正余弦信号的相位差校正方法、正余弦编码器及存储介质

技术领域

本发明涉及正余弦编码器技术领域，尤其涉及一种正余弦信号的相位差校正方法、正余弦编码器及存储介质。

背景技术

目前的正余弦编码器系统当中，做法是通过光电池和码盘的相对位置变化产生原始的正余弦信号，这个原始的正余弦信号一般会在后续的电路当中对这个信号的幅值、偏移量、相位做些调整，其中调整相位差一般采用调整pcb(Printed Circuit Board，印制电路板)和码盘、光源之间的相对位置。但是由于编码器装配的误差和来料的不一致性，会造成每台编码器的信号质量参差不齐，如果通过调整pcb和码盘、光源之间的相对位置来实现调整正余弦信号的相位差，比较依赖于人的因素，不利于产品的批量生产和自动化生产，可制造型很差。因此，如何精确地对正余弦编码器产生的正余弦信号进行相位差校正，使正余弦信号的精度更高成为一个亟待解决的问题。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供了一种正余弦信号的相位差校正方法、正余弦编码器及存储介质，旨在解决如何精确地对正余弦编码器产生的正余弦信号进行相位差校正，使正余弦信号的精度更高的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供了一种正余弦信号的相位差校正方法，所述正余弦信号的相位差校正方法包括以下步骤：

采集所述正余弦编码器当前时刻生成的正余弦信号；

获取校正参数集，所述校正参数集包含所述正余弦编码器旋转一周对应的各个角度处用于进行相位差校正的幅值补偿参数，所述校正参数集是预先测试得到的；

根据所述校正参数集，确定所述当前时刻对应的角度的目标幅值补偿参数；

利用所述目标幅值补偿参数对所述正余弦信号进行相位差校正。

可选地，所述获取校正参数集之前，还包括：

获取所述正余弦编码器旋转一周生成的初始正余弦信号；

获取特征正余弦信号，其中，所述特征正余弦信号用于表征所述正余弦编码器旋转一周生成的正余弦信号的理论值；

对比所述初始正余弦信号和所述特征正余弦信号，确定所述正余弦编码器在各个角度的相位差；

根据所述相位差确定所述正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数；

基于所述正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数生成校正参数集；

将所述校正参数集存储至所述正余弦编码器的预设位置处。

可选地，所述根据所述相位差确定所述正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数，包括：

根据所述初始正余弦信号和所述相位差确定所述正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数；其中，所述初始正余弦信号包括：初始正弦信号和初始余弦信号。

可选地，所述根据所述初始正余弦信号和所述相位差确定所述正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数，包括：

利用第一预设公式，根据所述初始正弦信号、所述初始余弦信号以及所述相位差确定所述正余弦编码器生成的余弦信号在各个角度对应的幅值补偿参数，其中，所述第一预设公式为：

cos(wt+β)＝(coswt+αsinwt)/sqrt(1+α^2)

其中，cos(wt+β)表示所述正余弦编码器在角度wt对应的幅值补偿参数，coswt表示初始余弦信号，sinwt表示初始正弦信号，β表示相位差，α表示相位差的正切值，w表示角速度，t表示时间。

可选地，所述根据所述初始正余弦信号和所述相位差确定所述正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数，包括：

利用第二预设公式，根据所述初始正弦信号、所述初始余弦信号以及所述相位差确定所述正余弦编码器生成的正弦信号在各个角度对应的幅值补偿参数，其中，所述第二预设公式为：

sin(wt+β)＝(sinwt+αcoswt)/sqrt(1+α^2)

其中，sin(wt+β)表示所述正余弦编码器在角度wt对应的幅值补偿参数， coswt表示初始余弦信号，sinwt表示初始正弦信号，β表示相位差，α表示相位差的正切值，w表示角速度，t表示时间。

可选地，所述正余弦编码器包括硬件校正电路，所述利用所述目标幅值补偿参数对所述正余弦信号进行相位差校正，包括：

根据所述目标幅值补偿参数，利用所述硬件校正电路调整所述正余弦信号的幅值，得到目标正余弦信号；其中，所述目标正余弦信号中目标正弦信号与目标余弦信号之间的相位差为90度。

