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半导体稳流测试模组

文献发布时间:2024-04-18 19:58:30


半导体稳流测试模组

技术领域

本发明属于半导体检测技术领域,具体涉及一种半导体稳流测试模组。

背景技术

在半导体行业PCBA板的生产过程中需要对PCBA板进行电性测试,以判断PCBA板各元器件的电性参数(例如阻值、容值或感抗等)是否符合标准要求。常见的印刷电路板的测试方式是在印刷电路板上设置测试点,将锡膏印刷于测试点表面,通过自动化测试设备或在线测试设备,以探针直接接触测试点的锡膏部位以取得相关的电性参数。

目前的在线测试设备中的探针头型根据测试点的不同而要求不同,有单头单动、双头单动、双头双动等,对于测试探针在测试过程中常常会因为测试探针抖动导致测试数据误测率高、测试传输不稳定。

发明内容

本发明的目的是提供一种半导体稳流测试模组,解决现有测试探针在测试过程中常常会因为测试探针抖动导致测试数据误测率高、测试传输不稳定的问题。

为了解决上述技术问题,本发明公开了一种半导体稳流测试模组,包括固定模块,所述固定模块内设置有多个空腔,每个所述空腔内均设置有弹簧,所述弹簧内设置有针杆,所述针杆的侧部设置有固定孔,固定模块的一侧设置有多个空槽,固定模块的前侧设置有推拉模块,所述推拉模块上设置有多个卡位槽,每组卡位槽、空槽和固定孔中均装配一个固定杆。

本发明的技术方案,还具有以下特点:

作为本发明的一种优选方案,所述空腔为台阶孔。

作为本发明的一种优选方案,所述推拉模块上设置有销钉孔,所述销钉孔内设置有固定销钉,所述固定模块的侧部设置有固定钉,所述固定钉和固定销钉之间设置有拉力弹簧。

作为本发明的一种优选方案,所述针杆的尾部与头部之间形成有台阶,并且尾部的外径大于头部的外径。

作为本发明的一种优选方案,所述固定模块的侧部设置有卡槽,所述推拉模块从所述卡槽装入。

与现有技术相比:本发明的一种半导体稳流测试模组,在测试过程中针杆不能上下运行,不会因为上压力的异常而抖动,因此能够确保测试过程中电流的稳定性,经过实验其具有较好的市场反响,市场推广使用的前景较好。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本发明的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:

图1为本发明的一种半导体稳流测试模组的结构示意图;

图2为本发明的一种半导体稳流测试模组的拆解图。

图中:1.固定模块,2.空腔,3.弹簧,4.固定孔,5.针杆,6.卡位槽,7.推拉模块,8.销钉孔,9.空槽,10.拉力弹簧,11.固定杆,12.固定销钉,13.固定钉,14.卡槽。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。

本发明的描述中,除非另有明确的限定,设置、安装、连接等词语应做广义理解,所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。

如图1和图2所示,本发明的一种半导体稳流测试模组,包括固定模块1,固定模块1内设置有多个空腔2,每个空腔2内均设置有弹簧3,弹簧3内设置有针杆5,针杆5的侧部设置有固定孔4,固定模块1的前侧设置有多个空槽9,固定模块1的前侧设置有推拉模块7,推拉模块7上设置有多个卡位槽6,每组卡位槽6、空槽2和固定孔4中均装配一个固定杆11。

推拉模块7上设置有销钉孔8,销钉孔8内设置有固定销钉12,固定模块1的侧部设置有固定钉13,固定钉13和固定销钉12之间设置有拉力弹簧10。固定模块1的侧部设置有卡槽14,推拉模块7从卡槽14装入。

针杆5的尾部与头部之间形成有台阶,并且尾部的外径大于头部的外径。空腔2为台阶孔,针杆5的头部可深入台阶孔,针杆5的尾部则被卡入台阶孔之外。

本发明结合图2说明组装方法步骤:①将弹簧3分别装入固定模块1的空腔2内,空腔2是一个台阶孔设计;②取针杆5装入上一步固定模块1的空腔2内,针杆5的固定孔4与固定模块1的空槽9设计对齐;③取推拉模块7装入上一步固定模块1的卡槽14中;④取固定杆11装入空槽9与固定孔4紧配;⑤取固定销钉12装入推拉模块1的销钉孔8;⑥取拉力弹簧10,两端分别固定在固定钉13与固定销钉12上,完成组装。

本发明结合图1、2说明工作原理:本发明针杆5上端与信号传输块接触,当传输块下压时,针杆5向下移动,当到达工作行程后推拉模块7受到拉力弹簧10的力向左运行,当固定杆11与卡位槽6接触后针杆5位置被固定,针尖与测试PAD点接触,测试开始,在测试过程时针杆5不能上下运行,不会因为上压力的异常而抖动,确保了测试过程中电流的稳定性,当测试工作完成后,将推拉模块7向右推动,针杆5向上运行回到测试初始位置,测试完成。

因此,与现有技术相比:本发明的一种半导体稳流测试模组,在测试过程中针杆不能上下运行,不会因为上压力的异常而抖动,因此能够确保测试过程中电流的稳定性,经过实验其具有较好的市场反响,市场推广使用的前景较好。

上述说明示出并描述了发明的若干优选实施例,但如前所述,应当理解发明并非局限于本文所披露的形式,不应看作是对其他实施例的排除,而可用于各种其他组合、修改和环境,并能够在本文所述发明构想范围内,通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离发明的精神和范围,则都应在发明所附权利要求的保护范围内。

技术分类

06120116501700