测试报告生成方法、装置、设备、存储介质及程序产品

技术领域

本公开涉及测试报告生成技术，尤其涉及一种测试报告生成方法、装置、设备、存储介质及程序产品。

背景技术

随着计算机技术的发展，越来越多的应用被开发出来，且应用的迭代速度较快。为了保证上线的应用能够正常运行，需要对应用进行测试。若测试人员对应用进行测试时发现了缺陷，则可以撰写缺陷报告，并将缺陷报告反馈给开发人员，使得开发人员能够根据缺陷报告对应用的代码进行优化。

测试人员一般会根据经验撰写缺陷报告，缺陷报告中包括缺陷编号、缺陷标题、缺陷的发现者、缺陷发现日期、缺陷所属的功能模块、发现缺陷的应用版本等信息。开发人员基于缺陷报告处理完毕应用的缺陷后，该缺陷报告也就没有其他作用了。

因此，现有技术中测试人员撰写的缺陷报告只被利用了一次，即解决该缺陷报告中的缺陷时会使用该缺陷报告。这就浪费了测试人员的工作成果，没有充分利用缺陷报告中的信息，导致缺陷报告的利用率低。

发明内容

本公开提供一种测试报告生成方法、装置、设备、存储介质及程序产品，以解决现有技术中对缺陷报告的利用率低的问题。

本公开的第一个方面是提供一种测试报告生成方法，包括：

获取用户输入的测试缺陷信息，在所述测试缺陷信息中确定关键字；所述测试缺陷信息用于描述对程序进行测试时发现的缺陷；

根据所述关键字在预设记录库中确定是否存在与所述测试缺陷信息匹配的测试记录；所述预设记录库中包括根据历史的应用测试信息生成的测试记录；

若存在与所述测试缺陷信息匹配的测试记录，则根据所述测试记录生成测试报告。

本公开的另一个方面是提供一种测试报告生成装置，包括：

确定单元，用于获取用户输入的测试缺陷信息，在所述测试缺陷信息中确定关键字；所述测试缺陷信息用于描述对程序进行测试时发现的缺陷；

匹配单元，用于根据所述关键字在预设记录库中确定是否存在与所述测试缺陷信息匹配的测试记录；所述预设记录库中包括根据历史的应用测试信息生成的测试记录；

报告生成单元，用于若存在与所述测试缺陷信息匹配的测试记录，则根据所述测试记录生成测试报告。

本公开的又一个方面是提供一种电子设备，包括：

存储器；

处理器；以及

计算机程序；

其中，所述计算机程序存储在所述存储器中，并配置为由所述处理器执行以实现如上述第一方面所述的测试报告生成方法。

本公开的又一个方面是提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行以实现如上述第一方面所述的测试报告生成方法。

本公开的又一个方面是提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时实现如上述第一方面所述的测试报告生成方法。

本公开提供的测试报告生成方法、装置、设备、存储介质及程序产品的技术效果是：

本实施例提供的测试报告生成方法、装置、设备、存储介质及程序产品，包括：获取用户输入的测试缺陷信息，在测试缺陷信息中确定关键字；测试缺陷信息用于描述对程序进行测试时发现的缺陷；根据关键字在预设记录库中确定是否存在与测试缺陷信息匹配的测试记录；预设记录库中包括根据历史的应用信息生成的测试记录；若存在与测试缺陷信息匹配的测试记录，则根据测试记录生成测试报告。本实施例提供的方案中，能够通过测试记录的方式记录历史的应用缺陷信息，并在生成测试报告时合理的利用应用缺陷信息，以提高应用缺陷信息的利用率，还能够提高测试报告的生成效率。

附图说明

图1为本公开一示例性实施例示出的测试报告生成方法的流程示意图；

图2为本公开另一示例性实施例示出的测试报告生成方法的流程示意图；

图3为本公开一示例性实施例示出的缺陷描述信息的输入界面的示意图；

图4为本公开一示例性实施例示出的测试报告生成装置的结构示意图；

图5为本公开另一示例性实施例示出的测试报告生成装置的结构示意图；

图6为本公开一示例性实施例示出的电子设备的结构图。

具体实施方式

目前，测试人员对应用进行测试时，若测试人员发现一个缺陷，需要填写一份“缺陷报告”来记录这个缺陷，并通过这个缺陷报告给告知开发人员所发生的问题。缺陷报告是测试人员和开发人员交流沟通的重要工具。

缺陷报告撰写完毕后，测试人员可以提交该缺陷报告，开发经理分配缺陷报告，研发人员处理该缺陷报告指向的应用缺陷，处理完毕后，由测试人员复测该应用缺陷，复测通过后，测试人员可以关闭该缺陷报告。