可选地，所述硬件校正电路包括：加法器、减法器、可变增益运放或预设分压电阻链。

可选地，所述将所述校正参数集存储至所述正余弦编码器的预设位置处之后，还包括：

获取存储的校正参数集，并根据所述存储的校正参数集对所述正余弦编码器进行测试，获得测试后的正余弦信号；

在所述测试后的正余弦信号的相位差满足预设相位差条件时，判定所述正余弦编码器合格。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种正余弦编码器，包括：光电池芯片、存储器、相位差校正模块，其中，

所述光电池芯片用于生成正余弦信号；

所述存储器用于存储校正参数集；

所述相位差校正模块用于采集所述光电池芯片当前时刻生成的正余弦信号；从所述存储器获取校正参数集，所述校正参数集包含所述正余弦编码器旋转一周对应的各个角度处用于进行相位差校正的幅值补偿参数，所述校正参数集是预先测试得到的；根据所述校正参数集，确定所述当前时刻对应的角度的目标幅值补偿参数；利用所述目标幅值补偿参数对所述正余弦信号进行相位差校正。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有正余弦信号的相位差校正程序，所述正余弦信号的相位差校正程序被处理器执行时实现如上文所述的正余弦信号的相位差校正方法的步骤。

本发明可以采集正余弦编码器当前时刻生成的正余弦信号，然后通过获取校正参数集，可以确定当前时刻对应的角度的目标幅值补偿参数。校正参数集可以包含正余弦编码器旋转一周对应的各个角度处用于进行相位差校正的幅值补偿参数，校正参数集是预先测试得到的。从而根据校正参数集可以将相位误差转换为幅值误差，进一步的，可以利用目标幅值补偿参数对正余弦信号进行相位差校正。本发明通过预先测试得到的校正参数集，可以在不改变编码器的硬件布局的前提下实现相位差的实时校正，更加便捷，适用性更广。利用根据校正参数集确定的目标幅值补偿参数对正余弦信号进行相位差校正，能够将正余弦信号的相位差校正转换为正余弦信号的幅值调整，从而使得本发明上述方式能够自动实现正余弦编码器产生的正余弦信号的相位差校正，使正余弦信号的精度更高。

附图说明

图1为本发明正余弦信号的相位差校正方法第一实施例的流程示意图；

图2为本发明正余弦信号的相位差校正方法一实施例的正余弦编码器产生的正余弦信号的波形图；

图3为本发明正余弦信号的相位差校正方法第二实施例的流程示意图；

图4为本发明正余弦信号的相位差校正方法第三实施例的流程示意图；

图5为本发明正余弦信号的相位差校正方法一实施例的角度、角度所在的弧度、角度的正切值之间的关系曲线图；

图6为本发明正余弦信号的正余弦编码器第一实施例的结构框图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

参照图1，图1为本发明正余弦信号的相位差校正方法第一实施例的流程示意图。

本实施例中，所述正余弦信号的相位差校正方法包括以下步骤：

步骤S10：采集所述正余弦编码器当前时刻生成的正余弦信号；

需要说明的是，本实施例的执行主体可以是一种具有数据处理、网络通信以及程序运行功能的计算服务设备，例如中央处理器(central processing unit， CPU)、个人电脑等，也可以采用其他的一些运算处理单元，比如FPGA、CPLD、 MCU等具备数据采集、处理的单元，或者是一种能够实现上述功能的电子设备或正余弦信号的相位差校正设备。以下以所述CPU为例，对本实施例及下述各实施例进行说明。

应理解的是，正余弦编码器是一种采用模拟输出的增量编码器，其输出为正余弦信号。正余弦编码器内部可包括光电池芯片和码盘，正余弦信号是指光电池芯片产生的信号。正余弦编码器当前时刻生成的正余弦信号是在正余弦编码器出厂后采集的。具体地，参考图2，图2为本发明正余弦信号的相位差校正方法一实施例的正余弦编码器产生的正余弦信号的波形图，如图3 所示，本实施例中的正余弦信号可包括一组正弦信号和一组余弦信号，横坐标表示时间，纵坐标表示感光面积，这两组信号的理论相位差为90°，但由于物料的差异和装配的不一致性，这个相位差往往不是90°，在实际产品生产过程中是需要调整和校正的。

