一种半导体分立器柱形电容的制造用检测设备

技术领域

本发明涉及半导体分立器件制造技术领域，具体为一种半导体分立器柱形电容的制造用检测设备。

背景技术

半导体分立器件泛指半导体晶体二极管、半导体三极管简称二极管、三极管及半导体特殊器件,在产品应用方面，电子整机产品对功率变换、电源管理等日益增长的需求直接推动了功率晶体管产品的向前发展。随着全球经济对节能环保的重视，功率半导体技术将进一步得到发展，从而带动分立器件市场的快速增长。

其中在柱形电容的的生产制造中，需要对柱形电容进行是否通电的检测，而这种检测的装置一方面不能对柱形电容带动引脚的方向进行调整，另一方面检测和检测后的柱形电容的分离需要人工操作，不仅工作效率低，且人为的检测和放置易存在误差，为了解决这一问题我们提出了一种半导体分立器柱形电容的制造用检测设备。

发明内容

（一）解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种半导体分立器柱形电容的制造用检测设备，具备自动对电容调向、自动进行检测、检测精度高和工作效率高的优点，解决了现有的电容生产制造检测不能自动对电容调向、不能自动进行检测、检测精度低和工作效率低的问题。

（二）技术方案

为实现上述具备自动对电容调向、自动进行检测、检测精度高和工作效率高的目的，本发明提供如下技术方案：一种半导体分立器柱形电容的制造用检测设备，包括底座，所述底座的中部固定连接有固定柱，固定柱的上部设置有扭矩弹簧，扭矩弹簧的左部设置有检测针，固定柱的偏上中部外侧设置有固定盘，固定盘的内部左侧设置有弧形铁片，弧形铁片的右侧设置有与检测针对应的线圈，固定盘的内部右侧设置有矩形磁块，固定柱的外侧转动连接有主转盘，主转盘的内部环绕开设有通槽，主转盘的下侧设置有圆盘，主转盘的内部且在通槽内转动连接有与固定盘对应的从动盘，从动盘的上部外侧环绕设置有固定块，从动盘的上部转动连接有螺纹盘，螺纹盘的上部滑动连接有滑动磁块，滑动磁块的里侧端且在固定块上均固定连接有第一弹簧，滑动磁块的里侧端均固定连接有支撑杆，支撑杆的里侧端均设置有弹性块，弹性块的上侧且在通槽内设置有电容，电容的上部设置有引脚，圆盘的外侧设置有皮带，皮带的左侧且在底座上转动连接有驱动装置，主转盘的上侧设置有导向管，导向管的左上方设置有弧形磁块。

优选的，所述弧形铁片弧度对应的角度小于相邻通槽之间的角度，通过转盘转动，带动从动盘沿着固定盘转动，保证在对应的弧形铁片的范围内转动一圈，进一步使得引脚与检测针连通一次，从而避免损坏的电容受到弧形铁片磁性的影响。

优选的，所述线圈产生的磁场与弧形铁片一侧的滑动磁块的磁极相反。

优选的，所述矩形磁块的磁极与其右侧的滑动磁块相对面的磁极相反。

优选的，所述螺纹盘的上侧设置有螺旋纹，且滑动磁块的下部设置有与该螺旋纹对应的滑槽，从而保证其中一个滑动磁块带动螺纹盘转动，螺纹盘转动带动其它滑动磁块同步移动。

优选的，所述通槽的上部设置为锥形，且锥形的下侧设置有与弹性块对应的凹槽。

优选的，所述导向管与后侧的通槽相对应，从而保证电容下落到通槽内。

（三）有益效果

与现有技术相比，本发明提供了一种半导体分立器柱形电容的制造用检测设备，具备以下有益效果：

1、该半导体分立器柱形电容的制造用检测设备，通过将电容放入到导向管内，在重力的作用下向左侧滑动，当电容经过弧形磁块，弧形磁块都会吸附引脚，从而保证引脚在电容上的方向变为一致，且对电容整体进行适当的减速，进一步避免电容的冲击较大。

2、该半导体分立器柱形电容的制造用检测设备，通过驱动装置带动皮带转动，皮带通过圆盘带动主转盘转动，主转盘转动带动从动盘转动，但同时由于与固定盘相互摩擦，从而通过摩擦力带动从动盘自转，从动盘通过其上的支撑杆带动电容转动，且保证在对应的弧形铁片的范围内转动一圈，进一步使得引脚与检测针连通一次，从而避免损坏的电容受到弧形铁片磁性的影响，从而保证在主转盘的左前方完成对电容是否通电的检测。

3、该半导体分立器柱形电容的制造用检测设备，若电容通电，且与电容串联的线圈通电，线圈产生的磁场吸附滑动磁块向其移动，螺纹盘的上侧设置有螺旋纹，且滑动磁块的下部设置有与该螺旋纹对应的滑槽，从而保证其中一个滑动磁块带动螺纹盘转动，螺纹盘转动带动其它滑动磁块同步移动，滑动磁块带动支撑杆脱离电容，从而通过其它收集装置对合格的电容进行收集。