其中，缺陷报告被关闭后，该缺陷报告的一次应用过程就结束了，后期不会再利用该缺陷报告。因此，现有技术中没有充分的利用缺陷报告中的信息，导致缺陷报告中的信息利用率低。

为了解决上述技术问题，本公开提供的测试报告生成方案中，根据历史的测试缺陷信息生成的测试记录，当再次需要生成测试报告时，可以根据用户输入的测试缺陷信息匹配相应的测试记录，进而直接根据已有的测试记录生成测试报告，以提高测试报告的生成效率。这种方式能够充分利用已有的测试报告中的信息，以提高测试报告的信息的利用率，还能够达到快速生成测试报告的效果。

图1为本公开一示例性实施例示出的测试报告生成方法的流程示意图。

如图1所述，本公开提供的测试报告生成方法，包括：

步骤101，获取用户输入的测试缺陷信息，在测试缺陷信息中确定关键字；测试缺陷信息用于描述对程序进行测试时发现的缺陷。

其中，本公开提供的方法可以由具备计算能力的电子设备执行，该电子设备例如可以是用于生成测试报告的后台服务器。该电子设备可以是单台服务器，也可以是集群服务器或者分布式服务器等。

具体的，电子设备能够向外提供生成测试报告的服务，比如，用户使用的用户终端能够与该电子设备网络连接，用户终端访问电子设备提供的生成测试报告的服务时，用户终端可以显示交互界面。

进一步的，用户可以对用户终端进行操作，在其中输入测试缺陷信息。该测试缺陷信息是用户对应用进行测试时发现的缺陷的信息。比如，用户对应用进行测试时，若发现了缺陷，则可以操作用户终端使其访问生成测试报告的服务，进而使用户终端显示交互界面。

实际应用时，用户终端可以获取用户输入的测试缺陷信息，并将该测试缺陷信息发送到电子设备中，以使电子设备可以获取用户输入的测试缺陷信息。

一种可选的实施方式中，测试缺陷信息是用于描述对程序进行测试时发现的缺陷，比如，可以包括缺陷描述信息，还可以包括该缺陷复现的信息。

其中，电子设备可以在获取的测试缺陷信息中确定关键字。比如，可以剔除测试缺陷信息中的无意义词汇，例如“的”、“了”、“啊”等。电子设备还可以提取测试缺陷信息中剩余内容中的关键词汇，将其作为关键字。

具体的，若测试缺陷信息中包括缺陷描述信息和缺陷复现信息，则电子设备可以从缺陷描述信息和缺陷复现信息中分别提取关键字。

进一步的，若测试缺陷信息中包括多个类别的信息，则可以从每一类信息中提取关键字。比如测试缺陷信息中包括缺陷必现程度，例如缺陷必现程度为“必然出现”，则电子设备可以提取关键字“必然”。再比如，测试缺陷信息中包括机型系统，例如机型系统为“全部机型”，则电子设备可以提取关键字“全部”。

步骤102，根据关键字在预设记录库中确定是否存在与测试缺陷信息匹配的测试记录；预设记录库中包括根据历史的应用测试信息生成的测试记录。

实际应用时，本公开提供的方案中，预先设置有记录库，预设记录库中设置有多条测试记录。每一条测试记录都是基于历史的应用测试信息生成的。比如，用户输入测试缺陷信息后，若电子设备没有在预设记录库中确定与该测试缺陷信息匹配的测试记录，则用户可以继续输入与该测试缺陷信息对应的更详细的信息，比如缺陷产生的原因等，电子设备可以根据这些应用缺陷信息生成测试记录，并存储到预设记录库中。

其中，电子设备可以根据当前用户输入的测试缺陷信息中的关键字，在预设记录库中进行匹配，以确定匹配的测试记录。

具体的，若一条测试记录包括测试缺陷信息的各个关键字，则可以认为该测试记录与当前的测试缺陷信息匹配。或者，测试记录包括测试缺陷信息的大部分关键字，则可以认为该测试记录与当前的测试缺陷信息匹配。具体可以根据需求设置。

进一步的，若关键字是从测试缺陷信息中包括的多个类别信息中获取的，则可以在测试记录中的各类别信息，与各个关键字分别对应时，可以确定该测试记录是与当前的测试缺陷信息匹配的。

比如，关键字a是从测试缺陷信息中的A类信息提取的，那么当测试记录的A类信息包括关键字a时，认为测试缺陷信息与测试记录的A类信息是匹配的。当测试缺陷信息与测试记录的多个类别的信息都匹配时，确定该测试缺陷信息与测试记录匹配。

