用于晶体的移载机

技术领域

本发明涉及晶体生产技术领域，尤其涉及一种用于晶体的移载机。

背景技术

现有的移载类设备，主要方式以直线类移载为主，此类设备因过长的直线行程，往复搬运移载时，效率不高，且由于移载轴的频繁启停，会导致移载机的机台变得极不稳定，严重影响设备的使用寿命。

发明内容

本发明旨在至少解决相关技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提供一种用于晶体的移载机，使得移载机可以进行连续生产，提高了移载机的生产效率和使用寿命。

本发明提供一种用于晶体的移载机，包括：

机架；

料斗出料机构，所述料斗出料机构安装于所述机架，用以供应晶体；

提篮机构，所述提篮机构包括若干放料板，晶体放置于所述放料板；

料盘取放机构，所述料盘取放机构用以取放所述放料板；

分度圆盘机构，所述分度圆盘机构对应于所述料斗出料机构和所述料盘取放机构，所述分度圆盘机构包括安装于所述机架且可转动调节的分度盘以及安装于所述分度盘且高度可调的若干吸嘴组件，所述吸嘴组件用以吸取晶体；

归正机构，所述归正机构安装于所述机架且对应于所述吸嘴组件，用以调节所述晶体的位置。

本发明用于晶体的移载机的进一步改进在于，所述提篮机构包括：

安装于所述机架的第一驱动电机，所述第一驱动电机具有沿竖直方向延伸且高度可调的旋转轴；

设置于所述旋转轴的顶部的篮框，所述篮框的一侧面开设有出口且另一侧面沿高度方向开设有检测孔，所述篮框的内侧壁沿高度方向间隔设置有若干放置槽，所述放料板滑设于所述放置槽；

立设于所述机架且对应于篮框的立杆，所述立杆上滑设有第一传感器，所述第一传感器对应于所述检测孔，所述第一传感器和所述第一驱动电机连接，所述第一传感器和所述料盘取放机构连接。

本发明用于晶体的移载机的进一步改进在于，所述料盘取放机构包括：

固定于所述机架且对应于所述提篮机构的第一安装座，所述第一安装座沿第一方向延伸；

沿所述第一方向滑设于所述第一安装座的顶部的第一滑动板；

固定于所述第一滑动板的顶部且沿第二方向延伸的第二安装座，所述第二方向垂直于所述第一方向，所述第二方向平行于所述放置槽的延伸方向；

沿第二方向滑设于所述第二安装座的第二滑动板；

安装于所述第二滑动板的取盘组件，所述取盘组件用以取放所述放料板。

本发明用于晶体的移载机的进一步改进在于，所述取盘组件包括：

固定于所述第二滑动板的顶面的取盘底板；

固定于所述取盘底板的顶部的取盘定位板，所述取盘定位板开设有孔洞；

固定于所述第二安装座靠近所述篮框的侧部的支撑板；

沿所述第二方向固定于所述支撑板且位于所述取盘定位板的下方的两个支撑杆；

固定于所述取盘底板且高度可调的若干气缸；

固定于若干所述气缸的顶端且对应于所述孔洞的取盘托板；

设置于所述取盘托板的顶部且连接于所述气缸的第一勾盘销，所述第一勾盘销位于所述取盘定位板靠近所述支撑板的侧部，所述第一勾盘销用以连接所述放料板；

设置于所述取盘托板的顶部且连接于所述气缸的第二勾盘销，所述第二勾盘销位于所述孔洞内，所述第二勾盘销用以连接所述放料板。

本发明用于晶体的移载机的进一步改进在于，所述分度圆盘机构包括固定于所述机架的第二驱动电机以及安装于所述机架的第一气压组件，所述分度盘驱动连接于所述第二驱动电机，所述吸嘴组件连接于所述第一气压组件；

所述吸嘴组件包括：

固定于所述分度盘的吸嘴支撑单元，所述吸嘴支撑单元开设有沿高度方向延伸的安装孔；

插设于所述安装孔的气路管道；

安装于所述气路管道的底端的嘴部，所述嘴部用以吸取晶体；

连接于所述气路管道的顶端的头部，所述头部连接于所述第一气压组件。

本发明用于晶体的移载机的进一步改进在于，还包括间隔固定于所述机架的下压机构，所述下压机构对应于所述料盘取放机构、所述归正机构和所述料斗出料机构；

所述下压机构包括固定于所述机架的第三驱动电机、驱动连接于所述第三驱动电机的第一导向板；

沿高度方向滑设于所述第一导向板的第二导向板；

安装于所述第二导向板的下压头，通过所述第三驱动电机驱动，以带动所述第一导向板和第二导向板向下移动，从而带动所述下压头向下移动，从而所述下压头向下按压所述吸嘴组件。