步骤S20：获取校正参数集，所述校正参数集包含所述正余弦编码器旋转一周对应的各个角度处用于进行相位差校正的幅值补偿参数，所述校正参数集是预先测试得到的；

在本实施例中，校正参数集可以在正余弦编码器出厂前确定并存储的，也可在正余弦编码器出厂后首次上电前确定并存储的，当然也可以是在正余弦编码器上电后确定并存储的，具体的可以根据实际需求选择，本实施例对此不做具体限制。

在本实施例中，在正余弦编码器出厂后确定校正参数集需要在正余弦编码器中集成采集卡、模数转换器、处理器等硬件器件，采用该方式可以在正余弦编码器的运行过程中对校正参数集进行更新，以确保校正的精度。但同时也会增加正余弦编码器的硬件复杂度，以及成本。

在本实施例中，在正余弦编码器出厂前确定并存储校正参数集，可以在编码器运行的过程中根据存储的校正参数集进行固定相位差校正，同时不需要一直对校正参数集进行更新，降低正余弦编码器的成本。

在具体实现中，校正参数集可以是预先测试得到的，具体测试方法可以是根据正余弦编码器旋转一周生成的正余弦信号与理论正余弦信号对比确定，校正参数集中可以包括正余弦信号旋转一周对应的各个角度对应的幅值补偿参数，幅值补偿参数是指正余弦信号需要达到的幅值，从而根据各个角度对应的幅值补偿参数可对正余弦信号进行相位差校正。

步骤S30：根据所述校正参数集，确定所述当前时刻对应的角度的目标幅值补偿参数；

在本实施方式中，校正参数集中可以包括正余弦信号旋转一周对应的各个角度对应的幅值补偿参数，因此可从校正参数集中选取当前时刻对应的角度的目标幅值参数。

在本实施方式中，上述校正参数集中可以包含每个角度对应的幅值补偿参数，当然可以理解的是上述校正参数集中幅值补偿参数对应的角度也可以是离散的，例如：0度、0.1度、0.2度等，或者0度、0.01度、0.02度等，具体的可以根据实际需求确认，本说明书实施例对此不作限定。

在本实施方式中，上述幅值补偿参数可以用于表征当前时刻的角度对应的校正后的理论幅值，也可以用于表征当前时刻校正到对应的理论幅值需要叠加的数据(幅值补偿参数可以为正数，也可以为负数，也可以为0)，当然可以理解的是上述幅值补偿参数也可以为拟合到的公式或者曲线，具体的可以根据实际情况确定，本说明实施例对此不作限定。

步骤S40：利用所述目标幅值补偿参数对所述正余弦信号进行相位差校正。

在本实施例中，在从校正参数集中选取当前时刻对应的角度的目标幅值参数后，可利用目标幅值补偿参数对正余弦信号进行相位差校正。

在一些实施例中，相位差校正方式可以是将当前时刻生成的正余弦信号的幅值更改为当前时刻对应的角度的目标幅值补偿参数，也可以是将当前时刻生成的正余弦信号的幅值叠加当前时刻对应的角度的目标幅值补偿参数，当然可以理解是，还可以根据幅值补偿参数的具体形式确定具体的相位差校正方式，具体的可以根据实际情况确定，本说明书实施例对此不作限定。

本实施例可以采集正余弦编码器当前时刻生成的正余弦信号，然后通过获取校正参数集，可以确定当前时刻对应的角度的目标幅值补偿参数。校正参数集可以包含正余弦编码器旋转一周对应的各个角度处用于进行相位差校正的幅值补偿参数，校正参数集是预先测试得到的。从而根据校正参数集可以将相位误差转换为幅值误差，进一步的，可以利用目标幅值补偿参数对正余弦信号进行相位差校正。本实施例通过预先测试得到的校正参数集，可以在不改变编码器的硬件布局的前提下实现相位差的实时校正，更加便捷，适用性更广。利用根据校正参数集确定的目标幅值补偿参数对正余弦信号进行相位差校正，能够将正余弦信号的相位差校正转换为正余弦信号的幅值调整，从而使得本实施例上述方式能够自动实现正余弦编码器产生的正余弦信号的相位差校正，使正余弦信号的精度更高。

