一种恒温下电阻阻值检测设备

技术领域

本发明涉及电阻阻值测试设备技术领域，特别涉及一种恒温下电阻阻值检测设备。

背景技术

电阻生产过程中，需要对电阻质量进行多种测试，对电阻阻值在不同温度下进行测量是一项重要的检测指标，而现有的电阻阻值测量一般是将电阻放置到指定的恒温水中进行浸泡，待电阻温度与水温相同时开始对其进行测量，但是有些电阻只能浸入水中一小部分，因为其内部不能进入水，对于这类电阻的测量传统的方法特别的不方便且不安全。

因此，发明一种恒温下电阻阻值检测设备来解决上述问题很有必要。

发明内容

本发明的目的在于提供一种恒温下电阻阻值检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种恒温下电阻阻值检测设备，包括测试台、高精度恒温箱和物架，其特征在于；所述测试台内部设置有测试水箱，所述测试水箱四角处在测试台上表面固定有滑杆，所述滑杆顶部设置有限位块，所述滑杆上滑动安装有滑筒，同端的所述滑筒之间设置有横杆，两个所述横杆之间安装有横板，所述横杆下方固定有固定块，所述固定块上开设有卡槽，两个所述卡槽之间安装有测试板，所述测试板上开设有长形卡孔，所述测试水箱中间安装有支架，所述支架中间安装有螺杆，所述螺杆底端通过轴承与横板转动连接，所述螺杆顶端安装有转动手柄，所述测试水箱侧面开设有水位测量窗，所述测试水箱右侧面设置有补水口，所述测试台底部安装有支脚。

优选的，所述测试台内部设置有隔板，所述测试水箱与高精度恒温箱连接有恒温箱进水管和恒温箱出水管，所述补水管上安装有水泵，所述测试水箱内部安装有温度计。

优选的，所述测试水箱内壁上设置有保温层。

本发明的技术效果和优点：本发明一种恒温下电阻阻值检测设备通过将测试板固定在可以进行升降的横杆上，从而可以通过检测电阻的种类进行对检测板进行高度调整，此过程方便快捷同时保证测试电阻的安全性，同时将测试水箱与高精度横温箱连接，从而可以保证测试水箱中的水温保持恒定，减小测试的误差，同时在测试水箱内壁上设置一层保温层，从而可以减少热量的散失，减少电能的浪费。

附图说明

图1为本发明的整体结构示意图。

图2为本发明的测试水箱结构示意图。

图中：高精度恒温箱1、限位块2、滑杆3、滑筒4、横杆5、横板6、测试台7、水位测量窗8、支脚9、物架10、转动手柄11、螺杆12、轴承13、固定块14、卡槽15、测试板16、长形卡孔17、测试水箱18、支架19、补水管20、恒温箱进水管21、恒温箱出水管22、隔板23、温度计24。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明提供了如图所示的一种恒温下电阻阻值检测设备，包括测试台7、高精度恒温箱1和物架10，其特征在于：所述测试台7内部设置有测试水箱18，所述测试水箱18四角处在测试台7上表面固定有滑杆3，所述滑杆3顶部设置有限位块2，所述滑杆2上滑动安装有滑筒4，同端的所述滑筒4之间设置有横杆5，两个所述横杆5之间安装有横板6，所述横杆5下方固定有固定块14，所述固定块14上开设有卡槽15，两个所述卡槽15之间安装有测试板16，所述测试板16上开设有长形卡孔17，所述测试水箱18中间安装有支架19，所述支架19中间安装有螺杆12，所述螺杆12底端通过轴承13与横板6转动连接，所述螺杆12顶端安装有转动手柄11，所述测试水箱18侧面开设有水位测量窗8，所述测试水箱18右侧面设置有补水口20，所述测试台7底部安装有支脚9。

进一步的，在上述技术方案中，所述测试台7内部设置有隔板23，所述测试水箱18与高精度恒温箱1连接有恒温箱进水管21和恒温箱出水管22，所述补水管20上安装有水泵25，所述测试水箱18内部安装有温度计24。

进一步的，在上述技术方案中，所述测试水箱18内壁上设置有保温层。

本实用工作原理：首先，通过补水管向测试水箱进行加水，通过水位测量窗观察水位直到达到指定水位后停止加水，然后启动高精度恒温箱对测试水箱中的水进行循环加热，待温度达到设定温度后，将测试电阻安装在测试板上，通过螺杆调整测试板处于水中的深度，然后对测试电阻进行浸泡，与此同时设置在测试水箱中的温度计不断地测量测试水箱中的水温，当水温低于设定温度后高精度恒温箱启动继续对水进行加热，测试电阻浸泡一定时间后开始对电阻阻值进行测量。

最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。