本发明用于晶体的移载机的进一步改进在于，还包括固定于所述机架的第一检测机构和/或第二检测机构；

所述第一检测机构位于所述吸嘴组件的下方，用以检测晶体的位置；

所述第二检测机构位于所述料盘取放机构和所述提篮机构的顶部，用以检测晶体是否合格。

本发明用于晶体的移载机的进一步改进在于，所述归正机构包括：

安装于所述机架的归正支撑单元；

安装于所述归正支撑单元的归正承接平台，所述晶体能够放置于所述归正承接平台，所述吸嘴组件对应于所述归正承接平台；

连接于所述归正承接平台的若干夹爪；

安装于所述归正支撑单元的第四驱动电机，所述归正承接平台驱动连接于所述第四驱动电机，通过所述第四驱动电机带动所述归正承接平台转动，以改变晶体的位置；

安装于所述归正支撑单元的第五驱动电机，所述夹爪驱动连接于所述第五驱动电机，通过所述第五驱动电机带动所述夹爪转动，以使得所述夹爪夹紧放置于所述归正承接平台的晶体。

本发明用于晶体的移载机的进一步改进在于，所述料斗出料机构包括：

安装于所述机架且高度可调的料斗支撑单元；

安装于所述料斗支撑单元的顶部的储料盒，所述储料盒的侧部开设有出料孔；

安装于所述储料盒的侧部且对应于所述出料孔的出料板，所述吸嘴组件对应于所述出料板；

安装于所述机架且连接于所述储料盒的第二气压组件。

本发明用于晶体的移载机的进一步改进在于，还包括安装于所述机架的回收机构，用以回收不合格的晶体；

所述回收机构包括：

固定于所述机架的回收底座；

安装于所述回收底座的回收盒；

安装于所述回收底座且位于所述回收盒顶部的导向筒。

本发明用于晶体的移载机，通过将料斗出料机构、提篮机构、料盘取放机构、归正机构呈圆形分度，进而在料斗出料机构、提篮机构、料盘取放机构、归正机构中间位置设置呈圆形的分度圆盘机构，从而方便晶体的转运，使得晶体可以进行转移过程中进行一系列的检测以及位置调节，方便对晶体的后续处理，提高了晶体的生产效率。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明用于晶体的移载机的立体图。

图2是本发明用于晶体的移载机的俯视图。

图3是本发明用于晶体的移载机中料斗出料机构的示意图。

图4是本发明用于晶体的移载机中分度圆盘机构的示意图。

图5是本发明用于晶体的移载机中下压机构的示意图。

图6是本发明用于晶体的移载机中归正机构的示意图。

图7是图6中A部分的放大示意图。

图8是本发明用于晶体的移载机中提篮机构的示意图。

图9是本发明用于晶体的移载机中料盘取放机构的示意图。

图10是本发明用于晶体的移载机中取盘组件的放大示意图，其中省略了支撑杆和支撑板。

图11是本发明用于晶体的移载机中第一检测机构的示意图。

图12是本发明用于晶体的移载机中第二检测机构的示意图。

图13是本发明用于晶体的移载机中回收机构的示意图。

附图标记：

1、机架；11、机架底板；12、机架支板；

2、料斗出料机构；21、料斗控制单元；22、料斗支撑单元；23、储料盒；24、出料板；25、第二气压组件；

3、分度圆盘机构；31、第二驱动电机；32、分度盘；33、第一气压组件；331、气压仪表；34、吸嘴组件；

4、下压机构；41、安装板；42、第三驱动电机；421、旋转凸轮；43、第一导向板；431、旋转导向柱；44、第二导向板；45、缓冲组件；46、下压头；

5、归正机构；51、第四驱动电机；511、主动轮；512、从动轮；52、第五驱动电机；521、从动板；522、从动杆；53、归正支撑单元；54、转轴；55、夹爪；56、连接座；57、归正承接平台；58、第一光纤；59、第二光纤；