参考图3，图3为本发明正余弦信号的相位差校正方法第二实施例的流程示意图。

基于上述第一实施例，在本实施例中，所述步骤S20之前，还包括：

步骤S01：获取所述正余弦编码器旋转一周生成的初始正余弦信号；

可理解的是，本实施例可在正余弦编码器出厂前得到校正参数集，首先可以通过数据采集卡采集正余弦编码器旋转一周生成的初始正余弦信号，初始正余弦信号可包括初始正弦信号和初始余弦信号。数据采集卡是指可以实现数据采集功能的计算机扩展卡，是生产设备，而不是正余弦编码器本身的结构，本实施例可用于采集正余弦编码器旋转一周生成的初始正余弦信号，并可通过总线接入计算机。本实施例无需在正余弦编码器中集成数据采集卡，正余弦编码器无需添加额外的硬件电路，使得正余弦编码器的结构更加简单。

步骤S02：获取特征正余弦信号，其中，所述特征正余弦信号用于表征所述正余弦编码器旋转一周生成的正余弦信号的理论值；

在本实施例中，特征正余弦信号可以是指正余弦编码器旋转一周生成的正余弦信号的理论值，特征正余弦信号可包括特征正弦信号和特征余弦信号，特征正弦信号和特征余弦信号之间的相位差为90度，例如特征正弦信号的相位为30度时，对应的特征余弦信号的相位可以为120度。

在本实施例中，上述特征正余弦信号可以是通过公式计算得到的，也可以是利用模拟软件模拟得到的，或者也可以是采用标准高精度的编码器运行一周得到的，具体的可以根据实际情况确定，本说明书实施例对此不作限定。

步骤S03：对比所述初始正余弦信号和所述特征正余弦信号，确定所述正余弦编码器在各个角度的相位差；

在本实施例中，相位差可根据正余弦编码器在各个角度对应的初始正余弦信号和特征正余弦信号确定。在一些实施例中，可以是以初始余弦信号为基准校正初始余弦信号与初始正弦信号之间的相位差为90度，可以对比初始正弦信号与特征正弦信号，还可以是以初始正弦信号为基准校正初始余弦信号与初始正弦信号之间的相位差为90度，可以对比初始余弦信号与特征余弦信号。例如，正余弦编码器中的初始正弦信号对应的角度为30度，可从特征余弦信号中选取对应的角度为120度，假设初始正余弦信号中的初始余弦信号为121度，则初始余弦信号的相位差为1度，对应的可以校正初始余弦信号，并保持初始正弦信号不变。还可根据特征正弦信号和初始余弦信号确定正余弦编码器生成的余弦信号在各个角度的相位差，本实施例对此不过多赘述。

步骤S04：根据所述相位差确定所述正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数；

在本实施例中，可根据相位差确定正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数，具体方式可以是以初始正弦信号为基准，确定初始正弦信号在各个角度对应的与初始余弦信号之间的相位差，再根据该相位差确定初始余弦信号在各个角度对应的幅值补偿参数；还可以是以初始余弦信号为基准，确定初始余弦信号在各个角度对应的与初始正弦信号之间的相位差，再根据该相位差确定初始正弦信号在各个角度对应的幅值补偿参数。例如：在初始正弦信号对应的角度为30度时，初始余弦信号对应的角度应为120度，但是此时初始余弦信号对应的角度为121度，此时相位差为1度，需要得到初始余弦信号为121度的幅值补偿参数。

步骤S05：基于所述正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数生成校正参数集；

在本实施例中，校正参数集中可包括以正弦信号为基准，余弦信号在各个角度对应的幅值补偿参数，或者可以包括以余弦信号为基准，正弦信号在各个角度对应的幅值补偿参数，具体的可以根据实际情况确定，本说明书实施例对此不作限定。