步骤103，若存在与测试缺陷信息匹配的测试记录，则根据测试记录生成测试报告。

进一步的，若在预设记录库中包括与测试缺陷信息匹配的测试记录，则电子设备可以使用该匹配的测试记录生成测试报告，以提高测试报告的生效效率，还能够利用历史的测试数据。

实际应用时，预设记录库中的测试记录包括测试缺陷信息，还可以包括缺陷产生原因等信息，电子设备可以获取测试记录中的各个信息，并根据这些信息生成测试报告。

一种可选的实施方式中，电子设备中还可以设置报告模板，电子设备可以将从测试记录中获取的各信息填充到报告模板中的相应位置，以快速的生成测试报告。

这种实施方式，能够通过测试记录的方式记录历史的应用缺陷信息，并在生成测试报告时合理的利用应用缺陷信息，以提高应用缺陷信息的利用率。

本实施例提供的方法用于生成测试报告，该方法由设置有本实施例提供的方法的设备执行，该设备通常以硬件和/或软件的方式来实现。

本实施例提供的测试报告生成方法，包括：获取用户输入的测试缺陷信息，在测试缺陷信息中确定关键字；测试缺陷信息用于描述对程序进行测试时发现的缺陷；根据关键字在预设记录库中确定是否存在与测试缺陷信息匹配的测试记录；预设记录库中包括根据历史的应用信息生成的测试记录；若存在与测试缺陷信息匹配的测试记录，则根据测试记录生成测试报告。本实施例提供的测试报告生成方法中，能够通过测试记录的方式记录历史的应用缺陷信息，并在生成测试报告时合理的利用应用缺陷信息，以提高应用缺陷信息的利用率，还能够提高测试报告的生成效率。

图2为本公开另一示例性实施例示出的测试报告生成方法的流程示意图。

如图2所示，本实施例提供的测试报告生成方法，包括：

步骤201，向用户终端发送缺陷描述信息的输入界面，响应用户在缺陷描述信息的输入界面的输入操作，获取缺陷描述信息。

在一种可选的实施方式中，若用户对应用进行测试时发现了缺陷，则可以操作用户终端，使其向电子设备发送用于生成测试报告的请求。电子设备接收到该请求后，可以基于本公开提供的方法，向用户终端发送缺陷描述信息的输入界面。

其中，用户可以在用户终端显示的缺陷描述信息的输入界面中进行操作，具体可以在其中输入缺陷描述信息。

一种实施方式中，缺陷描述信息的输入界面中可以包括输入框，用户可以在其中输入缺陷描述信息。另一种实施方式中，缺陷描述信息的输入界面中可以包括多个信息标题，信息标题后可以显示选择框，用户可以在选择框中选择与当前缺陷信息一致的信息。这两种方式也可以结合使用，界面中可以即包括输入信息的输入框，也可以包括选择信息的选择框。

图3为本公开一示例性实施例示出的缺陷描述信息的输入界面的示意图。

如图3所示，缺陷描述信息的输入界面中可以包括用于输入多种信息的组件，这些组件可以是输入框，也可以是选择框。

一种实施方式中，缺陷描述信息可以包括必现程度，必现程度具体可以是必然出现、大概率出现、很难出现等情况。

缺陷描述信息可以包括机型系统，机型系统用于表征当前的缺陷会在哪类机型出现，具体可以包括全部机型、低端操作机型、新操作系统、常用操作系统等情况。

缺陷描述信息可以包括触发频率，一般缺陷都是由于使用某一功能时产生的，可以通过触发频率表征该功能的使用频次，具体可以包括极少使用、频繁使用、一般使用等情况。

缺陷描述信息可以包括严重程度，严重程度用于表征当前出现的缺陷的严重情况，具体可以包括无法消失、重启可修复、引起其他问题等情况。

缺陷描述信息可以包括影响范围，有一些缺陷可能只会影响当前的功能，但是有一些缺陷可能会影响与当前功能关联的功能。因此，可以通过影响范围描述这一信息。例如，当应用为用于资产交易的应用时，影响范围可以包括仅本交易、关联交易、整个系统等情况。

用户在该界面中输入缺陷描述信息之后，用户终端可以将相应的信息通过网络上传给电子设备，使得电子设备能够获取缺陷描述信息。

步骤202，向用户终端发送缺陷复现信息的输入界面，响应用户在缺陷复现信息的输入界面的输入操作，获取缺陷复现信息。

一种可选的实施方式中，可以在用户输入了缺陷描述信息之后，电子设备向用户终端发送缺陷复现信息的输入界面。

另一种实施方式中，电子设备可以同时向用户终端发送缺陷描述信息的输入界面、陷复现信息的输入界面。用户终端可以在一个大的界面中同时显示缺陷描述信息的输入界面，以及缺陷复现信息的输入界面。