6、第一检测机构；61、第一检测支撑单元；62、第一检测相机；63、第一光源；

7、提篮机构；71、第一驱动电机；72、丝杆；73、提篮撑杆；74、篮框；741、放置槽；742、检测孔；75、放料板；76、立杆；77、第一传感器；78、提篮撑板；79、顶撑杆；

8、料盘取放机构；81、第一安装座；82、第一滑动板；83、第二安装座；84、第二滑动板；85、取盘组件；851、支撑板；852、支撑杆；853、取盘底板；854、取盘定位板；855、取盘托板；856、气缸；857、第一勾盘销；858、第二勾盘销；859、取盘传感器；

9、第二检测机构；91、第二检测支撑单元；92、第二检测相机；93、第二光源；

10、回收机构；1001、回收底座；1002、回收传感器；1003、导向筒；1004、回收盒。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。以下实施例用于说明本发明，但不能用来限制本发明的范围。

下面结合图1和图2描述本发明的一种用于晶体的移载机，包括：

机架1；

料斗出料机构2，料斗出料机构2安装于机架1，用以供应晶体；

提篮机构7，提篮机构7包括若干放料板75，晶体放置于放料板75；

料盘取放机构8，料盘取放机构8用以取放放料板75；

分度圆盘机构3，分度圆盘机构3对应于料斗出料机构2和料盘取放机构8，分度圆盘机构3包括安装于机架1且可转动调节的分度盘32以及安装于分度盘32且高度可调的若干吸嘴组件34，吸嘴组件34用以吸取晶体；

归正机构5，归正机构5安装于机架且对应于吸嘴组件34，用以调节晶体的位置。

本发明用于晶体的移载机的一种较佳实施案例中，如图8所示，提篮机构7包括：

安装于机架的第一驱动电机71，第一驱动电机71具有沿竖直方向延伸且高度可调的旋转轴；

设置于旋转轴的顶部的篮框74，篮框74的一侧面开设有出口且另一侧面沿高度方向开设有检测孔742，篮框74的内侧壁沿高度方向间隔设置有若干放置槽741，放料板75滑设于放置槽741；

立设于机架且对应于篮框74的立杆76，立杆76上滑设有第一传感器77，第一传感器77对应于检测孔742，第一传感器77和第一驱动电机71连接，第一传感器77和料盘取放机构8连接，通过将第一传感器77沿立杆76移动至对应料盘取放机构8的位置，进而驱动第一驱动电机71，以改变篮框74的高度，从而改变对应于第一传感器77的放置槽741，以便于第一传感器77检测对应的放置槽741处的放料板75盛放晶体以及是否放置有放料板75的情况，判断是否可以将装载有晶体的放料板75放回至对应的放置槽741，或者，对应的放置槽741上的放料板75是否是空置的，进而方便驱动料盘取放机构8将空置的放料板75的取出。

具体地，如图8所示，旋转轴的顶部设置丝杆72，旋转轴通过联轴器与丝杆72连接，丝杆72上螺合有顶升螺母，第一驱动电机71的顶部和机架底板11之间还设置有顶撑杆79，顶撑杆79和丝杆72对应设置，顶撑杆79上套设有提篮撑板78，顶升螺母和提篮撑板78通过螺丝固定连接，提篮撑板78上设置有若干提篮撑杆73，机架底板11对应提篮撑杆73的开设有导向孔，提篮撑杆73穿设于对应的导向孔，篮框74固定于提篮撑杆73的顶端，通过第一驱动电机71驱动旋转轴正向转动，以带动丝杆72转动，从而带动顶升螺母向上移动，以向上推顶提篮撑板78，从而带动提篮撑杆73向上移动，从而带动篮框74上升，从而改变对应于第一传感器77对应的放置槽741的位置，通过第一驱动电机71驱动旋转轴反向转动，以带动丝杆72转动，从而带动顶升螺母向下移动，以带动提篮撑板78向下移动，从而带动提篮撑杆73向下移动，从而带动篮框74下降。

具体地，提篮撑杆73的顶端可以固定连接提篮置物板，篮框74放置于该提篮置物板，当篮框74内的放料板75均放置有晶体后，工作人员可以更换放置有空置放料板75的篮框74，提高晶体的装运效率。