步骤S06：将所述校正参数集存储至所述正余弦编码器的预设位置处。

本实施例可将校正参数集存储在正余弦编码器中存储器的预设位置处，例如EEPROM(带电可擦可编程只读存储器)，也可以通过其他存储器进行存储，例如flash ROM、CPU内部的存储器、NVRAN等存储器。

进一步地，在本实施例中，所述步骤S06之后，还可以包括：获取存储的校正参数集，并根据所述存储的校正参数集对所述正余弦编码器进行测试，获得测试后的正余弦信号；在所述测试后的正余弦信号的相位差满足预设相位差条件时，判定所述正余弦编码器合格。

需要说明的是，预设相位差条件是指预先设置的相位差条件，例如，测试后的正弦信号与余弦信号之间的相位差大于88度且小于92度，具体的可以根据实际情况确定，本说明书实施例对此不作限定。

具体地，在确定出幅值补偿参数后，还可以利用存储的该补偿参数对正余弦编码器进行测试验证，获得测试后的正余弦信号，在测试后的正余弦信号的相位差精度满足预设相位差条件时，确认该正余弦编码器合格，可以出厂。

进一步地，为了精确进行相位差校正，在本实施例中，所述步骤S40包括：根据所述目标幅值补偿参数，利用所述硬件校正电路调整所述正余弦信号的幅值，得到目标正余弦信号；其中，所述目标正余弦信号中目标正弦信号与目标余弦信号之间的相位差为90度。

在本实施例中，正余弦编码器可包括硬件校正电路，用于对正余弦信号的幅值进行调整。

在实际应用中，目标正余弦信号中目标正弦信号与目标余弦信号之间的相位差可以是在90度左右，在误差允许的范围以内即可，例如，88度、89.6 度、90.12度等。

可理解的是，在得到目标幅值补偿参数后，可利用硬件校正电路对正余弦信号的幅值进行调整，得到目标正余弦信号。在需要对正余弦信号中的余弦信号进行相位差校正时，可从当前时刻对应的角度的目标幅值补偿参数中选取余弦信号中该角度对应的目标幅值补偿参数，然后对余弦信号的幅值进行调整。例如：在幅值补偿参数表征当前时刻的角度对应的校正后的理论幅值的情况下，当前时刻对应的余弦信号的角度为121度，对应的目标幅值补偿参数为-2，此时可以将当前时刻对应的余弦信号的幅值调整为-2。

进一步地，在本实施例中，所述硬件校正电路可以包括：加法器、减法器、可变增益运放或预设分压电阻链等。在一些实施方式中，硬件校正电路可以包括以上至少之一，或者任意的组合方式。

在本实施例中，硬件校正电路可包括加法器、减法器、可变增益运放或预设分压电阻链，除了可变增益运放外，还可以采用其他的可编程器件，比如A/D、D/A等，利用上述硬件校正电路无需通过利用在编码器中集成A/D 和D/A+CPU的方式来实现，避免采用CPU的方式带来很大的时间延迟。

本实施例通过获取正余弦编码器旋转一周生成的初始正余弦信号，然后获取特征正余弦信号，其中，特征正余弦信号用于表征正余弦编码器旋转一周生成的正余弦信号的理论值，然后对比初始正余弦信号和特征正余弦信号，确定正余弦编码器在各个角度的相位差，然后根据相位差确定正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数，再基于正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数生成校正参数集，并将校正参数集存储至正余弦编码器的预设位置处。本实施例通过对比初始正余弦信号和特征正余弦信号，确定正余弦编码器在各个角度的相位差，然后根据相位差确定校正参数集，能够将正余弦信号的相位差校正转换为正余弦信号的幅值调整，然后对当前时刻生成的正余弦信号进行相位差校正，从而能够自动实现正余弦编码器产生的正余弦信号的相位差校正，使正余弦信号的精度更高。

参考图4，图4为本发明正余弦信号的相位差校正方法第三实施例的流程示意图。

基于上述各实施例，在本实施例中，所述步骤S04可以包括：

步骤S041：根据所述初始正余弦信号和所述相位差确定所述正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数；其中，所述初始正余弦信号包括：初始正弦信号和初始余弦信号。

