-|V

在阶段P43，开关T21将数据信号DT写入节点N21时，电容C21将电压电平RF1及VDT的电压电平差写入节点N22以进行数据写入操作。此时节点N22的电压电平为(RF2-|V

请参照图3及图4，开关T25在期间P43及P44接收电压信号SLT的操作类似于开关T25在期间P33及P34接收扫描信号S(n-2)的操作，因此重复之处不再赘述。在不同的实施例中，开关T25可以接收电压信号SLT或扫描信号S(n-2)以进行操作。

图5为根据本公开的一实施例所示出的显示装置110中的像素驱动电路500的电路图。像素驱动电路500为显示装置110中的像素驱动电路112的一种实施例。像素驱动电路500为图2所示的像素驱动电路200的一种变化例。

如图5所示，像素驱动电路500包括开关T51～T59、电容C52及C51以及发光元件L5。请参照图2及图5，像素驱动电路500具有类似于像素驱动电路200的元件连接关系，因此重复之处不再赘述。开关T51～T54、T56～T58、电容C52及C51以及发光元件L5分别对应开关T21～T24、T26～T28、电容C22及C21以及发光元件L2。

如图5所示，开关T55及T56的控制端耦接于节点N55，并用以接收扫描信号S(n-2)于节点N55。开关T59的控制端用以接收扫描信号S(n-1)，开关T59的一端耦接开关T55的一端于节点N51，开关T59的另一端耦接开关T55的另一端于节点N56。

请参照图3及图5，在一些实施例中，像素驱动电路500用以依据图3所示的时序图进行操作。在上述实施例中，像素驱动电路500的操作类似于像素驱动电路200依据图3所示的时序图进行的操作，因此重复之处不再赘述。

请参照图3及图5，在阶段P32，扫描信号S(n-1)具有致能电压电平VGL，使得开关T59导通。此时开关T59提供参考信号VRF1至节点N51，使得节点N51具有电压电平RF1。

在阶段P33，开关T51将数据信号DT写入节点N51时，电容C51将电压电平RF1及VDT的电压电平差写入节点N52以进行数据写入操作。

请参照图2、图3及图5，像素驱动电路500在期间P31、P33及P34的操作类似于像素驱动电路200在期间P31、P33及P34的操作，因此重复之处不再赘述。

图6为根据本公开的一实施例所示出的显示装置110中的像素驱动电路600的电路图。像素驱动电路600为显示装置110中的像素驱动电路112的一种实施例。像素驱动电路600为图2所示的像素驱动电路200的一种变化例。

如图6所示，像素驱动电路600包括开关T61～T68、电容C62及C61。请参照图2及图6，像素驱动电路600具有类似于像素驱动电路200的元件连接关系，因此重复之处不再赘述。开关T61～T68、电容C62及C61分别对应开关T21～T28、电容C22及C21。像素驱动电路600与像素驱动电路200的区别在于，像素驱动电路600不包含发光元件L2，且像素驱动电路600包含耦接于节点N65及N66之间的容置空间SP6。容置空间SP6可以用于在检测(例如图7所述的检测操作)后容纳发光元件L6，使得发光元件L6耦接像素驱动电路600。

图7为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路600进行检测操作所示出的时序图。图7所示出的时序图包括期间P71～P74。期间P71～P74的信号操作类似于图3所示出的期间P31～P34的信号操作，所以部分细节于此不再重复叙述。

请参照图6与图7，在期间P71，扫描信号S(n-2)及控制信号VC具有致能电压电平VGL，使得开关T65、T66及T68导通，以通过参考信号VRF1及VRF2重置节点N61、N62及N63的电压电平。

在期间P72，扫描信号S(n-1)与控制信号VC具有致能电压电平VGL，使得开关T64及开关T68导通。扫描信号S(n-2)具有禁能电压电平VGH，使得开关T65及T66关闭。此时参考信号VRF2按序通过开关T68、T62及T64写入节点N62。

在期间P73，扫描信号S(n)与控制信号VC具有致能电压电平VGL，使得开关T61及开关T68导通。扫描信号S(n-1)具有禁能电压电平VGH，使得开关T64关闭。开关T68提供参考信号VRF2至节点N63，且开关T61及电容C61将数据信号DT写入节点N62。

在期间P74，发光信号EM与控制信号VC具有致能电压电平VGL，使得开关T63及开关T68导通。此时电流I61按序流经开关T68、T62及T63至节点N67。在一些实施例中，使用者测量电流I61于节点N67以检测开关T61～T68的至少一者是否正常运行。

举例来说，在开关T61～T68的每一者正常运行时，电流I61的电流电平正比于数据信号DT的电压电平VDT。反之，在开关T61无法正常导通时，数据信号DT无法写入像素驱动电路600，使得电流I61的电流电平不会对应电压电平VDT。举另一例来说，在开关T68、T62及T63的至少一者无法正常导通时，电流I61无法留置节点N67，使得使用者无法在节点N67测量电流I61。综上所述，使用者可以在电流I61异常时，得知像素驱动电路600有异常，但本发明实施例不限于此。在不同的实施例中，使用者可以在期间P71～P74的不同期间测量流经开关T61～T68的不同电流以检测开关T61～T68是否正常运行。

在一些实施例中，在使用者测量电流I61以确认像素驱动电路600正常运行之后，使用者将发光元件L6耦接于容置空间SP6。在一些实施例中，在发光元件L6耦接像素驱动电路600于容置空间SP6之后，使用者可以进一步检测发光元件L6是否能够正常运行。