较佳地，篮框74的顶部设置有把手，方便工作人员提起篮框74。

进一步地，如图9和图10所示，料盘取放机构8包括：

固定于机架且对应于提篮机构7的第一安装座81，第一安装座81沿第一方向延伸；

沿第一方向滑设于第一安装座81的顶部的第一滑动板82；

固定于第一滑动板82的顶部且沿第二方向延伸的第二安装座83，第二方向垂直于第一方向，第二方向平行于放置槽741的延伸方向；

沿第二方向滑设于第二安装座83的第二滑动板84；

安装于第二滑动板84的取盘组件85，取盘组件85用以取放放料板75，通过第一滑动板82沿第一方向滑动且第二滑动板84沿第二方向滑动，以改变取盘组件85对应于出料板24和吸嘴组件34的位置，方便取盘组件85取放放料板75以及吸嘴组件34放置晶体。

具体地，如图9和图10所示，取盘组件85包括：

固定于第二滑动板84的顶面的取盘底板853；

固定于取盘底板853的顶部的取盘定位板854，取盘定位板854开设有孔洞，该孔洞对应于放料板75上待放置晶体的位置；

固定于第二安装座83靠近篮框74的侧部的支撑板851；

沿第二方向固定于支撑板851且位于取盘定位板854的下方的两个支撑杆852，两个支撑杆852之间的间距小于放料板75的宽度，使得放料板75能够稳定地放置在两个支撑杆852上；

固定于取盘底板853且高度可调的若干气缸856；

固定于若干气缸856的顶端且对应于孔洞的取盘托板855，通过气缸856伸长，以向上提升取盘托板855，使得取盘托板855推动放料板75上升，进而将放料板75夹设在取盘托板855和取盘定位板854之间；

设置于取盘托板855的顶部且连接于气缸856的第一勾盘销857，第一勾盘销857位于取盘定位板854靠近支撑板851的侧部，第一勾盘销857用以连接放料板75上的第一勾盘孔；

设置于取盘托板855的顶部且连接于气缸856的第二勾盘销858，第二勾盘销858位于孔洞内，第二勾盘销858用以连接放料板75上的第二勾盘孔。

具体地，放料板75远离第一传感器77的侧部开设有第一勾盘孔，通过第二滑动板84沿第二方向移动，以使得第一勾盘销857对应于第一勾盘孔，进而气缸856推动第一勾盘销857上升并穿设于第一勾盘孔，以使得放料板75连接于取盘托板855，通过第二滑动板84沿第二方向滑动，以将放料板75自篮框74内取出或者将放料板75放置于篮框74内。

具体地，放料板75靠近第一传感器77的侧部开设有第二勾盘孔，通过第二滑动板84沿第二方向移动，以使得第二勾盘销858对应于第二勾盘孔，进而气缸856推动第二勾盘销858上升并穿设于第二勾盘孔，以使得放料板75连接于取盘托板855且位于取盘托板855和取盘定位板854之间，以方便取盘托板855和取盘定位板854夹住放料板75。

较佳地，支撑板851上对应取盘托板855的位置开设有取盘通孔，避免取盘托板855和支撑板851发生干涉。

较佳地，取盘托板855的侧部设置有取盘感应片，取盘底板853上设置有取盘位置传感器，通过取盘位置传感器感应取盘感应片的位置，以识别取盘托板855和取盘定位板854之间的间距，方便取盘托板855移动至对应放料板75的下方位置，避免取盘托板855将放置于支撑杆852的放料板75发生碰撞。

较佳地，取盘托板855上设置有取盘传感器859，该取盘传感器859用以识别放置于放料板75的位置，提高取盘组件85取放放料板75时的稳定性，该取盘传感器859还用以识别放料板75上晶体的盛放情况，方便更换放料板75。

进一步地，如图2和图4所示，分度圆盘机构3包括固定于机架的第二驱动电机31以及安装于机架的第一气压组件33，分度盘32驱动连接于第二驱动电机31，吸嘴组件34连接于第一气压组件33；