在本实施例中，初始正弦信号和初始余弦信号可以是指正余弦编码器在出厂前旋转一周生成的正弦信号和余弦信号。

在本实施例中，相位差是指初始正弦信号和初始余弦信号在各个角度下的相位差，然后可根据初始正弦信号、初始余弦信号以及相位差确定正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数。

进一步地，为了得到幅值补偿参数，在本实施例中，所述步骤S041可以包括：利用第一预设公式，根据所述初始正弦信号、所述初始余弦信号以及所述相位差确定所述正余弦编码器生成的余弦信号在各个角度对应的幅值补偿参数，其中，所述第一预设公式为：

cos(wt+β)＝(coswt+αsinwt)/sqrt(1+α^2)

其中，cos(wt+β)表示所述正余弦编码器在角度wt对应的幅值补偿参数， coswt表示初始余弦信号，sinwt表示初始正弦信号，β表示相位差，α表示相位差的正切值，w表示角速度，t表示时间。

在本实施例中，可以正弦信号为基准，通过上述第一预设公式得到正余弦编码器生成的余弦信号在各个角度下的幅值补偿参数。

可理解的是，例如：在正弦信号对应的角度为30度时，余弦信号对应的角度应为120度，但是此时余弦信号对应的角度为121度，此时相位差为1 度，β也为1度，coswt表示初始余弦信号中角度为wt对应的初始余弦值，sinwt 表示初始正弦信号中角度为wt对应的初始正弦值，sqrt为开根号运算。

在一些实施例中，上述第一预设公式还可以为：

Acos(wt+β)＝A(coswt+αsinwt)/sqrt(1+α^2)

其中，A可以为余弦信号的幅值，A可以为大于0的数值，例如：1、1.5、2、3、5等，具体的可以根据实际情况确定，本说明书实施例对此不作限定。

在本实施例中，上述第一预设公式还可以为其它可能的变形，所属领域技术人员在本说明书实施例技术精髓的启示下，还可能做出其它变更，但只要其实现的功能和效果与本说明书实施例相同或相似，均应涵盖于本说明书实施例保护范围内。

在本实施例中，参照图5，图5为本发明正余弦信号的相位差校正方法一实施例的角度、角度所在的弧度、角度的正切值之间的关系曲线图。如图5 所示，横坐标表示角度，标记为1的第一条曲线表示角度的正切值，标记为2 的第二条曲线表示角度所在的弧度，可以计算出，在角度为10度的情况下，弧度与正切值的误差为0.1027918，在角度为5度的情况下，弧度与正切值的误差为0.0127311。所以在相移不大(10度以内)的情况下，可以通过调整正余弦信号的幅值来实现正余弦信号的相移问题，也就是通过调整正余弦信号的幅值实现正余弦信号的相位差校正。

应理解的是，α表示相位差的正切值，由图5可知，相位差的正切值可约等于相位差，即α≈β。例如：在余弦信号对应的角度为121度时，β为1度， cos(wt+1)＝(coswt+sinwt)/sqrt(1+1^2)＝(cos120°+sin120°)/sqrt(2)，正余弦编码器中的余弦信号对应的角度为121度对应的幅值补偿参数为(cos120° +sin120°)/sqrt(2)。

在具体实现中，在相移大于10度的情况下，可以依据上述第一预设公式计算出理论误差，具体的应用条件要考虑系统期望的精度和我们理论可达的精度，一般的，在我们实际的工程实践当中，正余弦编码器的相位差调整范围不大于5°。

进一步地，为了得到幅值补偿参数，在本实施例中，所述步骤S022可以包括：利用第二预设公式，根据所述初始正弦信号、所述初始余弦信号以及所述相位差确定所述正余弦编码器生成的正弦信号在各个角度对应的幅值补偿参数，其中，所述第二预设公式为：

sin(wt+β)＝(sinwt+αcoswt)/sqrt(1+α^2)