4、该半导体分立器柱形电容的制造用检测设备，若电容不通电，当改电容移动到固定盘的右侧时，通过矩形磁块起到和线圈相同的作用，强制对不合格的电容进行分离，综上所述，本发明解决了现有的电容生产制造检测不能自动对电容调向、不能自动进行检测、检测精度低和工作效率低的问题。

附图说明

图1为本发明整体正面部分结构剖视图；

图2为本发明主转盘相关结构俯视示意图；

图3为本发明图2中A-A处的结构剖视图；

图4为本发明图3中B-B处的结构剖视图；

图5为本发明从动盘相关结构俯视示意图；

图6为本发明图3中C处的结构放大图；

图7为本发明主转盘上检测针俯视运动轨迹结构示意图。

图中：1底座、2固定柱、201扭矩弹簧、202检测针、203固定盘、2031弧形铁片、2032线圈、2033矩形磁块、3主转盘、301通槽、302圆盘、4从动盘、401固定块、5螺纹盘、6滑动磁块、7第一弹簧、8支撑杆、801弹性块、9电容、901引脚、10皮带、11驱动装置、12导向管、1201弧形磁块。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-7，一种半导体分立器柱形电容的制造用检测设备，包括底座1，所述底座1的中部固定连接有固定柱2，固定柱2的上部设置有扭矩弹簧2，扭矩弹簧2的左部设置有检测针202，固定柱2的偏上中部外侧设置有固定盘203，固定盘203的内部左侧设置有弧形铁片2301，弧形铁片2301的右侧设置有与检测针202对应的线圈2032，固定盘203的内部右侧设置有矩形磁块2033，固定柱2的外侧转动连接有主转盘3，主转盘3的内部环绕开设有通槽301，主转盘3的下侧设置有圆盘302，主转盘3的内部且在通槽301内转动连接有与固定盘203对应的从动盘4，从动盘4的上部外侧环绕设置有固定块401，从动盘4的上部转动连接有螺纹盘5，螺纹盘5的上部滑动连接有滑动磁块6，线圈2032产生的磁场与弧形铁片2031一侧的滑动磁块6的磁极相反。矩形磁块2033的磁极与其右侧的滑动磁块6相对面的磁极相反。

螺纹盘5的上侧设置有螺旋纹，且滑动磁块6的下部设置有与该螺旋纹对应的滑槽，从而保证其中一个滑动磁块6带动螺纹盘5转动，螺纹盘5转动带动其它滑动磁块6同步移动。滑动磁块6的里侧端且在固定块401上均固定连接有第一弹簧7，滑动磁块6的里侧端均固定连接有支撑杆8，支撑杆8的里侧端均设置有弹性块801，通槽301的上部设置为锥形，且锥形的下侧设置有与弹性块801对应的凹槽。弹性块801的上侧且在通槽301内设置有电容9，电容9的上部设置有引脚901，弧形铁片2031弧度对应的角度小于相邻通槽301之间的角度，通过转盘3转动，带动从动盘4沿着固定盘203转动，保证在对应的弧形铁片2031的范围内转动一圈，进一步使得引脚901与检测针202连通一次，从而避免损坏的电容9受到弧形铁片2031磁性的影响。导向管12与后侧的通槽301相对应，从而保证电容9下落到通槽301内。圆盘302的外侧设置有皮带10，皮带10的左侧且在底座1上转动连接有驱动装置11，主转盘3的上侧设置有导向管12，导向管12的左上方设置有弧形磁块1201。

工作原理：该半导体分立器柱形电容的制造用检测设备，在使用时，通过将电容9放入到导向管12内，在重力的作用下向左侧滑动，当电容9经过弧形磁块12，弧形磁块12都会吸附引脚901，从而保证引脚901在电容9上的方向变为一致，且对电容9整体进行适当的减速，进一步避免电容9的冲击较大。

通过驱动装置11带动皮带10转动，皮带10通过圆盘302带动主转盘3转动，主转盘3转动带动从动盘4转动，但同时由于与固定盘203相互摩擦，从而通过摩擦力带动从动盘4自转，从动盘4通过其上的支撑杆8带动电容9转动，且保证在对应的弧形铁片2031的范围内转动一圈，进一步使得引脚901与检测针202连通一次，从而避免损坏的电容9受到弧形铁片2031磁性的影响，从而保证在主转盘3的左前方完成对电容9是否通电的检测。

若电容9通电，且与电容9串联的线圈2032通电，线圈2032产生的磁场吸附滑动磁块6向其移动，螺纹盘5的上侧设置有螺旋纹，且滑动磁块6的下部设置有与该螺旋纹对应的滑槽，从而保证其中一个滑动磁块6带动螺纹盘5转动，螺纹盘5转动带动其它滑动磁块6同步移动，滑动磁块6带动支撑杆8脱离电容9，从而通过其它收集装置对合格的电容9进行收集。

若电容9不通电，当改电容9移动到固定盘203的右侧时，通过矩形磁块2033起到和线圈2032相同的作用，强制对不合格的电容9进行分离，综上所述，本发明解决了现有的电容生产制造检测不能自动对电容调向、不能自动进行检测、检测精度低和工作效率低的问题。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。