该吸嘴组件34包括：

固定于分度盘32的吸嘴支撑单元，吸嘴支撑单元开设有沿高度方向延伸的安装孔；

插设于安装孔的气路管道；

安装于气路管道的底端的嘴部，嘴部用以吸取晶体；

连接于气路管道的顶端的头部，头部连接于第一气压组件33，通过第一气压组件33以控制嘴部吸取晶体或放下晶体。

较佳地，分度盘32上间隔设置有八个吸嘴组件34。

较佳地，第一气压组件33对应每一个吸嘴组件34均设置有气压仪表331，以方便控制吸嘴组件34转移晶体。

较佳地，机架底板11的顶部设置有机架支板12，第二驱动电机31连接于机架支板12，第一气压组件33连接于机架支板12。

进一步地，如图4和图5所示，还包括间隔固定于机架的下压机构4，下压机构4对应于料盘取放机构8、归正机构5和料斗出料机构2；

该下压机构4包括固定于机架的第三驱动电机42、驱动连接于第三驱动电机42的第一导向板43；

沿高度方向滑设于第一导向板43的第二导向板44；

安装于第二导向板44的下压头46，通过第三驱动电机42进行驱动，以带动第一导向板43向下移动，从而带动第二导向板44和下压头46向下移动，从而下压头46向下按压吸嘴组件34。

较佳地，下压机构4设置于机架支板12，下压机构4设置有三个。

具体地，该下压机构4还包括固定连接于机架支板12的安装板41，第三驱动电机42连接于该安装板41，第三驱动电机42具有旋转凸轮421，第一导向板43上对应该旋转凸轮421设置有旋转导向柱431，通过第三驱动电机42驱动旋转凸轮421转动，以使得旋转凸轮421的边缘规律性地接触旋转导向柱431，从而带动旋转导向柱431规律性的上下移动，从而带动第一导向板43上下移动。

较佳地，第一导向板43和第二导向板44之间还设置有缓冲组件45，利用缓冲组件45提供缓冲作用力，避免下压头46向下按压吸嘴组件34时破坏吸嘴组件34，通过第三驱动电机42进行驱动，以带动第一导向板43向下移动，从而带动第二导向板44和下压头46向下移动，从而下压头46向下按压吸嘴组件34，缓冲组件45的弹簧力大于吸嘴组件34的弹簧力，吸嘴组件被向下按压，当吸嘴组件34被按压到最大限度后，缓冲组件45起到作用，即使第一导向板43继续向下滑动，第二导向板44与下压头46也不再继续向下移动，以保证下压头46与吸嘴组件34不被破坏。

进一步地，如图1和图2所示，还包括固定于机架的第一检测机构6和/或第二检测机构9；

第一检测机构6位于吸嘴组件34的下方，用以检测晶体；

第二检测机构9位于料盘取放机构8和提篮机构7的顶部，用以检测放置于放料板75的晶体。

具体地，如图11所示，第一检测机构6包括固定于机架底板11的第一检测支撑单元61、固定于第一检测支撑单元61的第一检测相机62以及固定于第一检测支撑单元61且位于第一检测相机62上方的第一光源63，通过该第一检测相机62，以检测晶体的位置，方便归正机构5将晶体调节到指定位置。

具体地，如图12所示，第二检测机构9包括固定于机架支板12的第二检测支撑单元91、固定于第二检测支撑单元91的第二检测相机92以及固定于第二检测支撑单元91且位于第二检测相机92下方的第二光源93，通过该第二检测相机92，以检测晶体是否为合格晶体，方便对晶体进行筛选。

进一步地，如图13所示，还包括安装于机架的回收机构10，用以回收不合格的晶体；

该回收机构10包括：

固定于机架的回收底座1001；

安装于回收底座1001的回收盒1004；

安装于回收底座1001且位于回收盒1004顶部的导向筒1003，当第二检测相机92检测到晶体为不合格晶体时，对应的吸嘴组件34转移至导向筒1003的上方，并将不合格的晶体放入回收盒1004内。

较佳地，回收底座1001对应回收盒1004的侧部设置有回收传感器1002，用以检测回收盒1004收集的不合格晶体的情况，方便工作人员更换回收盒1004，避免不合格晶体溢出。

进一步地，如图6和图7所示，归正机构5包括：

安装于机架的归正支撑单元53；

安装于归正支撑单元53的归正承接平台57，晶体能够放置于归正承接平台57，吸嘴组件34对应于归正承接平台57；

连接于归正承接平台57的若干夹爪55；

安装于归正支撑单元53的第四驱动电机51，归正承接平台57驱动连接于第四驱动电机51，通过第四驱动电机51带动归正承接平台57转动，以改变晶体的位置；

安装于归正支撑单元53的第五驱动电机52，夹爪55驱动连接于第五驱动电机52，通过第五驱动电机52带动夹爪55转动，以使得夹爪55夹紧放置于归正承接平台57的晶体。