其中，sin(wt+β)表示所述正余弦编码器在角度wt对应的幅值补偿参数， coswt表示初始余弦信号，sinwt表示初始正弦信号，β表示相位差，α表示相位差的正切值，w表示角速度，t表示时间。

在本实施例中，可以余弦信号为基准，通过上述第二预设公式得到正弦信号生成的正弦信号在各个角度下的幅值补偿参数。

可理解的是，例如：在余弦信号对应的角度为120度时，正弦信号对应的角度应为30度，但是此时正弦信号对应的角度为31度，此时相位差为1 度，β也为1度，coswt表示初始余弦信号中角度为wt对应的初始余弦值，sinwt 表示初始正弦信号中角度为wt对应的初始正弦值，sqrt为开根号运算。

应理解的是，α表示相位差的正切值，由图5可知，相位差的正切值可约等于相位差，即α≈β。例如：在正弦信号对应的角度为30度时，β为1度， sin(wt+β)＝(sinwt+αcoswt)/sqrt(1+α^2)＝(sin30°+cos30°)/sqrt(2)，正余弦编码器中的正弦信号对应的角度为30度对应的幅值补偿参数为(sin30° +cos30°)/sqrt(2)。

在具体实现中，在相移大于10度的情况下，可以依据上述第二预设公式计算出理论误差，具体的应用条件要考虑系统期望的精度和我们理论可达的精度，一般的，在我们实际的工程实践当中，正余弦编码器的相位差调整范围不大于5°。

在一些实施例中，上述第二预设公式还可以为：

Bsin(wt+β)＝B(sinwt+αcoswt)/sqrt(1+α^2)

其中，B可以为余弦信号的幅值，B可以为大于0的数值，例如：1.7、3、 4、5等，具体的可以根据实际情况确定，本说明书实施例对此不作限定。

在本实施例中，上述第二预设公式还可以为其它可能的变形，所属领域技术人员在本说明书实施例技术精髓的启示下，还可能做出其它变更，但只要其实现的功能和效果与本说明书实施例相同或相似，均应涵盖于本说明书实施例保护范围内。

本实施例根据初始正余弦信号和相位差确定正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数，其中，初始正余弦信号包括：初始正弦信号和初始余弦信号。本实施例根据初始正弦信号、初始余弦信号以及相位差确定正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数，能够获得精确的正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数，从而能够得到精确的校正参数集。

在一个实施例中，由于随着正余弦编码器使用次数的增多，正余弦编码器的误差可能会变大，因此在正余弦编码器出厂运行一段时间之后，可以更新校正参数集。在对校正参数集进行更新时，可以控制正余弦编码器低速旋转一周，具体确定当前校正参数集的方式可以参照上述获取校正参数集的方法，本实施例对此不过多赘述。再根据当前校正参数集对校正参数集进行更新，并将当前校正参数集存储到正余弦编码器的预设位置处，然后将校正参数集替换为当前校正参数集，后续在正余弦编码器的使用过程中可根据当前校正参数集进行相位差校正。

参照图6，图6为本发明正余弦信号的正余弦编码器第一实施例的结构框图。

如图6所示，本发明实施例提出的正余弦编码器可以包括：光电池芯片 10、存储器20、相位差校正模块30，其中，

所述光电池芯片10可以用于生成正余弦信号；

所述存储器20可以用于存储校正参数集；

所述相位差校正模块30可以用于采集所述光电池芯片当前时刻生成的正余弦信号；从所述存储器获取校正参数集，所述校正参数集包含所述正余弦编码器旋转一周对应的各个角度处用于进行相位差校正的幅值补偿参数，所述校正参数集是预先测试得到的；根据所述校正参数集，确定所述当前时刻对应的角度的目标幅值补偿参数；利用所述目标幅值补偿参数对所述正余弦信号进行相位差校正。