实际应用时，用户终端能够显示缺陷复现信息的输入界面，从而使用户能够在该界面中输入缺陷复现信息。缺陷复现信息是指相同缺陷再次出现的信息，比如，输入特定数字时，会触发应用的缺陷。

其中，缺陷复现信息可以包括边界值校验、空输入提交、返回操作、异常输入值等，用户可以根据实际情况输入缺陷复现信息。

具体的，用户在用户终端中输入了缺陷复现信息之后，用户终端可以将相应的信息上报给电子设备，以使电子设备能够获取缺陷复现信息。

步骤203，在缺陷描述信息中确定至少一个第一关键字，在缺陷复现信息中确定至少一个第二关键字。

进一步的，电子设备获取了用户输入的缺陷描述信息以及缺陷复现信息之后，可以在这两个信息中分别提取关键字，具体可以在缺陷描述信息中确定至少一个第一关键字，在缺陷复现信息中确定至少一个第二关键字。

实际应用时，电子设备中可以预先设置关键字识别算法，通过相应的算法能够在缺陷描述信息和缺陷复现信息中提取关键字。比如，电子设备可以在缺陷描述信息和缺陷复现信息中，进行分词处理，还可以去除语气词、没有实际意义的词汇，还可以在剩余词汇中确定重点词汇，并将相应的文字作为关键字。

其中，分别在缺陷描述信息和缺陷复现信息中提取关键字，能够提取出表征缺陷描述信息和缺陷复现信息的关键信息，进而可以结合缺陷描述信息和缺陷复现信息确定已有的匹配测试信息。

步骤204，根据第一关键字、第二关键字，在预设记录库中确定是否存在与测试缺陷信息匹配的测试记录；其中，与测试缺陷信息匹配的测试记录中，包括与第一关键字匹配的缺陷描述信息，以及与第二关键字匹配的缺陷复现信息；预设记录库中包括根据历史的应用测试信息生成的测试记录。

具体的，电子设备可以访问预设记录库，该预设记录库可以设置在电子设备中，也可以设置在其他设备中，电子设备可以与其他设备连接，进而访问预设记录库。

进一步的，预设记录库中可以设置有多条测试记录，每条测试记录都可以是基于历史的应用测试信息生成的。

实际应用时，预设记录库中的每条测试记录中，都可以包括缺陷描述信息，还可以包括缺陷复现信息。

其中，电子设备可以利用第一关键字、第二关键字，在预设记录库中查询匹配的测试记录。具体可以将缺陷描述信息包括第一关键字、缺陷复现信息包括第二关键字的测试记录，作为匹配的测试记录。例如，根据用户当前输入的测试缺陷信息提取出第一关键字“A”、以及第二关键字“B”，则可以在预设记录库中，查找包括“A”的匹配缺陷描述信息，以及包括“B”的匹配缺陷复现信息。再将既包括匹配缺陷描述信息，又包括匹配缺陷复现信息的测试记录作为与测试缺陷信息匹配的测试记录。

步骤205，若存在与测试缺陷信息匹配的测试记录，则根据测试记录生成测试报告。

步骤205与步骤103的实现方式和原理类似，不再赘述。

步骤206，若不存在与测试缺陷信息匹配的测试记录，获取用户输入的缺陷产生的原因信息。

具体的，若在预设记录库中不存在与测试缺陷信息匹配的测试记录，则电子设备可以继续获取用户输入的缺陷产生的原因信息。

进一步的，若电子设备没有在预设记录库中确定出与测试缺陷信息匹配的测试记录，则电子设备可以向用户终端发送用于输入缺陷产生的原因信息的界面，则用户可以在用户终端中输入缺陷产生的原因信息，用户终端可以将缺陷产生的原因信息上报给电子设备，以使电子设备可以获取用户输入的缺陷产生的原因信息。