具体地，如图6和图7所示，归正支撑单元53包括安装于机架底板11的第一驱动杆、驱动连接于第一驱动杆且滑设于机架底板11的第一归正连接板、安装于第一归正连接板的第二驱动杆、驱动连接于第二驱动杆且滑设于机架底板11的第二归正连接板以及连接于第二归正连接板的归正侧板，第四驱动电机51和第五驱动电机52连接于归正侧板，通过调节第一归正连接板相对于机架底板11的位置以及第二归正连接板相对于第一归正连接板的位置，以初步调节归正承接平台57的位置。

具体地，如图6和图7所示，第四驱动电机51连接有主动轮511，归正承接平台57的底部设置有连接座56，夹爪55通过转轴54连接于连接座56，连接座56的底部设置有从动轮512，主动轮511和从动轮512之间通过履带连接，通过第四驱动电机51驱动主动轮511转动，以带动从动轮512转动，从而带动连接座56转动，带动归正承接平台57转动，以改变放置于归正承接平台57的晶体的位置。

具体地，如图6和图7所示，第五驱动电机52具有曲轴，归正支撑平台侧部滑设有从动板521，该从动板521连接于曲轴，从动板521的顶部设置有从动杆522，从动杆522穿设于连接座56，夹爪55连接于从动杆522，通过驱动第五驱动电机52，以带动从动板521向上移动，从而带动从动杆522向上移动，以带动夹爪55的顶端向远离归正承接平台57的方向转动，从而松开晶体，通过驱动第五驱动电机52，以带动从动板521向下移动，从而带动从动杆522向下移动，以带动夹爪55的顶端向靠近归正承接平台57的方向转动，从而夹紧晶体。

具体地，如图6和图7所示，连接座56对应归正承接平台57的两侧还设置有第一光纤58和第二光纤59，通过该第一光纤58和第二光纤59以识别放置于归正承接平台57的晶体的位置是否被吸嘴组件34取走，即检测归正承接平台57上有无余料残留。

进一步地，如图3所示，料斗出料机构2包括：

安装于机架且高度可调的料斗支撑单元22；

安装于料斗支撑单元22的顶部的储料盒23，储料盒23的侧部开设有出料孔；

安装于储料盒23的侧部且对应于出料孔的出料板24，吸嘴组件34对应于出料板24；

安装于机架且连接于储料盒23的第二气压组件25，通过该第二气压组件25以改变储料盒23中的气压，方便控制晶体自出料孔被振出。

具体地，如图3所示，机架底板11上还设置有料斗控制单元21，该料斗控制单元21与储料盒23控制连接，用以控制储料盒23振动，从而将石英晶体振动出该出料孔。

本发明用于晶体的移载机的具体实施案例为，工作人员将晶体倾倒在储料盒23内，通过料斗控制单元21控制储料盒23振动，以将晶体至出料孔振动至出料板24；

分度圆盘机构3的分度盘32转动，以带动其中一个吸嘴组件34转动至对应出料板24的位置，进而对应料斗出料机构2的下压机构4的下压头46向下按压对应的吸嘴组件34，以吸取晶体，进而分度盘32带动晶体转动至第一检测机构6上方，第一检测相机62识别晶体的位置并传递给归正机构5，进而分度盘32将晶体转移至归正机构5；

吸嘴组件34将晶体放置于归正机构5的归正承接平台57，进而第五驱动电机52驱动夹爪55夹紧晶体，进而第四驱动电机51驱动归正承接平台57转动，当第一光纤58和第二光纤59检测到晶体转动到指定位置后，控制第四驱动电机51停止，进而第五驱动电机52控制夹爪55松开晶体，进而吸嘴组件34吸取晶体；

分度盘32带动晶体转动，第二检测机构9的第二检测相机92检测晶体是否为合格晶体，

当检测到为合格晶体时，将晶体转移至料盘取放机构8的放料板75上，当料盘取放机构8的取盘传感器859检测到放料板75上放满晶体时，控制取盘组件85将放料板75放回篮框74中，并更换空置的放料板75；

当检测到为不合格晶体时，将晶体转移至回收机构10的上方，进而将晶体放入回收盒1004内。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。