本实施例可以采集正余弦编码器当前时刻生成的正余弦信号，然后通过获取校正参数集，可以确定当前时刻对应的角度的目标幅值补偿参数。校正参数集可以包含正余弦编码器旋转一周对应的各个角度处用于进行相位差校正的幅值补偿参数，校正参数集是预先测试得到的。从而根据校正参数集可以将相位误差转换为幅值误差，进一步的，可以利用目标幅值补偿参数对正余弦信号进行相位差校正。本实施例通过预先测试得到的校正参数集，可以在不改变编码器的硬件布局的前提下实现相位差的实时校正，更加便捷，适用性更广。利用根据校正参数集确定的目标幅值补偿参数对正余弦信号进行相位差校正，能够将正余弦信号的相位差校正转换为正余弦信号的幅值调整，从而使得本实施例上述方式能够自动实现正余弦编码器产生的正余弦信号的相位差校正，使正余弦信号的精度更高。

需要说明的是，以上所描述的工作流程仅仅是示意性的，并不对本发明的保护范围构成限定，在实际应用中，本领域的技术人员可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部来实现本实施例方案的目的，此处不做限制。

另外，未在本实施例中详尽描述的技术细节，可参见本发明任意实施例所提供的正余弦信号的相位差校正方法，此处不再赘述。

基于本发明上述正余弦编码器第一实施例，提出本发明正余弦编码器的第二实施例。

在本实施例中，所述相位差校正模块30，还用于获取所述正余弦编码器旋转一周生成的初始正余弦信号；获取特征正余弦信号，其中，所述特征正余弦信号用于表征所述正余弦编码器旋转一周生成的正余弦信号的理论值；对比所述初始正余弦信号和所述特征正余弦信号，确定所述正余弦编码器在各个角度的相位差；根据所述相位差确定所述正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数；基于所述正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数生成校正参数集；将所述校正参数集存储至所述正余弦编码器的预设位置处。

进一步地，所述相位差校正模块30，还用于根据所述初始正余弦信号和所述相位差确定所述正余弦编码器在各个角度对应的幅值补偿参数；其中，所述初始正余弦信号包括：初始正弦信号和初始余弦信号。

进一步地，所述相位差校正模块30，还用于利用第一预设公式，根据所述初始正弦信号、所述初始余弦信号以及所述相位差确定所述正余弦编码器生成的余弦信号在各个角度对应的幅值补偿参数，其中，所述第一预设公式可以为：

cos(wt+β)＝(coswt+αsinwt)/sqrt(1+α^2)

其中，cos(wt+β)表示所述正余弦编码器在角度wt对应的幅值补偿参数， coswt表示初始余弦信号，sinwt表示初始正弦信号，β表示相位差，α表示相位差的正切值，w表示角速度，t表示时间。

进一步地，所述相位差校正模块30，还用于利用第二预设公式，根据所述初始正弦信号、所述初始余弦信号以及所述相位差确定所述正余弦编码器生成的正弦信号在各个角度对应的幅值补偿参数，其中，所述第二预设公式为：

sin(wt+β)＝(sinwt+αcoswt)/sqrt(1+α^2)

其中，sin(wt+β)表示所述正余弦编码器在角度wt对应的幅值补偿参数， coswt表示初始余弦信号，sinwt表示初始正弦信号，β表示相位差，α表示相位差的正切值，w表示角速度，t表示时间。

进一步地，所述相位差校正模块30，还用于根据所述目标幅值补偿参数，利用所述硬件校正电路调整所述正余弦信号的幅值，得到目标正余弦信号；其中，所述目标正余弦信号中目标正弦信号与目标余弦信号之间的相位差为 90度；所述硬件校正电路包括：加法器、减法器、可变增益运放或预设分压电阻链。

进一步地，所述相位差校正模块30，还用于获取存储的校正参数集，并根据所述存储的校正参数集对所述正余弦编码器进行测试，获得测试后的正余弦信号；在所述测试后的正余弦信号的相位差满足预设相位差条件时，判定所述正余弦编码器合格。

本发明正余弦信号编码器的其他实施例或具体实现方式可参照上述各方法实施例，此处不再赘述。

此外，本发明实施例还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有正余弦信号的相位差校正程序，所述正余弦信号的相位差校正程序被处理器执行时实现如上文所述的正余弦信号的相位差校正方法的步骤。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如只读存储器/随机存取存储器、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。