举例来说，在发光元件L6耦接于容置空间SP6之后，控制信号VC及发光信号EM具有致能电压电平VGL，使得开关T68及T67导通。发光元件L6接收电压信号VDD于节点N66，开关T68接收参考信号VRF2于节点N68。此时电流I62按序流经发光元件L6、开关T67及T68。若发光元件L6、开关T67及T68正常运行，则发光元件L6的发光强度正比于电压信号VDD及参考信号VRF2的电压电平差。反之，若发光元件L6、开关T67及T68的至少一者有异常，则发光元件L6无法正常发光。

在一些先前的作法中，在测试像素驱动电路是否有异常时，发光元件已经耦接像素驱动电路。此时像素驱动电路的制造成本包含发光元件的制造成本。

相较于上述的作法，本发明实施例提供一种可以在发光元件L6耦接像素驱动电路600之前检测开关T61～T68的方法，如图6及图7所示。像素驱动电路600在耦接发光元件L6之前进行检测，使得像素驱动电路600在检测时的制造成本较低。

图8为根据本公开的一实施例所示出的显示装置110中的像素驱动电路800的电路图。像素驱动电路800为显示装置110中的像素驱动电路112的一种实施例。像素驱动电路800为图2所示的像素驱动电路200的一种变化例。

如图8所示，像素驱动电路800包括开关T81～T89、电容C82及C81以及容置空间SP8。请参照图2及图8，像素驱动电路800具有类似于像素驱动电路200的元件连接关系，因此重复之处不再赘述。开关T81～T88、电容C82及C81分别对应开关T21～T28、电容C22及C21。

如图8所示，开关T87的控制端用以接收发光信号EM，开关T87的一端用以接收电压信号VDD，开关T87的另一端耦接开关T82于节点N83。容置空间的一端耦接开关T83及T89于节点N84。开关T89的控制端用以接收电压信号AT，开关T89的一端耦接节点N84，开关T89的另一端耦接开关T81。在不同的实施例中，开关T89耦接开关T81于节点N81或节点N89。

图9为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路800进行检测操作所示出的时序图。图9所示出的时序图包括期间P91～P94。期间P91～P94的信号操作类似于图3所示出的期间P31～P34的信号操作，所以部分细节于此不再重复叙述。

请参照图8与图9，在期间P91，扫描信号S(n-2)及控制信号VC具有致能电压电平VGL，使得开关T85、T86及T88导通，以通过参考信号VRF1及VRF2重置节点N81、N82及N83的电压电平。

在期间P92，扫描信号S(n-1)与控制信号VC具有致能电压电平VGL，使得开关T81及开关T88导通。扫描信号S(n-2)具有禁能电压电平VGH，使得开关T85及T86关闭。此时参考信号VRF2按序通过开关T88、T82及T84写入节点N82。

在期间P93，扫描信号S(n)与控制信号VC具有致能电压电平VGL，使得开关T81及开关T88导通。扫描信号S(n-1)具有禁能电压电平VGH，使得开关T84关闭。此时开关T88提供参考信号VRF2至节点N83。

在期间P94，发光信号EM以及电压信号AT具有致能电压电平VGL，使得开关T87、T83及T89导通。此时电流I81按序流经开关T87、T82、T83及T89。在图9对应的实施例中，开关T89耦接节点N89。

在一些实施例中，节点N89耦接用以传输数据信号DT的数据走线(图未示)。在一些实施例中，使用者可以从数据走线测量电流I81的电流电平ILV，并依据电流电平ILV判断像素驱动电路800是否有异常。举例来说，当开关T87、T82、T83及T89中的至少一者无法正常导通时，电流I81无法被传输至节点N89，使得从数据走线测量的电流电平ILV有异常。

图10为根据本发明的一实施例中的像素驱动电路800进行检测操作所示出的时序图。图10所示出的时序图包括期间P101～P103。其中期间P101～P102的信号操作类似于图9所示出的期间P91～P92的信号操作，所以部分细节于此不再重复叙述。

请参照图8与图10，在期间P103，扫描信号S(n)、电压信号AT、发光信号EM及控制信号VC具有致能电压电平VGL，使得开关T81、T89、T87、T83及T88导通。此时按序流经开关T87、T82、T83及T89的电流I82具有电流电平ILV。在图10对应的实施例中，开关T89耦接节点N81。电流I82在流经开关T89至节点N81后，更流经开关T81至节点N89。

在一些实施例中，使用者可以从节点N89的数据走线测量电流I82的电流电平ILV，并依据电流电平ILV判断像素驱动电路800是否有异常。举例来说，当开关T87、T82、T83、T89及T81中的至少一者无法正常导通时，电流I82无法被传输至节点N89，使得从数据走线测量的电流电平ILV有异常。

在一些实施例中，在期间P103，电流I82更按序流经开关T87及T88至节点N88。使用者可以从节点N88测量电流I82的电流电平ILV，并依据电流电平ILV判断像素驱动电路800是否有异常。举例来说，当开关T87及T88中的至少一者无法正常导通时，电流I82无法被传输至节点N88，使得从节点N88测量的电流电平ILV有异常。

在一些实施例中，在使用者测量电流I81及/或I82以确认像素驱动电路800正常运行之后，使用者将发光元件L8耦接于容置空间SP8，使得发光元件L8的一端耦接节点N84，且发光元件L8的另一端接收电压信号VSS。在一些实施例中，在发光元件L8耦接像素驱动电路800之后，像素驱动电路800依据如图3所示的时序图进行发光操作。

本公开前述各种检测方式及发光操作的方式用于说明，其他各种检测方式以及发光操作的方式都在本公开思及的范围中。

综上所述，在本发明实施例中，在发光元件L2或L5发光时，开关T22或开关T52的临界电压电平V

虽然本发明已以实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中技术人员，在不脱离本发明的构思和范围内，当可作些许的变动与润饰，故本发明的保护范围当视权利要求所界定者为准。