实际应用时，测试人员可以和开发原因讨论缺陷产生的原因，从而使测试人员能够或者缺陷产生的准确原因。

步骤207，根据测试缺陷信息、原因信息生成测试记录，并将测试记录存储到预设缺陷库中。

实际应用时，电子设备可以根据用户输入的测试缺陷信息、缺陷产生的原因信息生成测试记录，还可以将测试记录存储到预设缺陷库中。

其中，每条测试记录中都可以包括测试缺陷信息、缺陷产生的原因信息，测试缺陷信息具体可以包括缺陷描述信息、缺陷复现信息。

具体的，当用户再次输入测试缺陷信息时，电子设备可以基于用户输入的信息在预设缺陷库中查找匹配的测试记录。

步骤208，根据生成的测试记录生成测试报告。

进一步的，电子设备还可以根据生成的测试记录生成测试报告，具体生成的方式与步骤103中基于匹配的测试记录生成测试报告的方式类似，不再赘述。

在一种可选的实施方式中，电子设备还可以获取用户输入的缺陷总结信息。电子设备可以向用户终端发送缺陷总结信息的输入界面，用户可以在用户终端中输入缺陷总结信息，用户终端可以向电子设备上报缺陷总结信息。

在这种实施方式中，电子设备根据测试记录、缺陷总结信息生成测试报告。比如，电子设备可以获取预设的报告模板，该预设模板中可以设置缺陷总结信息的填充位置，电子设备可以将用户输入的缺陷总结信息填充到相应的位置，进而生成测试报告。

实际应用时，电子设备可以基于与测试缺陷信息匹配的测试记录生成测试报告，也可以基于根据测试信息生成的测试记录生成测试报告。

图4为本公开一示例性实施例示出的测试报告生成装置的结构示意图。

如图4所示，本公开提供的测试报告生成装置400包括：

确定单元410，用于获取用户输入的测试缺陷信息，在所述测试缺陷信息中确定关键字；所述测试缺陷信息用于描述对程序进行测试时发现的缺陷；

匹配单元420，用于根据所述关键字在预设记录库中确定是否存在与所述测试缺陷信息匹配的测试记录；所述预设记录库中包括根据历史的应用测试信息生成的测试记录；

报告生成单元430，用于若存在与所述测试缺陷信息匹配的测试记录，则根据所述测试记录生成测试报告。

本实施例提供的测试报告生成装置的具体原理和实现方式均与图1所示的实施例类似，此处不再赘述。

图5为本公开另一示例性实施例示出的测试报告生成装置的结构示意图。

如图5所示，本公开提供的测试报告生成装置500中，一种可选的实施方式中，若不存在与所述测试缺陷信息匹配的测试记录，则所述装置还包括记录生成单元440，用于：

获取用户输入的缺陷产生的原因信息；

根据所述测试缺陷信息、所述原因信息生成测试记录，并将所述测试记录存储到所述预设缺陷库中；

所述报告生成单元430还用于：根据生成的所述测试记录生成测试报告。

一种可选的实施方式中，所述确定单元410，包括缺陷信息获取模块411，用于：

向用户终端发送缺陷描述信息的输入界面，响应用户在所述缺陷描述信息的输入界面的输入操作，获取缺陷描述信息；

向所述用户终端发送缺陷复现信息的输入界面，响应用户在所述缺陷复现信息的输入界面的输入操作，获取缺陷复现信息。

一种可选的实施方式中，所述确定单元410包括关键字确定模块412，用于：

在所述缺陷描述信息中确定至少一个第一关键字，在所述缺陷复现信息中确定至少一个第二关键字；

相应的，所述匹配单元420具体用于：

根据所述第一关键字、所述第二关键字，在所述预设记录库中确定是否存在与所述测试缺陷信息匹配的测试记录；其中，与所述测试缺陷信息匹配的测试记录中，包括与所述第一关键字匹配的缺陷描述信息，以及与所述第二关键字匹配的缺陷复现信息。

一种可选的实施方式中，所述缺陷描述信息包括以下任一种信息：必现程度、机型系统、触发频率、严重程度、影响范围。

一种可选的实施方式中，所述装置还包括总结获取单元450，用于：

获取用户输入的缺陷总结信息；

相应的，所述报告生成单元430具体用于：

根据所述测试记录、所述缺陷总结信息生成所述测试报告。

图6为本公开一示例性实施例示出的电子设备的结构图。

如图6所示，本实施例提供的电子设备包括：

存储器61；

处理器62；以及

计算机程序；

其中，所述计算机程序存储在所述存储器61中，并配置为由所述处理器62执行以实现如上所述的任一种测试报告生成方法。

本实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，

所述计算机程序被处理器执行以实现如上所述的任一种测试报告生成方法。

本实施例还提供一种计算机程序，包括程序代码，当计算机运行所述计算机程序时，所述程序代码执行如上所述的任一种测试报告生成方法。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程序在执行时，执行包括上述各方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本公开的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本公开进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本公开各实施例技术方案的范围。